显示单元的异物检查系统

技术领域

本发明涉及检查异物是否被引入到显示单元中的用于显示单元的异物检查系统。

背景技术

显示单元可以通过将膜附接至显示面板来制造。在制造显示单元的过程期间，有时异物例如气泡和粉尘被引入在膜与面板之间。

由于引入的异物在由显示单元显示的图像上形成有缺陷的区域，因此需要在发行显示单元之前将具有引入的异物的显示单元分类为有缺陷的产品。

目前，最常用的显示单元为液晶显示单元，其中将膜附接至液晶面板的两个表面，使得膜的透射轴垂直于液晶面板的表面。

在液晶显示单元中，当光入射在液晶显示单元的一个表面上时，光可以朝液晶显示单元的另一个表面行进并被透射。此时，如果在膜与液晶面板之间引入有异物，则光散射。

因此，为了检查异物是否被引入到液晶显示单元中，使光入射在液晶显示单元的一个表面上，然后可以根据通过朝另一个表面行进而透射的光是否散射来确定是否引入有异物。

然而，在逐渐且越来越多地被使用的有机发光显示单元的情况下，难以使用能够检查异物是否被引入到液晶显示器中的光透射光学系统。

原因在于，与在液晶层的两侧设置透明基底的液晶显示面板不同，在有机发光显示单元的有机发光显示面板的情况下，在有机发光层的一侧设置不透明基底，在有机发光层的另一侧设置对可见侧透明的基底。

因此，由于光透射光学系统难以使光从有机发光显示单元的一侧向另一侧透射，因此需要另外类型的异物检查装置代替光透射光学系统。

发明内容

技术问题

本发明的示例性实施方案致力于提供能够在不使用光透射光学系统的情况下检查异物是否被引入到有机发光显示单元中的系统。

技术方案

本发明的一个示例性实施方案提供了用于显示单元的异物检查系统，其包括：照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当入射光被显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到显示单元中。

在本示例性实施方案中，显示单元可以包括设置在有机发光显示面板上的四分之一波片(quarter-wave plate，QWP)和设置在四分之一波片上的偏光板。

在本示例性实施方案中，当异物检测单元确定提供了反射光时，异物检测单元可以确定异物被引入到显示单元中。

在本示例性实施方案中，照明单元可以向显示单元提供倾斜入射角小于90°的入射光。

在本示例性实施方案中，异物检测单元可以包括图像捕获单元和控制单元，所述图像捕获单元配置成接收反射光并捕获显示单元的图像，所述控制单元配置成接收来自图像捕获单元的显示单元的图像并检测异物是否被引入到显示单元中。

有益效果

根据本发明的示例性实施方案，可以在不使用光透射光学系统的情况下检查异物是否被引入到有机发光显示单元中。

附图说明

图1是示意性地示出根据本发明的一个示例性实施方案的显示单元的结构和外部光的行进路径的示意图。

图2是示意性地示出当异物被引入到根据本发明的示例性实施方案的显示单元中时外部光的行进路径的示意图。

图3是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的用于显示单元的异物检查系统的配置的示意图。

图4是示出通过使用根据本发明的示例性实施方案的用于显示单元的异物检查系统检测被引入到显示单元中的具有各种尺寸的异物的结果的图。

※附图标记说明

10：显示单元

11：有机发光显示面板

12：偏光板

13：四分之一波片

100：用于显示单元的异物检查系统

110：照明单元

120：异物检查单元

具体实施方式

参照以下将详细描述的示例性实施方案以及附图，本发明将是显而易见的。然而，本发明不限于本文公开的示例性实施方案，而是将以各种形式实施。提供本发明的示例性实施方案使得本发明被完全公开，并且本领域普通技术人员可以充分理解本发明的范围。本发明将仅由所附权利要求的范围来限定。同时，本说明书中使用的术语用于说明示例性实施方案，而不是用于限制本发明。在本说明书中，除非另外特别说明，否则单数形式也包括复数形式。本说明书中使用的术语例如“包含(comprises，includes)”和/或“包括(comprising，including)”除了提及的构成要素、步骤、操作和/或要素之外不排除存在或添加一个或更多个其他构成要素、步骤、操作和/或要素。诸如“第一”和“第二”的术语可以用于描述不同构成要素，但是构成要素不应被所述术语限制。这些术语仅用于将一个构成要素与另一个构成要素区分开。

图1是示意性地示出根据本发明的一个示例性实施方案的显示单元的结构和外部光的行进路径的示意图，图2是示意性地示出当异物被引入到根据本发明的示例性实施方案的显示单元中时外部光的行进路径的示意图。

参照图1，根据本发明的一个示例性实施方案的显示单元10可以具有有机发光显示面板11。显示单元10可以包括设置在有机发光显示面板11上的四分之一波片(QWP)11和设置在四分之一波片12上的偏光板13，以防止从外部入射的外部光L_O被反射并从外部视觉识别。

四分之一波片12可以包括光学各向异性薄板，所述光学各向异性薄板被制造成使得在垂直于波长为λ的透射光振动的两个偏振分量之间出现λ/4的光程差。当线性偏振光垂直入射使得光在四分之一波片12中振动的方向相对于入射光振动的方向具有90度的角度时，透过四分之一波片12的光变为圆形偏振光。相反，当入射圆形偏振光时，透过四分之一波片12的光变为线性偏振光。

偏光板13包括在预定方向上延伸并用二色性染料染色的聚乙烯醇(PVA)膜作为起偏振器。当起偏振器延伸时，起偏振器可以具有在预定方向上的透射轴(在图中，透射轴方向由“PA”表示)，并且起偏振器仅透射在与透射轴方向相同的方向上振动的光。

同时，显示单元10可以具有其中有机发光显示面板11、偏光板13和四分之一波片12堆叠以彼此紧密接触的结构。然而，图1示出了各个部件彼此分开以描述光的行进路径。

待入射在显示单元10上的外部光L_O可以具有在垂直于外部光L_O的行进方向的所有方向上振动的混合光束。

当外部光L_O入射在偏光板13上时，偏光板13仅透射在与偏光板13的透射轴方向PA相同的方向上振动的光，即，偏光板13透射第一线性偏振光L1。

透过偏光板13的第一线性偏振光L1入射在四分之一波片12上。如图1所示，当第一线性偏振光L1入射在四分之一波片12上时，形成第一圆形偏振光L2并透过四分之一波片12。第一圆形偏振光L2可以为右旋圆形偏振光或左旋圆形偏振光，图1示出了左旋圆形偏振光。

透过四分之一波片12的第一圆形偏振光L2入射在有机发光显示面板11上。如图1所示，当第一圆形偏振光L2入射在有机发光显示面板11上时，第一圆形偏振光L2被有机发光显示面板11的表面反射，使得在与入射的第一圆形偏振光L2的方向相反的方向上形成第二圆形偏振光L3。图1示出了由于左旋圆形偏振光入射在有机发光显示面板11的表面上并被反射，因此通过反射形成的第二圆形偏振光L3为右旋圆形偏振光。

被有机发光显示面板11的表面反射的第二圆形偏振光L3入射在四分之一波片12上。如图1所示，当第二圆形偏振光L3入射在四分之一波片12上时，形成第二线性偏振光L4并透过四分之一波片12。

第二线性偏振光L4在垂直于偏光板13的透射轴方向PA(与第一线性偏振光L1的振动方向相同)的方向上振动。当第二线性偏振光L4入射在偏光板13上时，第二线性偏振光L4在垂直于偏光板13的透射轴方向PA的方向上振动，因此，第二线性偏振光L4无法透过偏光板13并被吸收到偏光板13中。

将参照图2描述当在有机发光显示面板11与四分之一波片12之间引入有异物F时外部光的行进路径。

由于外部光L_O入射并透过偏光板13和四分之一波片12的过程与上述过程相同，因此，描述将集中于在光透过四分之一波片12之后的过程。

透过四分之一波片12的第一圆形偏振光L2入射在有机发光显示面板11上。然而，由于引入有异物F，因此第一圆形偏振光L2到达异物F，如图2所示。到达异物F的第一圆形偏振光L2被异物F反射，但是由于与有机发光显示面板11的表面不同，异物F不具有平坦的表面，因此反射光与第一圆形偏振光L2不完全相反，而是形成第二不完全圆形偏振光L3'，如图1所示。

被异物F反射的第二不完全圆形偏振光L3'入射在四分之一波片12上。如图2所示，当第二不完全圆形偏振光L3'入射在四分之一波片12上时，形成第二线性偏振光L4'并透过四分之一波片12。

然而，第二线性偏振光L4'与第一圆形偏振光L2不完全相反，而是基于第二不完全圆形偏振光L3'，当光通过四分之一波片12偏振时形成第二线性偏振光L4'。因此，第二线性偏振光L4'在与没有引入异物时形成的第二线性偏振光L4'的振动方向不同的方向上振动。具体地，第二线性偏振光L4'可以在不垂直于偏光板13的透射轴方向PA(与第一线性偏振光L1的振动方向相同)的方向上振动。当第二线性偏振光L4'入射在偏光板13上时，由于第二线性偏振光L4'在不垂直于偏光板13的透射轴方向PA的方向上振动，因此第二线性偏振光L4'透过偏光板13。透过偏光板13的透射光L5可以从外部视觉识别。

图3是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的用于显示单元的异物检查系统的配置的示意图。

参照图3，根据本发明的示例性实施方案的用于显示单元的异物检查系统100(在下文中，也简称为“系统”)可以包括照明单元110和异物检测单元120。

照明单元110可以向具有有机发光显示面板11的显示单元10提供入射光L_O。照明单元110可以包括用于提供入射光的光源。

照明单元110可以向显示单元10提供倾斜入射角小于90°的入射光L_O。由于以下将描述的异物检测单元120的图像捕获装置121需要捕获被显示单元10反射的光的图像，因此需要与照明单元110一起设置在显示单元10的一侧。在这种情况下，有利的是使入射光相对于显示单元10的入射角小于90°以使入射光与反射光之间的光学干涉最小化。

异物检测单元120可以接收当入射光L_O被显示单元10反射时提供的反射光L5并检测异物是否被引入到显示单元中。异物检测单元120可以包括图像捕获单元和控制单元，所述图像捕获单元配置成捕获显示单元的图像，所述控制单元配置成接收来自图像捕获单元的显示单元的图像并检测异物是否被引入到显示单元中。

当没有异物被引入到显示单元10中时，图像捕获单元在没有接收来自显示单元10的单独的反射光的情况下捕获图像，并且显示单元的图像的整个表面不具有对比度水平清晰区别的区域。在这种情况下，控制单元可以确定没有异物被引入到显示单元中。

当异物被引入到显示单元10中时，图像捕获单元在接收来自显示单元10的反射光的情况下捕获图像，并且捕获和获取的显示单元的图像可以具有包括通过接收的反射光形成的亮区域和其中没有提供反射光的暗区域的整个表面。因此，由于显示单元的图像具有对比度水平清晰区别的区域，因此控制单元可以确定异物被引入到显示单元中。特别地，控制单元可以确定异物被引入到对应于亮捕获区域的区域中。

具体地，当没有异物F被引入到显示单元10中时，即使外部光L_O入射，光也以偏光板13、四分之一波片12、有机发光显示面板11和四分之一波片12的顺序行进，如图1所示。然而，由于第二线性偏振光L4无法透过偏光板13，因此图像捕获单元在没有接收来自显示单元10的反射光的情况下捕获显示单元10的图像。此外，当异物F被引入到显示单元10中时，如图2所示，外部光L_O可以入射并且可以以偏光板13、四分之一波片12、异物F、四分之一波片12和外部的顺序行进，并且反射光L5可以到达图像捕获单元，因此，图像捕获单元在接收来自显示单元10的反射光L5的情况下捕获显示单元10的图像。

图4是示出通过使用根据本发明的示例性实施方案的用于显示单元的异物检查系统检测引入到显示单元中的具有各种尺寸的异物的结果的图。

具体地，向引入有具有450μm至2700μm的各种尺寸的异物的显示单元提供倾斜入射角小于90°的入射光，然后捕获显示单元的图像。此外，图4示出了捕获和获取的原始图像以及通过将原始图像转换为黑白图像以增加对比度水平而制成的处理图像。

确定其中存在异物并被显微镜识别的区域在对应于原始图像的区域和对应于处理图像的区域二者中均具有清晰区别的对比度水平。因此，可以确定，可以在过程期间在不使用显微镜等的情况下通过实际使用根据本发明的示例性实施方案的系统来检测是否引入有异物。

根据本发明的示例性实施方案，可以在不使用光透射光学系统的情况下检查异物是否被引入到有机发光显示单元中。

此外，根据本发明的示例性实施方案，即使有机发光显示单元10具有包括防止入射的外部光被反射的四分之一波片12和偏光板13的结构，也可以通过使用反射光学系统容易地检查是否引入有异物。

虽然已参照前述示例性实施方案描述了本发明，但是可以在不脱离本发明的主题和范围的情况下做出各种修改或变化。因此，所附权利要求包括这些修改或变化，只要这些修改或变化落入本发明的主题内即可。