存储器装置的系统内测试

技术领域

本公开总体涉及半导体存储器和方法，且更具体涉及有关存储器装置的系统级系统内测试的设备和方法。

背景技术

存储器装置通常作为计算系统中的内部半导体集成电路提供。存在许多不同类型的存储器，包括易失性和非易失性存储器。易失性存储器可能需要电力来维护其数据(例如，主机数据、错误数据等)，且包含随机存取存储器(RAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、同步动态随机存取存储器(SDRAM)和晶闸管随机存取存储器(TRAM)等。非易失性存储器可通过在未供电时保留所存储的数据来提供持久数据，且可包含NAND闪存、NOR闪存及可变电阻存储器(例如相变随机存取存储器(PCRAM)、电阻随机存取存储器(RRAM)及磁阻随机存取存储器(MRAM)，如自旋转移力矩随机存取存储器(STT RAM),等)。

计算系统常常包含若干处理资源(例如，一或多个处理器)，所述处理资源可以检索和执行指令并将所执行指令的结果存储到适当位置。处理资源可以包括若干功能单元，如算术逻辑单元(ALU)电路、浮点单元(FPU)电路和组合逻辑块，例如，所述功能单元可以用于通过对数据(例如，一或多个操作数)执行如AND、OR、NOT、NAND、NOR和XOR的逻辑运算以及反(例如，反演)逻辑运算来执行指令。例如，功能单元电路可以用于通过若干逻辑运算对操作数执行算术运算，如加、减、乘和除。

计算系统中的若干组件可能涉及提供指令到功能单元电路以用于执行。例如，可以通过如控制器和/或主处理器的处理资源来执行所述指令。数据(例如，操作数，将对所述操作数执行指令)可以存储在可由功能单元电路访问的存储器阵列中。指令和数据可以从存储器阵列检索，且在功能单元电路开始对数据执行指令之前对所述指令和数据进行排序和/或缓冲。此外，由于可以通过功能单元电路在一或多个时钟周期内执行不同类型的运算，因此还可以对指令和数据的中间结果进行排序和/或缓冲。

发明内容

在一个方面中，本申请提供了一种用于存储器装置的系统内测试的系统，其包括：处理资源；以及配电板，其耦合到被测系统(SUT)和所述处理资源，其中所述SUT包含存储器装置，其中所述配电板经配置以：向所述SUT提供电力；将来自所述SUT的第一信号传达到所述处理资源；并且向所述SUT提供第二信号，所述第二信号模拟在所述SUT的操作期间对所述SUT的输入；并且其中所述处理资源经配置以：接收选自函数库的函数，以在所述存储器装置的测试期间执行；并且使所述配电板在所述SUT的所述测试期间提供所述第二信号。

在另一个方面中，本申请进一步提供了一种用于存储器装置的系统内测试的方法，其包括：接收选自应用编程接口(API)函数库的至少一个API函数，其中所述API函数库与被测系统(SUT)的存储器装置的系统级系统内测试相关联；执行所述至少一个所选API函数，以执行所述存储器装置的系统级系统内测试；在所述系统级系统内测试期间，确定所述SUT的数据日志文件是否包含特定文本字符串；以及响应于确定所述数据日志文件包含所述特定文本字符串，向诊断装置提供触发信号。

在又一个方面中，本申请进一步提供了一种非暂时性机器可读媒体，其存储用于存储器装置的系统内测试的指令集，所述指令集可由处理资源执行以：接收对来自应用编程接口(API)函数库的API函数的用户选择；基于对API函数的所述用户选择执行被测系统(SUT)的存储器装置的系统级系统内测试；在所述系统级系统内测试期间，基于从所述SUT接收到的通信检测所述SUT的特定事件；响应于检测到所述特定事件，记录所述存储器装置与所述SUT之间的通信；以及响应于检测到所述特定事件，使所述特定事件与对API函数的所述用户选择的事件同步。

在又一个方面中，本申请进一步提供了一种用于存储器装置的系统内测试的设备，其包括：第一继电器，其经配置以向包含存储器装置的被测系统(SUT)提供电力；输入通道，其经配置以：从所述SUT接收模拟信号；并且将所述模拟信号转换为数字信号；第二继电器，其耦合到所述输入通道并经配置以响应于所述数字信号处于特定逻辑状态中向诊断装置提供触发信号；以及第三继电器，其经配置以向所述SUT提供事件信号，所述事件信号模拟在所述SUT的操作期间对所述SUT的输入。

附图说明

图1是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的系统的框图。

图2是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的设备的框图。

图3是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的函数库的框图。

图4是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的方法的流程图。

具体实施方式

本公开包含关于存储器装置的系统内测试的设备和方法。如本文中所使用，“系统内测试”是指当系统的组件(例如，子系统)在系统中就位(例如，耦合)时对所述组件执行的测试。系统内测试可以是系统级测试。如本文中所使用，“系统级测试”是指对系统的组件执行的评估系统内组件的操作的测试。

实例系统包含处理资源和耦合到被测系统(SUT)和所述处理资源的配电板。所述SUT可以包含存储器装置。配电板可经配置以向SUT提供电力、将来自SUT的第一信号传达到处理资源，且将第二信号提供到SUT，所述第二信号在SUT的操作期间模拟向SUT的输入。处理资源可经配置以接收选自函数库的函数，以在存储器装置的测试期间执行并使得配电板在SUT的测试期间提供第二信号。

存储器装置可以是系统的组件(例如，子系统)。包含存储器装置的系统可能有较长使用寿命(例如，十年以上)。可执行存储器装置或其一部分的系统级测试(例如，诊断测试、调试和/或故障排除)，以验证所述存储器装置或其一部分将在系统的预期使用寿命内发挥作用。例如，可测试存储器装置的可靠性、可维护性和/或可用性以提供质量控制、确定存储器装置的故障、诊断存储器装置的错误等。在存储器装置的系统级测试期间，包含存储器装置的系统可被称为被测系统(SUT)。用于存储器装置的系统级测试的先前方法可包含从包含存储器装置的系统移除所述存储器装置，以执行组件级测试。例如，一些先前方法可包含使用自动化测试设备(ATE)。如本文中所使用，“自动化测试设备”是指使用自动化来对被测系统、被测设备或被测单元执行测试(例如，诊断测试)，以便进行测量(例如，执行诊断测试)并评估测量的结果。

例如由于一些ATE的复杂性和/或ATE被构造为执行特定诊断测试，基于ATE的方法可能是昂贵的。例如，组件的制造商可能并非系统的制造商。因此，一些基于ATE的方法可能很耗时，因为消费者必须将待测试的组件(例如，存储器装置)寄给组件的制造商，以便组件的制造商可使用其ATE来对所述组件进行测试。此外，可能很难定期(例如，周期性地)对组件执行基于ATE的方法，因为可能必须将所述组件或包含所述组件的系统重新定位在ATE所在的位置，以便使用所述ATE执行测试。因此，可能很难快速和/或有效地扩展、模块化和/或执行基于ATE的方法。

基于ATE的方法可包含在执行组件的系统级测试之前从系统移除所述组件。例如，在一些方法中，存储器装置可在操作期间从其所耦合到的系统的电路板脱焊、进行检修以建立电气连接，并且随后使用ATE进行测试。所述组件随后可能被重新安装到系统中。

相比之下，本公开的实施例提供可在系统内执行的存储器装置的系统级测试。本公开的实施例提供可在不从系统移除存储器装置的情况下执行的系统的存储器装置的系统级测试。例如，可在不使存储器装置脱焊的情况下执行存储器装置的系统级测试。这样可以降低成本、执行存储器装置的测试和/或调试的时间量，和/或在存储器装置的测试和/或调试期间对存储器装置的损坏风险。例如，可在系统的产品设计阶段、系统生产和/或存储器装置的退货授权(RMA)期间执行存储器装置的系统级测试。

至少一个实施例包含硬件基础架构和/或软件基础架构。硬件基础架构可包含组件以执行存储器装置的系统级系统内测试，例如结合图1至2所描述的测试。软件基础架构可包含函数库以设计(例如，开发)存储器装置的系统级系统内测试、执行(例如，控制和/或管理)存储器装置的系统级系统内测试和/或存储和/或分析存储器装置的系统级系统内测试的结果。例如，至少一个实施例可以提供和/或分析系统的启动时间、固态硬盘(SSD)自我监测、分析及报告技术(S.M.A.R.T.)属性分析和/或嵌入式多媒体控制器(eMMC)健康状况参数分析。

在本公开的以下详细描述中，参考了形成本公开的一部分的附图，并且其中通过图示的方式示出了可以如何实施本公开的一或多个实施例。对这些实施例进行足够详细地描述，以使所属领域的技术人员能够实施本公开的实施例，且应理解，可以使用其它实施例，并且可以在不脱离本公开的范围的情况下进行所述过程、电气和/或结构改变。如本文中所使用，在图式中尤其关于参考数字的指示符(如“n”、“N”等)指示可以包含如此指定的若干特定特征。如本文中所使用，“若干”个特定事物是指一或多个这类事物(例如，若干存储器阵列可以指一或多个存储器阵列)。“多个”旨在表示不只一个这类事物。

本文中的图式遵循编号惯例，其中第一数字或多个数字对应于图式编号，而其余数字标识图式中的元件或组件。可通过使用类似的数字来标识不同图之间的类似元件或组件。举例来说，在图1中102可以引用元件“02”，而在图2中类似元件可被引用为202。如将了解的，可添加、交换和/或消除本文中各种实施例中所示的元件，以便提供本公开的若干附加实施例。另外，如将了解的，在附图中提供的元件的比例和相对标度旨在说明本发明的某些实施例，并且不应当被认为是限制性的。

图1是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的系统的框图。系统可包含耦合到SUT 104的配电板102。SUT 104可包含存储器装置106，其将执行系统级系统内测试和/或调试。结合图2进一步描述配电板102。

在至少一个实施例中，SUT 104可包含车载信息娱乐(IVI)系统，所述系统包含存储器装置106。例如，IVI系统可经配置以为车辆提供音频和/或视频娱乐、导航等。本公开的实施例不限于包含IVI系统的SUT 104。例如，SUT 104可包含经配置以控制车辆发动机的致动器的发动机控制系统。例如，发动机控制系统可经配置以控制车辆的点火时间、空气燃料比等。SUT 104可包含经配置以控制发动机和/或车辆性能的车辆控制系统。SUT 104可包含经配置以控制车辆的动力总成的动力总成系统。SUT 104可包含制动系统，其经配置以控制和/或读取对应于车辆的制动系统的数据。SUT 104可包含车身控制系统，其经配置以控制车辆的车身特征，例如电动车窗、电动座椅等。SUT 104可包含高级驾驶员辅助系统(ADAS)，例如自适应巡航控制(ACC)或车道辅助系统，例如，其经配置以控制车辆的操纵和/或推动系统。

存储器装置106可包含一或多个存储器阵列，例如，所述存储器阵列可以是DRAM阵列(例如，3T DRAM阵列)、SRAM阵列、STT RAM阵列、PCRAM阵列、TRAM阵列、RRAM阵列、NAND闪存阵列、NOR闪存阵列、固态硬盘(SSD)、eMMC和/或通用闪存存储(UFS)。存储器阵列可包括存储单元，所述存储单元被布置成由字线耦合的行和由位线耦合的列。在至少一个实施例中，存储器装置106可以是随机存取存储器(RAM)装置。例如，存储器装置106可以是易失性随机存取存储器(RAM)装置，例如动态随机存取存储器(DRAM)装置、静态随机存取存储器(SRAM)装置或其它易失性存储器装置。然而，本公开的实施例并不限于此。例如，存储器装置106可以是非易失性存储器装置，例如，只读存储器(ROM)、闪存(例如，如电可擦可编程只读存储器(EEPROM)的固态非易失性计算机存储媒体、NAND型和/或NOR型闪存(例如，存储卡、SSD、eMMC或UFS))。

配电板102可耦合到电源108(例如，可编程电源(PPS)或功率波形发生器)。配电板102可经配置以将来自电源108的电力提供到SUT 104和/或存储器装置106。配电板102可经配置以向与其耦合的组件提供触发信号。配电板102可经配置以数字化来自存储器装置104和/或SUT 104的模拟信号。

诊断计算机110可耦合到配电板102。诊断计算机110可包含处理资源112(例如，处理器)和电源114。电源114可通过(例如)在诊断计算机110与配电板102之间的通用串行总线(USB)连接向配电板102提供电力以用于配电板102的操作。诊断计算机110可运行任何操作系统，例如MICROSOFT

诊断计算机110可包含经配置以存储函数库(例如，应用编程接口(API)函数)的存储器(未示出)。可通过处理资源112执行一或多个函数，以执行存储器装置106的系统级系统内测试。结合图3进一步描述这种函数库的实例。所述函数可用于函数库，以设计和/或执行存储器装置106的系统级系统内测试、执行(例如，控制和/或管理)存储器装置106的系统级系统内测试和/或存储和/或分析存储器装置106的系统级系统内测试的结果。所述函数可以提供对SUT 104和/或存储器装置106的访问。所述函数可以提供对存储器装置106的系统级系统内测试期间收集的数据的后处理。

可以由存储器装置104的制造商维护函数库。用户(例如，消费者，如SUT 104的制造商)可以从所述库选择一或多个函数，以在存储器装置106的系统内测试期间执行。例如，处理资源112可以从API函数库接收API函数的用户选择。处理资源112可以基于API函数的用户选择执行SUT的存储器装置的系统级系统内测试。处理资源112可以在系统级系统内测试期间基于从SUT接收到的通信(例如，数据日志文件)检测SUT的特定事件。如本文中所使用，“数据日志文件”是指由装置或系统生成的文件，包含由装置或系统接收的输入、执行的操作、执行的函数和生成的输出的记录。为了检测特定事件，处理资源112可以监视从SUT输出的GPIO信号并且检测GPIO信号的变化。为了检测特定事件，处理资源112可解析SUT的数据日志文件以用于特定事件的指示。处理资源112可以响应于检测到特定事件而记录存储器装置与SUT之间的通信。处理资源112可以响应于检测到特定事件而使特定事件与API函数的用户选择事件同步。

诊断计算机110可经配置以接收SUT 104的数据日志文件、存储器装置106的数据日志文件和/或测试会话数据日志文件。在至少一个实施例中，处理资源112可经配置以解析(例如，搜索)数据日志文件以用于特定事件的指示。例如，处理资源112可经配置以解析SUT 104的数据日志文件、存储器装置106的数据日志文件和/或用于特定文本字符串(例如，关键词)的测试会话数据日志文件。文本字符串可以对应于SUT 104或存储器装置106的错误。文本字符串可以对应于SUT 104或存储器装置106的事件。

至少一个诊断装置可以耦合到配电板102、诊断计算机110和/或SUT 104。例如，如图1中所示，示波器116可以耦合到配电板102和诊断计算机110。尽管图1中未示出，配电板102可以代替或除了示波器116之外还耦合到协议分析仪和/或逻辑分析仪。尽管图1中未示出，电平位移器可以耦合到配电板102。电平位移器可以用于调整信号电平以生成触发信号。

图2是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的设备的框图。图2示出了配电板202，所述配电板202可以类似于结合图1所描述的配电板102。配电板202包含多个输入通道222(IN_1、IN_2、IN_3、IN_4、IN_5、IN_6、IN_7和IN_8).尽管图2示出了包含八个输入通道222的配电板202，但本公开的实施例可包含少于或多于八个输入通道222。输入通道222中的至少一个可经配置以数字化由配电板202从SUT 204(包含虚线框内示出的组件)接收到的模拟信号。输入通道222中的至少一个可以包含或耦合到模数转换器(ADC)。在至少一个实施例中，输入通道222可以是用于数字信号的数字光隔离输入。

输入通道222中的每一个可经配置以从SUT 204接收模拟信号，所述SUT 204可以类似于结合图1所描述的SUT 104。这种模拟信号的非限制性实例是通用输入/输出(GPIO)信号。GPIO信号可以指示在SUT 204中发生的事件。例如，GPIO可以指示SUT204的重新启动、异常等。GPIO信号可以指示SUT 204的启动的开始。

配电板202可以包含耦合到一或多个输入通道222的多个继电器220(SW0、SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6和SW7)。继电器220中的至少一个可以是机械继电器。在至少一个实施例中，继电器220中的至少一个可经配置以使得触发信号(例如，外部触发信号)发送到耦合到配电板202的一或多个装置。例如，如图2中所示，继电器SW6和SW7经配置以向协议分析仪和/或示波器224提供触发信号。协议分析仪和/或示波器224可耦合到诊断计算机210(由标记为“PC”的双向箭头表示)、SUT 204和SUT 204的存储器装置206。可以类似于结合图1所描述的电源108的电源208可耦合到配电板202。电源208可由配电板202使用以向协议分析仪和/或示波器224提供触发信号。

在至少一个实施例中，配电板202可经配置以响应于来自SUT 204的信号(例如，GPIO信号)提供触发信号。如图2中所示，继电器SW6经配置以从SUT 204接收GPIO信号。配电板202可经配置以响应于GPIO处于特定逻辑状态(例如，在被数字化之后)而提供触发信号。在SUT 204的存储器装置206的系统级系统内测试期间，配电板202可以用于监视来自SUT204的一或多个GPIO信号。例如，可以监视指示是否已因看门狗事件发生了SUT 204的重新启动的GPIO信号。响应于GPIO信号指示已因看门狗事件发生了SUT 204的重新启动(例如，GPIO从逻辑“0”切换到逻辑“1”)，配电板202可向协议分析仪和/或示波器224提供触发信号。这样可以使协议分析仪和/或示波器224能够紧接在重新启动SUT 204之后记录(例如，存储)存储器装置206与SUT 204之间的通信(例如，eMMC、UFS或串行高级技术附件(SATA)接口或非易失性存储器标准(NVMe)接口)(用于SSD的协议级通信)，这可能有助于确定例如重新启动的原因。

在至少一个实施例中，配电202可经配置以在SUT 204的操作期间(例如，不在测试期间)提供模拟SUT 204的输入的一或多个信号，以下被称为事件信号。如图2所示，SUT 204包含IVI系统203，然而本公开的实施例并不限于包含IVI系统的SUT 204。配电板202可经配置以提供模拟车辆的电源(例如，汽车电池)与IVI系统203的连接的信号。事件信号的其它非限制性实例可以包含后视摄像头(例如，倒车摄像头)和变换(例如，调档)齿轮的激活。如图2所示，配电板204的开关SW1经配置以接收来自电源208的电力和事件信号(S

存储器装置206可以是SSD(具有SATA或NVMe接口)。然而，实施例并不限于此。例如，存储器装置206可以是eMMC或UFS。存储器装置206可以耦合到诊断计算机210(例如，通过带状电缆)，以从存储器装置206接收数据日志文件。

存储器装置206可以耦合到电源208。为了便于说明，图2示出了电源208的多个实例，但是并不意味着暗示有多个电源。电源208可以耦合到多个组件并向每个组件提供不同电压电平。例如，单一电源208可经配置以向配电板202提供3.3伏特以用于提供触发信号，向配电板202提供十二伏特以用于向SUT 204提供事件信号，并向存储器装置206提供高达二十伏特。然而，本公开的实施例并不限于单一电源208，并且可以包含多个电源。

图3是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的函数库330的框图。本公开的实施例包含函数库，例如示例性函数库330。可以从库330选择函数，并且所述函数用作根据本公开的若干实施例进行存储器装置的系统级系统内测试的“构造块”。在至少一个实施例中，函数可以是API函数，例如图3中所示的那些函数。用户可以使用函数库330设计测试程序。代替为测试程序编写所有代码，测试程序可以包含对库330的函数调用。这样可以减少设计测试程序的时间。库330可以被标准化以提供多个测试程序中的一致性和/或可重复性。

库330的API函数可以用于访问在存储器装置的系统内测试中使用的硬件和/或软件组件。库330可以是用户可以从C函数内调用的C函数集合。为了使用来自库330的函数，用户可以在C测试文件中包含用于库330(例如，lib.h)的头文件。头文件可以包含用于所有API函数的原型。可以根据所的硬件基础架构来组织库330的函数。例如，如图3所示，库330可以包含API函数的I/O基础架构组331，以检测并连接到配电板(例如，结合图1所描述的配电板102)并且管理其输入输出外围设备。库330可以包含API函数的电源(PS)控制基础架构组332，以检测并连接到电源(例如，电源108)并且远程管理其输出端，以便强制和/或读取电流电平和/或电压电平。库330可以包含API函数的通信(COM)基础架构组333，以检测并连接到SUT(例如，SUT 104)，管理与SUT的交互，向SUT发送命令和/或监视在SUT中发生的事件。库330可以包含API函数的日志系统基础架构组334，以存储测试会话数据日志文件、来自SUT的输出流和/或来自存储器装置的串口通信日志。库330可以包含API函数的流程控制基础架构组335，以控制测试流程序列和/或控制向组件提供电力(例如，管理电源开/关迭代)。所述函数可以用于标记周期开始和结束点，以使数据日志文件(例如，测试会话数据日志文件和SUT数据日志文件)的各部分同步。库330可以包含对API函数的目标系统事件组336的触发，以用于在SUT(例如，SUT的软件环境)内的事件监视和/或管理测试会话事件与SUT的事件的同步。库330可以包含对硬件(HW)信号(例如，GPIO)的触发，以监视硬件信号，从而触发事件(例如，在SUT中)和/或收集相关存储器协议跟踪(例如，SUT与存储器装置之间的通信)。本公开的实施例不限于图3中所示的API函数。例如，库可以包含图3中未示出的附加函数和/或图3中所示的函数的子集。所述函数可以用于解析在存储器装置的系统内测试期间收集的数据和/或从所述数据提取图表。所述函数可以用于基于在存储器装置的系统内测试期间收集的数据来生成报告和/或图表。

在至少一个实施例中，用户(例如，消费者或SUT的制造商)可以注意到可用于库330中的函数，但并未注意到函数的编码。例如，这样使得消费者能够设计SUT的存储器装置的系统级系统内测试，所述测试最适合消费者的需求和SUT，同时保护了存储器装置的制造商的知识产权。用户不需要完全了解存储器装置，以设计存储器装置的系统级系统内测试，因为库330的函数可以由存储器装置的制造商开发。库330可以是静态的并且为用户预编译。为了使用库330，用户可以在编译时包含二进制的库文件(例如，lib.a)。

以下伪代码是根据本公开的用于存储器装置的系统级系统内测试的示例性测试程序。

图4是根据本公开的若干实施例的用于存储器装置的系统级系统内测试的方法的流程图。在框440处，可以接收到选自API函数库的至少一个API函数。API函数库与SUT的存储器装置的系统级系统内测试相关联。在框442处，可以执行至少一个所选API函数，以执行存储器装置的系统级系统内测试。在框444处，可在系统级系统内测试期间确定SUT的数据日志文件是否包含特定文本字符串。在框446处，可响应于确定数据日志文件包含特定文本字符串来向诊断装置提供触发信号。

尽管图4中未示出，可响应于提供触发信号而使用诊断装置记录SUT与存储器装置之间的通信。响应于确定SUT的数据日志文件包含特定文本字符串，测试会话数据日志文件的事件可以与关联于特定文本字符串的SUT和数据日志文件的事件同步。响应于确定SUT的数据日志文件包含特定文本字符串，可将模拟存储器装置的错误的信号输入到SUT。尽管图4中未示出，可监视从SUT输出的第一信号，并且响应于检测到第一信号的逻辑状态的变化，将第二信号输入到SUT，所述第二信号模拟在SUT的操作期间对SUT的输入。

尽管本文中已说明和描述了特定实施例，但所属领域的技术人员将了解，经计算以实现相同结果的布置可替代所示的特定实施例。本公开旨在涵盖本公开的一或多个实施例的修改或变化。应理解，以上描述是以说明性方式而非限制性方式进行的。在阅读以上描述后，以上实施例的组合和本文中未具体描述的其它实施例对于本领域的技术人员将是显而易见的。本公开的一或多个实施例的范围包含其中使用了以上结构的方法的其它应用。因此，应参考所附权利要求书以及此权利要求书所赋予的等效物的全部范围来确定本公开的一或多个实施例的范围。

在前述详细描述中，出于精简本公开的目的，在单个实施例中将一些特征分组在一起。本公开的这种方法不应被解释为反映以下意图：本公开的所公开实施例必须使用比每项权利要求中明确记载的更多的特征。相反，如所附权利要求书中所反映，发明主题在于少于单个公开实施例的全部特征。因此，所附权利要求书据此并入到详细描述中，其中每项权利要求独立地作为单独的实施例。