检测装置及显示装置

本申请是申请日为2017年10月19日、申请号为201710981378.8、发明名称为“检测装置及显示装置”的专利申请的分案申请，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及检测装置及显示装置。

背景技术

近年来，被称为所谓的触摸面板的能够检测外部接近物体的触摸检测装置被关注。触摸面板被安装或者一体化在液晶显示装置等显示装置上，作为带触摸检测功能的显示装置使用。触摸面板的检测电极以及驱动电极分别经由配线连接于端子。端子分别与柔性基板连接。由于配线较细，因此存在产生断线的可能性。通过将配线连接于检测电极的两端(例如，参照专利文献1)，即使配线中的一个断线，也能够利用另一个来确保检测电极和柔性基板的连接。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2010-39816号公报

发明内容

但是，如专利文献1中所记载，如果增多连接于检测电极以及驱动电极的配线的数量，则用于与柔性基板连接的端子的数量增大。并且，关于连接于一个电极的多个配线，需要在柔性基板的内部进行电连接。因此，使用多层柔性基板，在柔性基板的内部使配线立体交叉来进行配线的连接，因此存在成本增大的可能性。

本发明的目的在于提供能够以简单的构成来确保电极和端子的连接的检测装置及显示装置。

本发明的一个方式的检测装置具有：基板；多个电极，在所述基板的面上设置于显示区域；多个端子，在所述显示区域的外侧的周边区域，分别对应于多个所述电极而设置；第一配线，将一个所述电极和一个所述端子连接；以及第二配线，将该一个所述电极和所述第一配线所连接的相同的所述端子连接。

本发明的一个方式的检测装置具有：基板；多个电极，在所述基板的面上设置于显示区域；第一端子和第二端子，在所述显示区域的外侧的周边区域，分别对应于多个所述电极而设置，电连接于柔性基板的一个连接端子；第一配线，将一个所述电极和所述第一端子连接；以及第二配线，将该一个电极和所述第二端子连接。

本发明的一个方式的显示装置包括：上述任一个检测装置；以及显示功能层，用于在所述显示区域显示图像。

附图说明

图1是示出第一实施方式涉及的显示装置的一构成例的框图。

图2是用于说明互电容方式的静电电容型触摸检测方式的基本原理的说明图。

图3是示出用于说明互电容方式的静电电容型触摸检测方式的基本原理的等效电路的一例的说明图。

图4是表示驱动信号以及检测信号的波形的一例的图。

图5是示出安装有显示装置的模块的一例的图。

图6是示出安装有显示装置的模块的一例的图。

图7是表示第一实施方式涉及的显示装置的概略截面构造的剖视图。

图8是表示第一实施方式涉及的显示装置的像素配置的电路图。

图9是第一实施方式涉及的端子的俯视图。

图10是沿着图9的X1-X2线的剖视图。

图11是表示设置于第二基板的保护层的俯视图。

图12是放大示出第一实施方式涉及的端子的俯视图。

图13是第一实施方式的第一变形例涉及的端子的俯视图。

图14是第一实施方式的第二变形例涉及的第二基板的俯视图。

图15是第一实施方式的第二变形例涉及的端子的俯视图。

图16是第一实施方式的第三变形例涉及的第二基板的俯视图。

图17是第一实施方式的第四变形例涉及的第二基板的俯视图。

图18是第二实施方式涉及的端子的俯视图。

图19是沿着图18的XIX1-XIX2线的剖视图。

图20是第三实施方式涉及的第二基板的俯视图。

图21是第三实施方式涉及的端子的俯视图。

图22是第四实施方式涉及的第二基板的俯视图。

图23是第四实施方式涉及的检测电极的俯视图。

图24是第五实施方式涉及的第二基板的俯视图。

图25是表示第五实施方式涉及的显示装置的概略截面构造的剖视图。

图26是第五实施方式涉及的端子的俯视图。

图27是第五实施方式的变形例涉及的第二基板的俯视图。

图28是示出显示装置的电阻检查方法的一例的说明图。

图29是用于说明偏移的检测的说明图。

图30是示出电阻检查方法的一例的流程图。

图31是示出电阻检查项目以及判断结果的一例的表。

图32是用于说明电阻检查方法的另一例的俯视图。

图33是用于说明电阻检查方法的另一例的剖视图。

具体实施方式

参照附图对用于实施本发明的方式(实施方式)进行详细地说明。以下实施方式中记载的内容并不限定本发明。并且，在以下记载的构成元件包括本领域技术人员能够容易想到的构成元件和实质上相同的构成元件。此外，以下记载的构成元件能够适当组合。并且，公开的只是一例，本领域技术人员容易想到的保护发明主旨的适当变更，当然包括在本发明的范围内。并且，附图是为了更加明确地进行说明，与实际的情况相比，各部的宽度、厚度、形状等是示意性表示的情况，但只是一例，并不限定本发明的解释。并且，在本说明书和各图中，对于与前述附图中相同的元件赋予相同的附图标记，并适当省略详细的说明。

(第一实施方式)

图1是表示第一实施方式涉及的显示装置的一构成例的框图。显示装置1具备带触摸检测功能的显示部10、控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14、检测部40。带触摸检测功能的显示部10是将被称为所谓的液晶显示装置的显示面板20和静电电容型的检测装置30一体化的装置。并且，带触摸检测功能的显示部10也可以是在显示面板20上安装有检测装置30的装置。并且，显示面板20例如也可以是有机EL显示装置。并且，栅极驱动器12、源极驱动器13、或者驱动电极驱动器14也可以设置于带触摸检测功能的显示部10。

显示面板20是按照从栅极驱动器12供应的扫描信号Vscan，依次扫描每一个水平线来进行显示的装置。控制部11是以基于从外部供应的影像信号Vdisp，分别对栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14、以及检测部40供应控制信号，并且使这些部件彼此同步地进行动作的方式进行控制的电路(控制装置)。

栅极驱动器12具有如下功能：基于从控制部11供应的控制信号，依次选择带触摸检测功能的显示部10的成为显示驱动的对象的一个水平线的功能。

源极驱动器13是基于从控制部11供应的控制信号，对带触摸检测功能的显示部10的各副像素SPix供应像素信号Vpix的电路。

驱动电极驱动器14是基于从控制部11供应的控制信号，对带触摸检测功能的显示部10的驱动电极COML供应驱动信号Vcom的电路。

检测部40是基于从控制部11供应的控制信号、从带触摸检测功能的显示部10的检测装置30供应的检测信号Vdet，检测对检测装置30有无触摸(后述的接触或者接近的状态)的电路。在有触摸的情况下，检测部40还求出触摸检测区域中触摸的坐标等。检测部40具备检测信号放大部42、A/D转换部43、信号处理部44、坐标提取部45、检测定时控制部46。

检测信号放大部42将从检测部30供应的检测信号Vdet放大。检测信号放大部42也可以具备低通模拟滤波器，该低通模拟滤波器将检测信号Vdet中含有的高频成分(噪声成分)去除，取出触摸成分并分别进行输出。

(静电电容型触摸检测的基本原理)

检测装置30基于静电电容型接近检测的基本原理进行动作，输出检测信号Vdet。参照图1至图4，基于本实施方式的带触摸检测功能的显示部10中的触摸检测的基本原理进行说明。图2是用于说明互电容方式(彼此方式)的静电电容型触摸检测方式的基本原理的说明图。图3是示出用于说明互电容方式的静电电容型触摸检测方式的基本原理的等效电路的一例的说明图。图4是表示驱动信号以及检测信号的波形的一例的图。并且，外部物体只要是产生静电电容的物体即可，例如列举出上述的手指、手写笔。在本实施方式中，外部物体以手指为例进行说明。

例如，如图2所示，电容元件C1具备驱动电极E1以及检测电极E2作为隔着电介质彼此相对配置的一对电极。如图3所示，电容元件C1的一端连接于交流信号源(驱动信号源)S，另一端连接于电压检测器(检测部)DET。电压检测器DET是例如图1中示出的检测信号放大部42中包括的积分电路。

如果从交流信号源S对驱动电极E1(电容元件C1的一端)施加规定的频率(例如从数kH至数百kH左右)的交流矩形波Sg，则经由电压检测器DET来显现输出波形(检测信号Vdet)。

在手指未接触(或者接近)的状态(以下，称为“非接触状态”)下，伴随对于电容元件C1的充放电，流过与电容元件C1的电容量相应的电流。电压检测器DET将与交流矩形波Sg相应的电流的变动转换为电压的变动(实线的波形V

另一方面，在手指接触(或者接近)的状态下(以下，称为“接触状态”)，如图2所示，由于由手指形成的静电电容C2与检测电极E2接触或者位于附近，位于驱动电极E1以及检测电极E2之间的边缘(fringe)的静电电容被屏蔽。因此，电容元件C1作为电容值比非接触状态下的电容值小的电容元件而发挥作用。并且，电压检测器DET将与交流矩形波Sg相应的电流I

在该情况下，波形V

图1中示出的检测装置30按照从驱动电极驱动器14供应的驱动信号Vcom，依次扫描一检测块而进行触摸检测。

检测装置30从多个检测电极TDL，经由图3中示出的电压检测器DET，对每个检测块输出检测信号Vdet，供应至检测部40的A/D转换部43。

A/D转换部43是在与驱动信号Vcom同步的定时，分别对从检测信号放大部42输出的模拟信号进行采样，并转换为数字信号的电路。

信号处理部44具备减少在A/D转换部43的输出信号中包括的、采样了驱动信号Vcom的频率以外的频率成分(噪声成分)的数字滤波器。信号处理部44是基于A/D转换部43的输出信号，检测对检测装置30有无触摸的逻辑电路。

信号处理部44进行仅取出手指产生的差值的电压的处理。该手指产生的差值的电压是上述的波形V

坐标提取部45是在信号处理部44中检测出触摸时，求出其触摸面板坐标的逻辑电路。检测定时控制部46以使A/D转换部43、信号处理部44、坐标提取部45同步地进行动作的方式进行控制。坐标提取部45将触摸面板坐标作为信号输出Vout而输出。

并且，作为静电电容型触摸检测方式，并不限定于上述的互电容方式，也可以是自静电电容方式。在该情况下，对检测电极E2施加作为驱动信号的交流矩形波Sg。与检测电极E2所具有的电容值相应的电流在电压检测器DET中流过。电压检测器DET将与交流矩形波Sg相应的电流的变动转换为电压的变动。在非接触状态下，流过与检测电极E2所具有的电容值相应的电流。另一方面，在接触状态下，形成在手指和检测电极E2之间的电容值被附加于检测电极E2所具有的电容值。因此，检测电极E2在接触状态下作为比非接触状态下的电容值大的电容元件而发挥作用。电压检测器DET输出与电容变化相应的检测信号Vdet。由此，检测部40能够基于绝对值|ΔV|进行触摸检测。

图5以及图6是示出安装有第一实施方式涉及的显示装置的模块的一例的俯视图。图5是示出驱动电极的一例的俯视图，图6是示出检测电极的一例的俯视图。

如图5所示，显示装置1具备第一基板21和柔性基板72。第一基板形成有与显示面板20(参照图1)的显示区域10a、和设置于显示区域10a的外侧的周边区域10b相对应的区域。COG(Chip On Glass，玻璃上芯片)19搭载于第一基板21的周边区域10b。COG19是安装于第一基板21的IC驱动器的芯片，内置有图1中示出的控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13等显示动作中所需要的各电路。并且，周边区域10b也可以包围显示区域10a，在该情况下，周边区域10b也可以称为边框区域。

在本实施方式中，栅极驱动器12、源极驱动器13、或者驱动电极驱动器14也可以形成于作为玻璃基板的第一基板21。COG19以及驱动电极驱动器14设置于周边区域10b。并且，COG19也可以将驱动电极驱动器14内置。在该情况下，能够使周边区域10b变窄。柔性基板72与COG19连接，经由柔性基板72，从外部向COG19供应影像信号Vdisp、电源电压。

如图5所示，带触摸检测功能的显示部10在重叠于显示区域10a的区域设置有多个驱动电极COML。多个驱动电极COML分别在沿着显示区域10a的一边的方向(第二方向Dy)上延伸，在沿着显示区域10a的另一边的方向(第一方向Dx)上隔开间隔排列。多个驱动电极COML分别连接于驱动电极驱动器14。驱动电极COML例如使用ITO(Indium Tin Oxide，氧化铟锡)等具有透光性的导电性材料。

如图6所示，显示装置1还具备第二基板31和柔性基板71。在柔性基板71上搭载有上述的检测部40(图示省略)。并且，检测部40也可以不搭载于柔性基板71，而是搭载于连接于柔性基板71的其他基板。第二基板31例如是透光性的玻璃基板。第二基板31在图5中示出的第一基板21的表面的垂直方向上与第一基板21相对。

如图6所示，带触摸检测功能的显示部10在与显示区域10a重叠的区域设置有多个检测电极TDL(1)、TDL(2)、…TDL(n)。并且，在以下的说明中，在不需要将多个检测电极TDL(1)、TDL(2)、…TDL(n)区别进行说明的情况下，表示为检测电极TDL。多个检测电极TDL分别在与图5中示出的驱动电极COML的延伸方向交叉的方向(第一方向Dx)上延伸。并且，如图6所示，多个检测电极TDL在驱动电极COML的延伸方向(第二方向Dy)上隔开间隔SP排列。也就是说，多个驱动电极COML和多个检测电极TDL以在俯视中交叉的方式配置，在彼此重叠的部分形成静电电容。

显示装置1在显示动作时进行依次扫描每一个水平线。也就是说，显示装置1与第二方向Dy平行地进行显示扫描。显示装置1在触摸检测动作时，通过从驱动电极驱动器14对驱动电极COML依次施加驱动信号Vcom，进行依次扫描每一个水平线。也就是说，带触摸检测功能的显示部10与第一方向Dx平行地进行扫描。

如图6所示，本实施方式的检测电极TDL具有多个第一导电性细线33U以及多个第二导电性细线33V。第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V分别相对于与显示区域10a的一边平行的方向彼此向反方向倾斜。

多个第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V都较细，在显示区域10a中，在与第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V的延伸方向交叉的方向(第二方向Dy，即，显示区域10a的长边方向)上隔开间隔配置。

检测电极TDL包括至少一个第一导电性细线33U、以及与第一导电性细线33U交叉的至少一个第二导电性细线33V。第一导电性细线33U和第二导电性细线33V利用连接部33X电连接。如果多个第一导电性细线33U和多个第二导电性细线33V分别多个交叉，则检测电极TDL的一个网眼的形状成为平行四边形。

多个第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V的延伸方向的两端与配置于周边区域10b的连接配线34a、34b连接。检测电极TDL的主检测部即第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V经由细线33a连接于连接配线34a、34b。由此，多个第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V彼此电连接，作为一个检测电极TDL而发挥功能。

第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V由从铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)、钼(Mo)、铬(Cr)以及钨(W)选择的一种以上的金属层形成。或者，第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V由包括从这些金属材料选择的一种以上的合金形成。并且，第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V也可以为这些金属材料或者包括这些材料的一种以上的合金的导电层层叠多个而成的层叠体。并且，第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V也可以层叠有ITO等透光性导电氧化物的导电层。并且，也可以层叠有组合了上述金属材料以及导电层的黑色化膜、黑色有机膜或者黑色导电有机膜。

与ITO等透光性导电氧化物相比，上述金属材料是低电阻。由于与透光性导电氧化物相比，上述金属材料具有遮光性，因此，存在透射率降低的可能性或者检测电极TDL的图案被目视识别的可能性。在本实施方式中，一个检测电极TDL具有多个较细的第一导电性细线33U以及多个第二导电性细线33V，第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V通过隔开比线宽大的间隔配置，能够实现低电阻化和不可视化。其结果是，能够使检测电极TDL低电阻化，并且使显示装置1薄型化、大画面化或者高精细化。

第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V的宽度优选为1μm以上10μm以下，更优选为1μm以上5μm以下的范围。这是因为，如果第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V的宽度为10μm以下，则显示区域10a中的由黑色矩阵或者栅极线GCL以及数据线SGL抑制光的透过的区域即开口部的面积变小，损害开口率的可能性变低。并且，如果第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V的宽度为1μm以上，则形状稳定，断线的可能性变低。

检测电极TDL并不限定于网眼状的金属细线，例如，也可以为包括多个Z字线状或者波线状的金属细线的构成。并且，在检测电极TDL彼此的间隔SP中，也可以设置有作为检测电极而发挥功能的虚拟电极。虚拟电极能够形成与检测电极TDL类似的网眼状、Z字线状、或者波线状的图案。

在多个连接配线34a上分别连接有第一配线37a。并且，在多个连接配线34b上分别连接有第二配线37b。也就是说，在本实施方式中，在检测电极TDL的一端侧连接有第一配线37a，在另一端侧连接有第二配线37b。第一配线37a沿着周边区域10b的一个长边设置。并且，第二配线37b沿着周边区域10b的另一个长边设置。检测电极TDL和柔性基板71经由第一配线37a以及第二配线37b连接。

第一配线37a以及第二配线37b能够使用与第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V中使用的金属材料或者合金等相同的材料。并且，第一配线37a以及第二配线37b只要是具有良好的导电性的材料即可，也可以使用与第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V不同的材料。

这样，在一个检测电极TDL上连接有第一配线37a和第二配线37b。因此，即使在第一配线37a以及第二配线37b中的一个断线的情况下，通过另一个配线确保了检测电极TDL和柔性基板71的连接。因此，本实施方式的显示装置1能够提高检测电极TDL和柔性基板71的连接可靠性。

并且，检测电极TDL的一部分也可以配置在显示区域10a之外(周边区域10b)。并且，连接配线34a以及连接配线34b也可以不配置在周边区域10b，而是配置在显示区域10a内。多个连接配线34a以及连接配线34b也可以分别经由第一配线37a以及第二配线37b与检测部40连接，成为用于将多个第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V与检测部40连接的配线。

图7是表示第一实施方式涉及的显示装置的概略截面构造的剖视图。如图7所示，显示装置1具备像素基板2、在与该像素基板2的表面垂直的方向上相对配置的相对基板3、设置在像素基板2和相对基板3之间的液晶层6。

像素基板2包括作为电路基板的第一基板21、多个像素电极22、多个驱动电极COML和绝缘层24。多个像素电极22在第一基板21的上方排列成矩阵状。多个驱动电极COML形成在第一基板21和像素电极22之间。绝缘层24将像素电极22和驱动电极COML绝缘。在第一基板21的下侧，经由粘接层66设置有偏光板65。

相对基板3包括第二基板31和彩色滤光片32。彩色滤光片32形成于第二基板31的一面。在第二基板31的另一面形成有检测装置30的检测电极TDL。如图7所示，在第二基板31的上方设置有检测电极TDL。此外，在该检测电极TDL上，设置有用于保护检测电极TDL的第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V的保护层38。保护层38能够使用丙烯酸树脂等透光性树脂。在保护层38上，经由粘接层39设置有偏光板35。检测电极TDL和柔性基板71经由端子51电连接。

第一基板21和第二基板31通过密封部61隔开规定的间隔相对配置。在被第一基板21、第二基板31以及密封部61包围的空间设置有液晶层6。液晶层6根据电场的状态将通过此处的光进行调制。作为液晶层6，例如使用包括FFS(边缘场开关)的IPS(平面转换)等横电场模式的液晶。液晶层6被设置成用于显示图像的显示功能层。并且，也可以在图7中示出的液晶层6和像素基板2之间、以及液晶层6和相对基板3之间，分别配设配向膜。

图8是表示第一实施方式涉及的显示装置的像素配置的电路图。在图7中示出的第一基板21上，形成有图8中示出的各副像素SPix的开关元件和各数据线SGL、栅极线GCL等配线。开关元件例如是薄膜晶体管元件(以下，称为TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)元件)Tr。数据线SGL是对各像素电极22供应像素信号Vpix的配线。栅极线GCL是用于驱动各TFT元件Tr的配线。数据线SGL以及栅极线GCL沿着与第一基板21的表面平行的平面延伸。

图8中示出的显示面板20具有排列成矩阵状的多个副像素SPix。副像素SPix分别具备TFT元件Tr以及液晶元件6a。TFT元件Tr由薄膜晶体管构成，在该例中，由n沟道的MOS(Metal Oxide Semiconductor，金属氧化物半导体)型的TFT构成。TFT元件Tr的源极或者漏极中的一个连接于数据线SGL，栅极连接于栅极线GCL，源极或者漏极中的另一个连接于液晶元件6a的一端。液晶元件6a的一端连接于TFT元件Tr的源极或者漏极中的另一个，另一端连接于驱动电极COML。并且，在像素电极22和共通电极(驱动电极COML)之间设置有绝缘层24，由此形成图8中示出的保持电容6b。

副像素SPix通过栅极线GCL与属于显示面板20的相同行的其他副像素SPix彼此连接。栅极线GCL与栅极驱动器12(参照图1)连接，通过栅极驱动器12被供应扫描信号Vscan。并且，副像素SPix通过数据线SGL与属于显示面板20的相同列的其他副像素SPix彼此连接。数据线SGL与源极驱动器13(参照图1)连接，通过源极驱动器13被供应像素信号Vpix。此外，副像素SPix通过驱动电极COML与属于相同列的其他副像素SPix彼此连接。驱动电极COML与驱动电极驱动器14(参照图1)连接，通过驱动电极驱动器14被供应驱动信号Vcom。也就是说，在该例中，属于相同一列的多个副像素SPix共有一个驱动电极COML。本实施方式的驱动电极COML的延伸方向与数据线SGL的延伸方向平行。本实施方式的驱动电极COML的延伸方向并不限定于此。例如，驱动电极COML的延伸方向也可以是与栅极线GCL的延伸方向平行的方向。

图7中示出的彩色滤光片32例如周期性地排列有被红色(R)、绿色(G)、青色(B)这三色着色的彩色滤光片32的颜色区域32R、颜色区域32G以及颜色区域32B。在上述图8中示出的各副像素SPix中，R、G、B这三色的颜色区域32R、颜色区域32G以及颜色区域32B对应为一组，将颜色区域32R、颜色区域32G以及颜色区域32B作为一组构成像素Pix。如图7所示，彩色滤光片32在与第一基板21垂直的方向上与液晶层6相对。并且，彩色滤光片32如果被不同的颜色着色的话，也可以是其他颜色的组合。并且，彩色滤光片32并不限定于三色的组合，也可以是四色以上的组合。

图5以及图7中示出的驱动电极COML作为对显示面板20的多个像素电极22赋予共通的电位的共通电极而发挥功能。并且，驱动电极COML也作为检测装置30进行互静电电容方式的触摸检测时的驱动电极而发挥功能。检测装置30由设置于像素基板2的驱动电极COML和设置于相对基板3的检测电极TDL构成。如上所述，在驱动电极COML和检测电极TDL的交叉部分形成有静电电容。

在检测装置30中，当进行互静电电容方式的触摸检测动作时，驱动电极驱动器14以时分的方式依次扫描驱动电极COML。由此，驱动电极COML的一检测块被依次选择。并且，通过从检测电极TDL输出检测信号Vdet，进行一检测块的触摸检测。也就是说，驱动电极COML对应于上述互静电电容方式的触摸检测的基本原理中的驱动电极E1，检测电极TDL对应于检测电极E2。检测装置30按照该基本原理来检测触摸输入。彼此交叉的检测电极TDL以及驱动电极COML将静电电容式触摸传感器构成为矩阵状。因此，通过遍及检测装置30的触摸检测面整体进行扫描，能够进行导体从外部产生接触或者接近的位置的检测。

作为显示装置1的动作方法的一例，显示装置1以时分的方式进行触摸检测动作(检测期间)和显示动作(显示期间)。触摸检测动作和显示动作也可以分开进行。

并且，在本实施方式中，驱动电极COML兼用显示面板20的共通电极。因此，在显示期间，控制部11对经由驱动电极驱动器14被选择的驱动电极COML供应作为显示用的共通电极电位的驱动信号Vcom。

在检测期间不使用驱动电极COML而仅利用检测电极TDL进行检测动作的情况下，例如，在基于自静电电容方式(也称为self方式)的触摸检测原理进行触摸检测的情况下，驱动电极驱动器14也可以对检测电极TDL供应触摸检测用的驱动信号Vcom。

接着，参照图6以及图9、图10，对本实施方式的检测电极TDL和柔性基板71的连接构造进行说明。图9是第一实施方式涉及的端子的俯视图。图10是沿着图9的X1-X2线的剖视图。

如图9所示，在第二基板31的周边区域10b，设置有多个端子51(1)、51(2)、51(3)、…51(n-2)、51(n-1)、51(n)。并且，在以下的说明中，在不需要将多个端子51(1)、51(2)、51(3)、…51(n-2)、51(n-1)、51(n)区别进行说明的情况下，表示为端子51。多个端子51分别是具有沿着第二方向Dy的长边和沿着第一方向Dx的短边的矩形状。端子51在第一方向Dx上排列多个。端子51能够使用上述的金属材料或者合金材料。

端子51(1)、51(2)、51(3)、…51(n-2)、51(n-1)、51(n)分别对应于图6中示出的检测电极TDL(1)、TDL(2)、TDL(3)、…TDL(n-2)、TDL(n-1)、TDL(n)。即，连接于检测电极TDL(1)的一端的第一配线37a经由第一部分53连接于端子51(1)的第二方向Dy侧(与显示区域10a相对的一侧)的一端。连接于检测电极TDL(1)的另一端的第二配线37b经由第二部分54连接于第一配线37a被连接的端部的相反侧(与周边区域10b的外缘相对的一侧)的端子51(1)的另一端。同样，第n个检测电极TDL(n)和端子51(n)通过第一配线37a以及第二配线37b电连接。

在本实施方式中，第一配线37a通过端子51和显示区域10a之间的周边区域10b连接于端子51的一端。第二配线37b通过相对于端子51的与显示区域10a相反一侧的周边区域10b连接于端子51的另一端。这样，连接于一个检测电极TDL的第一配线37a和第二配线37b电连接于一个相同的端子51。

如图10所示，在第二基板31上设置端子51、第一部分53、第二部分54、第一配线37a以及第二配线37b。这些各配线与检测电极TDL(参照图6)同层设置。保护层38覆盖第一配线37a、第一部分53的一部分、第二配线37b和第二部分54的一部分。端子51配置在相邻的保护层38彼此之间，从保护层38露出。

与端子51相对地配置柔性基板71。柔性基板71包括基材75和连接端子76。连接端子76设置于基材75的与第二基板31相对的面，与端子51相对地配置。端子51经由导电性粘接材料63与连接端子76电连接。导电性粘接材料63例如能够使用异方性导电膜(ACF：Anisotropic Conductive Film)。导电性粘接材料63包括多个导电粒子63a。导电粒子63a例如是利用绝缘层将金属材料覆盖的球状的粒子。并且，在图10中，为了易于观看附图，仅示出两个导电粒子63a。

在将柔性基板71配置在导电性粘接材料63上的状态下，一边加热一边将柔性基板71加压。此时，位于连接端子76和端子51之间的导电粒子63a破损，导电粒子63a的内部的金属材料从绝缘层露出。由此，连接端子76和端子51经由导电粒子63a电连接。并且，导电性粘接材料63遍及多个端子51连续设置。这里，由于第二基板31的面内方向上的加压比垂直方向小，因此，抑制了导电粒子63a的面内方向的导通。因此，在俯视中，相邻的端子51彼此或者连接端子76彼此不导通，而在垂直方向上导通。

并且，连接端子76分别对应于图9中示出的端子51(1)、51(2)、51(3)、…51(n-2)、51(n-1)、51(n)设置，以一对一的方式电连接于各端子51。

通过以上的构成，连接于检测电极TDL的第一配线37a和第二配线37b经由一个相同的端子51电连接于柔性基板71的连接端子76。因此，相对于第一配线37a和第二配线37b的合计的数量，能够减少端子51的数量。并且，无论连接于一个相同的端子51的第一配线37a和第二配线37b中的哪一个断线，另一个配线都会连接于端子51。由此，能够防止检测电极TDL和端子51之间完全断线。

并且，存在形成将端子分别设置于第一配线37a以及第二配线37b而与柔性基板71连接的构成的情况(参照专利文献1)。在该情况下，需要采用将柔性基板71多层化并且在柔性基板71的内部将第一配线37a和第二配线37b电连接的构成。在本实施方式中，第一配线37a和第二配线37b经由一个端子51连接于柔性基板71。因此，能够将柔性基板71的层构成以及配线的构成简略化。因此，能够将柔性基板71的构成简略化，使制造成本降低。

并且，也可以适当变更第一配线37a以及第二配线37b与端子51的连接。例如，也可以在端子51的一端(显示区域10a侧)连接第二配线37b，在端子51的另一端(周边区域10b的外缘侧)连接第一配线37a。

接着，对第一部分53、第二部分54的构成进行说明。图11是表示设置于第二基板的保护层的俯视图。图12是放大示出第一实施方式涉及的端子的俯视图。并且，在图11中，在对保护层38附加斜线表示。

如图11所示，保护层38覆盖显示区域10a的检测电极TDL、周边区域10b的第一配线37a以及第二配线37b而设置。在端子51的附近的周边区域10b，保护层38设置于端子51和显示区域10a之间的周边区域10b，覆盖在第一方向Dx上延伸的第一配线37a。保护层38的伸出部38a设置于端子51和第二基板31的外缘之间的周边区域10b，覆盖在第一方向Dx上延伸的第二配线37b。在端子51所设置的区域不设置保护层38。

如图12所示，连接于端子51的一端的第一配线37a和第一部分53的一部分被保护层38覆盖。并且，连接于端子51的另一端的第二配线37b和第二部分54的一部分被保护层38(伸出部38a)覆盖。覆盖从保护层38露出的端子51而设置导电性粘接材料63。导电性粘接材料63在重叠部分OL1中与保护层38部分地重叠设置，在重叠部分OL2中与保护层38(伸出部38a)部分地重叠设置。

如图12所示，将端子51和第一配线37a连接的第一部分53包括线状部53a和连接部53b。线状部53a沿着第一方向Dx设置，在第二方向Dy上配置多个。即，线状部53a在沿着端子51的短边的方向上延伸，在第一配线37a和端子51之间排列多个。连接部53b将在第二方向Dy上相邻的线状部53a彼此连接。连接部53b在第一方向Dx上排列多个。排列在第二方向Dy上的连接部53b不以直线状连续配置，而是以第一方向Dx的位置不同的方式交错设置。并且，图12中示出的线状部53a以及连接部53b的数量和形状只是一例，能够进行适当变更。

将端子51和第二配线37b连接的第二部分54包括线状部54a和连接部54b，具有与第一部分53同样的构成。线状部54a沿着第一方向Dx设置，在第二方向Dy上配置多个。连接部54b将在第二方向Dy上相邻的线状部54a彼此连接。第二部分54具有与第一部分53成为线对称的构成，但是并不限定于此。第一部分53以及第二部分54能够使用与端子51相同的金属材料。

保护层38覆盖第一配线37a以及第一部分53的一部分。此外，保护层38覆盖第二配线37b以及第二部分54的一部分。导电性粘接材料63覆盖保护层38和保护层38之间的端子51。导电性粘接材料63在重叠部分OL1、OL2中与保护层38部分地重叠。

这样，通过设置第一部分53以及第二部分54，保护层38的接触面积变大。由此，能够提高保护层38和第一部分53的密接性、以及保护层38和第二部分54的密接性。并且，保护层38通过喷墨方式等印刷法被涂布形成。假设在未设置第一部分53以及第二部分54的情况下，当涂布形成保护层38时，由于墨水的流动性，存在保护层38设置到与端子51重叠的位置的可能性。具体来说，由于端子51中使用的金属材料相对于墨水中使用的树脂材料具有良好的润湿性，因此，存在墨水流入到端子51的情况。在本实施方式中，通过设置第一部分53以及第二部分54，减小了涂布形成保护层38时金属材料与墨水接触的面积，从而能够抑制保护层38重叠于端子51。

并且，也可以不设置第一部分53以及第二部分54。在该情况下，第一配线37a连接于端子51的一个端部，第二配线37b连接于另一端部。

(第一实施方式的第一变形例)

图13是第一实施方式的第一变形例涉及的端子的俯视图。如图13所示，在本变形例的显示装置1A中，各端子51A的形状彼此不同。以端子51A(1)、51A(2)、51A(3)、…51A(n-2)、51A(n-1)、51A(n)的顺序，长度L1逐渐变短，并且，宽度W1逐渐变大。端子51A(1)、51A(2)、51A(3)、…51A(n-2)、51A(n-1)、51A(n)以面积实质上相等的方式设定长度L1和宽度W1。这里，长度L1是端子51A的第二方向Dy的长度，宽度W1是端子51A的第一方向Dx的长度。

在本变形例中，第一配线37a连接于端子51A的一端，第二配线37b连接于端子51A的另一端。端子51A的一端以第二方向Dy的位置彼此相等的方式配置。端子51A的另一端以随着从端子51A(1)朝向端子51A(n)在第二方向Dy上偏移的方式配置。因此，连接于端子51A的另一端并且在第一方向Dx上延伸的第二配线37b设置在缩短长度L1的部分的区域。因此，能够使配线区域WF2的宽度比图9中示出的配线区域WF1小。因此，显示装置1A能够实现端子51A所设置的周边区域10b的窄边框化。

这里，配线区域WF1、WF2是在第一方向Dx上延伸的第一配线37a和在第二方向Dy上延伸的第二配线37b所设置的区域，并且是与端子51A所设置的周边区域10b(参照图6)平行地延伸的带状的区域。配线区域WF2的宽度表示在第一方向Dx上延伸的第一配线37a和在第一方向Dx上延伸的第二配线37b中位于第二方向Dy上最外侧的第一配线37a和第二配线37b之间的距离。在图13中示出的例子中，配线区域WF2的宽度表示在第一方向Dx上延伸的第一配线37a中连接于端子51A(n)的第一配线37a、和在第一方向Dx上延伸的第二配线37b中连接于端子51A(1)的第二配线37b之间的在第二方向Dy上的距离。

在本变形例中，虽然端子51A的形状彼此不同，但是面积实质上相等。因此，能够抑制与柔性基板71的连接端子76(参照图10)的接触电阻的偏差。并且，端子51A的第一方向Dx的排列间距，也就是说端子51A的第一方向Dx的中心位置的间隔彼此相等。因此，能够减少连接于端子51A的柔性基板71的设计变更。不限于此，也可以设置成端子51A的宽度W1彼此相等，长度L1彼此不同。

并且，在本变形例中，未设置图9以及图12中示出的第一部分53以及第二部分54，第一配线37a以及第二配线37b直接连接于端子51A。但是，也可以在端子51A上设置第一部分53以及第二部分54。

(第一实施方式的第二变形例)

图14是第一实施方式的第二变形例涉及的第二基板的俯视图。图15是第一实施方式的第二变形例涉及的端子的俯视图。如图14所示，本变形例的显示装置1B在检测电极TDL(1)的一端连接第一配线37a，在另一端连接第二配线37b。并且，从检测电极TDL(2)到检测电极TDL(n)连接第一配线37a或者第二配线37b中的任一个。在检测电极TDL(2)的另一端连接第二配线37b，在检测电极TDL(3)的一端连接第一配线37a。从检测电极TDL(2)到检测电极TDL(n)，第一配线37a和第二配线37b交替连接。

检测电极TDL(1)相对于柔性基板71所连接的周边区域10b配置在最远处。并且，连接于检测电极TDL(1)的第一配线37a以及第二配线37b与连接于从检测电极TDL(2)到检测电极TDL(n)的第一配线37a以及第二配线37b相比配置在周边区域10b的外周侧。

如图15所示，连接于检测电极TDL(1)的第一配线37a以及第二配线37b连接于端子51(1)。第一配线37a经由第一部分53连接于端子51(1)的一端。第二配线37b经由第二部分54连接于端子51(1)的另一端。并且，分别连接于从检测电极TDL(2)到检测电极TDL(n)的第一配线37a或者第二配线37b中的任一个连接于从端子51(2)到端子51(n)的一端。

在本变形例中，与图6以及图9中示出的例子相比较，端子51的数量相同，但是能够减少设置于周边区域10b的第一配线37a以及第二配线37b的数量。因此，有利于窄边框化。并且，设置于周边区域10b的第一配线37a以及第二配线37b中配置在最外侧的配线产生断线的可能性较高。在本变形例中，配置在周边区域10b的最外侧的第一配线37a以及第二配线37b连接于一个检测电极TDL(1)。由此，即使在第一配线37a和第二配线37b中的任一个产生断线的情况下，也能够确保检测电极TDL(1)和端子51(1)的连接。

并且，在本变形例中，也可以不设置第一部分53以及第二部分54。在该情况下，第一配线37a连接于端子51(1)的一个端部，第二配线37b连接于另一端部。并且，第一配线37a或者第二配线37b中的任一个连接于从端子51(2)到端子51(n)的一个端部。

(第一实施方式的第三变形例)

图16是第一实施方式的第三变形例涉及的第二基板的俯视图。如图16所示，在本变形例的显示装置1C中，在第二基板31的周边区域10b设置有护圈58。护圈58包围检测电极TDL、第一配线37a以及第二配线37b设置成环状。护圈58包括第一部分58a、第二部分58b、第三部分58c、第四部分58d以及第五部分58e。

第一部分58a沿着检测电极TDL(1)设置。第二部分58b连接于第一部分58a的一端，在第一配线37a的外侧沿着第一配线37a配置。第三部分58c在第二配线37b的外侧沿着第二配线37b配置。并且，第四部分58d连接于第二部分58b的端部，在第一方向Dx上延伸而连接于柔性基板71。第五部分58e连接于第三部分58c的端部，并且连接于柔性基板71。

端子51的构成与图15中示出的构成同样。即，护圈58的第四部分58d连接于端子51(1)的一端，护圈58的第五部分58e连接于端子51(1)的另一端。护圈58经由柔性基板71连接于外壳并接地。或者，护圈58被供应与供应至检测电极TDL的电位同电位的电压信号。由此，能够减少检测电极TDL的寄生电容，抑制检测灵敏度的降低。

在本变形例中，由于护圈58的一端和另一端连接于一个相同的端子51，因此能够省略至少一个端子。并且，由于第一配线37a以及第二配线37b设置于比护圈58更靠内侧的周边区域10b，因此能够抑制第一配线37a以及第二配线37b的断线。并且，在本变形例中，在检测电极TDL上连接第一配线37a或者第二配线37b中的任一个。不限于此，也可以在检测电极TDL上分别连接第一配线37a以及第二配线37b。

(第一实施方式的第四变形例)

图17是第一实施方式的第四变形例涉及的第二基板的俯视图。在本变形例的显示装置1D中，检测电极TDLA包括第一检测电极TDL1和第二检测电极TDL2。在一个检测电极TDLA中，第一检测电极TDL1沿着第一方向Dx设置，在第二方向Dy上具有间隔而配置多个。第二检测电极TDL2沿着第一方向Dx设置，在第二方向Dy上经由缝隙SLa与第一检测电极TDL1间隔配置。并且，在两个第一检测电极TDL1之间，经由缝隙SLb配置有虚拟电极TDLd1。在本变形例中，在第二方向Dy上，以第二检测电极TDL2、第一检测电极TDL1、虚拟电极TDLd1、第一检测电极TDL1、第二检测电极TDL2的顺序配置。

检测电极TDLA在第二方向Dy上排列多个。在第二方向Dy上相邻的检测电极TDLA彼此之间设置有虚拟电极TDLd2。并且，一个检测电极TDLA中的各电极的配置的顺序、第一检测电极TDL1以及第二检测电极TDL2的数量也可以适当变更。

第一检测电极TDL1以及第二检测电极TDL2分别具有多个第一导电性细线33U以及多个第二导电性细线33V，成为网眼状的配线。并且，虚拟电极TDLd1以及虚拟电极TDLd2成为与第一检测电极TDL1以及第二检测电极TDL2类似的网眼状的配线。不限于此，第一检测电极TDL1、第二检测电极TDL2、虚拟电极TDLd1以及虚拟电极TDLd2例如也可以为包括多个Z字线状或者波线状的金属细线的构成。

如图17所示，在检测电极TDLA中，第一检测电极TDL1的一端经由细线33a连接于连接配线34a。多个第一检测电极TDL1通过连接配线34a被电连接。第一检测电极TDL1经由连接配线34a与第一配线37a连接，电连接于端子51(参照图9)。第一检测电极TDL1的另一端不设置细线33a而与连接配线34b隔离。

并且，在检测电极TDLA中，第二检测电极TDL2的一端不设置细线33a而与连接配线34a隔离。第二检测电极TDL2的另一端经由细线33a连接于连接配线34b。多个第二检测电极TDL2通过连接配线34b被电连接。第二检测电极TDL2经由连接配线34b与第二配线37b连接，电连接于端子51(参照图9)。

通过这样的构成，在一个检测电极TDLA的一端连接第一配线37a，在另一端连接第二配线37b。并且，第一配线37a以及第二配线37b与图9中示出的例子同样连接于一个相同的端子51。由此，即使在第一配线37a以及第二配线37b中的任一个断线的情况下，也能够确保检测电极TDLA和端子51的连接。并且，由于相对于第一配线37a以及第二配线37b的数量能够减少端子51的数量，因此能够使端子51的构成简便。并且，由于也能够使连接于端子51的柔性基板71的构成简便，因此能够降低成本。

在本变形例中，第一检测电极TDL1和第二检测电极TDL2利用端子51电连接，在显示区域10a彼此隔离。因此，由端子51(参照图9)、第一配线37a、检测电极TDLA、第二配线37b、端子51构成的环状的导体没有形成全部连续导通的封闭的环状，在第一检测电极TDL1和第二检测电极TDL2之间开放。由此，能够抑制电磁诱导引起的噪声的产生。

(第二实施方式)

图18是第二实施方式涉及的端子的俯视图。图19是沿着图18的XIX1-XIX2线的剖视图。在本实施方式的显示装置1E中，检测电极TDL以及第一配线37a、第二配线37b的构成例如与图6中示出的第一实施方式同样。显示装置1E具有第一端子52A(1)、52A(2)、52A(3)、…52A(n-2)、52A(n-1)、52A(n)以及第二端子52B(1)、52B(2)、52B(3)、…52B(n-2)、52B(n-1)、52B(n)。例如，第n个第一端子52A(n)和第二端子52B(n)分别对应于检测电极TDL(n)设置。并且，在以下的说明中，在不需要将各端子区别进行说明的情况下，表示为第一端子52A、第二端子52B。

第一端子52A在第一方向Dx上排列多个。第二端子52B在第一方向Dx上排列多个，在第二方向Dy上分别与第一端子52A相对设置。连接于检测电极TDL的一端的第一配线37a经由第一部分53连接于第一端子52A。第一配线37a连接于第一端子52A的一端即第一端子52A的与第二端子52B相对的端部的相反侧的端部。

并且，连接于检测电极TDL的另一端的第二配线37b经由第二部分54连接于第二端子52B。第二配线37b连接于第二端子52B的另一端即第二端子52B的与第一端子52A相对的端部的相反侧的端部。

通过以上构成，连接于一个检测电极TDL的第一配线37a以及第二配线37b分别电连接于在第二方向Dy上相邻配置的一组第一端子52A以及第二端子52B。

如图19所示，与第一端子52A以及第二端子52B相对地配置柔性基板71的连接端子76。保护层38在覆盖第一配线37a以及第二配线37b的同时覆盖第一部分53的一部分和第二部分54的一部分。第一端子52A以及第二端子52B配置在相对的保护层38之间。导电性粘接材料63在覆盖第一端子52A以及第二端子52B的同时重叠配置于保护层38的端部。第一端子52A和第二端子52B经由导电性粘接材料63的导电粒子63a与一个相同的连接端子76电连接。换而言之，第一端子52A以及第二端子52B通过层叠的导电层即导电性粘接材料63被电连接。如上所述，第一配线37a和第二配线37b经由第一端子52A、连接端子76、以及第二端子52B被电连接。并且，导电粒子63a在第一端子52A以及第二端子52B分别示出一个，但只是示意性地示出，实际设置有多个导电粒子63a。

并且，在本实施方式中，也可以不设置第一部分53以及第二部分54。在该情况下，第一配线37a连接于第一端子52A的一端，第二配线37b连接于第二端子52B的另一端。

在本实施方式中，第一端子52A的个数与第一配线37a的数量相等，第二端子52B的个数与第二配线37b的数量相等。与第一实施方式相比，虽然第一端子52A以及第二端子52B的合计的个数增加，但是第一端子52A和第二端子52B与一个相同的连接端子76电连接。因此，不需要增加柔性基板71的连接端子76的个数，或者在柔性基板71的内部采用进行第一配线37a和第二配线37b的电连接的构成。因此，能够使柔性基板71的构成简便。

并且，在本实施方式中，对于一个检测电极TDL连接第一配线37a和第二配线37b。因此，能够提高检测电极TDL和柔性基板71的连接可靠性。此外，在一个检测电极TDL的一端经由第一配线37a电连接第一端子52A，在另一端经由第二配线37b连接第二端子52B。因此，能够将第一端子52A以及第二端子52B作为第一配线37a以及第二配线37b的电阻检查等的电气特性检查用的端子使用。例如，在未将柔性基板71连接的状态下，使计测器的探针接触第一端子52A以及第二端子52B，能够进行各配线的电阻检查和断线检查。关于电气特性的检查方法的一例后述。

(第三实施方式)

图20是第三实施方式涉及的第二基板的俯视图。图21是第三实施方式涉及的端子的俯视图。在本实施方式的显示装置1F中，在第一方向Dx上延伸的检测电极TDL的端部中的任一端部连接有配线37A。配线37A包括第一配线37Aa、第二配线37Ab和连接部37Ac。连接部37Ac连接于检测电极TDL的连接配线34a或者连接配线34b。第一配线37Aa连接于连接部37Ac，沿着周边区域10b设置。第二配线37Ab与第一配线37Aa同样连接于连接部37Ac，沿着第一配线37Aa设置。

检测电极TDL与图6中示出的构成同样，在第一方向Dx上延伸，同时在第二方向Dy上排列多个。在第二方向Dy上排列的检测电极TDL中，配线37A以被连接的端部交替的方式配置。例如，在检测电极TDL(1)、TDL(3)、…TDL(n-1)的一端经由连接配线34a而连接配线37A。并且，在检测电极TDL(2)、TDL(n-2)、…TDL(n)的另一端经由连接配线34b而连接配线37A。

这样，在一个检测电极TDL的一端或者另一端连接第一配线37Aa以及第二配线37Ab。因此，能够提高检测电极TDL和柔性基板71之间的连接可靠性。

如图21所示，第一端子52A(1)、52A(2)、…52A(n)在第一方向Dx上排列多个。第二端子52B(1)、52B(2)、…52B(n)分别与第一端子52A(1)、52A(2)、…52A(n)在第二方向Dy上相邻配置。如图20所示，配线37A与检测电极TDL连接的位置交替。因此，例如，第一端子52A(1)以及第二端子52B(1)对应于图20中示出的检测电极TDL(1)。第一端子52A(2)以及第二端子52B(2)对应于图20中示出的检测电极TDL(3)。第一端子52A(n)以及第二端子52B(n)对应于图20中示出的检测电极TDL(2)。

第一配线37Aa连接于第一端子52A的一端。第一端子52A的另一端与第二端子52B的一端相对。第二配线37Ab沿着第一端子52A的一边设置，连接于第二端子52B的一端。例如，连接于图20中示出的检测电极TDL(3)的第二配线37Ab通过在第一方向Dx上相邻的第一端子52A(1)和第一端子52A(2)之间连接于第二端子52B(2)。

第一端子52A和第二端子52B与图19中示出的例子同样，连接于柔性基板71的一个相同的连接端子76。由此，第一配线37Aa和第二配线37Ab经由第一端子52A、连接端子76以及第二端子52B被电连接。在本实施方式中，导电性粘接材料63在覆盖第一端子52A和第二端子52B的同时还覆盖位于第一端子52A彼此之间的第二配线37Ab。通过在导电性粘接材料63中使用上述的异方性导电膜，第二配线37Ab和第一端子52A不导通，经由柔性基板71的连接端子76进行导通。第一端子52A以及第二端子52B通过层叠的导电层即导电性粘接材料63被电连接。

第一端子52A的宽度W2例如是150μm。第一端子52A以及第二端子52B的第二方向Dy的长度L2、L3是150μm以上、200μm以下，例如是175μm。第一配线37Aa以及第二配线37Ab的宽度W3、W4例如是5μm。在第一方向Dx上的第一端子52A和第二配线37Ab的距离d1例如是50μm。在第一方向Dx上的第一端子52A和第二配线37Ab的距离d2例如是5μm。在第二方向Dy上的第一端子52A和第二端子52B之间的距离d3例如是5μm。

通过以上的构成，在第一端子52A以及第二端子52B上未连接柔性基板71的状态下，第一端子52A经由第一配线37Aa、检测电极TDL以及第二配线37Ab与第二端子52B电连接。在本实施方式中，也能够将第一端子52A以及第二端子52B作为第一配线37Aa以及第二配线37Ab的电气特性检查用的端子使用。

并且，在本实施方式中，也可以设置第一部分53以及第二部分54。在该情况下，在第一端子52A的一端经由第一部分53连接第一配线37Aa，在第二端子52B的一端经由第二部分54连接第二配线37Ab。

(第四实施方式)

图22是第四实施方式涉及的第二基板的俯视图。图23是第四实施方式涉及的检测电极的俯视图。如图22所示，在本实施方式的显示装置1G中，检测电极TDLB具有第三检测电极TDL3和第四检测电极TDL4。第三检测电极TDL3在第二方向Dy上延伸。第四检测电极TDL4沿着第三检测电极TDL3设置。第三检测电极TDL3的一端经由连接配线34c与第四检测电极TDL4的一端连接。第三检测电极TDL3的另一端经由连接配线34d与第一配线37f连接。第四检测电极TDL4的另一端经由连接配线34e与第二配线37g连接。

如上所述，一个检测电极TDLB通过连接配线34d、第三检测电极TDL3、连接配线34c、第四检测电极TDL4以及连接配线34e整体形成U字状。一个检测电极TDLB整体在第二方向Dy上延伸。并且，检测电极TDLB在第一方向Dx上排列多个。在本实施方式中，虽然图示省略，但是图5中示出的驱动电极COML成为在第一方向Dx上延伸并且在第二方向Dy上排列多个的构成。即，驱动电极COML沿着图8中示出的栅极线GCL设置。

如图23所示，第三检测电极TDL3成为具有多个第三导电性细线33S和多个第四导电性细线33T的网眼状的配线。第三导电性细线33S和第四导电性细线33T在彼此不同的方向上延伸。第三导电性细线33S以及第四导电性细线33T使用与上述的第一导电性细线33U以及第二导电性细线33V同样的材料。第四检测电极TDL4与第三检测电极TDL3同样成为具有多个第三导电性细线33S和多个第四导电性细线33T的网眼状的配线。

并且，连接配线34c、34d、34e是与第三检测电极TDL3以及第四检测电极TDL4类似的具有多个导电性细线的网眼状的配线。

连接配线34c、34d、34e设置在周边区域10b，但是并不限定于此，连接配线34c、34d、34e各自的一部分或者全部也可以设置在显示区域。并且，连接配线34c、34d、34e也可以具有作为检测电极的功能。

并且，在一个检测电极TDLB中，在第三检测电极TDL3、第四检测电极TDL4以及连接配线34c、34d、34e包围的区域设置有虚拟电极TDLd3。并且，在相邻的检测电极TDLB之间设置有虚拟电极TDLd4。虚拟电极TDLd3、TDLd4是与第三检测电极TDL3和第四检测电极TDL4类似的具有多个导电性细线的网眼状的配线。由此，能够抑制显示区域10a中的透光率的偏差，获得良好的目视识别性。

并且，第三检测电极TDL3、第四检测电极TDL4、连接配线34c、34d、34e、以及虚拟电极TDLd3、TDLd4也可以为包括多个Z字线状或者波线状的金属细线的构成。

在本实施方式中，第一配线37f与第一端子52A连接。并且，第二配线37g与第二端子52B连接。并且，与图19中示出的例子同样，第一端子52A和第二端子52B经由导电性粘接材料63连接于一个连接端子76。由此，第三检测电极TDL3和第四检测电极TDL4经由第一端子52A、连接端子76以及第二端子52B被电连接。由此，在未连接柔性基板71的状态下，能够将第一端子52A以及第二端子52B作为电气特性检查用的端子使用。

并且，在本实施方式中，也可以设置第一部分53以及第二部分54。在该情况下，在第一端子52A的一端经由第一部分53连接第一配线37f，在第二端子52B的一端经由第二部分54连接第二配线37g。

(第五实施方式)

图24是第五实施方式涉及的第二基板的俯视图。图25是表示第五实施方式涉及的显示装置的概略截面构造的剖视图。图26是第五实施方式涉及的端子的俯视图。

如图24所示，本实施方式的显示装置1H具有多个矩形状的检测电极TDLC(1)、(2)、…(n-1)、(n)、第一配线37Ba和第二配线37Bb。在以下的说明中，在不需要将检测电极TDLC(1)、(2)、…(n-1)、(n)区别进行说明的情况下，表示为检测电极TDLC。检测电极TDLC在第二基板31的显示区域10a配置成矩阵状。即，检测电极TDLC在第一方向Dx上配置多个，并且在第二方向Dy上配置多个。如图24所示，在每个检测电极TDLC上连接第一配线37Ba和第二配线37Bb。第一配线37Ba以及第二配线37Bb向周边区域10b伸出，连接于端子51B。检测电极TDLC使用ITO等具有透光性的导电材料。

本实施方式的显示装置1H基于上述的自静电电容方式的触摸检测原理进行检测。在该情况下，如果对各检测电极TDLC经由第一配线37Ba以及第二配线37Bb供应驱动信号Vcom，则与检测电极TDLC的电容变化相应的检测信号Vdet从检测电极TDLC输出至检测部40。通过利用配置成矩阵状的各检测电极TDLC实行检测，坐标提取部45能够检测触摸坐标。

多个检测电极TDLC的检测可以同时进行，也可以以规定的顺序检测。并且，如图24所示，也可以将在第一方向Dx上排列的多个检测电极TDLC汇集成一个检测电极块BK来进行检测。在该情况下，检测电极块BK通过作为一个检测电极而发挥功能，还能够进行上述的互电容方式的触摸检测。

如图25所示，第一配线37Ba经由绝缘层38b设置在比检测电极TDLC更靠第二基板31侧。检测电极TDLC被绝缘层38a覆盖。第一配线37Ba经由设置于绝缘层38b的接触孔与检测电极TDLC电连接。并且，在图25中，虽然省略示出第二配线37Bb，但是第二配线37Bb也与第一配线37Ba同层设置。第二配线37Bb经由设置于绝缘层38b的接触孔与检测电极TDLC电连接。

不限于此，第一配线37Ba以及第二配线37Bb也可以设置于相对于检测电极TDLC远离第二基板31的层，或者也可以设置于与检测电极TDLC相同的层。

如图26所示，在周边区域10b，对应于各检测电极TDLC而设置多个端子51B。端子51B分别是具有沿着第二方向Dy的长边的矩形状，在第一方向Dx上排列多个。各检测电极TDLC和端子51B以一对一的方式设置。例如，对应于图24中示出的检测电极TDLC(1)而设置端子51B(1)。同样，对应于检测电极TDLC(2)而设置端子51B(2)。对应于检测电极TDLC(n-1)而设置端子51B(n-1)。对应于检测电极TDLC(n)而设置端子51B(n)。并且，在不需要将端子51B(1)、51B(2)、…51(n-1)、51(n)区别进行说明的情况下，表示为端子51B。

连接于一个检测电极TDLC的第一配线37Ba以及第二配线37Bb连接于一个相同的端子51B。例如，第一配线37Ba连接于端子51B的一端，第二配线37Bb连接于端子51B的另一端。此外，例如，连接于检测电极TDLC(1)的第一配线37Ba以及第二配线37Bb分别连接于端子51B(1)的一端以及另一端。检测电极TDLC(2)至检测电极TDLC(n)也同样。并且，在图24中，虽然第一配线37Ba以及第二配线37Bb配置于显示区域10a，但是也可以一部分配置于周边区域10b。

通过以上的构成，连接于检测电极TDLC的第一配线37Ba和第二配线37Bb经由一个相同的端子51B电连接于柔性基板71(参照图10)的连接端子76。因此，相对于第一配线37Ba和第二配线37Bb的合计的数量，能够减少端子51B的数量。并且，无论连接于一个相同的端子51B的第一配线37Ba和第二配线37Bb中的哪一个断线，另一个配线都会连接于端子51B。由此，能够防止检测电极TDLC和端子51B之间完全断线。

并且，在本实施方式中，也可以设置第一部分53以及第二部分54(参照图12)。在该情况下，在第一端子52B的一端经由第一部分53连接第一配线37Ba，在第一端子52B的另一端经由第二部分54连接第二配线37Bb。

图27是第五实施方式的变形例涉及的第二基板的俯视图。如图27所示，在本变形例的显示装置1I中，在第二基板31的周边区域10b设置有护圈58A。护圈58A包围检测电极TDLC、配线37以及端子51B设置成环状。护圈58A的一端以及另一端连接于一个端子51B。护圈58A例如经由柔性基板71电连接于外壳并接地。

在本变形例中，由于护圈58A的一端和另一端连接于一个相同的端子51B，因此能够省略至少一个端子。并且，由于配线37与护圈58A相比设置在内侧，因此能够抑制配线37的断线。并且，在本变形例中，在各检测电极TDLC上分别连接一个配线37。配线37向周边区域10b伸出，连接于端子51B。并且，不限于此，如图24所示，也可以在各检测电极TDLC上分别连接第一配线37Ba以及第二配线37Bb。

(电阻检查方法)

接着，对第一端子52A和第二端子52B产生的电阻检查方法的一例进行说明。图28是示出显示装置的电阻检查方法的一例的说明图。图29是用于说明偏移的检测的说明图。图30是示出电阻检查方法的一例的流程图。图31是示出电阻检查项目以及判断结果的一例的表。

如图28所示，通过使电阻测定装置的的检测探针101分别接触第一端子52A和第二端子52B，对相对的第一端子52A和第二端子52B之间的电阻值进行测定。即，对第一配线37a、检测电极TDL(参照图6等)以及第二配线37b的合计的电阻值进行测定。并且，在图28中示出的第一端子52A以及第二端子52B中，如第二实施方式中的说明，第二配线37b连接于第二端子52B的另一端，即与第一端子52A相对的端部的相反侧，但是并不限定于此。也能够在与第三实施方式或者第四实施方式中示出的、第二配线37b连接于第二端子52B的一端即第二端子52B的与第一端子52A相对的端部的构成中同样地进行电阻检查。

在图28中示出的例子中，与第一端子52A(3)相邻设置端子52Aa。第一端子52A(3)和端子52Aa经由连接部52Ab电连接。并且，与第二端子52B(3)相邻设置端子52Ba。第二端子52B(3)和端子52Ba经由连接部52Bb电连接。

使检测探针101接触第一端子52A(3)和端子52Aa，对第一端子52A(3)和端子52Aa之间的电阻值进行测定。同样，对第二端子52B(3)和端子52Ba之间的电阻值进行测定。如果该电阻值为零，则表示检测探针101没有偏移地接触第一端子52A和第二端子52B，能够正常地测定。或者，能够测定检测探针101和第一端子52A的接触电阻以及检测探针101和第二端子52B的接触电阻。

第一端子52A与第二端子52B相对配置，相对的一组第一端子52A和第二端子52B排列多个。通过这样的构成，能够检测出检测探针101相对于第一端子52A以及第二端子52B的偏移。如图29所示，存在检测探针101相对于第一端子52A以及第二端子52B的排列方向即第一方向Dx倾斜配置的可能性。

在该情况下，未检测出第一端子52A(1)和第二端子52B(1)之间的电阻值、第一端子52A(2)和第二端子52B(2)之间的电阻值、第一端子52A(3)和第二端子52B(3)之间的电阻值。并且，能够检测出第一端子52A(n-1)和第二端子52B(n-1)之间的电阻值、第一端子52A(n)和第二端子52B(n)之间的电阻值。这样，在不能检测出电阻值的第一端子52A以及第二端子52B出现在规定的部位以上的情况下，能够检测出检测探针101的倾斜产生偏移。

如图30所示，在每个端子进行电阻检查的判断。并且，在图30以及图31中，例如，将第一端子52A(1)和第二端子52B(1)合并表示为“端子(1)”，将第一端子52A(n)和第二端子52B(n)合并表示为“端子(n)”。如图30所示，利用端子(1)进行电阻检查结果的判断(步骤ST1)。如果电阻值在基准值内，则判断为“合格”(步骤ST1，是)，前进到下一个端子(2)的判断(步骤ST2)。在电阻值偏离基准值的情况下(步骤ST1，否)，该检测装置30判断为不是合格品(“淘汰”)，结束电阻检查。从端子(1)到端子(n)反复进行判断(从步骤ST1到步骤STn)。如果全部的端子为“判断合格”，该检测装置30判断为各配线以及检测电极TDL没有产生断线的合格品(“合格”)，结束检查。

在电阻检查中，例如，如图31的表所示，对各端子中的电阻的上限值(kΩ)和ΔR进行判断。“ΔR”例如是端子(n)的电阻值和端子(n+1)的电阻值的差分。如图31所示，在标准中，在端子(1)的上限值为a

在图30中示出的例子中，在任一端子产生不合格的情况下，结束测定，但是并不限定于此。如图31所示，利用全部的端子进行判断，也能够确认“合格”和“不合格”的倾向。在图31中示出的例子中，端子(1)的上限值以及ΔR都是“合格”。虽然端子(2)的上限值是“合格”，但是ΔR是“不合格”。并且，虽然端子(n)的上限值是“不合格”，但是ΔR是“合格”。

图32是用于说明电阻检查方法的另一例的俯视图。图33是用于说明电阻检查方法的另一例的剖视图。在从图28到图31中示出的例子中，检测第一配线37a、检测电极TDL以及第二配线37b的合计的电阻值来进行合格与否的判断。在本变形例中，能够使用非接触探针110来检测在第一配线37a以及第二配线37b中的任一部位是否产生断线等不良情况。

非接触探针110基于在与检测电极TDL之间形成的静电电容的变化，对检测电极TDL的电压值或者电流值进行检测。如图33所示，非接触探针110经由保护层38非接触地配置在检测电极TDL的上方。如图32所示，优选的是非接触探针110配置在检测电极TDL的第一方向Dx的中央部。通过这样配置，能够降低第一配线37a侧的检测值和第二配线37b侧的检测值的误差，高精度地进行检测。并且，非接触探针110配置在第二方向Dy上排列的多个检测电极TDL上。

如图32所示，在从电源111向第一端子52A输入输入信号Vin1的情况下、以及向第二端子52B输入输入信号Vin2的情况下，比较由非接触探针110检测出的检测信号。由此，能够检测出断线的位置。例如，在第二配线37b的任一个产生断线的情况下，未检测出对于输入信号Vin2的检测信号。

或者，在输入规定的输入信号的状态下，也可以使非接触探针110移动，基于检测信号的变化来确定断线的部位。

并且，上述的电阻检查方法只是一例，可以追加其他检查项目，也可以适当变更检查方法。

以上，对本发明的优选实施方式进行了说明，但是本发明并不限定于这样的实施方式。实施方式中公开的内容只是一例，在不脱离本发明的宗旨的范围内能够进行各种变更。在不脱离本发明的宗旨的范围内进行的适当的变更当然也属于本发明的技术范围。在不脱离上述各实施方式以及各变形例的要旨的范围内，能够进行各种构成元件的省略、置换以及变更中的至少一种。

例如，在第一实施方式的各变形例中示出的构成中，也可以采用从第二实施方式到第四实施方式中示出的设置第一端子和第二端子的构成。并且，在第三实施方式以及第四实施方式中，也可以采用在一个端子上连接第一配线和第二配线的构成。并且，各端子的形状和大小只是一例，也可以进行适当变更。并且，在各实施方式中，对检测电极TDL进行了说明，但是，关于驱动电极COML，也可以采用将第一配线和第二配线连接，并且将第一配线和第二配线连接于一个端子的构成。关于驱动电极COML，也可以采用将第一配线连接于第一端子，将第二配线连接于第二端子的构成。

例如，本方式的检测装置及显示装置能够成为以下的方式。

(1)一种检测装置，具有：

基板；

多个电极，在所述基板的面上设置于显示区域；

多个端子，在所述显示区域的外侧的周边区域，设置为分别对应于多个所述电极；

第一配线，将一个所述电极和一个所述端子连接；以及

第二配线，将该一个所述电极和所述第一配线所连接的相同的所述端子连接。

(2)在上述(1)中记载的检测装置中，所述电极在第一方向上延伸，并且在与所述第一方向交叉的第二方向上排列多个，

所述端子在所述第一方向上排列多个，

所述第一配线将所述电极的一端和所述端子的所述第二方向的一端连接，

所述第二配线将所述电极的另一端和所述端子的另一端连接。

(3)在上述(2)中记载的检测装置中，多个所述端子的所述第二方向的长度彼此不同。

(4)在上述(2)或上述(3)中记载的检测装置中，多个所述端子的所述第一方向的长度彼此不同。

(5)在上述(1)或上述(2)中记载的检测装置中，所述第一配线和所述第二配线连接于多个所述电极中的在至少最远离所述端子的位置的电极。

(6)一种检测装置，具有：

基板；

多个电极，在所述基板的面上设置于显示区域；

第一端子和第二端子，在所述显示区域的外侧的周边区域，设置为分别对应于多个所述电极；

第一配线，将一个所述电极和所述第一端子连接；以及

第二配线，将该一个所述电极和所述第二端子连接，

所述第一端子在第一方向上排列多个，

所述第二端子在与所述第一方向交叉的第二方向上与所述第一端子相对而配置。

(7)在上述(6)中记载的检测装置中，所述电极在第一方向上延伸，并在与所述第一方向交叉的第二方向上排列多个。

(8)在上述(6)或上述(7)中记载的检测装置中，所述第一端子和所述第二端子通过层叠的导电层被电连接。

(9)在上述(6)至上述(8)中任一个记载的检测装置中，所述第一端子和所述第二端子电连接于柔性基板的一个连接端子。

(10)在上述(6)至上述(9)中任一个记载的检测装置中，所述第一配线将所述电极的一端和所述第一端子连接，

所述第二配线将所述电极的另一端和所述第二端子连接。

(11)在上述(6)至上述(9)中任一个记载的检测装置中，所述第一配线和所述第二配线连接于所述电极的一端。

(12)在上述(11)中记载的检测装置中，所述第二配线穿过排列多个的所述第一端子之间而连接于所述第二端子。

(13)在上述(11)或上述(12)中记载的检测装置中，所述第一配线沿着所述第二配线设置在所述周边区域。

(14)在上述(2)或上述(6)中记载的检测装置中，所述电极包括第一电极和第二电极，

所述第一电极在所述第一方向上延伸，并在一端侧与所述第一配线连接，

所述第二电极沿着所述第一配线延伸，并在另一端侧与所述第二配线连接。

(15)在上述(14)中记载的检测装置中，所述第一电极和所述第二电极分别在所述第二方向上设置多个，

所述检测装置包括：

第一连接配线，将多个所述第一电极和所述第一配线连接；以及

第二连接配线，将多个所述第二电极和所述第二配线连接。

(16)在上述(1)或上述(6)中记载的检测装置中，所述电极在第一方向上排列多个，沿着与所述第一方向交叉的第二方向设置，

所述电极包括第一电极和第二电极，

所述第一电极和所述第二电极以彼此相邻的方式沿着所述第二方向设置，并且在一端侧电连接，

在所述第一电极的另一端侧连接所述第一配线，

在所述第二电极的另一端侧连接所述第二配线。

(17)在上述(1)至上述(16)中任一个记载的检测装置中，在相邻的所述电极之间具有虚拟电极，所述虚拟电极与所述电极设置为具有间隔，并与所述电极、所述第一配线和所述第二配线未电连接。

(18)在上述(1)至上述(17)中任一个记载的检测装置中，所述电极包括在彼此不同的方向上延伸的第一导电性细线和第二导电性细线。

(19)一种显示装置，包括：

上述(1)至上述(18)中任一个记载的检测装置；以及

显示功能层，用于在所述显示区域显示图像。

此外，本方式的检测装置及显示装置能够成为以下的方式。

(20)在上述(1)中记载的检测装置中，所述电极以矩阵状配置多个，

在所述电极上分别连接所述第一配线和所述第二配线。

附图标记说明

1、1A、1B、1C、1D、1E、1F、1G、1H、1I显示装置；2像素基板；3相对基板；6液晶层；10带触摸检测功能的显示部；10a显示区域；10b周边区域；11控制部；20显示面板；21第一基板；22像素电极；30检测电极；31第二基板；37a、37Aa、37Ba第一配线；37b、37Ab、37Bb第二配线；37、37A配线；37Ac连接部；38保护层；40检测部；51、51A端子；53第一部分；54第二部分；58、58A护圈；71、72柔性基板；76连接端子；101检测探针；TDL、TDLA、TDLB、TDLC、E2检测电极。