一种键盘薄膜电路板功能测试设备及测试方法

技术领域

本发明属于电路板测试设备技术领域，具体的说是一种键盘薄膜电路板功能测试设备及测试方法。

背景技术

薄膜电路板是一种以PET薄膜为基材制成的柔性线路板，并具有可挠性。薄膜线路板被广泛应用于电子机械自动化控制、仪器仪表、医疗设备、消费电子、电脑、通讯、计量及家用电器、玩具等等。薄膜线路板在加工完成后，需要进行测试，现有技术中对其进行测试时，需要人工手持测试探针对其进行测试，测试时存在人工测试稳定性差，容易产生较大误差的问题。

现有技术中也出现了一些关于电路板测试设备的技术方案，如申请号为2020108287170的一项中国专利公开了一种薄膜电路板测试加工台，包括测试加工台、上承载机构、下承载机构、对接控制机构、机架和接装架板，所述测试加工台用于对薄膜电路板进行固定；所述测试加工台配合连接在所述机架的中间，所述测试加工台固定连接在所述下承载机构上；所述上承载机构与所述测试加工台相对设置，所述上承载机构用于固定安装薄膜电路板测试仪；所述上承载机构活动连接在所述接装架板上，所述接装架板固定连接在所述机架上；所述下承载机构固定连接在所述机架上。

但现有技术中，键盘薄膜电路板通过放置在测试仪的安装槽中，之后通过触点接触电路板的金手指后通电对电路板进行测试，通常采用手动放置并对齐，对齐效率较低，容易出现错位，降低触点与金手指的良好电气连接，影响电路板的检测效率。

为此，本发明提供一种键盘薄膜电路板功能测试设备及测试方法。

发明内容

为了弥补现有技术的不足，解决现有技术中，键盘薄膜电路板通过放置在测试仪的安装槽中，之后通过触点接触电路板的金手指后通电对电路板进行测试，通常采用手动放置并对齐，对齐效率较低，容易出现错位，降低触点与金手指的良好电气连接，影响电路板的检测效率的问题，本发明提出的一种键盘薄膜电路板功能测试设备及测试方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：本发明所述的一种键盘薄膜电路板功能测试设备，包括机架；所述机架顶部设有安装台，安装台顶部开设有有用于放置电路板的固定槽，固定槽内对称开设有一组定位孔，定位孔中滑动连接有滑杆，滑杆与定位孔底部之间设有拉簧；所述安装台一侧的机架顶部通过支架固连有气缸，气缸的活塞杆底端固连有压板，压板底部与电路板的金手指对应位置固连有探针，探针通过导线与测试设备连接；所述压板底部与滑杆对应位置固连有与滑杆配合的套筒；工作时，现有技术中，键盘薄膜电路板通过放置在测试仪的安装槽中，之后通过触点接触电路板的金手指后通电对电路板进行测试，通常采用手动放置并对齐，对齐效率较低，容易出现错位，降低触点与金手指的良好电气连接，影响电路板的检测效率，此时本发明通过滑杆贯穿电路板上的开孔之后，通过套筒下滑后套入滑杆顶部并挤压电路板，进而对电路板进行精确定位和固定，避免电路板在探针下压过程中的位移，进一步增加探针与金手指的电气连接效率，增加电路板的检测效率。

优选的，所述定位孔一侧开设与定位孔平行布置的滑槽，滑槽中滑动连接有一号齿条，一号齿条顶部固连有一号磁铁，一号齿条底部与滑槽之间固连有弹簧；所述套筒底部与一号磁铁对应位置固连二号磁铁，一号磁铁与二号磁铁相邻的一侧磁极相同；所述滑杆上靠近一号齿条的一侧固连有二号齿条，一号齿条与二号齿条之间啮合有齿轮，齿轮通过转轴与安装台转动连接；通过套筒下滑过程中，二号磁铁随之下滑并靠近一号磁铁，使得二号磁铁排斥一号磁铁，进而驱动一号磁铁和一号齿条向下滑动，之后通过齿轮驱动二号齿条和滑杆上升并贯穿电路板，增加电路板的定位效率，同时电路板完成检测后，套筒上升并脱离与电路板和滑杆的接触，之后一号磁铁失去排斥力，使得滑杆在拉簧的作用下向下滑动并复位，增加电路板的取出效率，减少突起的滑杆对电路板拿取动作的影响。

优选的，所述滑杆内开设有一号孔，一号孔内转动连接有波浪杆，一号孔底部设有驱动块，驱动块内通过丝杆螺母副连接有丝杠，丝杠一端与波浪杆固连，另一端与拉簧转动连接；通过滑杆上升或下降过程中，拉簧向下拉动丝杠，进而配合驱动块使得丝杠和波浪杆不断旋转，波浪杆旋转过程中不断撞击一号孔内壁，增加滑杆上升和下降过程中的振动，进一步增加电路板开孔套入滑杆和与滑杆脱离的效率。

优选的，所述一号孔顶部圆周均布的一组斜孔中滑动连接有斜杆，斜杆远离滑杆中心的一端向下倾斜，斜杆与一号孔顶部之间固连有弹簧，斜杆与波浪杆顶部之间固连有拉绳；所述拉绳中部设有空心的弹性球，弹性球位于拉绳的股线之间，且与股线固连；所述斜杆远离一号孔的一端开设有二号孔，二号孔通过管道与弹性球连通；通过滑杆上升过程中带动波浪杆转动，进而使得滑杆贯穿电路板之后，波浪杆带动拉绳不断旋转并收紧拉绳，配合弹簧使得斜杆向一号孔外周滑出，进而使得斜杆伸出后抵住电路板的开孔内壁，进一步增加电路板开孔与滑杆的同轴度，进而增加电路板的定位精度，进一步保证金手指与探针准确接触，增加电路板的检测效率。

优选的，所述套筒底部固连有锥形的弹性圈，弹性圈底部均布一组弧形的弹性钩，弹性钩远离套筒轴心的一侧开设有喷孔；所述套筒与滑杆滑动密封连接，套筒内开设有三号孔，三号孔一端与套筒连通，另一端与喷孔连通；通过弹性圈接触电路板时向外侧张拉柔性的电路板，进而对电路板进行铺平，避免电路板的褶皱，同时套筒套入滑杆时，套筒内产生的压缩空气经三号孔之后从喷孔喷出，减少电路板上粘附的灰尘在弹性圈的挤压下损坏电路板，同时喷孔喷出的气流增加弹性钩的抖动，进一步增加电路板的振动抚平效率。

优选的，所述斜杆远离一号孔的一端固连有S形的弹片，弹片呈倒置的葫芦形；所述二号孔贯穿斜杆，且二号孔靠近一号孔的一端设有单向阀；所述一号孔顶部设有四号孔，二号孔远离一号孔的一端连通有软管，软管中部与弹片的内侧面固连；通过弹片随斜杆的伸出动作向远离滑杆的方向移动，进而使得弹片的外周凹陷处卡住电路板的开孔内壁，进一步提高电路板的定位精度，同时套筒中的一部分空气经四号孔之后充入一号孔，之后经二号孔向软管喷出，软管端部喷出高速气流时不断甩动，进一步拍打弹片和滑杆，增加弹片的抖动效率，进而增加电路板上开孔卡入弹片凹陷处时的效率，增加电路板的定位精度。

优选的，所述滑杆上与软管对应位置设有顶杆，顶杆贯穿滑杆并延伸至一号孔内部，顶杆靠近一号孔的一端固连有钉帽，钉帽与一号孔内壁之间的顶杆上套设有弹簧；所述顶杆远离钉帽的一端固连有弧形的拨叉，软管上与拨叉对应位置均布一组月牙形的拨片，拨片末端固连有振动球；所述弹片靠近振动球的一侧均布一组半球形的凹槽，凹槽内径大于振动球直径；通过波浪杆不断旋转过程中顶动钉帽，进而带动顶杆和拨叉拨动软管，进一步增加软管的摆动幅度，同时通过振动球不断的与凹槽卡和与脱离，进一步增加弹片的抖动效率，进而增加电路板的安装与拿取速度。

一种键盘薄膜电路板功能测试方法，该方法适用于上述的键盘薄膜电路板功能测试设备，包括以下步骤：

S1、将薄膜电路板通过酒精棉进行清洁后通过风机进行吹干，晾置3-5min后通过操作人员带上防尘手套，将薄膜电路板的金手指拿取后对准固定槽后放下；

S2、启动气缸，使得活塞杆带动压板下滑，之后二号磁铁排斥一号磁铁，使得一号齿条下滑后通过齿轮带动滑杆上升，之后与薄膜电路板的开孔对齐后贯穿薄膜电路板，完成对薄膜电路板的精确定位，之后套筒继续下滑后压紧并固定薄膜电路板，同时探针与金手指接触，通过测试设备对薄膜电路板进行检查。

本发明的有益效果如下：

1.本发明所述的一种键盘薄膜电路板功能测试设备及测试方法，通过滑杆贯穿电路板上的开孔之后，通过套筒下滑后套入滑杆顶部并挤压电路板，进而对电路板进行精确定位和固定，避免电路板在探针下压过程中的位移，进一步增加探针与金手指的电气连接效率，增加电路板的检测效率。

2.本发明所述的一种键盘薄膜电路板功能测试设备及测试方法，通过套筒下滑过程中，二号磁铁随之下滑并靠近一号磁铁，使得二号磁铁排斥一号磁铁，进而驱动一号磁铁和一号齿条向下滑动，之后通过齿轮驱动二号齿条和滑杆上升并贯穿电路板，增加电路板的定位效率，同时电路板完成检测后，套筒上升并脱离与电路板和滑杆的接触，之后一号磁铁失去排斥力，使得滑杆在拉簧的作用下向下滑动并复位，增加电路板的取出效率，减少突起的滑杆对电路板拿取动作的影响。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步说明。

图1是本发明的方法流程图；

图2是本发明的立体图；

图3是本发明的主视图；

图4是图3中A-A处截面图；

图5是本发明中滑柱与套筒的剖视图；

图6是图5中B处局部放大图；

图7是图5中C处局部放大图；

图8是图5中D处局部放大图；

图中：机架1、安装台11、固定槽12、定位孔13、滑杆14、拉簧15、气缸16、压板17、金手指18、探针19、套筒2、一号齿条3、一号磁铁31、二号齿条32、齿轮33、一号孔34、波浪杆35、驱动块36、丝杠37、斜杆4、拉绳41、弹性球42、二号孔43、弹性圈21、弹性钩22、喷孔23、三号孔24、弹片44、四号孔45、软管46、顶杆47、钉帽48、拨叉49、拨片5、振动球51、凹槽52。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。

如图1至图8所示，本发明所述的一种键盘薄膜电路板功能测试设备，包括机架1；所述机架1顶部设有安装台11，安装台11顶部开设有有用于放置电路板的固定槽12，固定槽12内对称开设有一组定位孔13，定位孔13中滑动连接有滑杆14，滑杆14与定位孔13底部之间设有拉簧15；所述安装台11一侧的机架1顶部通过支架固连有气缸16，气缸16的活塞杆底端固连有压板17，压板17底部与电路板的金手指18对应位置固连有探针19，探针19通过导线与测试设备连接；所述压板17底部与滑杆14对应位置固连有与滑杆14配合的套筒2；工作时，现有技术中，键盘薄膜电路板通过放置在测试仪的安装槽中，之后通过触点接触电路板的金手指18后通电对电路板进行测试，通常采用手动放置并对齐，对齐效率较低，容易出现错位，降低触点与金手指18的良好电气连接，影响电路板的检测效率，此时本发明通过滑杆14贯穿电路板上的开孔之后，通过套筒2下滑后套入滑杆14顶部并挤压电路板，进而对电路板进行精确定位和固定，避免电路板在探针19下压过程中的位移，进一步增加探针19与金手指18的电气连接效率，增加电路板的检测效率。

作为本发明的一种实施方式，所述定位孔13一侧开设与定位孔13平行布置的滑槽，滑槽中滑动连接有一号齿条3，一号齿条3顶部固连有一号磁铁31，一号齿条3底部与滑槽之间固连有弹簧；所述套筒2底部与一号磁铁31对应位置固连二号磁铁，一号磁铁31与二号磁铁相邻的一侧磁极相同；所述滑杆14上靠近一号齿条3的一侧固连有二号齿条32，一号齿条3与二号齿条32之间啮合有齿轮33，齿轮33通过转轴与安装台11转动连接；通过套筒2下滑过程中，二号磁铁随之下滑并靠近一号磁铁31，使得二号磁铁排斥一号磁铁31，进而驱动一号磁铁31和一号齿条3向下滑动，之后通过齿轮33驱动二号齿条32和滑杆14上升并贯穿电路板，增加电路板的定位效率，同时电路板完成检测后，套筒2上升并脱离与电路板和滑杆14的接触，之后一号磁铁31失去排斥力，使得滑杆14在拉簧15的作用下向下滑动并复位，增加电路板的取出效率，减少突起的滑杆14对电路板拿取动作的影响。

作为本发明的一种实施方式，所述滑杆14内开设有一号孔34，一号孔34内转动连接有波浪杆35，一号孔34底部设有驱动块36，驱动块36内通过丝杆螺母副连接有丝杠37，丝杠37一端与波浪杆35固连，另一端与拉簧15转动连接；通过滑杆14上升或下降过程中，拉簧15向下拉动丝杠37，进而配合驱动块36使得丝杠37和波浪杆35不断旋转，波浪杆35旋转过程中不断撞击一号孔34内壁，增加滑杆14上升和下降过程中的振动，进一步增加电路板开孔套入滑杆14和与滑杆14脱离的效率。

作为本发明的一种实施方式，所述一号孔34顶部圆周均布的一组斜孔中滑动连接有斜杆4，斜杆4远离滑杆14中心的一端向下倾斜，斜杆4与一号孔34顶部之间固连有弹簧，斜杆4与波浪杆35顶部之间固连有拉绳41；所述拉绳41中部设有空心的弹性球42，弹性球42位于拉绳41的股线之间，且与股线固连；所述斜杆4远离一号孔34的一端开设有二号孔43，二号孔43通过管道与弹性球42连通；通过滑杆14上升过程中带动波浪杆35转动，进而使得滑杆14贯穿电路板之后，波浪杆35带动拉绳41不断旋转并收紧拉绳41，配合弹簧使得斜杆4向一号孔34外周滑出，进而使得斜杆4伸出后抵住电路板的开孔内壁，进一步增加电路板开孔与滑杆14的同轴度，进而增加电路板的定位精度，进一步保证金手指18与探针19准确接触，增加电路板的检测效率。

作为本发明的一种实施方式，所述套筒2底部固连有锥形的弹性圈21，弹性圈21底部均布一组弧形的弹性钩22，弹性钩22远离套筒2轴心的一侧开设有喷孔23；所述套筒2与滑杆14滑动密封连接，套筒2内开设有三号孔24，三号孔24一端与套筒2连通，另一端与喷孔23连通；通过弹性圈21接触电路板时向外侧张拉柔性的电路板，进而对电路板进行铺平，避免电路板的褶皱，同时套筒2套入滑杆14时，套筒2内产生的压缩空气经三号孔24之后从喷孔23喷出，减少电路板上粘附的灰尘在弹性圈21的挤压下损坏电路板，同时喷孔23喷出的气流增加弹性钩22的抖动，进一步增加电路板的振动抚平效率。

作为本发明的一种实施方式，所述斜杆4远离一号孔34的一端固连有S形的弹片44，弹片44呈倒置的葫芦形；所述二号孔43贯穿斜杆4，且二号孔43靠近一号孔34的一端设有单向阀；所述一号孔34顶部设有四号孔45，二号孔43远离一号孔34的一端连通有软管46，软管46中部与弹片44的内侧面固连；通过弹片44随斜杆4的伸出动作向远离滑杆14的方向移动，进而使得弹片44的外周凹陷处卡住电路板的开孔内壁，进一步提高电路板的定位精度，同时套筒2中的一部分空气经四号孔45之后充入一号孔34，之后经二号孔43向软管46喷出，软管46端部喷出高速气流时不断甩动，进一步拍打弹片44和滑杆14，增加弹片44的抖动效率，进而增加电路板上开孔卡入弹片44凹陷处时的效率，增加电路板的定位精度。

作为本发明的一种实施方式，所述滑杆14上与软管46对应位置设有顶杆47，顶杆47贯穿滑杆14并延伸至一号孔34内部，顶杆47靠近一号孔34的一端固连有钉帽48，钉帽48与一号孔34内壁之间的顶杆47上套设有弹簧；所述顶杆47远离钉帽48的一端固连有弧形的拨叉49，软管46上与拨叉49对应位置均布一组月牙形的拨片5，拨片5末端固连有振动球51；所述弹片44靠近振动球51的一侧均布一组半球形的凹槽52，凹槽52内径大于振动球51直径；通过波浪杆35不断旋转过程中顶动钉帽48，进而带动顶杆47和拨叉49拨动软管46，进一步增加软管46的摆动幅度，同时通过振动球51不断的与凹槽52卡和与脱离，进一步增加弹片44的抖动效率，进而增加电路板的安装与拿取速度。

一种键盘薄膜电路板功能测试方法，该方法适用于上述的键盘薄膜电路板功能测试设备，包括以下步骤：

S1、将薄膜电路板通过酒精棉进行清洁后通过风机进行吹干，晾置3-5min后通过操作人员带上防尘手套，将薄膜电路板的金手指18拿取后对准固定槽12后放下；

S2、启动气缸16，使得活塞杆带动压板17下滑，之后二号磁铁排斥一号磁铁31，使得一号齿条3下滑后通过齿轮33带动滑杆14上升，之后与薄膜电路板的开孔对齐后贯穿薄膜电路板，完成对薄膜电路板的精确定位，之后套筒2继续下滑后压紧并固定薄膜电路板，同时探针19与金手指18接触，通过测试设备对薄膜电路板进行检查。

工作时，本发明通过滑杆14贯穿电路板上的开孔之后，通过套筒2下滑后套入滑杆14顶部并挤压电路板，进而对电路板进行精确定位和固定，避免电路板在探针19下压过程中的位移，进一步增加探针19与金手指18的电气连接效率，增加电路板的检测效率；通过套筒2下滑过程中，二号磁铁随之下滑并靠近一号磁铁31，使得二号磁铁排斥一号磁铁31，进而驱动一号磁铁31和一号齿条3向下滑动，之后通过齿轮33驱动二号齿条32和滑杆14上升并贯穿电路板，增加电路板的定位效率，同时电路板完成检测后，套筒2上升并脱离与电路板和滑杆14的接触，之后一号磁铁31失去排斥力，使得滑杆14在拉簧15的作用下向下滑动并复位，增加电路板的取出效率，减少突起的滑杆14对电路板拿取动作的影响；通过滑杆14上升或下降过程中，拉簧15向下拉动丝杠37，进而配合驱动块36使得丝杠37和波浪杆35不断旋转，波浪杆35旋转过程中不断撞击一号孔34内壁，增加滑杆14上升和下降过程中的振动，进一步增加电路板开孔套入滑杆14和与滑杆14脱离的效率；通过滑杆14上升过程中带动波浪杆35转动，进而使得滑杆14贯穿电路板之后，波浪杆35带动拉绳41不断旋转并收紧拉绳41，配合弹簧使得斜杆4向一号孔34外周滑出，进而使得斜杆4伸出后抵住电路板的开孔内壁，进一步增加电路板开孔与滑杆14的同轴度，进而增加电路板的定位精度，进一步保证金手指18与探针19准确接触，增加电路板的检测效率；通过弹性圈21接触电路板时向外侧张拉柔性的电路板，进而对电路板进行铺平，避免电路板的褶皱，同时套筒2套入滑杆14时，套筒2内产生的压缩空气经三号孔24之后从喷孔23喷出，减少电路板上粘附的灰尘在弹性圈21的挤压下损坏电路板，同时喷孔23喷出的气流增加弹性钩22的抖动，进一步增加电路板的振动抚平效率；通过弹片44随斜杆4的伸出动作向远离滑杆14的方向移动，进而使得弹片44的外周凹陷处卡住电路板的开孔内壁，进一步提高电路板的定位精度，同时套筒2中的一部分空气经四号孔45之后充入一号孔34，之后经二号孔43向软管46喷出，软管46端部喷出高速气流时不断甩动，进一步拍打弹片44和滑杆14，增加弹片44的抖动效率，进而增加电路板上开孔卡入弹片44凹陷处时的效率，增加电路板的定位精度；通过波浪杆35不断旋转过程中顶动钉帽48，进而带动顶杆47和拨叉49拨动软管46，进一步增加软管46的摆动幅度，同时通过振动球51不断的与凹槽52卡和与脱离，进一步增加弹片44的抖动效率，进而增加电路板的安装与拿取速度。

上述前、后、左、右、上、下均以说明书附图中的图1为基准，按照人物观察视角为标准，装置面对观察者的一面定义为前，观察者左侧定义为左，依次类推。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明保护范围的限制。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。