显示面板像素设计方法及装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其是涉及一种显示面板像素涉及方法及装置。

背景技术

在显示面板的像素设计过程中，需要对像素设计进行评估以选择符合需求的设计。现有像素设计的评估过程是通过采用EDA(Electronic Design Automation，电子设计自动化工具)提取到像素中各电极的电阻数据和不同电极之间的电容数据后，手动对该数据进行处理得到可以进行处理后的电阻数值和电容数值；然后手动将该数值代入对应文件中进行充电仿真，并手动拉取不同电信号并读取计算所需数值后记录，最后将各像素处理后的电阻、电容以及充电相关的指标(例如充电率、不同位置充电率的差异)手动输入到表格内进行对比，从而选择出符合需求的像素设计。从现有像素设计的评估过程中可以看到，在各个过程中均需要人工操作，导致效率降低且会存在偏差。

所以，现有像素设计过程中需要人工操作，导致效率较低的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板像素设计方法及装置，用以解决现有像素设计过程中需要人工操作所导致效率较低的技术问题。

本申请实施例提供一种显示面板像素设计方法，该显示面板像素设计方法包括：

获取多个像素设计对应的初始数据；

使用所述数据处理程序处理所述初始数据，得到所述像素设计对应的参考数据；

使用所述比对程序对所述参考数据进行比对得到比对结果；

根据所述比对结果确定所述显示面板的像素设计。

在一些实施例中，在所述获取多个像素设计对应的初始数据的步骤之前，还包括：

将所述数据处理程序和比对程序设置在像素设计界面；

对所述数据处理程序和比对程序进行配置。

在一些实施例中，所述获取所述像素设计对应的初始数据的步骤，包括：

接收所述像素设计界面的操作指令；

根据所述像素设计界面的操作指令，获取所述像素设计对应的初始数据。

在一些实施例中，所述使用数据处理程序处理所述初始数据，得到所述像素设计对应的参考数据的步骤，包括：

使用第一数据处理程序处理所述像素设计对应的初始数据得到待仿真数据；

使用第二数据处理程序处理所述待仿真数据得到像素设计对应的参考数据；所述数据处理程序包括第一数据处理程序和所述第二数据处理程序。

在一些实施例中，所述使用第一数据处理程序处理所述像素设计对应的初始数据得到待仿真数据的步骤，包括：

对配置前的第一数据处理程序中各膜层参数的技术文件、提取选项和边界层进行配置，得到配置后的第一数据处理程序；

使用配置后的第一数据处理程序对所述像素设计对应的初始数据进行处理，得到待仿真数据。

在一些实施例中，所述使用第二数据处理程序处理所述待仿真数据得到像素设计对应的参考数据的步骤，包括：

对配置前的第二数据处理程序中分析选项、网表文件、模型文件、参数文件和像素参数映射文件进行配置，得到配置后的第二数据处理程序；

使用配置后的第二数据处理程序对所述待仿真数据进行处理，得到像素设计对应的参考数据。

在一些实施例中，所述使用第二数据处理程序处理所述待仿真数据得到像素设计对应的参考数据的步骤，包括：

根据所述待仿真数据，对所述像素进行充电仿真得到仿真信号；

处理所述仿真信号得到所述像素设计对应的参考数据。

在一些实施例中，所述使用所述比对程序对所述参考数据进行比对得到比对结果的步骤，包括：

根据所述参考数据，获取所述参考数据比对界面；

在所述参考数据比对界面展示所述参考数据；

对所述参考数据进行比对得到比对界面，并展示所述比对结果。

在一些实施例中，所述根据所述参考数据，获取所述参考数据比对界面的步骤，包括：

根据所述参考数据的类型，建立对应的参考数据比对界面；

接收所述参考数据，并根据所述参考数据的类型调用对应的参考数据比对界面。

同时，本申请实施例提供一种显示面板像素设计装置，该显示面板像素设计装置应用于EDA工具，所述显示面板像素设计装置包括：

获取模块，用于获取多个像素设计对应的初始数据；

数据处理程序，用于处理所述初始数据，得到所述像素设计对应的参考数据；

比对程序，用于对所述参考数据进行比对得到比对结果；

确定模块，用于根据所述比对结果确定所述显示面板的像素设计。

有益效果：本申请提供一种显示面板像素设计方法及装置，该显示面板像素设计方法及装置应用于EDA工具，该EDA工具包括数据处理程序和比对程序，该显示面板像素设计方法先获取多个像素设计对应的初始数据，然后使用数据处理程序处理初始数据，得到像素设计对应的参考数据，然后使用比对程序对参考数据进行比对得到比对结果，然后根据比对结果确定显示面板的像素设计。本申请通过在EDA工具中设置数据处理程序和比对程序，使得在像素设计过程中通过数据处理程序和比对程序对数据进行处理和比对，从而确定符合需求的像素设计；无需采用人工处理和整理数据，提供了像素设计的效率，且降低了人工处理带来偏差的风险。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的显示面板像素设计方法的流程图。

图2为本申请实施例提供的显示面板像素设计装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如图1所示，本申请实施例提供一种显示面板像素设计方法，该显示面板像素设计方法应用于EDA工具，所述EDA工具包括数据处理程序和比对程序，所述显示面板像素设计方法包括：

S1，获取多个像素设计对应的初始数据；

S2，使用所述数据处理程序处理所述初始数据，得到所述像素设计对应的参考数据；

S3，使用所述比对程序对所述参考数据进行比对得到比对结果；

S4，根据所述比对结果确定所述显示面板的像素设计。

本申请实施例提供显示面板像素设计方法，该显示面板像素设计方法通过在EDA工具中设置数据处理程序和比对程序，使得在像素设计过程中通过数据处理程序和比对程序对数据进行处理和比对，从而确定符合需求的像素设计；无需采用人工处理和整理数据，提供了像素设计的效率，且降低了人工处理带来偏差的风险。

在一种实施例中，像素设计指一个像素版本或者一个像素类型，两个像素设计中的形状、材料、尺寸中的任一不同均表示为不同像素设计。

在一种实施例中，初始数据包括像素设计对应的电极的电阻和电极之间的电容的原始数据，例如构成电阻的电极的材料、尺寸为电阻的原始数据。

在一种实施例中，参考数据包括各像素设计的参考指标，例如各像素设计中的电极的电阻和电极之间的电容，该像素设计对应的充电率(像素内像素电极在一行打开和结束之间能充到的电位除以数据线给出的电位)，充电率的U％(显示面板不同位置的充电率的差异)，LCS ratio(副像素正负帧稳定电位之差/主像素正负帧稳定电压之差，该数据用来模拟副像素和主像素之间的亮度差异)，Best Vcom(最佳公共电压)。

在采用数据处理程序和比对程序对数据进行处理和比对前，需要对数据处理程序和比对程序进行配置，以使数据处理程序和比对程序能够自动执行并提供数据处理的准确率。在一种实施例中，在所述获取多个像素设计对应的初始数据的步骤之前，还包括：

将所述数据处理程序和比对程序设置在像素设计界面；

对所述数据处理程序和比对程序进行配置。本申请实施例通过将数据处理程序和比对程序设置在像素设计界面，使得可以在像素设计界面对数据处理程序和比对程序进行配置，便于对数据处理程序和比对程序的搭建。

在一种实施例中，在获取像素设计对应的初始数据时，可以通过像素设计界面上操作确定像素设计的初始数据，此步骤包括：

接收所述像素设计界面的操作指令；

根据所述像素设计界面的操作指令，获取所述像素设计对应的初始数据。即通过在像素界面上的操作指令，例如鼠标选择“直线”并从使“直线”由坐标1到坐标2，则可以记录该直线的相关数据，根据像素设计界面的操作指令则可以得到像素设计对应的初始数据，从而对像素设计对应的初始数据进行处理确定需求的像素设计。

针对数据处理过程中需要对电极的电阻和电极之间的电容进行处理，并对像素进行充电仿真确定像素的充电性能。在一种实施例，所述使用数据处理程序处理所述初始数据，得到所述像素设计对应的参考数据的步骤，包括：

使用第一述数据处理程序处理所述像素设计对应的初始数据得到待仿真数据；

使用第二数据处理程序处理所述待仿真数据得到像素设计对应的参考数据；所述数据处理程序包括第一数据处理程序和所述第二数据处理程序。在使用数据处理程序对初始数据进行处理时，可以先采用第一数据处理程序处理初始数据得到可以进行仿真的待仿真数据，然后采用第二数据处理程序进行充电仿真以得到各像素设计的电学性能，从而根据各像素设计的电学性能确定符合需求的像素设计。

在使用第一数据处理程序和第二数据处理程序对初始数据进行处理时，可以通过在接收到初始指令后自动触发第一数据处理程序，然后在接收到待仿真数据后自动触发第二数据处理程序。还可以是通过在像素设计界面设置可点击选项，通过点击触发第一数据处理程序和第二数据处理程序。

在一种实施例中，在使用第一数据处理程序处理所述像素设计对应的初始数据时，需要先对第一数据处理程序进行配置，以使配置后的第一数据处理程序能够处理初始数据后得到准确的待仿真数据，此步骤包括：对配置前的第一数据处理程序中各膜层参数的技术文件、提取选项和边界层进行配置，得到配置后的第一数据处理程序；使用配置后的第一数据处理程序对所述像素设计对应的初始数据进行处理，得到待仿真数据。

在一种实施例中，在使用第二数据处理程序处理待仿真数据得到像素设计对应的参考数据时，需要先对第二数据处理程序进行配置，以使得第二数据处理程序能够在得到待仿真数据后进行处理，并处理得到电信号，此步骤包括：对配置前的第二数据处理程序中分析选项、网表文件、模型文件、参数文件和像素参数映射文件进行配置，得到配置后的第二数据处理程序；使用配置后的第二数据处理程序对所述待仿真数据进行处理，得到像素设计对应的参考数据。

其中，分析选项可以对数据进行分析；网表文件可以设置需要抓取的电信号；模型文件可以设置第二数据处理程序采用的处理模型；参数文件为充电仿真需要的文件；像素参数映射文件为可以将待仿真数据和参数文件联系在一起的文件，使待仿真数据自动替换到参数文件，从而进行充电仿真。

在一种实施例中，在对第二数据处理程序进行配置时，还包括对各电信号进行处理的方式和相关的计算公式进行配置。

针对第二数据处理程序处理待仿真数据得到像素设计对应的参考数据，可以采用充电仿真得到参考数据，此步骤包括：根据所述待仿真数据，对所述像素进行充电仿真得到仿真信号；处理所述仿真信号得到所述像素设计对应的参考数据。即在得到各像素设计对应的电极的电容和电极之间的电阻后，将该数据替换到充电仿真文件中，并使用第二数据处理程序对各像素设计进行充电仿真得到电信号，然后对电信号进行处理得到各像素设计对应的参考数据，使得可以根据参考数据确定符合需求的像素设计。

在一种实施例中，所述电信号包括但不限于，数据信号，扫描信号、像素电极信号、时钟信号等。

在一种实施例中，对各像素设计进行充电仿真即通过建立显示面板的电路，然后给入初始电位，得到经电压和电容和各电信号影响后的各电信号的实际波形和相关数据。

针对在得到各像素设计对应的参考数据后，需要对各像素设计对应的参考数据进行比对，从而确定符合需求的像素设计。在一种实施例中，所述使用所述比对程序对所述参考数据进行比对得到比对结果的步骤，包括：

根据所述参考数据，获取所述参考数据比对界面；

在所述参考数据比对界面展示所述参考数据；

对所述参考数据进行比对得到比对界面，并展示所述比对结果。在得到参考数据后，可以确定参考数据对应的参考数据比对界面，然后将参考数据展示在参数数据比对界面，使得可以在参考数据比对界面对参考数据进行比对，得到比对结果。

在一种实施例中，在对参考数据进行比对时，可以使通过设定参数后使用比对程数对参考数据进行比对，也可以通过人员的数据进行查看以进行比对。

在一种实施例中，所述根据所述参考数据，获取所述参考数据比对界面的步骤，包括：

根据所述参考数据的类型，建立对应的参考数据比对界面；

接收所述参考数据，并根据所述参考数据的类型调用对应的参考数据比对界面。在确定参考数据比对界面时，可以先根据需求比对的参考数据的不同，建立不同的参考数据比对界面，然后在接收到参考数据后，根据参考数据调用对应的参考数据比对界面，从而可以在参考数据比对界面对参考数据进行比对。

同时，如图2所示，本申请实施例提供一种显示面板像素设计装置，该显示面板像素设计装置应用于EDA工具，所述显示面板像素设计装置包括：

获取模块101，用于获取多个像素设计对应的初始数据；

数据处理程序102，用于处理所述初始数据，得到所述像素设计对应的参考数据；

比对程序103，用于对所述参考数据进行比对得到比对结果；

确定模块104，用于根据所述比对结果确定所述显示面板的像素设计。

本申请实施例提供一种显示面板像素设计装置，该显示面板像素设计装置使用的显示面板像素设计方法通过在EDA工具中设置数据处理程序和比对程序，使得在像素设计过程中通过数据处理程序和比对程序对数据进行处理和比对，从而确定符合需求的像素设计；无需采用人工处理和整理数据，提供了像素设计的效率，且降低了人工处理带来偏差的风险。

根据以上实施例可知：

本申请实施例提供一种显示面板像素设计方法及装置，该显示面板像素设计方法及装置应用于EDA工具，该EDA工具包括数据处理程序和比对程序，该显示面板像素设计方法先获取多个像素设计对应的初始数据，然后使用数据处理程序处理初始数据，得到像素设计对应的参考数据，然后使用比对程序对参考数据进行比对得到比对结果，然后根据比对结果确定显示面板的像素设计。本申请通过在EDA工具中设置数据处理程序和比对程序，使得在像素设计过程中通过数据处理程序和比对程序对数据进行处理和比对，从而确定符合需求的像素设计；无需采用人工处理和整理数据，提供了像素设计的效率，且降低了人工处理带来偏差的风险。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的一种显示面板像素设计方法及装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。