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集成电路、像素驱动装置和像素缺陷检测方法

文献发布时间：2023-06-19 19:28:50

技术领域

本公开涉及一种用于驱动显示面板的像素的集成电路、像素驱动装置和像素缺陷检测方法。

背景技术

随着信息化的进展，已经开发了能够将信息可视化的各种显示装置。最近已经开发或正在开发的显示装置的示例包括液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)显示装置和等离子体显示面板(PDP)等。随着显示技术的发展，这样的显示装置被设计为适当地显示高分辨率图像。

然而，虽然上述显示装置可以适当地显示高分辨率图像，但是难以减小显示装置的尺寸。例如，到目前为止已经开发的大尺寸的OLED显示装置仅具有80英寸(约2m)或100英寸(约25m)的尺寸，因此不适合于制造具有10m或大于10m的水平长度的大尺寸的显示装置。

最近，作为解决这样的尺寸问题的方法，发光二极管(LED)显示装置已经受到了极大关注。LED显示装置可以包括必要数量的模块化LED像素(其被布置成构成一个大尺寸的面板)。可选地，LED显示装置可以包括必要数量的单元面板，其中各个单元面板具有多个LED像素(其被布置成形成一个大尺寸的面板结构)。根据LED显示装置技术，可以扩展和布置必要数量的LED像素，这使得容易实现大尺寸的显示装置。

LED显示装置有利于面板尺寸的多样化以及尺寸扩大。因此，可以根据LED像素的适当布置将LED显示装置的水平和垂直长度调整为各种值。

可以通过各种方法驱动布置有LED的显示面板。驱动方法的代表性示例可以包括脉幅调制(PAM)方法和脉宽调制(PWM)方法。PAM方法是向像素供给与像素的灰度值相对应的模拟电压，并根据模拟电压将流过像素的电流的大小控制为不同的值，并且PWM方法是根据像素的灰度值来调整向像素供给电流的时间。

显示面板可以包括多个像素。根据流过各个像素中包括的LED的电流，LED可以发光以显示期望的图像。

然而，当各个像素中包括的LED中发生缺陷时，不能正常显示相应像素。为了检测多个像素的缺陷，需要添加与像素数量相对应的多个缺陷检测电路。因此，显示电路的面积不可避免地增大。

发明内容

在这样的背景下，在一个方面，各种实施例涉及提供一种用于驱动显示面板的像素的集成电路以及像素驱动装置和像素缺陷检测方法，在集成电路中，用于提供数据电压以驱动各个像素的驱动电路可以感测各个像素中包括的发光二极管的电压(例如，阳极端子的电压或正向压降)并检测像素的缺陷(例如，开路或短路)。

在一个方面，本公开提供了一种集成电路，其包括：驱动电路，其被配置为通过连接到面板的像素的数据线向所述像素提供数据电压，通过所述数据线感测所述像素的发光二极管的电压，并将所述发光二极管的电压与参考电压进行比较；以及检测电路，其被配置为从所述驱动电路接收所述发光二极管的电压与参考电压之间的比较结果，并且基于所接收到的比较结果来识别所述像素的缺陷。

在另一方面，本公开提供了一种像素驱动装置，其包括：放大器，其被配置为通过与面板的像素连接的数据线向所述像素提供数据电压；以及第一开关，其连接在所述像素和所述放大器的输出端子之间，其中，在所述第一开关闭合时，所述放大器通过所述放大器的第一输入端子接收源极电压，并且通过连接到所述放大器的输出端子的数据线向所述像素提供所述数据电压，并且在所述第一开关断开时，所述放大器通过所述放大器的第一输入端子接收参考电压，通过所述放大器的第二输入端子接收通过所述数据线所感测到的所述像素中所包括的发光二极管的电压，并且通过所述输出端子输出所述参考电压和所述发光二极管的电压之间的比较结果。

在又一方面，本公开提供了一种用于检测显示面板的像素中的缺陷的像素缺陷检测方法，其中所述显示面板具有布置在其中的多个像素，所述像素缺陷检测方法包括：在第一时间段中，通过经由数据线与像素连接的放大器向所述像素提供数据电压；在第二时间段中，通过所述放大器接收参考电压和所述像素中所包括的发光二极管的电压，并输出所述参考电压和所述发光二极管的电压之间的比较结果；以及基于所述参考电压和所述发光二极管的电压之间的比较结果来识别所述像素的缺陷。

根据本实施例，用于提供数据电压以驱动各个像素的驱动电路可以感测各个像素中包括的发光二极管的电压(例如，阳极端子的电压或正向压降)，并检测像素的缺陷(例如，开路或短路)。因此，不需要添加单独的比较器来检测各个像素是否具有缺陷。

此外，在提供用于驱动各个像素的数据电压的驱动电路中所包括的放大器可以重新用作用于像素缺陷确定的比较器，这使得可以减小显示电路的面积。

此外，显示装置同时感测显示面板中所布置的多个像素中的布置在相同行中的多个像素，并判断各个像素是否具有缺陷，这使得可以使像素缺陷确定速度最小化。

附图说明

图1是根据实施例的显示装置的配置图。

图2是根据实施例的显示装置的详细配置图。

图3是根据实施例的显示装置的详细配置图。

图4是示出根据实施例的电路在初始化时段中的操作的图。

图5是示出根据实施例的电路在程控时段中的操作的图。

图6是示出根据实施例的电路在比较时段中的操作的图。

图7A是示出根据实施例的处于LED正常的状态下的电路的图。

图7B是示出根据实施例的处于LED正常的状态下的正向压降的图。

图8A是示出根据实施例的处于LED开路的状态下的电路的图。

图8B是示出根据实施例的处于LED开路的状态下的正向压降的图。

图9A是示出根据实施例的处于LED短路的状态下的电路的图。

图9B是示出根据实施例的处于LED短路的状态下的正向压降的图。

图10是根据实施例的显示装置的详细配置图。

图11是示出根据实施例的显示装置的用于判断LED是否开路的信号的时序图。

图12是示出根据实施例的显示装置的用于判断LED是否短路的信号的时序图。

具体实施方式

图1是根据实施例的显示装置的配置图。

参考图1，显示装置100可以包括面板(或显示面板)110和用于驱动面板110的面板驱动电路(或驱动电路)。面板驱动电路可以包括数据驱动电路120、栅极驱动电路140和数据处理电路150。显示装置100还可以包括检测电路130。

面板110可以包括布置在其中的多个数据线DL、多个栅极线GL和多个像素P(或子像素SP)。在实施例中，多个数据线DL和多个栅极线GL中的至少一些可以用作多个感测线SL。

用于驱动面板110中包括的一个或多于一个组件的电路120、140和150可以被称为面板驱动电路或驱动电路。例如，数据驱动电路120、栅极驱动电路140和数据处理电路150中的至少一个可以各自被称为面板驱动电路或驱动电路。上述电路120、140和150可以各自被称为面板驱动电路或驱动电路，并且整个电路或多个电路可以被称为面板驱动电路或驱动电路。

在面板驱动电路中，栅极驱动电路140可以通过相应的栅极线GL向各个像素P供给具有导通电压或关断电压的扫描信号。当具有导通电压的扫描信号被供给至各个像素P时，相应像素P连接到数据线DL。当具有关断电压的扫描信号被供给至各个像素P时，相应像素P从数据线DL断开。

在面板驱动电路中，数据驱动电路120向数据线DL供给数据电压。可以根据扫描信号来将供给至数据线DL的数据电压(例如，与各个像素的灰度值相对应的电压)传送到连接到数据线DL的像素P。

在实施例中，数据驱动电路120可以使用至少一些数据线DL作为感测线SL。例如，数据驱动电路120可以通过数据线DL来感测像素P内的发光二极管(例如LED)的电压，其中数据线DL将数据电压供给至各个像素P。这里，电压可以是在发光二极管的阳极端子处测量的正向压降。当显示装置100在第一时间段中在第一模式(例如，显示驱动模式)下操作时，数据驱动电路120可以通过数据线DL向各个像素P供给数据电压。当显示装置100在第二时间段中在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，数据驱动电路120可以通过使用数据线DL作为感测线SL来感测像素P内的发光二极管(例如，LED)的电压。当显示装置100在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，数据驱动电路120可以通过将通过数据线DL感测到的像素P内的发光二极管的电压(例如，在发光二极管的阳极端子处测量的正向压降)与至少一个参考电压进行比较来检测像素P的缺陷(例如，开路或短路)。

例如，当显示装置100在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，数据驱动电路120可以将通过数据线DL感测到的像素P内的发光二极管的电压(例如，在发光二极管的阳极端子处测量的正向压降)与第一参考电压进行比较，并将比较结果发送到检测电路130。检测电路130可基于比较结果来识别(或判断)包括在像素P中的发光二极管是否开路。

当显示装置100在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，数据驱动电路120可以将通过数据线DL感测到的像素P内的发光二极管的电压(例如，在发光二极管的阳极端子处测量的正向压降)与第二参考电压进行比较，并将比较结果发送到检测电路130。检测电路130可以基于比较结果来识别(或判断)包括在像素P中的LED是否短路。下面将参考图4和以下附图来详细描述数据驱动电路120和检测电路130的像素缺陷检测操作的详细操作方法。

在面板驱动电路中，数据处理电路150可以向数据驱动电路120、检测电路130和栅极驱动电路140中的一个或多于一个电路供给各种控制信号。数据处理电路150可以根据在各个帧中实现的定时生成用于控制扫描的开始的栅极控制信号GCS，并且将生成的栅极控制信号GCS发送到栅极驱动电路140。数据处理电路150可以将从外部输入的图像数据转换为适合于数据驱动电路120中使用的数据信号格式的图像数据RGB，并将图像数据RGB输出到数据驱动电路120。此外，数据处理电路150可以根据各个定时发送用于控制数据驱动电路120向各个像素P供给数据电压的数据控制信号DCS。

数据驱动电路120可以被称为源极驱动。栅极驱动电路140可以被称为栅极驱动。数据处理电路150可以被称为时序控制器T-CON或控制器。数据驱动电路120和检测电路130可以被包括在一个集成电路125中，并且被称为源极驱动集成电路(IC)。此外，数据驱动电路120、检测电路130和数据处理电路150可以被包括在一个集成电路中，并且被称为IC。本实施例不限于这样的名称。然而，在下面的描述中，这里将省略对源极驱动、栅极驱动和时序控制器中的一些通常已知的组件的描述。因此，为了理解实施例，应当考虑省略了这样的一些组件。

面板(或显示面板)110可以是LED面板。此时，布置在面板110中的像素P(或子像素SP)可以包括LED和一个或多于一个晶体管。面板(或显示面板)110可以是OLED面板。此时，布置在面板110中的像素P可以包括OLED和一个或多于一个晶体管。在使用显示装置的情况下，各个像素P中所包括的LED或OLED有可能损坏。例如，当各个像素P中包括的LED或OLED开路或短路时，即使预设的正常电流流过LED或OLED，LED或OLED也不能正常发光。在实施例中，数据驱动电路120可以感测包括在各个像素P中的发光二极管(例如，LED或OLED)的正向压降(例如，发光二极管的阳极端子处的电压)，并将感测到的正向压降与一个或多于一个参考电压进行比较，从而检测发光二极管的缺陷。在以下实施例中，为了便于描述，将以发光二极管是LED的情况为例。然而，本实施例不限于此。

图2是根据实施例的显示装置的详细配置图。

参考图2，显示装置200可以包括控制器210、驱动电路220、检测电路230和布置在显示面板中的多个像素P。控制器210可以进行图1的数据处理电路150的至少一些功能或全部功能，并且控制根据下面将描述的实施例的像素缺陷检测操作。驱动电路220可以包括图1的数据驱动电路120，并且还包括图1的栅极驱动电路140。检测电路230可以包括图1的检测电路130。驱动电路220和检测电路230也可以被包括在一个IC 225中，并且被称为源极驱动IC。另外，驱动电路220、检测电路230及控制器210可以被包括在一个IC中，并被称为IC。

像素P可以包括转换电路240、发光二极管(例如LED或OLED)、第一晶体管TR1(例如驱动晶体管)、第二晶体管TR2(例如发光控制晶体管)和第三晶体管TR3(例如检测控制晶体管)。在下面的描述中，为了便于描述，将LED作为发光二极管的示例。然而，LED可以用包括OLED的各种类型的不同发光二极管代替。像素P可以形成在硅背板(silicon back plane)中，并且布置在像素P中的晶体管TR1至TR3可以以互补金属氧化物硅(CMOS)类型形成。

LED可以由阳极电极、有机层和阴极电极等构成。在第一晶体管TR1和/或第二晶体管TR2的控制下，在阳极电极连接到驱动电压EVDD(或驱动高电压)并且阴极电极连接到接地电压EVSS(或驱动低电压)的情况下，LED发光。

第一晶体管TR1可以通过控制供给至LED的驱动电流来控制LED的亮度。第一晶体管TR1的第一节点N1可以通过第二晶体管TR2电连接到LED的阳极电极，并且用作源极节点或漏极节点。第一晶体管TR1的第二节点N2可以连接到转换电路240。第一晶体管TR1的第三节点N3可以电连接到用于供给驱动电压EVDD的驱动电压线DVL，并且用作漏极节点或源极节点。转换电路240可以电连接在驱动电路220与第一晶体管TR1的第二节点N2之间，并且第一晶体管TR1可以根据转换电路240的输出而导通或关断。如下面将描述的图3所示，转换电路240可以包括一个或多于一个晶体管以及一个或多于一个电容器，从驱动电路220接收数据电压，并且通过PWM或PAM方法转换接收到的数据电压。在实施例中，将来自驱动电路220的数据电压供给到转换电路240所通过的线可以被称为数据线DL。在实施例中，如下面将描述的，至少一些数据线DL也可以用作感测线SL。

在实施例中，当显示装置200在第一时间段中在第一模式(例如，显示驱动模式)下操作时，驱动电路220可以通过数据线DL向转换电路240供给数据电压。如上所述，转换电路240可以导通第一晶体管TR1以使电流通过LED，从而使LED发光。

当显示装置200在第二时间段中在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，驱动电路220可以通过使用至少一些数据线DL作为感测线SL来感测像素P内的LED的电压(例如，诸如正向压降等的施加到LED的阳极端子的电压V

在实施例中，当显示装置200在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，驱动电路220可以根据检测控制信号DETECT_EN导通第三晶体管TR3，并且因此从第六节点N6感测LED的电压，例如，施加到LED的阳极端子的电压V

在实施例中，驱动电路220可以将通过至少一些数据线DL感测到的LED的电压(例如，诸如正向压降等的施加到LED的阳极端子的电压V

当显示装置200在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，驱动电路220可以将通过至少一些数据线DL感测到的LED的电压V

图3是根据实施例的显示装置的详细配置图。参考图3，图2的转换电路240可以包括一个晶体管和一个电容器。然而，这仅是示例，并且转换电路240不限于图3的示例。在实施例中，包括转换电路240的显示装置200可以根据有源矩阵方法进行操作。

在实施例中，转换电路240可以包括第四晶体管TR4和存储电容器Cstg，但不限于此。第一晶体管TR1可以通过控制供给至LED的驱动电流来控制LED的亮度。第一晶体管TR1的第一节点N1可以通过第二晶体管TR2电连接到LED的阳极电极，并且用作源极节点或漏极节点。第一晶体管TR1的第二节点N2可以电连接到转换电路240的第四晶体管TR4(例如，开关晶体管SWT)的源极节点或漏极节点，并且用作栅极节点。第一晶体管TR1的第三节点N3可以电连接到用于供给驱动电压EVDD的驱动电压线DVL，并且用作漏极节点或源极节点。

转换电路240的第四晶体管TR4可电连接在数据线DL与第一晶体管TR1的第二节点N2之间，并且由通过栅极线GL1接收到的扫描信号导通。当第四晶体管TR4导通时，通过数据线DL从驱动电路220供给的数据电压Vdata可被传送到第一晶体管TR1的第二节点N2。

存储电容器Cstg可以电连接在第一晶体管TR1的第一节点N1和第二节点N2之间。存储电容器Cstg可以是存在于第一晶体管TR1的第一节点N1和第二节点N2之间的寄生电容器，或者是有意设计在第一晶体管TR1外部的外部电容器。

第三晶体管TR3可连接第六节点N6和感测线SL。当第三晶体管TR3被通过栅极线GL2供给的检测控制信号DETECT_EN导通时，在LED的阳极电极中形成的电压V

在实施例中，驱动电路220可以将在LED的阳极电极中形成并通过至少一些数据线DL感测到的电压V

例如，当显示装置200在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，驱动电路220可以将通过至少一些数据线DL感测到的LED的电压V

当显示装置200在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作时，驱动电路220可以将通过至少一些数据线DL感测到的LED的电压V

在实施例中，上述显示装置100可以在第一时间段中在显示驱动模式下(例如，在第一模式下)操作，并且在第二时间段中在像素缺陷检测模式下(例如，在第二模式下)操作。第一模式和第二模式的操作时段可以如下表1所示划分。

[表1]

参考表1，显示装置100或200在第一模式(例如，显示驱动模式)下的操作时段可被划分为初始化时段、程控时段、发光时段和复位时段。显示装置100或200在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下的操作时段可以被划分为初始化时段、程控时段、比较时段、逻辑处理时段和复位时段。程控时段可以被称为预充电时段。复位时段中的操作可以与初始化时段中的操作相同或相似。第一模式的初始化时段中的操作可以与第二模式的初始化时段中的操作相同或相似。第一模式的程控时段中的操作可以与第二模式的程控时段中的操作相同或相似。第一模式的复位时段中的操作可以与第二模式的复位时段中的操作相同或相似。第一模式下的操作可以与显示驱动模式下的一般显示装置的操作相同或相似，并且根据参考图1至图3描述的方法进行。在下文中，将参考图4至图6描述显示装置100或200在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)下操作的情况。在第二模式下的操作中，图4的操作可以与初始化时段相对应，图5的操作可以与程控时段相对应，并且图6的操作可以与比较时段和/或逻辑处理时段相对应。

在实施例中，图4至图6所示的驱动电路220可以包括放大器221(例如，源极放大器或输出缓冲器)、第一开关(SW1)222和第二开关(SW2)223。然而，驱动电路220不限于此。第一开关222可以位于放大器221的输出端子处的数据线DL上。第二开关223可以在放大器221的输出端子处与检测电路230连接。第一开关222或第二开关223可以由开关元件实现。这里，开关元件可以包括各种类型的晶体管(诸如场效应晶体管(FET)或双极型晶体管(BJT)等)。然而，下面描述的实施例不限于此。

可以在控制器210的控制下进行第一开关222和/或第二开关223的断开状态与闭合状态之间的切换。在实施例中，放大器221可在第一模式(例如，显示驱动模式)中作为输出缓冲器操作，并且在第二模式(例如，像素缺陷检测模式)中作为比较器操作。当放大器221作为输出缓冲器操作时，放大器221可以输出具有与输入电压的电平相同或相似的电平的电压(例如，与各个像素的灰度值相对应的数据电压)。在以下描述中，放大器221的正(+)端子(例如，非反相端子)将被称为第一输入端子，并且放大器221的负(-)端子(例如，反相端子)将被称为第二输入端子。然而，预设实施例不限于此。在实施例中，当以相反的方式设置第一输入端子和第二输入端子时，放大器221的结果可以被处理为以下描述中的结果的相反结果。

图4是示出根据实施例的电路在初始化时段中的操作的图。参考图4，包括在驱动电路220中的第一开关222和第二开关223可以被控制为在初始化时段中断开。在初始化时段中，第一晶体管TR1至第三晶体管TR3可以被关断。当开关和晶体管在初始化时段中被控制为断开或关断时，包括在显示装置的像素P中的节点和电容器(例如，图3的存储电容器Cstg)可以被复位和初始化。

图5是示出根据实施例的电路在程控时段中的操作的图。参考图5，驱动电路220的第一开关222可以在程控时段中从断开状态切换到闭合状态。在程控时段中，可以将用于像素缺陷检测的测试电压输入到放大器221的第一输入端子。放大器221可以在程控时段中作为输出缓冲器操作，并且可以通过放大器221的输出端子将与输入到放大器221的第一输入端子的测试电压相对应的电流供给至转换电路240。在程控时段中，可以导通转换电路240内的晶体管(例如，第四晶体管TR4)，并且可以将输入到转换电路240的电流存储在转换电路240内的电容器(例如，存储电容器Cstg)中。

图6是示出根据实施例的电路在比较时段中的操作的图。参考图6，驱动电路220的第一开关222可以在比较时段中从闭合状态切换到断开状态。在比较时段中，驱动电路220的第二开关223可以从断开状态切换到闭合状态。

在比较时段中，第二晶体管TR2和第三晶体管TR3可以导通。当第二晶体管TR2和第三晶体管TR3在比较时段中导通时，LED的阳极端子(例如，第六节点N6)处的电压V

在比较时段中，可以将一个或多于一个参考电压(例如，第一参考电压或第二参考电压)输入到放大器221的第一输入端子。例如，驱动电路220的放大器221可以将输入到第一输入端子的第一参考电压与输入到第二输入端子的LED的感测电压V

此外，驱动电路220的放大器221可以将输入到第一输入端子的第二参考电压与输入到第二输入端子的LED的感测电压V

在下文中，将参考图7A、图7B、图8A、图8B、图9A和图9B描述当LED正常或异常(例如，开路或短路)时由驱动电路220感测到的电压。图7A和图7B示出当LED正常时的等效电路以及LED的感测电压(例如，正向压降)，图8A和图8B示出当LED开路时的等效电路以及LED的感测电压(例如，正向压降)，并且图9A和图9B示出当LED短路时的等效电路以及LED的感测电压(例如，正向压降)。

参考图7A和图7B，当在LED正常的情况下将检测控制信号施加到第三晶体管TR3以导通第三晶体管T3时，由驱动电路220(例如放大器221)感测到的第五节点N5的电压V

参考图8A和图8B，当在LED开路而使得发生了缺陷的情况下将检测控制信号施加到第三晶体管TR3以导通第三晶体管T3时，由驱动电路220(例如放大器221)感测到的第五节点N5的电压V

参考图9A和图9B，当在LED短路而使得发生了缺陷的情况下将检测控制信号施加到第三晶体管TR3以导通第三晶体管T3时，由驱动电路220(例如放大器221)感测到的第五节点N5的电压V

图10是根据实施例的显示装置的详细配置图。参考图10，显示装置可以包括控制器210、多个驱动电路1010(例如，n个驱动电路)、多个像素P(例如，n个像素)、电平移位器1020和检测电路1030。各个驱动电路1010可以包括放大器1014、第一开关(SW1)1011、第二开关(SW2)1012、第三开关(SW3)1013和输出开关(OUT SW)1015。例如，用于驱动第一像素P1的第一驱动电路1010a可以包括放大器1014a、第一开关1011a、第二开关1012a、第三开关1013a和输出开关1015a，并且用于驱动第n像素Pn的第n驱动电路1010n可以包括放大器1014n、第一开关1011n、第二开关1012n、第三开关1013n和输出开关1015n。为了便于描述，从输出开关1015连接到像素P的线可以被称为第一输出线OUT1，并且连接在放大器1014和输出开关1015之间的线可以被称为第二输出线OUT2。根据实施例，多个驱动电路1010中的至少一些驱动电路可以连接到电平移位器1020的第一电平移位器1021，并且其他驱动电路可以连接到电平移位器1020的第二电平移位器1022。

在下文中，将参考图10至图12描述根据实施例的显示装置在像素缺陷检测模式(例如，第二模式)下的操作。图11和图12是根据实施例的在图10的显示装置中操作的信号的时序图。

参考图11，从T

在从T

控制器210可以控制驱动电路以在T

为了判断LED是否开路，控制器210可以向第一输入端子供给第一参考电压(SOURCE IN H)1100。例如，当LED开路时，由驱动电路1010感测到的LED的电压可以与驱动电压EVDD相对应。因此，可以将正常状态下的电压(例如，2V至3V)与驱动电压EVDD之间的电压设置为第一参考电压。如图11所示，当LED在比较时段中开路时，第一输出线OUT1的电压(SOURCE OUT1)1101可以逐渐上升并与驱动电压EVDD相对应。如图11所示，当LED在比较时段中正常时，第一输出线OUT1的电压(SOURCE OUT1)1102可以保持在2V至3V的电压。如图11所示，当LED在比较时段中短路时，第一输出线OUT1的电压(SOURCE OUT1)1103可以下降并且与接地电压EVSS或GND(例如，0V)相对应。

如图11所示，当LED在比较时段中开路时，第一输出线OUT1的电压1101逐渐上升，并且在T

控制器210可以在T

参考图12，从T

在从T

控制器210可以控制驱动电路在T

控制器210可以控制驱动电路以在T

为了判断LED是否短路，控制器210可以向第一输入端子供给第二参考电压(SOURCE IN L)1200。例如，当LED短路时，由驱动电路1010感测到的LED的电压可以与接地电压EVSS相对应。因此，可以将正常状态下的电压(例如，2V至3V)与接地电压EVSS之间的电压设置为第二参考电压。如图12所示，当LED在比较时段中短路时，第一输出线OUT1的电压1201可以下降并且与接地电压EVSS或GND(例如，0V)相对应。如图12所示，当LED在比较时段中正常时，第一输出线OUT1的电压(SOURCE OUT1)1202可以保持在2V至3V的值。如图12所示，当LED在比较时段中开路时，第一输出线OUT1的电压1201可以逐渐上升并且与驱动电压EVDD相对应。

如图12所示，当LED在比较时段中短路时，第一输出线OUT1的电压1203下降，并且在时间T

控制器210可以控制驱动电路以在T

下面的表2示出如下：当输入信号处于参考图11所述的第一参考电压SOURCE IN H时第二输出线OUT2在正常状态、开路状态和短路状态下的信号；以及当输入信号处于参考图12所述的第二参考电压SOURCE IN L时第二输出线OUT2在正常状态、开路状态和短路状态下的信号。

[表2]

参考表2，可以通过第一参考电压检测开路的LED，并且可以通过第二参考电压检测短路的LED。在实施例中，显示装置可以在如图11所示的一个像素缺陷检测模式时段期间同时检查多个像素(例如，面板中布置的多个像素中的布置在相同行中的多个像素)是否开路，并且在如图12所示的一个像素缺陷检测模式时段期间同时检查多个像素(例如，面板中布置的多个像素中的布置在相同行中的多个像素)是否短路。例如，显示装置可以通过两个比较时段同时检查多个像素(例如，面板中布置的多个像素中的布置在相同行中的多个像素)是正常的、开路的还是短路的。在上述实施例中，以显示面板在第一模式和第二模式下操作的情况为例。然而，显示面板可以通过第二模式来操作以进行功能。