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显示装置

文献发布时间：2023-06-19 11:52:33

技术领域

本公开涉及一种显示装置及其驱动方法，并且更具体地，涉及一种实时地校正数据信号的显示装置及其驱动方法。

背景技术

随着信息社会发展，对显示图像的显示装置的需求正在以各种形式增加。因此，近来，已开发并销售了能够减少作为阴极射线管的缺点的重量和体积的各种平板显示装置(FPD)。例如，利用各种显示装置，诸如液晶显示装置LCD、等离子体显示面板PDP或有机发光二极管OLED显示装置。

显示装置的显示面板包括由选通线和数据线限定的多个像素。多个像素中的每一个均包括至少一个发光二极管，并且至少一个发光二极管根据选通电压实现与数据电压相对应的灰度级。

然而，发光二极管由于连续驱动而退化，使得退化的发光二极管不能够实现与数据电压相对应的灰度级。因此，存在由于该退化导致显示装置的图像质量下降的问题。

发明内容

因此，要由本公开实现的目的是为了提供一种显示装置及其驱动方法，该显示装置抑制由于发光二极管的退化而导致的图像质量的下降。

要由本公开实现的另一目的是为了提供一种显示装置及其驱动方法，该显示装置实时地感测发光二极管的退化程度以抑制由于长时间驱动而对图像质量造成的损坏。

本公开的目的不限于上述目的，并且本领域技术人员能够从以下描述中清楚地理解上面未提及的其它目的。

为了实现上述目的，根据本公开的一个方面，一种显示装置包括：显示面板，该显示面板包括多个像素；阈值电压感测单元，该阈值电压感测单元感测所述多个像素中包括的发光二极管的阈值电压；数据补偿单元，该数据补偿单元根据所述阈值电压的变化和累加数据来校正数据信号以生成校正后的数据信号；以及数据驱动器，该数据驱动器根据所述校正后的数据信号来生成数据电压以将所述数据电压输出到所述显示面板，其中，所述数据补偿单元在老化时段期间根据描述所述阈值电压的变化和所述累加数据的查找表周期性地校正所述数据信号以生成所述校正后的数据信号，从而改进图像质量。

示例性实施方式的其它详细事项被包括在详细描述和附图中。

根据本公开，在驱动时段期间周期性地校正增益以便与标准增益匹配，使得由于对数据信号的过度补偿或补偿不足而导致的余像不会残留在所述显示面板的一个区域中。

根据本公开，通过设置在虚设区域中的测试图案周期性地确定所述数据信号的补偿是否适当，以甚至在长时间驱动期间也抑制错误补偿，从而改进图像质量。

根据本公开的效果不限于以上举例说明的内容，并且在本说明书中包括更多的各种效果。

附图说明

根据接合附图进行的以下详细描述，将更清楚地理解本公开的以上及其它方面、特征和其它优点，在附图中：

图1是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的示意框图；

图2是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置在驱动时段期间的操作时序图；

图3是根据本公开的示例性实施方式的显示装置的像素的电路图；

图4是例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置的有机发光二极管的一个电极的电压的曲线图；

图5A至图5C是例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置的有机发光二极管的阈值电压感测方法的电路图；

图6A和图6B是例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置的虚设区域的框图；

图7是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的阈值电压感测单元的操作的视图；

图8是例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置的数据补偿单元的框图；

图9是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的数据计数单元的操作的曲线图；

图10是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的标准增益设定单元的操作的曲线图；

图11A是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的标准增益和累加数据的关系的曲线图；

图11B是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的标准增益和阈值电压变化的关系的曲线图；

图12是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的累加数据和阈值电压变化的关系的曲线图；

图13A和图13B是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的增益校正单元的操作的曲线图；

图14A和图14B是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的增益施加单元的操作的视图；以及

图15是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的驱动方法的流程图。

具体实施方式

通过参考在下面详细地描述的示例性实施方式以及附图，本公开的优点和特性以及实现这些优点和特性的方法将是清楚的。然而，本公开不限于本文公开的示例性实施方式，而是将被以各种形式实现。示例性实施方式仅作为示例被提供，使得本领域技术人员能够充分地理解本公开的公开内容和本公开的范围。因此，本公开仅由所附权利要求的范围来限定。

在附图中例示用于描述本公开的示例性实施方式的形状、大小、比率、角度、数量等仅仅是示例，并且本公开不限于此。在整个说明书中，相似的附图标记通常表示相似的元件。此外，在本公开的以下描述中，可以省略对已知相关技术的详细说明，以避免不必要地使本公开的主题混淆。本文使用的诸如“包括”、“具有”和“由…构成”的术语通常旨在允许添加其它组件，除非这些术语与术语“仅”一起使用。除非另外明确地陈述，否则对单数的任何引用可以包括复数。

即使未明确地陈述，组件也被解释为包括普通误差范围。

当使用诸如“在…上”、“在…上方”、“在…下方”和“次于”的术语来描述两个部分之间的位置关系时，除非这些术语与术语“紧接”或“直接”一起使用，否则可以在两个部分之间定位一个或更多个部分。

当一个元件或层被设置“在”另一元件或层“上”时，可以将另一层或另一元件直接插置在另一个元件上或其之间。

尽管术语“第一”、“第二”等被用于描述各种组件，然而这些组件不受这些术语限制。这些术语被仅仅用于将一个组件和其它组件区分开。因此，在本公开的技术构思中，要在下面提及的第一组件可以是第二组件。

在整个说明书中，相似的附图标记通常表示相似的元件。

附图中例示的每个组件的大小和厚度是为了描述的方便而例示的，并且本公开不限于所例示的组件的大小和厚度。

本公开的各种实施方式的特征能够部分地或完全地彼此粘附或组合，并且能够被以技术上不同的方式互锁和操作，而且实施方式能够彼此独立地或关联地进行。

在下文中，将参考附图详细地描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置。

图1是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的示意框图。

图2是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置在驱动时段期间的操作的时序图。

参考图1，根据本公开的示例性实施方式的显示装置100包括显示面板110、数据驱动器120、选通驱动器130、定时控制器140、阈值电压感测单元150和数据补偿单元160。

显示面板110包括多条选通线GL和多条数据线DL，多条选通线GL和多条数据线DL设置在使用玻璃或塑料来按矩阵彼此相交的基板上。多个像素PX由多条选通线GL和数据线DL限定。

显示面板110的多个像素PX分别连接到选通线GL和数据线DL。多个像素PX基于从选通线GL发送的选通电压和从数据线DL发送的数据电压来操作。

多个像素PX中的每一个均包括发出红色光的红色子像素、发出绿色光的绿色子像素、发出蓝色光的蓝色子像素和发出白色光的白色子像素。

然而，多个像素PX中的每一个均不限于此，并且可以包括具有各种颜色的子像素。

因此，由于多个像素PX中的每一个均包括发出白色光的白色子像素，所以输出到红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素的数据电压减小，使得显示装置100的整体功耗可以降低。

此外，当根据本公开的示例性实施方式的显示装置100是有机发光显示装置时，电流被施加到多个像素PX中包括的有机发光二极管，并且放电电子和空穴复合以产生激子。激子发光以实现有机发光显示装置的灰度级。

关于此，根据本公开的示例性实施方式的显示装置100不限于有机发光显示装置，而是可以为诸如液晶显示装置的各种类型的显示装置。

同时，可以将显示面板110划分成：有效显示区域AA，在其中实现了根据数据信号Data的图像；以及虚设区域DA，在其中实现了用于测量退化程度的特定测试图案。

如图1中所例示的，虚设区域DA可以设置在有效显示区域AA的一个侧部中，但是虚设区域DA的设置位置不限于此。

也就是说，在虚设区域DA中，未实现单独的图像，使得不需要将虚设区域DA暴露给用户。因此，显示面板110的虚设区域DA可以被包围显示面板110的饰面材料阻挡。

即使在图1中，也例示了设置在虚设区域DA中的多个像素PX设置在一条线上，设置在虚设区域DA中的多个像素PX可以以各种形式设置。

同时，可以在老化时段和驱动时段中分别地驱动根据本公开的示例性实施方式的显示装置100。

具体地，根据本公开的示例性实施方式的显示装置通过老化时段不仅使多个像素PX老化，而且生成下述用于增益校正的查找表。在老化时段之后的驱动时段期间，显示面板通过参考查找表周期性地校正被施加到数据信号Data的增益，从而一致地反馈图像质量。

更具体地说，如图2中所例示的，在驱动时段期间，一个帧包括：有效部分，在该有效部分中根据数据信号实现图像；虚设部分，在该虚设部分中驱动设置在虚设区域DA中的测试图案；以及消隐部分，在该消隐部分中不向显示面板110输出图像。

也就是说，在虚设部分中，设置在虚设区域DA中的测试图案被驱动以将由测试图案测量的特性与查找表进行比较以校正被施加到数据信号Data的增益，使得可以甚至在驱动时段期间也实时地优化图像质量。

定时控制器140向数据驱动器120供应数据控制信号DCS以控制数据驱动器120并且向选通驱动器130供应选通控制信号GCS以控制选通驱动器130。

也就是说，定时控制器140基于从外部主机系统接收到的定时信号来开始根据由每个帧实现的定时进行扫描。

更具体地，定时控制器140从外部主机系统接收包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE和数据时钟信号DCLK以及图像数据Data的各种定时信号。

为了控制数据驱动器120和选通驱动器130，定时控制器140接收诸如垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE和数据时钟信号DCLK的定时信号并且生成各种控制信号DCS和GCS。定时控制器140将各种控制信号DCS和GCS输出到数据驱动器120和选通驱动器130。

例如，为了控制选通驱动器130，定时控制器140输出包括选通起始脉冲GSP、选通移位时钟GSC、选通输出使能信号GOE等的各种选通控制信号GCS。

这里，选通起始脉冲控制配置选通驱动器130的一个或更多个选通电路的操作起始定时。选通移位时钟是通常输入到一个或更多个选通电路并且控制扫描信号(选通脉冲)的移位定时的时钟信号。选通输出使能信号指定一个或更多个选通电路的定时信息。

此外，为了控制数据驱动器120，定时控制器140输出包括源起始脉冲SSP、源采样时钟SSC、源输出使能信号SOE等的各种数据控制信号DCS。

这里，源起始脉冲控制配置数据驱动器120的一个或更多个数据电路的数据采样起始定时。源采样时钟是控制每个数据电路中的数据的采样定时的时钟信号。源输出使能信号控制数据驱动器120的输出定时。

定时控制器140根据在数据补偿单元160中可处理的数据信号Data格式来对从外部系统接收到的图像数据进行转换并且输出经转换后的视频信号。通过这样做，定时控制器140根据扫描以适当的定时控制数据驱动。

定时控制器140可以设置在与数据驱动器120接合的源印刷电路板以及通过诸如柔性扁平电缆(FFC)或柔性印刷电路板(FPC)的连接介质来连接的控制印刷电路板上。

选通驱动器130根据定时控制器140的控制依次向选通线GL供应选通电压。

例如，如图2中所例示的，选通驱动器130输出选通电压，该选通电压驱动消隐部分中的选通驱动器130的虚设线，并且将选通电压输出到设置在有效部分中的有效显示区域AA中的选通线GL，并且将选通电压输出到设置在虚设部分中的虚设区域DA中的选通线GL。通过这样做，设置在虚设区域DA中的测试图案被驱动。

根据驱动方法，必要时，选通驱动器130可以仅位于显示面板110的一侧或者位于两侧。

选通驱动器130可以借助于带式自动接合(TAB)方法或玻璃上芯片(COG)方法连接到显示面板110的接合焊盘。必要时，选通驱动器130可以作为面板内选通(GIP)型被实现为直接设置在显示面板110中或者可以被集成为设置在显示面板110中。

选通驱动器130可以包括移位寄存器和电平移位器。

阈值电压感测单元150感测设置在每个像素PX中的发光二极管的阈值电压。

也就是说，阈值电压感测单元150通过感测线SL连接到设置在每个像素PX中的发光二极管并且感测被施加到发光二极管的一个电极的电压以感测发光二极管的阈值电压。

此外，阈值电压感测单元150将与由于退化而导致的发光二极管的阈值电压的变化ΔVoled相对应的阈值电压变化ΔVoled输出到数据补偿单元160。

为此，阈值电压感测单元150可以包括：差分放大器，该差分放大器提取由于退化而导致的发光二极管的阈值电压的变化ΔVoled的值；和模数转换器ADC，该ADC将模拟电压变成数字信号。

数据补偿单元160根据发光二极管的退化程度来补偿数据信号Data以输出补偿后的数据信号CData。

具体地，数据补偿单元160根据反映累加数据信号Data量的累加数据和阈值电压变化ΔVoled来确定发光二极管的退化程度。此外，根据发光二极管的退化程度来施加增益以补偿数据信号Data并且将补偿后的数据信号CData输出到数据驱动器120。

也就是说，数据补偿单元160对数据信号Data进行计数以生成累加数据并且根据该累加数据和阈值电压变化ΔVoled来确定数据信号Data的增益，然后将该增益反映到数据信号Data以输出经补偿后的数据信号CData。

此外，为了更精确的补偿，数据补偿单元160在老化期间生成用于累加数据和阈值电压变化ΔVoled的查找表，然后在驱动时段期间基于该查找表实时地校正增益以生成经校正后的数据信号CData。

数据驱动器120将从数据补偿单元160接收到的经补偿后的数据信号CData转换成模拟数据电压Vdata并且将该模拟数据电压输出到数据线DL。

数据驱动器120通过带式自动接合方法或玻璃上芯片方法连接到显示面板110的接合焊盘或者可以直接设置在显示面板110上。必要时，数据驱动器120可以被设置为集成在显示面板110中。

此外，可以通过膜上芯片COF方法来实现数据驱动器120。在这种情况下，数据驱动器120的一端可以接合到至少一个源印刷电路板，而另一端可以接合到显示面板110。

数据驱动器120可以包括逻辑单元，该逻辑单元包括诸如电平移位器或锁存单元、数模转换器DAC和输出缓冲器的各种电路。

此外，数据驱动器还可以包括电源控制器，该电源控制器设置在控制印刷电路板上以向显示面板110、数据驱动器120、选通驱动器130、定时控制器140、阈值电压感测单元150和数据补偿单元160供应各种电压或电流或者控制要供应的各种电压或电流。电源控制器可以被称为电源管理集成电路PMIC。

在下文中，将参考图3详细地描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置的像素PX的电路结构。

图3是根据本公开的示例性实施方式的显示装置的像素的电路图。

如图2中所例示的，每个像素PX包括：有机发光二极管OLED，该有机发光二极管OLED是发光二极管；驱动电路，该驱动电路驱动有机发光二极管OLED；以及感测电路，该感测电路感测有机发光二极管OLED的阈值电压Voled。

驱动电路包括驱动晶体管Tdr、扫描晶体管Tsc和存储电容器Cst。

扫描晶体管Tsc根据扫描信号SCAN对第一节点Nl施加数据电压Vdata。在扫描晶体管Tsc中，扫描信号SCAN被施加到栅电极并且数据电压Vdata被施加到第一电极，而且第二电极连接到第一节点N1。第一节点N1可以对应于驱动晶体管Tdr的栅极。因此，当扫描信号SCAN处于导通电平时，扫描晶体管Tsc被导通以将数据电压Vdata施加到第一节点N1。

驱动晶体管Tdr将驱动电流供应给有机发光二极管OLED以驱动该有机发光二极管OLED。在驱动晶体管Tdr中，栅极连接到第一节点N1，高电位驱动电压VDD被施加到第一电极并且第二节点N2连接到第二电极。有机发光二极管OLED的一个电极连接到第二节点N2。因此，根据驱动晶体管Tdr的栅源电压Vgs确定驱动电流以控制有机发光二极管OLED。

存储电容器Cst连接在作为驱动晶体管Tdr的栅极的第一节点N1与作为驱动晶体管Tdr的第二电极的第二节点N2之间以在一个帧内维持驱动晶体管Tdr的栅源电压Vgs。通过这样做，有机发光二极管OLED可以在一个帧内维持恒定亮度。

感测电路包括感测晶体管Tsen、初始化晶体管Tref和采样晶体管Tsam。

感测晶体管Tsen根据感测信号SEN将第二节点N2和第三节点N3电连接。在感测晶体管Tsen中，感测信号SEN被施加到栅极，第二节点N2连接到第一电极，并且第二电极连接到第三节点N3。有机发光二极管OLED的一个电极连接到第二节点N2并且感测线SL连接到第三节点N3。因此，当感测信号SEN处于导通电平时，感测晶体管Tsen被导通以将有机发光二极管OLED的一个电极连接到感测线SL。

初始化晶体管Tref根据初始化信号REF对第三节点N3施加初始化电压VREF。在初始化晶体管Tref中，初始化信号REF被施加到栅极并且初始化电压VREF被施加到第一电极，而且第二电极连接到第三节点N3。因此，当初始化信号REF处于导通电平时，初始化晶体管Tref被导通以将初始化电压VREF施加到作为感测线SL的第三节点N3。

采样晶体管Tsam可以根据采样信号SAM对被施加到第三节点N3的电压进行采样。在采样晶体管Tsam中，采样信号SAM被施加到栅极，第三节点N3连接到第一电极，并且第二电极连接到阈值电压感测单元150。因此，当采样信号SAM处于导通电平时，采样晶体管Tsam被导通以将施加到作为感测线SL的第三节点N3的电压采样到阈值电压感测单元150。

构成感测电路的感测晶体管Tsen、初始化晶体管Tref和采样晶体管Tsam执行开关功能，使得这些晶体管可以用诸如执行开关功能的二极管的电路元件替换。

在下文中，将参考图4和图5A至图5C描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置的有机发光二极管的阈值电压感测方法。

图4是例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置的有机发光二极管的一个电极的电压的曲线图。

图5A至图5C是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的有机发光二极管的阈值电压感测方法的电路图。

如图4中所例示的，在第一时段Pl期间，扫描信号SCAN处于截止电平，初始化信号REF处于导通电平，感测信号SEN处于导通电平，并且采样信号SAM处于截止电平。

因此，参考图5A，感测晶体管Tsen和初始化晶体管Tref被导通，使得初始化电压VREF在第二节点N2和第三节点N3两者中被充电。

上述初始化电压VREF可以高于有机发光二极管OLED的阈值电压Voled。

接下来，如图4中所例示的，在第二时段P2期间，扫描信号SCAN处于截止电平，初始化信号REF处于截止电平，感测信号SEN处于导通电平，并且采样信号SAM处于截止电平。

因此，参考图5B，仅感测晶体管Tsen被导通，使得第二节点N2和第三节点N3电连接。在第二节点N2和第三节点N3中充电的初始化电压VREF高于有机发光二极管OLED的阈值电压Voled。因此，有机发光二极管OLED可以允许施加到第二节点N2和第三节点N3的初始化电压VREF被放电为有机发光二极管OLED的阈值电压Voled。当施加到第二节点N2和第三节点N3的初始化电压VREF等于有机发光二极管OLED的阈值电压Voled时，电流不会流过有机发光二极管OLED。因此，可以使第二节点N2和第三节点N3的电压饱和至有机发光二极管OLED的阈值电压Voled。

关于此，有机发光二极管OLED在老化的同时发生退化，使得有机发光二极管OLED的老化阈值电压Voled(老化)可以高于有机发光二极管OLED的初始阈值电压Voled(初始)。

接下来，如图4中所例示的，在第三时段P3期间，扫描信号SCAN处于截止电平，初始化信号REF处于截止电平，感测信号SEN处于导通电平，并且采样信号SAM处于导通电平。

因此，参考图5C，感测晶体管Tsen和采样晶体管Tsam被导通，使得可以通过感测线SL将在第二节点N2和第三节点N3中充电的有机发光二极管OLED的阈值电压Voled采样到阈值电压感测单元150。因此，阈值电压感测单元150感测有机发光二极管OLED的初始阈值电压Voled(初始)和有机发光二极管OLED的老化阈值电压Voled(老化)以生成与有机发光二极管OLED的初始阈值电压Voled(老化)与有机发光二极管OLED的老化阈值电压Voled(老化)之间的差相对应的阈值电压变化ΔVoled。

在下文中，将参考图6A和图6B详细地描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置的虚设区域。

图6A和图6B是例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置的虚设区域的框图。

如图6A和6B中所例示的，虚设区域DA包括实现红色图案的红色子虚设区域RDA、实现白色图案的白色子虚设区域WDA、实现绿色图案的绿色子虚设区域GDA和实现蓝色图案的蓝色子虚设区域BDA。

具体地，如图6A中所例示的，在红色子虚设区域RDA、白色子虚设区域WDA、绿色子虚设区域GDA和蓝色子虚设区域BDA中的每一个中，可以设置所有红色子像素R、白色子像素W、绿色子像素G和蓝色子像素B。

然而，在红色子虚设区域RDA中，实现了仅红色图案，使得仅红色子像素R发光并且测量设置在红色子像素R中的有机发光二极管的阈值电压。因此，仅红色子像素R连接到感测线SL，而剩余子像素即白色子像素W、绿色子像素G和蓝色子像素B不连接到感测线SL。

类似地，在白色子虚设区域WDA中，实现了仅白色图案，使得仅白色子像素W发光并且测量设置在白色子像素W中的有机发光二极管的阈值电压。因此，仅白色子像素W连接到感测线SL，而剩余子像素即红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B不连接到感测线SL。

类似地，在绿色子虚设区域GDA中，实现了仅绿色图案，使得仅绿色子像素G发光并且测量设置在绿色子像素G中的有机发光二极管的阈值电压。因此，仅绿色子像素G连接到感测线SL，而剩余子像素即红色子像素R、白色子像素W和蓝色子像素B不连接到感测线SL。

类似地，在蓝色子虚设区域BDA中，实现了仅蓝色图案，使得仅蓝色子像素B发光并且测量设置在蓝色子像素B中的有机发光二极管的阈值电压。因此，仅蓝色子像素B连接到感测线SL，而剩余子像素即红色子像素R、白色子像素W和绿色子像素G不连接到感测线SL。

与此不同，如图6B中所例示的，在红色子虚设区域RDA中，设置了仅红色子像素R并且红色子像素R连接到感测线SL。此外，在白色子虚设区域WDA中，设置了仅白色子像素W并且白色子像素W连接到感测线SL。此外，在绿色子虚设区域GDA中，设置了仅绿色子像素G并且绿色子像素G连接到感测线SL。此外，在蓝色子虚设区域BDA中，设置了仅蓝色子像素B并且蓝色子像素B连接到感测线SL。

因此，在红色子虚设区域RDA中，可以测量由于退化而导致的设置在红色子像素R中的有机发光二极管的阈值电压的变化ΔVoled。在白色子虚设区域WDA中，可以测量由于退化而导致的设置在白色子像素W中的有机发光二极管的阈值电压的变化ΔVoled。此外，在绿色子虚设区域GDA中，可以测量由于退化而导致的设置在绿色子像素G中的有机发光二极管的阈值电压的变化ΔVoled。在蓝色子虚设区域BDA中，可以测量由于退化而导致的设置在蓝色子像素B中的有机发光二极管的阈值电压的变化ΔVoled。

在红色子虚设区域RDA、白色子虚设区域WDA、绿色子虚设区域GDA和蓝色子虚设区域BDA的每一个中，可以包括实现不同灰度级的多个测试图案以实现灰度级图案。

也就是说，在红色子虚设区域RDA中，可以设置表现不同灰度级的多个红色测试图案，并且在白色子虚设区域WDA中，可以设置表现不同灰度级的多个白色测试图案。此外，在绿色子虚设区域GDA中，可以设置表现不同灰度级的多个绿色测试图案，并且在蓝色子虚设区域BDA中，可以设置表现不同灰度级的多个蓝色测试图案。每个测试图案可以包括多个子像素，但是不限于此，并且每个测试图案可以由一个子像素配置。

例如，在红色子虚设区域RDA中，可以设置表现具有不同灰度级的红色的多个红色测试图案，并且在白色子虚设区域WDA中，可以设置表现具有不同灰度级的白色的多个白色测试图案。此外，在蓝色子虚设区域BDA中，可以设置表现具有不同灰度级的蓝色的多个蓝色测试图案，并且在绿色子虚设区域GDA中，可以设置表现具有不同灰度级的绿色的多个绿色测试图案。

在下文中，为了描述的方便，简化为使得表现具有不同灰度级的相同颜色的第一图案TP1、第二测试图案TP2、第三测试图案TP3和第四测试图案TP4设置在虚设区域DA中。

在下文中，将参考图7更详细地描述在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中根据退化计算出阈值电压变化ΔVoled的方法。

图7是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的阈值电压感测单元的操作的视图。

阈值电压感测单元150感测构成多个测试图案的像素PX中包括的发光二极管的阈值电压Voled。

具体地，如图7中所例示的，在虚设区域DA中，设置了表现相同颜色但是实现不同灰度级的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4。

具体地，可以将实现10个灰度级的数据信号Data输出到第一测试图案TP1并且可以将实现20个灰度级的数据信号Data输出到第二测试图案TP2。此外，可以将实现30个灰度级的数据信号Data输出到第三测试图案TP3并且可以将实现40个灰度级的数据信号Data输出到第四测试图案TP4。

阈值电压感测单元150通过感测线SL测量处于初始状态的发光二极管的阈值电压Voled(初始)。

当在初始状态下测量发光二极管的阈值电压Voled(初始)时，在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个中包括的多个子像素当中的错误子像素的噪声被去除。此外，导出了排除错误子像素的多个剩余子像素的阈值电压Voled的平均值，以导出处于初始状态的发光二极管的阈值电压Voled(初始值)。

也就是说，如图7中所例示的，发光二极管在初始状态下未退化，使得在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以彼此相等。

例如，在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以彼此相等，即为5V。

接下来，阈值电压感测单元150通过感测线SL测量处于老化状态的发光二极管的阈值电压Voled(老化)。

当在老化状态下测量发光二极管的阈值电压Voled(老化)时，在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个中包括的多个子像素当中的错误子像素的噪声被去除。此外，导出了排除错误子像素的多个剩余子像素的阈值电压Voled的平均值，以导出处于老化状态的发光二极管的阈值电压Voled(老化)。

此外，当在老化状态下测量发光二极管的阈值电压Voled(老化)时，测量到的阈值电压Voled可以取决于诸如测量温度的外部因素而变化，使得所测量到的阈值电压Voled的基准是必要的。因此，排除第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的虚设区域DA的区域未退化，使得阈值电压Voled不会变化。基于此，相对于排除第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的虚设区域DA的区域中测量的发光二极管的阈值电压Voled计算出在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个中测量的发光二极管的阈值电压Voled。

在老化状态下，第一测试图案TP1至第四测试图案TP4实现不同灰度级，使得在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压Voled也可以变化。在表现高灰度级的测试图案中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是高的。

例如，在第一测试图案TP1中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.02V，在第二测试图案TP2中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.04V，而在第三测试图案TP3中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.07V。此外，在第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.13V。

阈值电压感测单元150计算出与处于初始状态的发光二极管的阈值电压Voled(初始)和处于老化状态的发光二极管的阈值电压Voled(老化)的变化ΔVoled相对应的阈值电压变化ΔVoled。

例如，在第一测试图案TP1中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.02V并且在第二测试图案TP2中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.04V。在第三测试图案TP3中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.07V并且在第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.13V。

在下文中，将参考图8更详细地描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置的数据补偿单元。

图8是例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置的数据补偿单元的框图。

如图8中所例示的，数据补偿单元160包括数据计数单元161、标准增益设定单元163、存储器单元165、增益校正单元167和增益施加单元169。

数据计数单元161对数据信号Data进行计数和累加以生成累加数据AData。

数据计数单元161不仅仅对数据信号Data进行简单计数和相加，而且将数据信号Data乘以加权系数并且向其加上校正常数，然后将它们相加和退化时间一样多以计算出累加数据Adata。也就是说，可以通过等式1计算出累加数据Adata。

[等式1]

累加数据(Adata)＝Σ((加权系数(α)×数据信号(Data)+校正常数(Φ))

这里，根据数据信号Data确定加权系数Φ。也就是说，为了表现高灰度级，数据信号Data的强度越高，加权系数α越高。更具体地说，所表现的灰度级越高，发光二极管的退化程度越大。因此，通过反映这个，数据信号Data的强度越高，加权系数α越高。

校正常数Φ是反映显示面板110的温度和显示面板110的工艺的偏差的常数。

在下文中，将参考图9更详细地描述计算出第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的累加数据Adata的方法。

图9是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的数据计数单元的操作的曲线图。

如图9中所例示的，在虚设区域DA中，设置了表现相同颜色但是实现不同灰度级的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4。

因此，施加到第一测试图案TP1的加权系数α可以是1，施加到第二测试图案TP2的加权系数α可以是1.5，施加到第三测试图案TP3的加权系数α可以是2，并且施加到第四测试图案TP4的加权系数α可以是3。

当假定了所有校正常数Φ是10时，第一测试图案TP1每单位时间的累加数据Adata是20，第二测试图案TP2每单位时间的累加数据Adata是40，第三测试图案TP3每单位时间的累加数据Adata是70，而第四测试图案TP4每单位时间的累加数据Adata是130。

图10是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的标准增益设定单元的操作的曲线图。

图11A是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的标准增益和累加数据的关系的曲线图。

图11B是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的标准增益和阈值电压变化的关系的曲线图。

标准增益设定单元163确定每个测试图案在老化时段期间的退化程度以计算出要施加到每个测试图案的标准增益SGain。对于每个测试图案，标准增益设定单元163导出标准增益SGain与累加数据Adata之间的关系和标准增益SGain与阈值电压变化ΔVoled之间的关系。

也就是说，在针对第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个设定标准增益SGain之后，标准增益设定单元163针对第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个设定标准增益SGain与累加数据Adata之间的关系和标准增益SGain与阈值电压变化ΔVoled之间的关系。

具体地，标准增益设定单元163计算出1+每个测试图案的退化率(％)以计算出标准增益SGain。

可以将上述退化率(％)导出为(目标亮度-输出亮度)/目标亮度×100。

这里，目标亮度指代可以在不进行退化的情况下输出的初始亮度，而输出亮度指代在不进行退化之后输出的当前亮度。

在下文中，将详细地描述针对第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个的标准增益SGain的计算。

如图10中所例示的，当向虚设区域DA的整个像素PX输出1000尼特的亮度时，在老化时段期间实现不同灰度级的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4可以输出不同灰度级。

例如，第一测试图案TP1可以输出980尼特，第二测试图案TP2可以输出960尼特，第三测试图案TP3可以输出930尼特，而第四测试图案TP4可以输出870尼特。

因此，第一测试图案TP1的退化率是2％，第二测试图案TP2的退化率是4％，第三测试图案TP3的退化率是7％，而第四测试图案TP4是13％。

当基于此计算出标准增益SGain时，第一测试图案TP1的标准增益SGain是1.02，第二测试图案TP2的标准增益SGain是1.04，第三测试图案TP3的标准增益SGain是1.07，而第四测试图案TP4的标准增益SGain是1.13。

接下来，标准增益设定单元163计算出从数据计数单元161输出的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的累加数据Adata与第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的标准增益SGain的比率。

如上所述，第一测试图案TP1每单位时间的累加数据Adata是20，第二测试图案TP2每单位时间的累加数据Adata是40，第三测试图案TP3每单位时间的累加数据Adata是70，而第四测试图案TP4每单位时间的累加数据Adata是130。

此外，第一测试图案TP1的标准增益SGain是1.02，第二测试图案TP2的标准增益SGain是1.04，第三测试图案TP3的标准增益SGain是1.07，而第四测试图案TP4的标准增益SGain是1.13。

因此，如图11A中所例示的，当每单位时间的累加数据Adata是20时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.02，而当每单位时间的累加数据Adata是40时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.04。此外，当每单位时间的累加数据Adata是70时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.07，而当每单位时间的累加数据Adata是130时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.13。

如上所述，标准增益设定单元163计算出累加数据Adata和标准增益SGain的关系以将该关系发送到存储器单元165。

然而，即使在图11A中，累加数据Adata和标准增益SGain的关系由恒定线性曲线图例示，本公开也不限于此，并且累加数据Adata和标准增益SGain的关系可以由非线性曲线图例示。

接下来，标准增益设定单元163计算出从阈值电压感测单元150输出的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的阈值电压变化ΔVoled与第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的标准增益SGain的比率。

如上所述，在第一测试图案TP1中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.02V并且在第二测试图案TP2中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.04V。在第三测试图案TP3中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.07V并且在第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.13V。

因此，如图11B中所例示的，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.02V时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.02，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.04V时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.04。此外，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.07V时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.07，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.13V时，标准增益设定单元163将标准增益SGain匹配为1.13。

如上所述，标准增益设定单元163计算出阈值电压变化ΔVoled和标准增益SGain的关系以将该关系发送到存储器单元165。

即使在图11B中，阈值电压变化ΔVoled和标准增益SGain的关系由恒定线性曲线图例示，本公开也不限于此，并且阈值电压变化ΔVoled和标准增益SGain的关系可以由非线性曲线图例示。

图12是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的累加数据和阈值电压变化的关系的曲线图。

存储器单元165导出累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled的关系并且将该关系存储在查找表LUT中。

如上所述，标准增益设定单元163将老化时段期间的标准增益SGain和累加数据Adata的关系以及标准增益SGain和阈值电压Voled的关系发送到存储器单元165。

因此，存储器单元165基于老化时段期间的标准增益SGain和累加数据Adata的关系以及标准增益SGain和阈值电压变化Voled的关系来导出累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled的关系以生成查找表LUT。

例如，如上所述，当每单位时间的累加数据Adata是20时，标准增益SGain是1.02，而当每单位时间的累加数据Adata是40时，标准增益SGain是1.04。此外，当每单位时间的累加数据Adata是70时，标准增益SGain是1.07，而当每单位时间的累加数据Adata是130时，标准增益SGain是1.13。

此外，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.02V时，标准增益SGain是1.02，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.04V时，标准增益SGain是1.04。此外，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.07V时，标准增益SGain是1.07，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.13V时，标准增益SGain是1.13。

因此，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.02V时，存储器单元165将每单位时间的累加数据Adata匹配为20，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.04V时，存储器单元165将每单位时间的累加数据Adata匹配为40。此外，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.07V时，存储器单元165将每单位时间的累加数据Adata匹配为70时，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.13V时，存储器单元165将每单位时间的累加数据Adata匹配为130。

也就是说，存储器单元165对于成为用于预定老化时段期间的实时增益校正的标准的阈值电压变化ΔVoled与累加数据Adata之间的关系来计算出并存储查找表LUT。

图13A和图13B是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的增益校正单元的操作的曲线图。

具体地，图13A是用于说明增益校正单元校正驱动时段期间的累加数据的曲线图，并且图13B是用于说明增益校正单元校正驱动时段期间的增益的曲线图。

增益校正单元167基于存储在存储器单元165中的查找表LUT来校正驱动时段期间的增益Gain。

也就是说，在驱动时段期间，增益校正单元167被施加有来自数据计数单元161的累加数据Adata并且被施加有来自阈值电压感测单元150的阈值电压变化ΔVoled。此后，增益校正单元167将驱动时段期间的累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled的关系与查找表LUT进行比较，以校正累加数据Adata并且校正增益Gain以便对应于经校正后的累加数据。

更具体地说，增益校正单元167分别测量驱动时段期间的累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled。此后，增益校正单元167校正驱动时段期间的累加数据Adata以便对应于存储在存储器单元165中的查找表LUT。此后，增益校正单元167根据经校正后的累加数据以标准增益校正当前增益Gain。

例如，参考图13A，在驱动时段期间的预定定时，如点A处例示，阈值电压变化ΔVoled是0.04V并且可以将累加数据Adata测量为70。

相比之下，根据存储有阈值电压变化ΔVoled和累加数据Adata的关系的查找表LUT，如点B处例示，当阈值电压变化ΔVoled是0.04V时，累加数据Adata是40。

也就是说，驱动时段期间的累加数据Adata基于相同的阈值电压变化ΔVoled超过老化时段期间的累加数据Adata，使得这意味着它在驱动时段期间被过度补偿。

因此，增益校正单元167可以在驱动时段期间将累加数据Adata从70(点A)校正为40(点B)以便对应于查找表LUT。

因此，增益校正单元167根据经校正后的累加数据以标准增益SGain校正当前增益Gain。

参考图13B，在当前状态(点A)下，增益是1.07，但是与经校正后的累加数据相对应的标准增益SGain是1.04，使得增益Gain被从1.07校正为1.04。

也就是说，增益校正单元167校正增益Gain以抑制驱动时段期间的过度补偿。

图14A和图14B是用于说明根据本公开的示例性实施方式的显示装置的增益施加单元的操作的视图。

具体地，图14A例示了根据本公开的示例性实施方式的显示装置被过度补偿，并且图14B例示了根据本公开的示例性实施方式的过度补偿的显示装置被校正。

增益施加单元169将增益Gain施加到数据信号Data以生成校正后的数据信号CData。

也就是说，增益施加单元169被施加有来自定时控制器140的数据信号Data并且被施加有来自增益校正单元167的经校正后的增益Gain以将经校正后的增益Gain施加到数据信号Data以生成校正后的数据信号CData。

经校正后的数据信号CData被输出到数据驱动器120，使得数据驱动器120将补偿后的数据电压Vdata输出到显示面板110。因此，根据本公开的示例性实施方式的显示装置100抑制了过度补偿以改进图像质量。

具体地，如图14A中所例示的，数据信号Data在显示面板110的一个区域中被过度补偿，使得具有高灰度级的徽标可以作为余像残留在右上端处。然而，根据本公开的示例性实施方式的显示装置100的数据补偿单元160在驱动时段期间周期性地校正增益以与标准增益SGain匹配。因此，如图14B中所例示的，在显示面板110的一个区域中，由于对数据信号Data的过度补偿或补偿不足而导致的余像不会残留。

结果，根据本公开的示例性实施方式的显示装置100通过设置在虚设区域DA中的测试图案来周期性地确定对数据信号Data的补偿是否适当以抑制错误补偿并改进图像质量。

在下文中，将参考图15详细地描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置的驱动方法。将基于根据本公开的示例性实施方式的上述显示装置来描述根据本公开的示例性实施方式的显示装置的驱动方法。

图15是用于说明根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的驱动方法的流程图。

如图15中所例示的，根据本公开的一个示例性实施方式的显示装置的驱动方法S100包括：老化步骤S110，该老化步骤S110不仅使多个像素PX老化而且生成查找表LUT，在该查找表LUT中描述了多个测试图案中的每一个中包括的发光二极管的阈值电压的变化ΔVoled和累加数据AData的关系；以及驱动步骤S120，该驱动步骤120紧跟老化步骤S110之后并且根据查找表LUT周期性地校正数据信号Data并且生成校正后的数据信号CData。

老化步骤S110包括第一阈值电压感测步骤S111、第一数据计数步骤S113、标准增益设定步骤S115和查找表生成步骤S117。驱动步骤S120包括第二阈值电压感测步骤S121、第二数据计数步骤S123、增益校正步骤S125和增益施加步骤S127。

在第一阈值电压感测步骤S111中，在老化步骤S110期间感测阈值电压的变化ΔVoled。

也就是说，在第一阈值电压感测步骤S111中，在老化步骤S110期间感测构成多个测试图案的像素PX中包括的发光二极管的阈值电压Voled。

具体地，如图7中所例示的，在虚设区域DA中，设置了表现相同颜色但是实现不同灰度级的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4。

具体地，可以将实现10个灰度级的数据信号Data输出到第一测试图案TP1，并且可以将实现20个灰度级的数据信号Data输出到第二测试图案TP2。此外，可以将实现30个灰度级的数据信号Data输出到第三测试图案TP3，并且可以将实现40个灰度级的数据信号Data输出到第四测试图案TP4。

此外，在第一阈值电压感测步骤S111中，测量处于老化步骤S110的初始状态的发光二极管的阈值电压Voled(初始)。

当在初始状态下测量发光二极管的阈值电压Voled(初始)时，在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的每一个中包括的多个子像素当中的错误子像素的噪声被去除。此外，导出了排除错误子像素的多个剩余子像素的阈值电压Voled的平均值以导出处于初始状态的发光二极管的阈值电压Voled(初始值)。

例如，在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以彼此相等，即为5V。

接下来，在第一阈值电压感测步骤S111中，测量处于老化步骤S110的老化状态的发光二极管的阈值电压Voled(老化)。

当在老化状态下测量发光二极管的阈值电压Voled(老化)时，在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的每一个中包括的多个子像素当中的错误子像素的噪声被去除。此外，导出了排除错误子像素的多个剩余子像素的阈值电压Voled的平均值以导出处于老化状态的发光二极管的阈值电压Voled(老化)。

此外，当在老化状态下测量发光二极管的阈值电压Voled(老化)时，测量到的阈值电压Voled可以取决于诸如测量温度的外部因素而变化，使得所测量到的阈值电压Voled的基准是必要的。因此，排除第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的虚设区域DA的区域未退化，使得阈值电压Voled不会变化。基于此，相对于在排除第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的虚设区域DA的区域中测量的发光二极管的阈值电压Voled计算出在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的每一个中测量的发光二极管的阈值电压Voled。

在老化状态下，第一测试图案TP1至第四测试图案TP4实现不同灰度级，使得在第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个中测量的发光二极管的阈值电压Voled也可以变化。在表现高灰度级的测试图案中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是高的。

例如，在第一测试图案TP1中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.02V，在第二测试图案TP2中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.04V，并且在第三测试图案TP3中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.07V。此外，在第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压Voled可以是5.13V。

在第一阈值电压感测步骤S111中，计算出与处于初始状态的发光二极管的阈值电压Voled(初始)和处于老化状态的发光二极管的阈值电压Voled(老化)的变化ΔVoled相对应的阈值电压变化ΔVoled。

例如，在第一测试图案TP1中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.02V，在第二测试图案TP2中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.04V，并且在第三测试图案TP3中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.07V。此外，在第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.13V。

接下来，在第一数据计数步骤S113中，在老化步骤S110期间对数据信号Data进行计数和累加以生成累加数据AData。

在第一数据计数步骤S113中，在老化步骤期间不仅仅对数据信号Data进行计数和相加，而是将数据信号Data和加权系数相乘并且向其加上校正常数，然后将它们相加和退化时间一样多以计算出累加数据Adata。也就是说，可以通过等式1计算出累加数据Adata。

累加数据(Adata)＝Σ((加权系数(α)×数据信号(Data)+校正常数(Φ))

这里，根据数据信号Data确定加权系数α。也就是说，为了表现高灰度级，数据信号Data的强度越高，加权系数α越高。更具体地说，所表现的灰度级越高，发光二极管的退化程度越大。因此，通过反映这个，数据信号Data的强度越高，加权系数α越高。

校正常数Φ是反映显示面板110的温度和显示面板110的工艺的偏差的常数。

如图9中所例示的，在虚设区域DA中，设置了表现相同颜色但是实现不同灰度级的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4。

接下来，在标准增益设定步骤S115中，在老化步骤S110期间确定每个测试图案的退化程度以计算出要施加到每个测试图案的标准增益SGain。此外，在标准增益设定步骤S115中，在老化步骤S110期间针对每个测试图案导出标准增益SGain与累加数据Adata之间的关系和标准增益SGain与阈值电压变化ΔVoled之间的关系。

也就是说，在标准增益设定步骤S115中，在老化步骤S110期间针对第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的每一个设定标准增益SGain之后，针对第一测试图案至第四测试图案中的每一个设定标准增益SGain与累加数据Adata之间的关系和标准增益SGain与阈值电压变化ΔVoled之间的关系。

具体地，在标准增益设定步骤S115中，计算出1+每个测试图案的退化率(％)以计算出标准增益SGain。

可以将上述退化率(％)导出为(目标亮度-输出亮度)/目标亮度×100。

这里，目标亮度指代可以在不进行退化的情况下输出的初始亮度，而输出亮度指代在不进行退化之后输出的当前亮度。

在下文中，将详细地描述针对第一测试图案TP1至第四测试图案TP4中的每一个的标准增益SGain的计算。

如图10中所例示的，当向虚设区域DA的整个像素PX输出1000尼特的亮度时，在老化期间实现不同灰度级的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4可以输出不同亮度。

例如，第一测试图案TP1输出980尼特，第二测试图案TP2输出960尼特，第三测试图案TP3输出930尼特，而第四测试图案TP4输出870尼特。

因此，第一测试图案TP1的退化率是2％，第二测试图案TP2的退化率是4％，第三测试图案TP3的退化率是7％，而第四测试图案TP4的退化率是13％。

接下来，在标准增益设定步骤S115中，在老化步骤S110期间计算出在第一数据计数步骤S113中计算出的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的累加数据Adata与第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的标准增益SGain的比率。

因此，如图11A中所例示的，在标准增益设定步骤S115中，当每单位时间的累加数据Adata在老化步骤S110期间是20时，标准增益SGain与1.02匹配，而当每单位时间的累加数据Adata是40时，标准增益SGain与1.04匹配。此外，当每单位时间的累加数据Adata是70时，标准增益SGain与1.07匹配，而当每单位时间的累加数据Adata是130时，标准增益SGain与1.13匹配。

如上所述，在标准增益设定步骤S115中，在老化步骤S110期间，计算出累加数据Adata和标准增益SGain的关系。

即使在图11A中，累加数据Adata和标准增益SGain的关系由恒定线性曲线图例示，本公开也不限于此，并且累加数据Adata和标准增益SGain的关系可以由非线性曲线图例示。

接下来，在标准增益设定步骤S115中，计算出在第一阈值电压感测步骤S111中计算出的第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的阈值电压变化ΔVoled与第一测试图案TP1至第四测试图案TP4的标准增益SGain的比率。

如上所述，在第一测试图案TP1中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.02V，在第二测试图案TP2中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.04V，并且在第三测试图案TP3中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.07V。此外，在第四测试图案TP4中测量的发光二极管的阈值电压变化ΔVoled可以是0.13V。

因此，如图11B中所例示的，在标准增益设定步骤S115中，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled在老化步骤S110期间是0.02V时，标准增益SGain匹配为1.02，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.04V，标准增益SGain匹配为1.04。此外，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.07V时，标准增益SGain匹配为1.07，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.13V时，标准增益SGain匹配为1.13。

如上所述，在标准增益设定步骤S115中，在老化步骤S110期间，计算出发光二极管的阈值电压变化ΔVoled和标准增益SGain的关系。

在查找表生成步骤S117中，导出了累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled的关系以生成查找表LUT。

如上所述，在标准增益设定步骤S115中，在老化步骤S110期间，计算出标准增益SGain和累加数据Adata的关系以及标准增益SGain和阈值电压变化ΔVoled的关系。

因此，在查找表生成步骤S117中，在老化时段期间，基于标准增益SGain和累加数据Adata的关系以及标准增益SGain和阈值电压变化ΔVoled的关系导出了累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled的关系以生成查找表LUT。

因此，在查找表生成步骤S117中，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.02V时，每单位时间的累加数据Adata匹配为20，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.04V时，每单位时间的累加数据Adata匹配为40。此外，当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.07V时，每单位时间的累加数据Adata匹配为70，而当发光二极管的阈值电压变化ΔVoled是0.13V时，每单位时间的累加数据Adata匹配为130。

也就是说，在查找表生成步骤S117中，在老化步骤S110期间，可以计算出成为用于实时增益校正的标准的阈值电压变化ΔVoled与累加数据Adata之间的关系的查找表LUT。

接下来，驱动步骤S120的第二阈值电压感测步骤S121和第二数据计数步骤S123与上述第一阈值电压感测步骤S111和第一数据计数步骤S111不同的原因在于，感测定时是在驱动步骤S120而不是老化步骤S110中。然而，感测方法是相同的，以致将省略冗余描述。在下文中，将更详细地描述增益校正步骤S125和增益施加步骤S127。

在增益校正步骤S125中，基于查找表LUT在驱动时段期间校正增益。

也就是说，在增益校正步骤S125中，在驱动步骤S120期间，在第二数据计数步骤S123中计算出累加数据Adata并且在第二阈值电压感测步骤S121中计算出阈值电压变化ΔVoled。此后，在驱动步骤S120期间，将累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled的关系与查找表LUT进行比较以校正累加数据Adata并且校正增益Gain以便对应于经校正后的累加数据。

更具体地说，在增益校正步骤S125中，在驱动步骤S120期间分别测量累加数据Adata和阈值电压变化ΔVoled。此后，在增益校正步骤S125中，校正驱动时段期间的累加数据Adata以便对应于查找表LUT。此后，在增益校正步骤S125中，根据经校正后的累加数据以标准增益校正当前增益Gain。

例如，参考图13A，在驱动步骤S120期间的预定定时，如点A处例示，阈值电压变化ΔVoled是0.04V并且可以将累加数据Adata测量为70。

相比之下，根据查找表LUT，如点B处例示，当阈值电压变化ΔVoled是0.04V时，累加数据Adata是40。

也就是说，驱动步骤S120期间的累加数据Adata基于相同的阈值电压变化ΔVoled超过老化时段期间的累加数据Adata，使得意味着它在驱动步骤S120期间被过度补偿。

因此，在增益校正步骤S125中，累加数据Adata在驱动时段期间被从70(点A)校正为40(点B)以便对应于查找表LUT。

因此，在增益校正步骤S125中，根据经校正后的累加数据以标准增益SGain校正当前增益Gain。

参考图13B，在当前状态(点A)下增益是1.07，但是与经校正后的累加数据相对应的标准增益SGain是1.04，使得增益Gain被从1.07校正为1.04。

也就是说，在增益校正步骤S125中，校正增益Gain以抑制驱动步骤S120期间的过度补偿。

在增益施加步骤S127中，将增益Gain施加到数据信号Data以生成校正后的数据信号CData。

也就是说，在增益施加步骤S127中，将经校正后的增益Gain施加到数据信号Data以生成校正后的数据信号CData。

经校正后的数据信号CData被输出到数据驱动器120，使得数据驱动器120将经补偿后的数据电压Vdata输出到显示面板110。因此，根据本公开的示例性实施方式的显示装置的驱动方法S100抑制了过度补偿以改进图像质量。

此外，在完成增益施加步骤S127之后，周期性地重复第二阈值电压感测步骤S121以周期性地校正增益Gain。也就是说，在根据本公开的示例性实施方式的显示装置的驱动方法S100中，可以基于查找表LUT周期性地重复校正增益。

因此，如图14A中所例示的，数据信号Data在显示面板110的一个区域中被过度补偿，使得具有高灰度级的徽标可以作为余像残留在右上端处。然而，根据本公开的示例性实施方式的显示装置的驱动方法S100在驱动步骤S120期间周期性地校正增益以与标准增益SGain匹配。因此，如图14B中所例示的，在显示面板110的一个区域中，由于对数据信号Data的过度补偿或补偿不足而导致的余像不会残留。

结果，根据本公开的示例性实施方式的显示装置的驱动方法S100通过设置在虚设区域DA中的测试图案来周期性地确定对数据信号Data的补偿是否适当以抑制错误补偿并改进图像质量。

根据本公开的一个方面，一种显示装置包括：显示面板，该显示面板包括多个像素；阈值电压感测单元，该阈值电压感测单元感测多个像素中包括的发光二极管的阈值电压；数据补偿单元，该数据补偿单元根据阈值电压的变化和累加数据来校正数据信号以生成校正后的数据信号；以及数据驱动器，该数据驱动器根据经校正后的数据信号来生成数据电压以将该数据电压输出到显示面板，其中数据补偿单元在老化时段期间根据描述阈值电压的变化和累加数据的查找表周期性地校正数据信号以生成经校正后的数据信号，从而改进图像质量。

显示面板可以包括有效显示区域和设置在该有效显示区域的至少一个侧部中的虚设区域，该虚设区域被划分成多个子虚设区域，并且表现具有不同灰度级的相同颜色的多个测试图案设置在多个子虚设区域的每一个中。

虚设区域可以被饰面材料阻挡以便不暴露于外部。

可以将虚设区域划分成红色子虚设区域、白色子虚设区域、绿色子虚设区域和蓝色子虚设区域，在红色子虚设区域中，设置了表现具有不同灰度级的红色的多个红色测试图案，在白色子虚设区域中，设置了表现具有不同灰度级的白色的多个白色测试图案，在绿色子虚设区域中，设置了表现具有不同灰度级的绿色的多个绿色测试图案，并且在蓝色子虚设区域中，设置了表现具有不同灰度级的蓝色的多个蓝色测试图案。

阈值电压感测单元可以感测构成多个测试图案的像素中包括的发光二极管的阈值电压的变化。

数据补偿单元可以在用于稳定多个像素的老化时段和用于驱动多个像素的驱动时段中被分别地驱动，并且可以包括：数据计数单元，该数据计数单元对数据信号进行计数和累加以生成累加数据；标准增益设定单元，该标准增益设定单元确定多个测试图案在老化时段期间的退化程度以针对多个测试图案设定标准增益；存储器单元，该存储器单元在老化时段期间生成查找表；增益校正单元，该增益校正单元在驱动时段期间根据查找表来校正增益；以及增益施加单元，该增益施加单元将经校正后的增益施加到数据信号以生成经校正后的数据信号。

数据计数单元可以通过加上通过将数据信号和加权系数相乘并加上校正常数而获得的值来计算出累加数据。

数据信号的强度越高，加权系数越高。

标准增益设定单元针对多个测试图案中的每一个导出标准增益和累加数据的关系以及标准增益和阈值电压的变化的关系。

标准增益设定单元可以通过计算1+退化率(％)来计算出标准增益。

存储器单元可以基于标准增益和累加数据的关系以及由标准增益设定单元导出的标准增益和阈值电压的变化的关系来生成查找表。

增益校正单元可以通过将驱动时段期间的累加数据和阈值电压的变化的关系与查找表进行比较来校正累加数据并且校正增益以便对应于经校正后的累加数据。

在驱动时段期间，可以将一个帧划分成有效部分、虚设部分和消隐部分，并且在虚设部分中，驱动设置在虚设区域中的多个测试图案。

多个像素中的每一个均可以包括：有机发光二极管，该有机发光二极管是发光二极管；驱动电路，该驱动电路驱动有机发光二极管；和感测电路，该感测电路感测有机发光二极管的阈值电压。

驱动电路可以包括：驱动晶体管，该驱动晶体管对有机发光二极管施加驱动电流；扫描晶体管，该扫描晶体管将数据电压施加到驱动晶体管的栅极；和存储电容器，该存储电容器在一个帧内维持驱动晶体管的栅源电压。

感测电路可以包括：感测晶体管，该感测晶体管根据感测信号连接有机发光二极管的一个电极和感测线；初始化晶体管，该初始化晶体管根据初始化信号对感测线施加初始化电压；以及采样晶体管，该采样晶体管根据采样信号将施加到感测线的电压施加到阈值电压感测单元。

尽管已经参考附图详细地描述了本公开的示例性实施方式，但是本公开不限于此，并且在不脱离本公开的技术构思的情况下，可以被以许多不同的形式具体实现。因此，本公开的示例性实施方式是仅出于例示性目的而提供的，而不旨在限制本公开的技术构思。本公开的技术构思的范围不限于此。因此，应该理解的是，上述示例性实施方式在所有方面都是例示性的，而不限制本公开。应该基于以下权利要求解释本公开的保护范围，并且在其等同范围内的所有技术构思应该被解释为落入本公开的范围内。