具有过压触发功能的半导体测试探针

技术领域

本发明属于半导体检测技术领域，具体涉及一种具有过压触发功能的半导体测试探针。

背景技术

半导体测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域，是一种高端的电子元件。

半导体测试探针的结构通常是由针轴、针管、弹簧三部分组成，针轴和弹簧装在针管内部，在针管管口运用压铆缩口方式，使得针轴、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针轴受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针轴，针轴与被测件良好接触，进行测试。

但是现有半导体测试探针使用时，由于待测产品以及半导体测试探针活动针头外露部分尺寸公差较大，导致待测点以及半导体测试探针测试点不共线或相对间距差较大，造成大间距预压距离过短或小间距预压过度，致使压坏半导体测试探针进而导致压坏待测产品。

发明内容

本发明的目的是提供一种具有过压触发功能的半导体测试探针，解决现有半导体测试探针使用时，由于测试过程中力度过大且超过设定行程时，容易导致压坏半导体测试探针进而导致压坏待测产品的问题。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种具有过压触发功能的半导体测试探针，包括绝缘针管，所述绝缘针管的一端设置有第一针管，所述第一针管内设置有第一针头和第一弹簧，所述第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间，绝缘针管的另一端设置有第二针管，所述第二针管的内设置有第二针头和第二弹簧，所述第二针头的中部设置有限位台阶，所述第二弹簧套设在第二针头上并且第二弹簧位于限位台阶的一侧与第二针管的底部之间，第二针头的尾部从第二针管的底部穿出。

本发明的技术方案，还具有以下特点：

作为本发明的一种优选方案，所述绝缘针管内设置有绝缘内管，所述第一针管和第二针管的两端分别设置在绝缘内管的两端。

作为本发明的一种优选方案，所述绝缘针管的两端形成有缩口，所述第一针管和第二针管均限制在所述缩口内。

作为本发明的一种优选方案，所述第一针管的一端形成有缩口，所述第一针头的尾部限位在所述缩口内。

作为本发明的一种优选方案，所述第二针管的一端形成有缩口，所述限位台阶限制在所述缩口内。

与现有技术相比：本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针，在使用过程中，只有在测试过程发生过压时候才有可能会引起触发产生短路电流，短路电流信号传送设备时立即停止测试并报警，因此能够在保证不会因为过压而导致待测产品损坏，也能够在保证测试精度的前提下很好的保证半导体测试探针的测试性能。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针的结构示意图。

图中：1.第一针管，2.第一弹簧，3.第一针头，4.第二针管，5.限位台阶，6.绝缘针管，7.第二针头，8.绝缘内管，9.第二弹簧。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

实施例1

如图1所示，本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针，包括绝缘针管6，绝缘针管6的一端设置有第一针管1，第一针管1内设置有第一针头3和第一弹簧2，第一弹簧2位于第一针头3的尾部和第一针管1的底部之间，绝缘针管6的另一端设置有第二针管4，第二针管4的内设置有第二针头7和第二弹簧2，第二针头7的中部设置有限位台阶5，第二弹簧2套设在第二针头7上并且第二弹簧2位于限位台阶5的一侧与第二针管4的底部之间，第二针头7的尾部从第二针管4的底部穿出。

第一针管1为半导体触发测试探针的载体，用于承载第一弹簧2和第一针头3。

第一弹簧2安装在第一针管1内部，一端与触发第一针管1底部接触，另一端与第一针头3接触。

第一针头3安装在第一针管1内部，一端与第一弹簧2接触，通过针管包口的方式限制在第一针管1内。

第二针管4为测试探针的载体，用于承载第一弹簧2和第二针头7。

第二针头7安装在第二针管4内部，一端与第二弹簧10接触，通过针管包口的方式限制在第二针管4内；

绝缘针管6为本发明的过压触发功能的半导体测试探针的载体，用于第一针管1和第二针管4。

第一弹簧2与第一针头3安装在第一针管1内，并且使用第一针管1包口方式紧固；第一弹簧2与第二针头7安装在第二针管4内，并且使用第二针管4包口方式紧固；第一针头3与第二针头7安装在绝缘针管6两端。使用时，第一针头3与传出端接触，靠近待测产品时第二针头5与待测产品接触，由于待测产品的测试点位与第二针头5的端面间距不尽相同，因此在测试过程可能存在间距较近的情况，上述情况可能出现测试过程产生过压，因此当某些测试点位出现过压现象以后立即停止测试并报警，由于本发明的半导体测试探针有过压触发功能，因此能够确保所有点位都能够达到指定压入范围内可靠接触，能够保护待测产品以及测试治具，也能够提供更精确的测试结果。

实施例2

如图1所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针中，绝缘针管6内设置有绝缘内管8，第一针管1和第二针管4的两端分别设置在绝缘内管8的两端。

绝缘内管8在绝缘针管6内作为安装平台，主要起到将第一针管1和第二针管4分别设置在绝缘内管8的两端的作用，便于进行快速、精准的装配定位，操作较为方便。

实施例3

如图1所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针中，绝缘针管6的两端形成有缩口，第一针管1和第二针管4均限制在缩口内，便于快速将第一针管1和第二针管4稳定的装配在绝缘针管6内。

实施例4

如图1所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针中，第一针管1的一端形成有缩口，第一针头3的尾部限位在缩口内，便于快速将第一针头3稳定地装配在第一针管1内。

实施例5

如图1所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针中，第二针管4的一端形成有缩口，限位台阶5限制在缩口内，便于快速将第二针头7稳定地装配在第一针管4内。

因此，与现有技术相比，本发明的一种具有过压触发功能的半导体测试探针，在使用过程中，只有在测试过程发生过压时候才有可能会引起触发产生短路电流，短路电流信号传送设备时立即停止测试并报警，因此能够在保证不会因为过压而导致待测产品损坏，也能够在保证测试精度的前提下很好的保证半导体测试探针的测试性能。

上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。