一种显示面板及显示装置

【技术领域】

本申请涉及显示技术领域，其特别涉及一种显示面板及显示装置。

【背景技术】

随着显示技术在电子设备中的应用，目前的显示面板越来越追求用户的感官体验，若显示面板存在显示问题，则十分影响用户的感官体验，其中，显示面板的横向串扰问题会极大的影响用户的感官体验。

但是在出厂之前对显示面板进行点亮测试时，无法对显示面板的横向串扰问题进行测试，进而导致不良品流入下游厂商，甚至流入客户端。

【申请内容】

有鉴于此，本申请实施例提供了一种显示面板及显示装置。

第一方面，本申请实施例提供一种显示面板，包括：

多条数据线，

第一检测电路，包括多个第一晶体管；第一晶体管的输出端与数据线电连接；多个第一晶体管的输入端与第一测试信号线电连接；

第二检测电路，包括多个第二晶体管；第二晶体管的输出端与数据线电连接；多个第二晶体管的输入端与第二测试信号线电连接；

第一检测开关，第一检测开关的两端分别电连接第一测试信号线、第二测试信号线；

其中，第一晶体管与第二晶体管分别电连接不同的数据线。

在第一方面的一些可实现方式中，多个第一晶体管的控制端与多个第二晶体管的控制端连接相同的检测控制线。

在第一方面的一些可实现方式中，显示面板还包括第二检测开关；

多个第一晶体管的控制端与第一检测控制线电连接，多个第二晶体管的控制端与第二检测控制线电连接，第二检测开关的两端分别电连接第一检测控制线、第二检测控制线。

在第一方面的一些可实现方式中，第一检测开关电连接多条第一测试信号线及多条第二测试信号线；多条第一测试信号线中包括第一子测试信号线和第二子测试信号线，多条第二测试信号线中包括第三子测试信号线和第四子测试信号线；

第一检测开关中包括第三晶体管与第四晶体管，第三晶体管的第一极及第二极分别电连接第一子测试信号线与第三子测试信号线，第四晶体管的第一极及第二极分别电连接第二子测试信号线与第四子测试信号线。

在第一方面的一些可实现方式中，第一检测开关所包括的第三晶体管与第四晶体管的控制端电连接相同的导通控制线。

在第一方面的一些可实现方式中，第一检测开关所包括的第三晶体管与第四晶体管的控制端分别电连接不同的导通控制线。

在第一方面的一些可实现方式中，电连接第一子测试信号线的第一晶体管与电连接第三子测试信号线的第二晶体管中，第一晶体管所电连接的数据线及第二晶体管所电连接的数据线所分别电连接的子像素的颜色相同；和/或，

电连接第二子测试信号线的第一晶体管与电连接第四子测试信号线的第二晶体管中，第一晶体管所电连接的数据线及第二晶体管所电连接的数据线所分别电连接的子像素的颜色相同。

在第一方面的一些可实现方式中，电连接第一子测试信号线的第一晶体管与电连接第三子测试信号线的第二晶体管中，第一晶体管所电连接的数据线电连接两种颜色的子像素，且第二晶体管所电连接的数据线电连接两种颜色的子像素；

电连接第二子测试信号线的第一晶体管与电连接第四子测试信号线的第二晶体管中，第一晶体管所电连接的数据线电连接一种颜色的子像素，且第二晶体管所电连接的数据线电连接一种颜色的子像素。

第二方面，本申请实施例提供一种显示装置，包括如第一方面提供的显示面板。

在本申请实施例中，设置第一检测开关连接第一测试信号线与第二测试信号线，且第一测试信号线与第二测试信号线分别通过第一晶体管和第二晶体管电连接不同的数据线，第一检测断开时可以并向第一测试信号线与第二测试信号线通入不同信号，即可使第一测试信号线与第二测试信号线分别控制不同的数据线，使显示面板不同区域出现不同的画面，通过控制不同画面的颜色即可直观的判断显示面板是否存在横向串扰现象。

【附图说明】

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为现有技术提供的一种显示面板的示意图；

图2为图1所示显示面板中检测电路的局部示意图；

图3为显示面板出现横向串扰时的示意图；

图4为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图；

图5为图4所示显示面板中的一种检测电路的局部示意图；

图6为本申请实施例提供的横向串扰测试画面示意图；

图7为本申请实施例提供的一种显示面板中检测电路的局部示意图；

图8为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图；

图9为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图；

图10为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图；

图11为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图；

图12为本申请实施例提供的一种显示面板中检测电路的局部示意图；

图13本申请施例提供的一种显示装置的示意图。

其中，01-显示面板；D-数据线；E1-第一检测电路；E2-第二检测电路；S1-第一检测开关；S2-第二检测开关；V-测试信号线；V1-第一测试信号线；V11-第一子测试信号线，V12-第二子测试信号线；V13-第五子测试信号线；V2-第二测试信号线；V21-第三子测试信号线；V22-第四子测试信号线；V23-第六子测试信号线；J-晶体管；J1-第一晶体管；J2-第二晶体管；J3-第三晶体管；J4-第四晶体管；J5-第五晶体管；R1-第一区域；R2-第二区域；C-控制线；C1-第一检测控制线；C2-第二检测控制线。

【具体实施方式】

为了更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。

应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本说明书的描述中，需要理解的是，本申请权利要求及实施例所描述的“基本上”、“近似”、“大约”、“约”、“大致”“大体上”等词语，是指在合理的工艺操作范围内或者公差范围内，可以大体上认同的，而不是一个精确值。

应当理解，尽管在本申请实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述绕线部、子部等，但这些绕线部、子部等不应限于这些术语。这些术语仅用来将绕线部、子部等彼此区分开。例如，在不脱离本申请实施例范围的情况下，第一绕线部也可以被称为第二绕线部，类似地，第二绕线部也可以被称为第一绕线部。

图1为现有技术提供的一种显示面板的示意图。

如图1所示，显示面板01包括显示区AA和非显示区NA，非显示区NA至少部分围绕显示区AA。

显示区AA主要用于发光显示，其中，显示区AA中包括多条数据线D。当显示面板01为液晶显示面板01时，即显示面板01包括多个驱动液晶偏转的像素电极时，显示区AA中的数据线D可以为像素电极传输数据信号。当显示面板01为有机发光显示面板01时，即显示面板01包括多个有机发光器件及驱动有机发光器件工作的像素电路时，显示区AA中的数据线D可以为像素电路传输数据信号。此外，显示面板01还可以为其他发光类型的显示面板01，数据线D可以为显示区传输数据信号。

非显示区NA主要用于设置外围走线及外围电路，其中，设置在非显示区NA的外围电路中包括测试电路。测试电路可以结合测试芯片在显示面板01出厂之前对显示面板01进行点亮测试。

图2是图1所示显示面板中检测电路的局部示意图。

如图2所示，检测电路包括多个晶体管J，晶体管J的输出端与数据线D电连接，晶体管J的输入端与测试信号线V电连接。当点亮测试时，测试芯片与显示面板01电接触，检测信号通过测试信号线V传入晶体管J，且开启的晶体管J可以将检测信号传送至其所电连接的数据线D，从而使得该数据线D电连接的像素进行发光。晶体管J的控制端与检测控制线C电连接，检测控制线C用来控制晶体管J的开断，从而控制数据线D是否能够接收来自检测电路的检测信号。

图3为显示面板出现横向串扰时的示意图。

如图3所示，是否存在横向串扰现象可以通过观察显示面板01的特定画面来判断，当显示面板01同时出现黑画面、白画面时，通常沿水平方向，白画面靠近黑画面附近的部分较白画面其他部分更亮，则说明存在横向串扰现象。但是在点亮测试过程中，测试电路并不能控制显示面板01同时出现黑画面和白画面，也就意味着，现有显示面板01的横向串扰问题不会在点亮测试过程中被发现。

本案申请人通过细致深入研究，对于现有技术中所存在的问题，而提供了一种解决方案。

图4为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图。

如图4所示，显示面板01包括多条数据线D。多条数据线D可以为对应的子像素所包括的像素电路或者电极提供数据信号。

图5为图4所示显示面板中的一种检测电路的局部示意图。

如图5所示，显示面板01包括第一检测电路E1及第二检测电路E2，其中，第一检测电路E1包括多个第一晶体管J1，第二检测电路E2包括多个第二晶体管J2。

第一晶体管J1的输出端与数据线D电连接；多个第一晶体管J1的输入端与第一测试信号线V1电连接。当测试芯片与显示面板01电接触时，检测信号通过第一测试信号线V1传入第一晶体管J1，且开启的第一晶体管J1可以将检测信号传送至其所电连接的数据线D，从而使得该数据线D电连接的像素进行发光。

第二晶体管J2的输出端与数据线D电连接；多个第二晶体管J2的输入端与第二测试信号线V2电连接。当测试芯片与显示面板01电接触时，检测信号通过第二测试信号线V2传入第二晶体管J2，且开启的第二晶体管J2可以将检测信号传送至其所电连接的数据线D，从而使得该数据线D电连接的像素进行发光。

其中，第一晶体管J1与第二晶体管J2分别电连接不同的数据线D。例如，如图4所示，第一晶体管J1电连接第一数据线D1且第二晶体管J2电连接第二数据线D2。进一步地，第一晶体管J1电连接的数据线D与第二晶体管J2电连接的数据线D位于显示面板01的不同区域。例如，如图4所示，多条第一数据线D1位于显示面板01的左侧区域且多条第二数据线D2分别位于显示面板01的右侧区域。

如图4或图5所示，显示面板01还包括第一检测开关S1，第一检测开关S1的两端分别电连接第一测试信号线V1、第二测试信号线V2。第一检测开关S1用于控制第一测试信号线V1与第二测试信号线V2之间的电导通状态。

当第一检测开关S1闭合时，第一测试信号线V1与第二测试信号线V2信号连通，则可以对显示面板01进行常规的点亮测试，例如，在纯色画面下检测暗点或亮点。当第一检测开关S1断开时，第一测试信号线V1与第二测试信号线V2信号断开，且第一检测电路E1和第二检测电路E2可以在同一时间分别接收不同的检测信号，进而可以使显示面板01同时出现黑画面和白画面，以进行横向串扰问题测试。

图6为本申请实施例提供的横向串扰测试画面示意图。

结合图4与图6，依据第一检测电路E1和第二检测电路E2所分别电连接的数据线D的分布，可以将显示面板01的显示区AA分为至少两个区域分别进行显示，包括第一区域R1与第二区域R2。第一检测电路E1用于控制第一区域R1内的数据线D能否接收到数据信号，第二检测电路E2用于控制第二区域R2内的数据线D能否接收到数据信号；且当第一检测开关S1控制第一测试信号线V1与第二测试信号线V2断开电连接时，第一检测电路E1和第二检测电路E2可以实现为第一区域R1和第二区域R2的数据线D传输不同的数据信号，例如使第一区域R1出现黑色画面，第二区域R2出现白色画面。

通过观察黑画面周围的白画面的显示情况，即可判断显示面板01是否存在横向串扰现象。当与黑画面同一水平方向上的白画面和与黑画面不同水平方向上的白画面不同时，则可以判断存在横向串扰现象；通常与黑画面同一水平方向上的白画面较与黑画面不同水平方向上的白画面更亮时，可以判断存在横向串扰问题。当显示区AA的白画面亮度均一致时，则可以判断不存在横向串扰现象。

需要说明的是，在一些实施例中，第一检测电路E1电连接多条第一测试信号线V1，具体为，第一检测电路E1中至少部分第一晶体管J1的输入端电连接的第一测试信号线V1与其他第一晶体管J1的输入端电连接的第一测试信号线V1不同；第二检测电路E2电连接多条第二测试信号线V2，具体为，第二检测电路E2中至少部分第二晶体管J2的输入端电连接的第二测试信号线V2与其他第二晶体管J2的输入端电连接的第二测试信号线V2不同。

则第一检测开关S1中包括至少两个晶体管，进一步地，第一检测开关S1中的一个晶体管的第一极和第二极分别电连接一条第一测试信号线V1和一条第二测试信号线V2；更进一步地，第一检测开关S1中的多个晶体管的第一极分别电连接不同的第一测试信号线V1且第一检测开关S1中的该些晶体管的第二极分别电连接不同的第二测试信号线V2。

也就是说，第一检测开关S1电连接多条第一测试信号线V1及多条第二测试信号线V2，则第一检测开关S1中可以包括与第一测试信号线V1/第二测试信号线V2一一对应设置的晶体管。

图7为本申请实施例提供的一种显示面板中检测电路的局部示意图。

如图7所示，多条第一测试信号线V1中包括第一子测试信号线V11和第二子测试信号线V12，多条第二测试信号线V2中包括第三子测试信号线V21和第四子测试信号线V22。

如图7所示，第一检测开关S1中包括第三晶体管J3与第四晶体管J4，第三晶体管J3的第一极及第二极分别电连接第一子测试信号线V11与第三子测试信号线V21，第四晶体管J4的第一极及第二极分别电连接第二子测试信号线V12与第四子测试信号线V22。当第三晶体管J3闭合时，则第一子测试信号线V11与第三子测试信号线V21信号连通；当第四晶体管J4闭合时，则第二子测试信号线V12与第四子测试信号线V22信号连通。当第三晶体管J3断开时，则第一子测试信号线V11与第三子测试信号线V21电绝缘；当第四晶体管J4断开时，则第二子测试信号线V12与第四子测试信号线V22电绝缘。

图8为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图。

如图8所示，多条第一测试信号线V1中包括第一子测试信号线V11、第二子测试信号线V12、第五子测试信号线V13，多条第二测试信号线V2中包括第三子测试信号线V21、第四子测试信号线V22、第六子测试信号线V23。

如图8所示，第一检测开关S1中还包括第五晶体管J5，第五晶体管J5的第一极及第二极分别电连接第五子测试信号线V13和第六子测试信号线V23。当第五晶体管J5闭合时，则第五子测试信号线V13和第六子测试信号线V23信号连通；当第五晶体管J5断开时，则第五子测试信号线V13和第六子测试信号线V23电绝缘。

在本申请的一个实施例中，当第一测试电路E1电连接多条第一测试信号线V1时，电连接相同的第一测试信号线V1的多个第一晶体管J1的输出端所分别电连接的数据线D电连接相同颜色的子像素；当第二测试电路E2电连接多条第二测试信号线V2时，电连接相同的第二测试信号线V2的多个第二晶体管J2的输出端所分别电连接的数据线D电连接相同颜色的子像素。

如图8所示，电连接第一子测试信号线V11的多个第一晶体管J1中，不同第一晶体管J1所电连接的数据线D所分别电连接的子像素的颜色相同，例如，均连接红色子像素；电连接第三子测试信号线V21的第二晶体管J2中，不同第二晶体管J2所电连接的数据线D所分别电连接的子像素的颜色相同，例如，均连接红色子像素。

进一步地，电连接第一子测试信号线V11的多个第一晶体管J1及电连接第三子测试信号线V21的多个第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D及第二晶体管J2所电连接的数据线D所分别电连接的子像素的颜色相同，例如，均连接红色子像素。

如图8所示，电连接第二子测试信号线V12的多个第一晶体管J1与电连接第四子测试信号线V22的多个第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D及第二晶体管J2所电连接的数据线D所分别电连接的子像素的颜色也可以相同，例如，均连接蓝色子像素。

进一步地，电连接第二子测试信号线V12的多个第一晶体管J1及电连接第四子测试信号线V22的多个第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D及第二晶体管J2所电连接的数据线D所分别电连接的子像素的颜色相同，例如，均连接蓝色子像素。

如图8所示，电连接第五子测试信号线V13的多个第一晶体管J1与电连接第六子测试信号线V23的多个第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D及第二晶体管J2所电连接的数据线D所分别电连接的子像素的颜色相同，例如，均连接绿色子像素。

进一步地，电连接第五子测试信号线V13的多个第一晶体管J1及电连接第六子测试信号线V23的多个第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D及第二晶体管J2所电连接的数据线D所分别电连接的子像素的颜色相同，例如，均连接绿色子像素。

在一种技术方案中，第一晶体管J1电连接的数据线D仅电连接一种颜色的子像素。则在横向串扰测试中，分别在第一区域R1与第二区域R2中控制显示面板01展示彩色画面，以此观察是否存在横向串扰现象，如在第一区域R1展示绿画面，第二区域R2展示浅灰画面，观察浅灰画面的亮度，以此来判断显示面板01是否存在横向串扰问题。

在本申请的一个实施例中，当第一检测电路E1电连接多条第一测试信号线V1时，至少部分电连接第一测试信号线V1的多个第一晶体管J1的输出端所分别电连接的数据线D均电连接不同颜色的子像素；当第二检测电路E2电连接多条第二测试信号线V2时，至少部分电连接第二测试信号线V2的多个第二晶体管J2的输出端所分别电连接的数据线D均电连接不同颜色的子像素。

图9为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图。

如图9所示，电连接第一子测试信号线V11的第一晶体管J1与电连接第三子测试信号线V21的第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D电连接两种颜色的子像素，且第二晶体管J2所电连接的数据线D电连接两种颜色的子像素；电连接第二子测试信号线V12的第一晶体管J1与电连接第四子测试信号线V22的第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D电连接一种颜色的子像素，且第二晶体管J2所电连接的数据线D电连接一种颜色的子像素。

进一步地，电连接第五子测试信号线V13的第一晶体管J1与电连接第六子测试信号线V23的第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D电连接两种颜色的子像素，且第二晶体管J2所电连接的数据线D电连接两种颜色的子像素。

进一步地，如图9所示，电连接第一子测试信号线V11的第一晶体管J1与电连接第三子测试信号线V21的第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D电连接红色、蓝色两种颜色的子像素，且第二晶体管J2所电连接的数据线D电连接红色、蓝色两种颜色的子像素；电连接第二子测试信号线V12的第一晶体管J1与电连接第四子测试信号线V22的第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D电连接绿色一种颜色的子像素，且第二晶体管J2所电连接的数据线D电连接绿色一种颜色的子像素。

进一步地，电连接第五子测试信号线V13的第一晶体管J1与电连接第六子测试信号线V23的第二晶体管J2中，第一晶体管J1所电连接的数据线D电连接红色、蓝色两种颜色的子像素，且第二晶体管J2所电连接的数据线D电连接红色、蓝色两种颜色的子像素。

如在确定横向串扰问题过程中，需要展现黄色图像时，需要调整绿色与红色像素发光，由于像素之间交错排布，相同颜色的像素互相之间进行补色渲染，使显示的黄色图像表现的更清晰，提高显示效果，且颜色表现具有方向性，提高了视觉分辨率。

进一步地，同一条数据线D电连接的像素，与其相邻数据线D电连接的像素之间错开半个像素位置，使得45度同色对角斜线表现的十分清晰，进一步提高了视觉分辨率。

在本申请的一个实施例中，至少部分数据线D电连接第一检测电路E1中的两个第一晶体管J1，和/或，至少部分数据线D电连接的第二检测电路E2中的两个第二晶体管J2。通过将数据线D与检测电路中的两个晶体管电连接，增加测试信号线所传输的测试信号线到达数据线D的准确性。

例如，如图9所示，同时电连接两种颜色子像素的数据线D所分别电连接的两个第一晶体管J1分别电连接两条不同的第一测试信号线V1，和/或，同时电连接两种颜色子像素的数据线D所分别电连接的两个第二晶体管J2分别电连接两条不同的第二测试信号线V2。电连接一种颜色的数据线D电连接的两个第一晶体管J1连接同一条第一测试信号线V1，和/或，电连接一种颜色的数据线D电连接的两个第二晶体管J2电连接同一条第二测试信号线V2。

例如，同时电连接红色、蓝色两种颜色子像素的数据线D电连接的两个第一晶体管J1分别连接两条不同的第一测试信号线V1，同时电连接红色、蓝色两种颜色子像素的数据线D电连接的两个第二晶体管J2分别连接两条不同的第二测试信号线V2；仅电连接绿色子像素的数据线D电连接的两个第一晶体管J1均连接同一条第一测试信号线V1，仅电连接绿色子像素的数据线D电连接的两个第二晶体管J2均连接同一条第二测试信号线V2。

图10为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图，图11为本申请实施例提供的一种显示面板的示意图。

如图10及图11所示，第一检测开关S1中包括多个用于分别电连接不同第一测试信号线V1和不同第二测试信号线V2的晶体管，且该些晶体管中的至少部分晶体管的控制端连接相同的导通控制线。则在横向串扰测试中，多条第一测试信号线V1与分别对应的多条第二测试信号线V2可以同时电导通。

如图10及图11所示，第一检测开关S1所包括的第三晶体管J3与第四晶体管J4的控制端电连接相同的导通控制线，能够使第三晶体管J3与第四晶体管J4开启或者关断。则第一子测试信号线V11和第三子测试信号线V21导通或断开的时间可以与第二子测试信号线V12和第四子测试信号线V22导通或断开的时间一致，同时，减少边框区内绕线的数量。

如图10及图11所示，当多条第一测试信号线V1中还包括第五子测试信号线V13，多条第二测试信号线V2中还包括第六子测试信号线V23时，第一检测开关S1还包括第五晶体管J5，第三晶体管J3、第四晶体管J4、第五晶体管J5连接相同的导通控制线，能够使第三晶体管J3、第四晶体管J4、第五晶体管J4开启或者关断。则第一子测试信号线V11和第三子测试信号线V21导通的时间可以与第二子测试信号线V12和第四子测试信号线V22导通或断开的时间以及第五子测试信号线V13和第六子测试信号线V23导通或断开的时间一致，同时，减少边框区内绕线的数量。

如图8及图9所示，在一些实施例中，第一检测开关S1所包括的第三晶体管J3与第四晶体管J4的控制端分别电连接不同的导通控制线。在横向串扰测试中，可以在不同时刻分别使第三晶体管J3与第四晶体管J4开启或关断，以验证不同颜色不同时出现时，是否存在横向串扰现象。如开启电连接红色像素的数据线D对应第一检测信号线V1，使显示面板01整体为红色，并控制显示面板01第一区域R1或第二区域R2出现黑画面，观察红画面是否出现横向串扰现象。

当第三晶体管J3与第四晶体管J4分别电连接不同的导通控制线时，也可以同一时刻将不同导通控制线导通，使第三晶体管J3和第四晶体管J4同时开启或关断。

进一步地，第一检测开关S1所包括的第三晶体管J3、第四晶体管J4、第五晶体管J5的控制端分别电连接不同的导通控制线。可以在不同时刻分别使第三晶体管J3、第四晶体管J4、第五晶体管J5开启或关断，以验证多种不同颜色不同时出现时，是否存在横向串扰现象。如开启电连接红色像素的数据线D对应第一检测信号线V1，使显示面板01整体为红色，并控制显示面板01第一区域R1或第二区域R2先出现绿画面后出现黑画面，观察红画面是否出现横向串扰现象。

需要说明的是，除了上述实施例提到的包括两组检测电路，即包括第一检测电路E1与第二检测电路E2之外，还可以包括三组及以上组数的多组检测电路。当包括多组检测电路时，多组检测电路的输出端均连接不同的数据线D且多组检测电路的输入端均连接不同的测试信号线，相邻两组晶体管之间包括检测开关，对应示显示面板01的显示区AA从横向上被分为对应检测电路组数的多个区域且可以在相邻区域进行横向串扰测试。

在横向串扰测试中，例如，显示区AA横向上包括三个显示画面可控的区域，如控制中间区域显示黑画面，两侧区域显示白画面，进而观察白画面的发光情况，以判断是否存在横向串扰现象。

如图4及图8-图11所示，显示面板01包括显示区AA与非显示区NA，多条数据线D位于显示区AA，第一检测电路E1与第二检测电路E2位于非显示区NA。

在一些实施例中，第一测试信号线V1及第二测试信号线V2均沿横向延伸，且多条第一测试信号线V1及多条第二测试信号线V2沿纵向排布。采用如此排布方式可以减少占用显示面板01非显示区的空间。

在一些实施例中，如图4、图7及图8所示，多个第一晶体管J1的控制端与多个第二晶体管J2的控制端连接相同的检测控制线C。检测控制线C同时向其电连接的第一晶体管J1和第二晶体管J2输入控制信号，以使该些第一晶体管J1与该些第二晶体管J2同时开启或者同时关断。多个第一晶体管J1和多个第二晶体管J2连接相同的检测控制线C，一方面，多个第一晶体管J1和多个第二晶体管J2可以同时开启，进而可以使黑画面与白画面同时出现；另一方面，可以减少非显示区NA中设置的信号线的数量，进而利于窄边框的实现。

进一步地，第一检测电路E1中的所有第一晶体管J1的控制端与第二检测电路E2中的所有第二晶体管的控制端连接相同的检测控制线。

图12为本申请实施例提供的一种显示面板中检测电路的局部示意图。

如图12所示，在一些实施例中，显示面板01还包括第二检测开关S2；多个第一晶体管J1的控制端与第一检测控制线C1电连接，多个第二晶体管J2的控制端与第二检测控制线C2电连接，第二检测开关S2的两端分别电连接第一检测控制线C1、第二检测控制线C2。当断开第二检测开关S2时，可以先只向第一检测控制线C1或第二检测控制线C2发出开始信号，对应的显示面板01只有第一区域R1或第二区域R2显示，然后向第二检测控制线C2或第一检测控制线C1发出开始信号，使显示面板01第二区域R2或第一区域R1显示，使显示面板01不同时出现黑画面与白画面。如此，可以观察两侧不同时出现画面时，显示面板01是否存在横向串扰现象。

当显示面板01还包括第二检测开关S2时，也可以在第一检测开关S1断开之前或同时，闭合第二检测开关S2，使显示面板01同时出现黑画面与白画面。需要说明的是，显示面板01日常工作状态时，需断开检测电路，即第二检测开关S2断开，显示面板01电连接驱动芯片，以接收来自驱动芯片的信号。

图13为本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。

如图13所示，本申请实施例还提供了一种显示装置，包括如上述任意一个实施例提供的显示面板01。示例性的，显示装置可为手机、电脑、智能可穿戴设备(例如，智能手表)以及车载显示设备等电子设备，本发明实施例对此不作限定。

本申请提供的显示装置中，通过设置第一检测开关S1连接第一测试信号线V1与第二测试信号线V2，且第一测试信号线V1与第二测试信号线V2分别通过第一晶体管J1和第二晶体管J2电连接不同的数据线D，第一检测开关S1断开时可以并向第一测试信号线V1与第二测试信号线V2通入不同信号，即可使第一测试信号线V1与第二测试信号线V2分别控制不同的数据线D，使显示面板01不同区域可以出现不同的画面，通过控制不同画面的颜色即可直观的判断显示面板01是否存在横向串扰现象。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请保护的范围之内。