按压断开式半导体测试探针

技术领域

本发明属于半导体检测技术领域，具体涉及一种按压断开式半导体测试探针。

背景技术

近年，随着半导体产业的快速发展，电子产品的使用范围越来越广泛，使用数量也越来越大，所以印刷电路板也越来越重要，因此，对印刷电路板监测设备的要求越来越高。消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中。

目前的在线测试设备中测试探针都是按压后接通测试点与传输端开始测试，对于一些半导体类，通常在测试过程中探针内弹簧在压缩到工作行程后进行测试，结束测试需要通过治具打开或气缸推动装有探针的治具向上运动，让探针针头与测试点断开来完成，这样测试方式效率低，很难实现自动化测试，并且测试传输不稳定。

发明内容

本发明的目的是提供一种按压断开式半导体测试探针，解决现有测试探针在测试过程中存在效率低，很难实现自动化测试，并且测试传输不稳定的问题。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种按压断开式半导体测试探针，包括底座，所述底座上设置有针套和两片弧形板，两所述弧形板布置在针套的外部，所述针套内可上下滑动地设置有针杆，所述针杆内设置有滑槽，所述滑槽中分别放置有第一滑块和第二滑块，第一滑块为倒V形结构，第二滑块为V形结构，第一滑块的一侧和第二滑块的一侧伸入滑槽后通过销轴铰接在一起，两片弧形板与第一滑块和第二滑块之间设置有针管，所述针管的下端内侧设置有第一导向块和第二导向块，第一导向块与第一滑块的另一侧相接触，第二导向块与第二滑块的另一侧相接触，针杆的尾部与针管之间设置有弹簧。

本发明的技术方案，还具有以下特点：

作为本发明的一种优选方案，所述弧形板的中部设置有第一通孔。

作为本发明的一种优选方案，所述针套上设置有一对销孔，所述销孔和滑槽相通。

作为本发明的一种优选方案，所述针管的底部内侧设置有第一导向柱，所述针杆的尾部设置有第二导向柱，所述弹簧的两端分别套装在第一导向柱和第二导向柱上。

作为本发明的一种优选方案，所述第一滑块的另一侧斜向外布置，第一导向块与其接触的面斜向内布置；第二滑块的另外侧斜向内布置，第二导向块与其接触的面斜向外布置。

与现有技术相比：本发明的一种按压断开式半导体测试探针，在测试过程针杆可以被测产品良好接触，在测试完毕后中通过下压针管可以实现针杆与被测试产品快速分离，操作较为简单，能够适应较高效率的半导体测试工作。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明的一种按压断开式半导体测试探针的结构示意图；

图2为本发明的一种按压断开式半导体测试探针的剖视图；

图3为本发明的一种按压断开式半导体测试探针的分解图。

图中：1.针杆，2.针管，3.弧形板，4.针杆，5.销轴，6.第一滑块，7.第一导向块，8.弹簧，9.第一导向柱，10.第二导向柱，11.第二滑块，12.第二导向块，13.针套。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

实施例1

如图1和图2所示，本发明的一种按压断开式半导体测试探针，包括底座1，底座1上设置有针套13和两片弧形板3，两片弧形板3布置在针套13的外部，针套13内可上下滑动地设置有针杆4，针杆4内设置有滑槽，滑槽中分别放置有第一滑块7和第二滑块11，第一滑块6为倒V形结构，第二滑块11为V形结构，第一滑块7的一侧和第二滑块11的一侧伸入滑槽后通过销轴5铰接在一起，两片弧形板3与第一滑块6和第二滑块11之间设置有针管2，针管2的下端内侧设置有第一导向块7和第二导向块12，第一导向块7与第一滑块6的另一侧相接触，第二导向块11与第二滑块12的另一侧相接触，针杆4的尾部与针管2之间设置有弹簧8。

结合图3，第一滑块6的另一侧斜向外布置，第一导向块4与其接触的面斜向内布置；第二滑块11的另外侧斜向内布置，第二导向块12与其接触的面斜向外布置。

工作的时候，下压针管2，针管2下端内的第一导向块7会推动第一滑块6以及与其连接的第二滑块11向右移动，此时第一滑块6和第二滑块11装配在针杆4滑槽中的一侧将推动针杆4上移以达到针杆4与被测产品分离的目的。松开针管2，在弹簧8的弹力作用下，针管2上移，此时针管2下端内的第二导向块12会推动第二滑块13以及与其连接的第亿滑块6向左移动，此时第一滑块6和第二滑块11装配在针杆4滑槽中的一侧将推动针杆4下移复位方便针杆4与被测产品接触。

实施例2

结合图3，与实施例1不同的是，在本发明的一种按压断开式半导体测试探针中，弧形板3的中部设置有第一通孔，针套13上设置有一对销孔，销孔和滑槽相通，销轴5可从第一通孔、销孔中伸入，以便完成第一滑块6的一侧和第二滑块11的一侧通过销轴5铰接在一起，便于进行装配。

实施例3

如图2所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种按压断开式半导体测试探针中，针管2的底部内侧设置有第一导向柱9，针杆4的尾部设置有第二导向柱10，弹簧8的两端分别与第一导向柱9和第二导向柱10连接。

弹簧8的两端分别套装在第一导向柱9和第二导向柱10上后，再通过焊接固定，一方面可对弹簧起一定的导向作用，另一方面可以确保弹簧的弹力顺利在第一导向柱9和第二导向柱10之间传递。

因此，与现有技术相比：本发明的一种按压断开式半导体测试探针，在测试过程针杆可以被测产品良好接触，在测试完毕后中通过下压针管可以实现针杆与被测试产品快速分离，操作较为简单，能够适应较高效率的半导体测试工作。

上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。