显示屏模组的光学测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示屏模组的光学测试方法。

背景技术

显示屏模组在生产过程中，外观检测和功能检测都是很重要的环节。功能检测环节，其中有一环是通过色彩分析仪对显示屏模组的光学参数进行测试，检测区分哪些显示屏模组的光学参数不合格，哪些显示屏模组的光学参数符合光学标准，可以出货。

光学测试环节中，需要将显示屏模组用产线治具点亮，并切换需要测试的画面，用色彩分析仪进行测试。但是，现有的显示屏模组分辨率越来越高，导致产线治具在不更新换代的情况下，切换画面的速度降低。如果不断更新产线治具，则会增加显示屏模组的生产成本。而且现在光学测试的要求逐渐增多，需要切换的测试画面很多，导致光学测试的速度变慢，使得显示屏模组在光学测试这一环节的速度变慢，降低了生产效率，增加了生产成本。

发明内容

本发明公开一种显示屏模组的光学测试方法，用于解决现有技术中，使得显示屏模组在光学测试这一环节的速度较慢的问题。

为了解决上述问题，本发明采用下述技术方案：

提供一种显示屏模组的光学测试方法，包括：

将待测试显示屏模组固定在测试治具中，同时将色彩分析仪的测试探头放置在待测显示屏模组的测试区域，其中所述测试区域为预先设定好的仅为待测试显示屏模组的屏幕的一部分的区域；

为待测显示屏模组供电，控制待测显示屏模组的整个屏幕显示过渡画面；

控制待测显示屏模组的测试区域切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域外的非测试区域显示背景画面，其中所述背景画面与所述测试画面显示的画面不同；

通过测试探头采集数据，完成待测显示屏模组的光学测试。

可选的，待测显示屏模组的测试区域位于待测显示屏模组的中心区域。

可选的，待测显示屏模组的测试区域为矩形。

可选的，待测显示屏模组的测试区域的长和宽均为所述测试探头直径的2倍以上。

可选的，所述光学测试包括至少两个不同的光学参数测试，则控制待测显示屏模组的测试区域切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域外的区域形成背景画面，具体包括步骤：

控制待测显示屏模组的测试区域依次切换成各测试所需的测试画面；

控制待测显示屏模组的测试区域外的区域的背景画面保持不变。

可选的，所述光学参数包括色度、亮度和gamma光学参数中的至少一个。

可选的，所述背景画面与所述过渡画面相同。

可选的，所述过渡画面为屏幕的各像素均显示除白色颜色外的画面。

可选的，所述过渡画面为灰色画面或为灰阶过渡画面。

可选的，控制待测显示屏模组的测试区域切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域外的非测试区域显示背景画面，具体包括步骤：

色彩分析仪根据光学参数，传送需要改变的像素点数量、位置以及具体颜色的信息数据流给待测显示屏模组的驱动IC；

驱动IC根据信息数据流，控制待测显示屏模组的测试区域切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域外的非测试区域显示背景画面。

本发明采用的技术方案能够达到以下有益效果：

由于测试画面缩小，切换画面也只需要切换中心区域的一小块，使得待测显示屏模组仅需要更新中心点区域的数据来实现显示特定画面。相比较通用切换整面显示屏画面，数据改变量变小，切换画面速度变快，光学测试的速度也会加快，加快了生产速度。

切换的画面是显示屏中间区域部分，有利于观察中间区域部分的显示是否会影响背景其他区域的显示，即有利于观察是否有交叉效应现象。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明实施例公开的显示屏模组的光学测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例公开的显示屏模组的测试区域示意图。

其中，附图1-2中包括下述附图标记：

测试区域-1；非测试区域-2；过渡画面-3。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明具体实施例及相应的附图对本发明技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的显示屏模组的光学测试方法，如图1所示，具体包括以下步骤：

步骤S10，将待测试显示模组固定在测试治具中，同时将色彩分析仪的测试探头放置在待测显示屏模组的测试区域1；

步骤S20，为待测显示屏模组供电，控制待测显示屏模组的整个屏幕显示过渡画面3；

步骤S30，控制待测显示屏模组的测试区域1切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域1外的非测试区域2显示背景画面；

步骤S40，通过测试探头采集数据，完成待测显示屏模组的光学测试。

其中步骤S10中，测试治具和色彩分析仪的结构与通常的相同。色彩分析仪的型号具体可以为例如CA310。色彩分析仪的测试探头多为圆形。CA310色彩分析仪

测试区域1为预先设定好的，且仅为待测试显示屏模组屏幕的一部分区域。在一个例子中，如图2所示，测试区域1位于待测显示屏模组的中心区域，测试区域1的四周由非测试区域2环绕。

进一步的，测试区域1的面积及形状可以根据需求具体设定。在一个例子中，测试区域1的形状为矩形。测试区域1的长和宽均为测试探头直径的2倍以上。进一步优选的，测试区域1的长和宽相等，且大致为测试探头直径的2-3倍。CA310色彩分析仪的探头直径通常为1cm，则测试区域1的长和宽大致为2-3cm。

步骤S20中，过渡画面3可以为屏幕的各像素均显示除白色颜色外的画面。优选的，过渡画面3为灰色画面或灰阶过渡画面3。如此设置，有效贴合用户需求，提高用户体验；而且便于后续观察是否产生交叉效应。

需要说明的是，灰色画面即单一灰阶值画面。灰阶过渡画面3即灰阶值变化的画面，其中沿屏幕的外周至中心，灰阶过渡画面3的灰阶值可以逐渐增大，也可以逐渐减小，可以根据需求具体设定。灰色画面和灰阶过渡画面3的具体灰阶值可以根据需求具体设定。

步骤S30中，具体包括步骤；色彩分析仪根据光学参数，传送需要改变的像素点数量、位置以及具体颜色的信息数据流给待测显示屏模组的驱动IC；驱动IC根据信息数据流，控制待测显示屏模组的测试区域1切换成测试画面，并控制待测显示屏模组的测试区域1外的非测试区域2显示背景画面。

其中，测试画面可以根据所测试的具体光学参数具体设定。例如，如图2所示，测试的光学参数为亮度光学参数时，测试画面为纯白色。测试的光学参数为gamma光学参数时，测试画面是一组从黑、到浅黑、再到白的画面，即RGB色度从0x000000到0xFFFFFF的 256张画面，人眼观察是从黑色画面切换，慢慢的切换成浅黑，再切换成灰色，最后再慢慢变浅变成白色的画面，总共256个画面。

背景画面可以与过渡画面3相同。过渡画面3为灰色画面时，背景画面也为灰色画面；过渡画面3为灰阶过渡画面3时，背景画面也为灰阶过渡画面3。

进一步的，当所需测试的光学参数有多个时，每次所用的背景画面均相同，且均为过渡画面3。即，在光学测试的过程中，仅切换测试画面，保持背景画面不变即可。

步骤S40中，光学参数可以为色度、亮度和gamma光学参数中的至少一个。对应不同光学参数，其计算方法也不尽相同。例如，亮度的运算方式为，将测得的亮度值与客户设定的亮度阈值进行比较，若测得的亮度值超过亮度阈值，则亮度满足用户需求，否则，则为亮度不良品。如表1所示。

表1

色度的运算方式为，将测得的X值和Y值与客户设定的色度阈值进行比较，若测试的 X值和Y值超过色度阈值，则色度满足用户需求，否则，则为色度不良品。如表2所示。

表2

gamma的运算方式为，将测试得到的256个亮度值进行一定的公式运算，再根据运算值画出曲线图，观察曲线是否平顺，曲线的变化率是否满足预期。反馈到肉眼上，就是显示屏从黑色慢慢一阶一阶变成白色画面的过程中，显示屏的变化是否均匀，每一个梯度是否均匀。如表3所示。

表3

通过本发明的显示屏模组的光学测试方法对显示屏模组进行光学测试时，由于测试画面缩小，切换画面也只需要切换中心区域的一小块，使得待测显示屏模组仅需要更新中心点区域的数据来实现显示特定画面。相比较通用切换整面显示屏画面，数据改变量变小，切换画面速度变快，光学测试的速度也会加快，加快了生产速度。切换的画面是显示屏中间区域部分，有利于观察中间区域部分的显示是否会影响背景其他区域的显示，即有利于观察是否有交叉效应现象。

其中，交叉效应即，显示屏模组在显示过程中，一个像素的显示是否会影响到其他像素点的显示。例如，背景画面为灰色，中间测试区域1为白色，一个良好的显示屏，显示的情况就是，灰色就是灰色，中间白色就是白色。而存有交叉效应的显示屏模组，背景画面的灰色可能会受到测试区域1白色的影响，例如，白色周围的灰色明显比其他地方的灰色偏白，此种情况就是测试区域1的白色像素的显示，影响到了其他灰色像素点的显示情况。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本发明的保护之内。