一种电力芯片可靠性测试评估方法及系统

技术领域

本发明涉及芯片控制技术领域，具体为一种电力芯片可靠性测试评估方法及系统。

背景技术

随着市场对电力芯片的寿命和长期上电运行的可靠性要求不断提高，可靠性测试对于芯片前期评估显得尤为重要，且若没有良好的样品测试把关，量产后也可能出现失效率过高的问题，影响用户体验。

而目前芯片行业大多是委托专业测试机构，通过人工进行实验，而人工测试往往需要的时间周期长、存在的工作量也相对较大，这样的方式不仅会导致测试成本高、周期长，且在测试数据异常时，也不能及时同步，极大降低了测试的可靠性和效率。

发明内容

本部分的目的在于概述本发明的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和发明名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和发明名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本发明的范围。

鉴于上述存在的问题，提出了本发明。

本发明实施例的第一方面，提供一种电力芯片可靠性测试评估方法，包括：获取电力芯片的识别信息，根据所述识别信息确定目标测试方式；基于所述目标测试方式生成携带有测试配置信息的第一触发信号，将所述第一触发信号传输到所述测试板，以触发所述测试板按照所述测试配置信息控制所述电力芯片运行，并获取同步产生的运行参数；根据所述运行参数进行综合测试评估，并将所述综合测试评估的结果反馈到用户端。

作为本发明所述的电力芯片可靠性测试评估方法的一种优选方案，其中：所述目标测试方式包括高低温老化测试、抗干扰测试、压力测试以及算力性能测试中的至少一种。

作为本发明所述的电力芯片可靠性测试评估方法的一种优选方案，其中：所述根据运行参数进行综合测试评估包括，

针对不同类型的第一运行参数，读取相应的第一标准参数；

将所述第一运行参数和所述第一标准参数进行偏差比较，得到相应的偏差比较值；

基于得到的各项偏差比较值进行综合测试评估。

作为本发明所述的电力芯片可靠性测试评估方法的一种优选方案，其中：所述综合测试评估的计算包括，

其中，∈表示所得的综合评估值，i表示运行参数的类型总量，ε

作为本发明所述的电力芯片可靠性测试评估方法的一种优选方案，其中：所述运行参数包括误码率、计算速率、运行稳定度、计算灵敏度以及最大输出电流中的至少一种。

作为本发明所述的电力芯片可靠性测试评估方法的一种优选方案，其中：所述将综合测试评估的结果反馈到用户端之后还包括，

获取代码运行文件，并从所述代码运行文件中提取出反映测试运行状态的目标运行代码；

对所述目标运行代码进行文字解码转换，并通过预设的显示装置，对转换内容进行渲染显示。

作为本发明所述的电力芯片可靠性测试评估方法的一种优选方案，其中：还包括，

获取实时测试数据，并将所述实时测试数据输入到训练好的测试异常预警模型；

通过所述测试异常预警模型对所述实时测试数据进行处理，得到相应的预警数据，其中，所述测试异常预警模型经由测试过程中累积的历史测试数据反复迭代训练得到。

本发明实施例的第二方面，提供一种电力芯片可靠性测试评估系统，包括：

识别信息获取模块，用于获取电力芯片的识别信息，所述识别信息包括型号标识信息以及标签信息中的至少一种；

测试方式确定模块，用于根据所述识别信息，确定目标测试方式，所述目标测试方式包括高低温老化测试、抗干扰测试、压力测试以及算力性能测试中的至少一种；

测试触发模块，用于生成携带有测试配置信息的第一触发信号，并将所述第一触发信号传输到所述测试板，以触发所述测试板按照所述测试配置信息控制芯片运行，并获取同步产生的运行参数；

测试评估模块，用于基于所述运行参数进行综合测试评估，并反馈评估结果到用户端。

本发明实施例的第三方面，提供一种设备，所述设备包括，

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

所述处理器被配置为调用所述存储器存储的指令，以执行本发明任一实施例所述的方法。

本发明实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，包括：

所述计算机程序指令被处理器执行时实现如本发明任一实施例所述的方法。

本发明的有益效果：本发明提供的一种电力芯片可靠性测试评估方法及系统，在根据识别信息在确定目标测试方式之后，驱动测试板按照与目标测试方式相关的测试配置信息控制芯片运行，之后，再基于同步产生的运行参数进行综合测试评估，判断电力芯片是否能够在规定的测试环境下可靠运行，实现了对电力芯片的自动化测试，提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。其中：

图1为本发明提供的一种电力芯片可靠性测试评估方法及系统的整体流程图；

图2为本发明提供的一种电力芯片可靠性测试评估方法及系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合说明书附图对本发明的具体实施方式做详细的说明，显然所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明的保护的范围。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

其次，此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本发明至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例，也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。

本发明结合示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。

同时在本发明的描述中，需要说明的是，术语中的“上、下、内和外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一、第二或第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

本发明中除非另有明确的规定和限定，术语“安装、相连、连接”应做广义理解，例如：可以是固定连接、可拆卸连接或一体式连接；同样可以是机械连接、电连接或直接连接，也可以通过中间媒介间接相连，也可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

实施例1

参照图1为本发明的一个实施例，提供了一种电力芯片可靠性测试评估方法，包括：

S1：获取电力芯片的识别信息，根据识别信息确定目标测试方式。需要说明的是：

目标测试方式包括高低温老化测试、抗干扰测试、压力测试以及算力性能测试中的至少一种。

S2：基于目标测试方式生成携带有测试配置信息的第一触发信号，将第一触发信号传输到测试板，以触发测试板按照测试配置信息控制电力芯片运行，并获取同步产生的运行参数。需要说明的是：

运行参数包括误码率、计算速率、运行稳定度、计算灵敏度以及最大输出电流中的至少一种。

S3：根据运行参数进行综合测试评估，并将综合测试评估的结果反馈到用户端。需要说明的是：

根据运行参数进行综合测试评估包括，

针对不同类型的第一运行参数，读取相应的第一标准参数，将第一运行参数和第一标准参数进行偏差比较，得到相应的偏差比较值，基于得到的各项偏差比较值进行综合测试评估；

具体的，综合测试评估的计算包括，

其中，∈表示所得的综合评估值，i表示运行参数的类型总量，ε

进一步的，将综合测试评估的结果反馈到用户端之后还包括，

获取代码运行文件，并从代码运行文件中提取出反映测试运行状态的目标运行代码；

对目标运行代码进行文字解码转换，并通过预设的显示装置，对转换内容进行渲染显示；

应说明的，在芯片运行过程中产生的运行代码将同步记录到预设的代码运行文件中，之后可以在基于所确定的代码特征构建正则表达式，并进一步基于正则表达式构建搜索条件；最后通过该搜索条件从代码运行文件中提取出反映测试运行状态的目标运行代码；

应说明的，按照预设的代码显示格式，并按照该代码显示格式显示代码信息，或将代码显示在代码编辑区域中，并于用户后续的编辑操作；通过对运行代码进行实时显示，便于用户掌握测试进程，提高了调试效率，减少了用户的时间成本；

再进一步的，获取实时测试数据，并将实时测试数据输入到训练好的测试异常预警模型，通过测试异常预警模型对实时测试数据进行处理，得到相应的预警数据，其中，测试异常预警模型经由测试过程中累积的历史测试数据反复迭代训练得到。

应说明的，本发明提供的一种电力芯片可靠性测试评估方法及系统，在根据识别信息在确定目标测试方式之后，驱动测试板按照与目标测试方式相关的测试配置信息控制芯片运行，之后，再基于同步产生的运行参数进行综合测试评估，判断电力芯片是否能够在规定的测试环境下可靠运行，实现了对电力芯片的自动化测试，提高了测试效率。

参照图2为本发明公开的第二方面，提供一种电力芯片可靠性测试评估系统200，包括：

识别信息获取模块201，用于获取电力芯片的识别信息，识别信息包括型号标识信息以及标签信息中的至少一种；

测试方式确定模块202，用于根据识别信息，确定目标测试方式，目标测试方式包括高低温老化测试、抗干扰测试、压力测试以及算力性能测试中的至少一种；

测试触发模块203，用于生成携带有测试配置信息的第一触发信号，并将第一触发信号传输到测试板，以触发测试板按照测试配置信息控制芯片运行，并获取同步产生的运行参数；

测试评估模块204，用于基于运行参数进行综合测试评估，并反馈评估结果到用户端；

在其中一个实施例中，电力芯片可靠性测试评估系统200还包括，

显示模块205，用于获取代码运行文件，并从代码运行文件中提取出反映测试运行状态的目标运行代码，对目标运行代码进行文字解码转换，并通过预设的显示装置，对转换内容进行渲染显示。

本发明公开的第三方面，

提供一种设备，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，处理器被配置为调用存储器存储的指令，以执行前述中任意一项的方法。

本发明公开的第四方面，

提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，包括：

计算机程序指令被处理器执行时实现前述中任意一项的方法。

本发明可以是方法、装置、系统和/或计算机程序产品，计算机程序产品可以包括计算机可读存储介质，其上载有用于执行本发明的各个方面的计算机可读程序指令。

计算机可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质例如可以是――但不限于――电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所使用的计算机可读存储介质不被解释为瞬时信号本身，诸如无线电波或者其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒介传播的电磁波(例如，通过光纤电缆的光脉冲)、或者通过电线传输的电信号。

实施例2

该实施例不同于第一个实施例的是，提供了一种电力芯片可靠性测试评估方法及系统的验证测试，为对本方法中采用的技术效果加以验证说明。

首先获取电力芯片的识别信息，根据识别信息确定目标测试方式，再基于目标测试方式生成携带有测试配置信息的第一触发信号，将第一触发信号传输到测试板，以触发测试板按照测试配置信息控制电力芯片运行，并获取同步产生的运行参数，根据运行参数进行综合测试评估，并将综合测试评估的结果反馈到用户端，如表1所示为电力芯片可靠性综合测试评估结果。

表1：电力芯片可靠性综合测试评估结果。

由上述评估结果可知，本发明提供的方法与传统评估方法相比，在评估相同数量的电力芯片可靠性的时间上能够提升5-8倍，实现了对电力芯片的自动化测试，提高了测试效率，对电力芯片运行的安全性和稳定性提供了保障。

应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。