一种用于光电耦合器多点温度测试系统

技术领域

本发明涉及光电耦合器温度测试技术领域，具体为一种用于光电耦合器多点温度测试系统。

背景技术

光电耦合器的运用场景涵盖了电力系统、工业自动化、通信系统、医疗设备、汽车电子等多个领域。它的实际作用是实现光信号和电信号之间的互相转换和隔离，提高系统的安全性、可靠性和稳定性，减少干扰和损坏，保护设备和人员的安全。而光电耦合器在各温度场景下的运行效果有所不同，为了确保光电耦合器的运行效果，对光电耦合器进行多点温度测试具有重要的意义。

目前的光电耦合器的温度测试通常通过人工对其进行检测点布设，不仅容易导致检测结果存在片面性和单一性，同时还无法有利地提升光电耦合器多点温度测试的效率，进而无法全面评估光电耦合器在整个温度范围内的性能。导致了对光电耦合器在特定温度下的性能问题无法准确评估，从而影响实际应用的可靠性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于光电耦合器多点温度测试系统，以解决上述背景技术提出的问题。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：一种用于光电耦合器多点温度测试系统，包括：

耦合器测试预处理模块，用于对光电耦合器对应的参考运行温度区间进行获取，并将光电耦合器对应参考运行温度区间的最大值作为高温测试的温度，将光电耦合器对应参考运行温度区间的中间值作为常温测试的温度，将光电耦合器对应参考运行温度区间的最小值作为低温测试的温度。

高温测试模块，用于基于高温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数，并基于此对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值进行分析，得到光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值。

具体地，基于高温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，具体测试方式为：

对光电耦合器在高温测试的温度下运行设定时段的时长，作为光电耦合器对应设定时段内高温运行过程；

通过电压表对光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压进行采集，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压；

在光电耦合器上进行检测点均匀布设，并通过温度传感器对光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度进行检测，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度；

由光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压和各检测点的温度构成光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数。

具体地，对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值进行分析，具体分析方式为：

从光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数内提取光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压的数值，并记为GU

从光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压的数值中提取初始时间点的高温运行过程的电路输出电压的数值，记为GU

依据公式

从光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数内光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度的数值，并记为GW

提取高温测试的温度的数值，记为GW

基于光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度对光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程平均温度，并取其数值，记为gw

从光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度中筛选出最高温度和最低温度，作为光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的最高温和最低温，并对其进行归一化处理，取其数值，分别记为gw

依据公式计算出光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度稳定评估指数GP

GP

将光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度稳定评估指数与设定的参考温度稳定评估指数阈值进行对比，若某检测点的温度稳定评估指数小于设定的参考温度稳定评估指数阈值，则将该检测点记为异常点，反之则将该检测点记为正常点，统计光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中异常点的数量和正常点的数量，进而通过分析得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的温稳值WW

依据公式

常温测试模块，用于基于常温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数，并基于此对光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值进行分析，得到光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值。

具体地，基于常温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，具体测试方式为：

对光电耦合器在常温测试的温度下运行设定时段的时长，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程；

在光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中进行若干输入信号和若干输出信号测试，并对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号的时间点进行采集，同时对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号的对应输出信号的时间点进行采集，进而对其进行作差，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号对应输出信号的响应时长，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的响应时长；

对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号的电流进行获取，并通过电流表对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号对应输出信号的电流进行采集，进而对其进行作差，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号对应输出信号的电流差，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的电流差；

通过温度传感器对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号时的温度进行采集，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号时的温度，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的输入温度，并对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号对应输出信号时的温度进行采集，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号对应输出信号时的温度，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的输出温度；

由光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的响应时长、电流差、输入温度和输出温度构成光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数。

具体地，对光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值进行分析，具体分析方式为：

从光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数内提取光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的响应时长、电流差、输入温度和输出温度的数值，并分别记为CT

依据公式：

计算出光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值CK，CW表示为常温测试的温度的数值，CT

低温测试模块，用于基于低温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数，并基于此对光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值进行分析，得到光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值。

具体地，基于低温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，其具体测试方式为：

对光电耦合器在低温测试的温度下运行设定时段的时长，作为光电耦合器对应设定时段内低温运行过程；

在光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中进行若干输入信号和若干输出信号测试，并对光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输入信号的时间点进行采集，同时对光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输入信号的对应输出信号的时间点进行采集，进而对其进行作差，得到光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输入信号对应输出信号的响应时长，作为光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输送信号的响应时长；

在光电耦合器上进行检测点均匀布设，并通过温度传感器对光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程中各检测点的温度进行检测，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程中各检测点的温度，并对其进行均值计算，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的平均温度，作为光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的温度；

由光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输送信号的响应时长和光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的温度构成光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数。

具体地，对光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值进行分析，具体分析方式为：

从光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数中提取光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输送信号的响应时长的数值和光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的温度的数值，并分别记为DT

对光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输送信号的响应时长进行相互对比分析，得到光电耦合器对应设定时段内低温运行过程的号响值HX；

对光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的温度进行相互对比分析，得到光电耦合器对应设定时段内低温运行过程的控温值KW；

依据公式DK=HX*d1+KW*d2计算出光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值DK，d1、d2分别表示为设定的权值因子。

测试分析模块，用于对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值、常温测试的常康值、低温测试的低康值进行多点温度测试结果分析，得到光电耦合器对应的多点温度测试结果。

具体地，对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值、常温测试的常康值、低温测试的低康值进行测试结果分析，具体分析方式为：

将光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值与设定的参考高康值进行对比，若光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值大于设定的参考高康值，则判定光电耦合器对应高温测试的测试等级为一级，反之则判定光电耦合器对应高温测试的测试等级为二级，得到光电耦合器对应高温测试的测试等级；

将光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值与设定的参考常康值进行对比，若光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值大于设定的参考常康值，则判定光电耦合器对应常温测试的测试等级为一级，反之则判定光电耦合器对应常温测试的测试等级为二级，得到光电耦合器对应常温测试的测试等级。

将光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值与设定的参考低康值进行对比，若光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值大于设定的参考低康值，则判定光电耦合器对应低温测试的测试等级为一级，反之则判定光电耦合器对应低温测试的测试等级为二级，得到光电耦合器对应低温测试的测试等级。

由光电耦合器对应高温测试的测试等级、常温测试的测试等级和低温测试的测试等级构成光电耦合器对应的多点温度测试结果。

执行终端，用于基于光电耦合器对应的多点温度测试结果执行相应的操作。

本发明的有益效果：

本发明通过对光电耦合器进行高温运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数，并由此对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值进行分析，直观地反映了光电耦合器在高温下的运行情况，为后续光电耦合器对应的多点温度测试结果提供了有效的数据支撑，同时对高温状态下光电耦合器表观的温度进行均匀检测，大幅度提升了光电耦合器温度稳定评估指数分析的可靠性。

本发明通过对光电耦合器进行常温运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数，并由此对光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值进行分析，能够精准地分析光电耦合器在适宜的常温温度下的运行效果，保障光电耦合器在常温温度下运行效果分析的可靠性和科学性。

本发明通过对光电耦合器进行低温运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数，并由此对光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值进行分析，能够直观地体现光电耦合器在低温温度下的运行稳定性，有效地提升了光电耦合器对应多点温度测试结果的精准性和全面性，进一步地提升了光电耦合器对应实际应用的可靠性。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1是本发明的系统框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1所示，本发明为一种用于光电耦合器多点温度测试系统，包括：耦合器测试预处理模块、高温测试模块、常温测试模块、低温测试模块、测试分析模块和执行终端。

耦合器测试预处理模块对光电耦合器对应的参考运行温度区间进行获取，并将光电耦合器对应参考运行温度区间的最大值作为高温测试的温度，将光电耦合器对应参考运行温度区间的中间值作为常温测试的温度，将光电耦合器对应参考运行温度区间的最小值作为低温测试的温度。

高温测试模块基于高温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数，具体测试步骤如下：

对光电耦合器在高温测试的温度下运行设定时段的时长，作为光电耦合器对应设定时段内高温运行过程。

通过电压表对光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压进行采集，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压。

在光电耦合器上进行检测点均匀布设，并通过温度传感器对光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度进行检测，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度。

由光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压和各检测点的温度构成光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数。

对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值进行分析，得到光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值，具体分析过程如下：

从光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数内提取光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压的数值，并记为GU

从光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的电路输出电压的数值中提取初始时间点的高温运行过程的电路输出电压的数值，记为GU

依据公式

从光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数内光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度的数值，并记为GW

提取高温测试的温度的数值，记为GW

基于光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度对光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程平均温度，并取其数值，记为gw

从光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度中筛选出最高温度和最低温度，作为光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程的最高温和最低温，并对其进行归一化处理，取其数值，分别记为gw

依据公式计算出光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度稳定评估指数GP

GP

将光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中各检测点的温度稳定评估指数与设定的参考温度稳定评估指数阈值进行对比，若某检测点的温度稳定评估指数小于设定的参考温度稳定评估指数阈值，则将该检测点记为异常点，反之则将该检测点记为正常点，统计光电耦合器对应设定时段内各时间点的高温运行过程中异常点的数量和正常点的数量。

依据公式WW

依据公式

优选地，本发明通过对光电耦合器进行高温运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数，并由此对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值进行分析，直观地反映了光电耦合器在高温下的运行情况，为后续光电耦合器对应的多点温度测试结果提供了有效的数据支撑，同时对高温状态下光电耦合器表观的温度进行均匀检测，大幅度提升了光电耦合器温度稳定评估指数分析的可靠性。

常温测试模块基于常温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数，具体测试步骤如下：

对光电耦合器在常温测试的温度下运行设定时段的时长，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程。

在光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中进行若干输入信号和若干输出信号测试，并对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号的时间点进行采集，同时对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号的对应输出信号的时间点进行采集，进而对其进行作差，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号对应输出信号的响应时长，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的响应时长。

对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号的电流进行获取，并通过电流表对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号对应输出信号的电流进行采集，进而对其进行作差，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输入信号对应输出信号的电流差，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的电流差。

通过温度传感器对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号时的温度进行采集，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号时的温度，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的输入温度，并对光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号对应输出信号时的温度进行采集，得到光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各输入信号对应输出信号时的温度，作为光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的输出温度。

由光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的响应时长、电流差、输入温度和输出温度构成光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数。

对光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值进行分析，得到光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值，具体分析步骤如下：

从光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数内提取光电耦合器对应设定时段内常温运行过程中各次输送信号的响应时长、电流差、输入温度和输出温度的数值，并分别记为CT

依据公式：

计算出光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值CK，CW表示为常温测试的温度的数值，CT

优选地，本发明通过对光电耦合器进行常温运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中常温测试的运行参数，并由此对光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值进行分析，能够精准地分析光电耦合器在适宜的常温温度下的运行效果，保障光电耦合器在常温温度下运行效果分析的可靠性和科学性。

低温测试模块基于低温测试的温度和设定时段对光电耦合器进行运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数，具体测试步骤为：

对光电耦合器在低温测试的温度下运行设定时段的时长，作为光电耦合器对应设定时段内低温运行过程。

在光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中进行若干输入信号和若干输出信号测试，并对光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输入信号的时间点进行采集，同时对光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输入信号的对应输出信号的时间点进行采集，进而对其进行作差，得到光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输入信号对应输出信号的响应时长，作为光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输送信号的响应时长。

在光电耦合器上进行检测点均匀布设，并通过温度传感器对光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程中各检测点的温度进行检测，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程中各检测点的温度，并对其进行均值计算，得到光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的平均温度，作为光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的温度。

由光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输送信号的响应时长和光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的温度构成光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数。

对光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值进行分析，得到光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值，具体分析步骤如下：

从光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数中提取光电耦合器对应设定时段内低温运行过程中各次输送信号的响应时长的数值和光电耦合器对应设定时段内各时间点的低温运行过程的温度的数值，并分别记为DT

依据公式

依据公式

依据公式DK=HX*d1+KW*d2计算出光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值DK，d1、d2分别表示为设定的权值因子。

优选地，本发明通过对光电耦合器进行低温运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中低温测试的运行参数，并由此对光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值进行分析，能够直观地体现光电耦合器在低温温度下的运行稳定性，有效地提升了光电耦合器对应多点温度测试结果的精准性和全面性，进一步地提升了光电耦合器对应实际应用的可靠性。

测试分析模块对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值、常温测试的常康值、低温测试的低康值进行多点温度测试结果分析，得到光电耦合器对应的多点温度测试结果，具体分析步骤如下：

将光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值与设定的参考高康值进行对比，若光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值大于设定的参考高康值，则判定光电耦合器对应高温测试的测试等级为一级，反之则判定光电耦合器对应高温测试的测试等级为二级，得到光电耦合器对应高温测试的测试等级。

将光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值与设定的参考常康值进行对比，若光电耦合器对应设定时段中常温测试的常康值大于设定的参考常康值，则判定光电耦合器对应常温测试的测试等级为一级，反之则判定光电耦合器对应常温测试的测试等级为二级，得到光电耦合器对应常温测试的测试等级。

将光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值与设定的参考低康值进行对比，若光电耦合器对应设定时段中低温测试的低康值大于设定的参考低康值，则判定光电耦合器对应低温测试的测试等级为一级，反之则判定光电耦合器对应低温测试的测试等级为二级，得到光电耦合器对应低温测试的测试等级。

由光电耦合器对应高温测试的测试等级、常温测试的测试等级和低温测试的测试等级构成光电耦合器对应的多点温度测试结果。

执行终端基于光电耦合器对应的多点温度测试结果执行相应的操作。

在一个具体的实施例中，基于光电耦合器对应的多点温度测试结果执行相应的操作，例如：当光电耦合器对应高温测试的测试等级为一级时，通过显示器显示“光电耦合器对应的高温测试为合格”，当光电耦合器对应高温测试的测试等级为二级时，通过语音播报器播报“光电耦合器对应的高温测试为异常”。

当光电耦合器对应常温测试的测试等级为一级时，通过显示器显示“光电耦合器对应的常温测试为合格”，当光电耦合器对应常温测试的测试等级为二级时，通过语音播报器播报“光电耦合器对应的常温测试为异常”。

当光电耦合器对应低温测试的测试等级为一级时，通过显示器显示“光电耦合器对应的低温测试为合格”，当光电耦合器对应低温测试的测试等级为二级时，通过语音播报器播报“光电耦合器对应的低温测试为异常”。

以上内容仅仅是对本发明结构所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。