测试治具

技术领域

本发明关于一种测试治具，尤指一种可透过预定接口耦接于待测装置以改善测试时的便利性的测试治具。

背景技术

目前于测试装置(例如主板)时，可将测试治具耦接于计算机及待测装置之间，以存取相关讯号及执行相关的控制。

常见的情况为，计算机的操作系统(例如Windows 10系统)以EIA RS-232(又称为RS-232)的接口标准的驱动程序，透过通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)2.0转到RS232-DB9接头以耦接到测试治具，再将RS232转为通用异步收发传输器(UniversalAsynchronous Receiver/Transmitter，简称UART)的通讯协议，以与待测装置沟通。此外，待测装置的电源供应，则另以外部的电源供应器提供。

上述解法已观察到下述多种缺失。目前新设计的信息类产品，例如计算机或服务器，其对外的通讯大多采用较新的高速传输接口，例如通用串行总线，RS232-DB9接头已逐渐以新接口取代，因此测试治具的RS232-DB9接头已很难与近期新设计的信息类产品(即，待测装置)相连。上述测试治具的传输接口仅具有一组UART收发接口，导致测试治具与待测装置的沟通的弹性极低。此外，常须额外准备电源供应器以供电给待测装置，造成高度不便，而频繁插拔电源接头，也常导致电路板的毁损。此外，USB 2.0接口及RS-232接口之间，也常发生驱动程序的问题。

发明内容

实施例提供一种测试治具，包含一第一接口、一第二接口、一桥接单元、一第三接口、一供电单元、一第四接口及一电源切换器。所述第一接口用以存取一第一讯号。所述第二接口用以存取对应于所述第一讯号的一第二讯号及/或输出一第二电压。所述桥接单元耦接于所述第一接口及所述第二接口之间，用以桥接所述第一接口及所述第二接口。所述第三接口用以接收一第一电压。所述供电单元用以根据所述第一电压输出所述第二电压，所述供电单元包含一第一端及一第二端，其中所述第一端耦接于所述第三接口，用以接收所述第一电压，且所述第二端用以输出所述第二电压。所述第四接口用以输出所述第二电压。所述电源切换器用以输出所述第二电压至所述第二接口及/或所述第四接口，所述电源切换器包含一第一端、一第二端及一第三端，其中所述第一端耦接于所述供电单元的所述第二端，用以接收所述第二电压，所述第二端耦接于所述第二界面，且所述第三端耦接于所述第四界面。所述电源切换器的所述第一端选择性地电连接于所述电源切换器的所述第二端及/或所述第三端。

附图说明

图1为实施例中，测试治具的示意图。

图2为另一实施例中，图1的测试治具的示意图。

图3为图2的测试治具耦接于控制装置、电源装置及待测装置的示意图。

图3为图2的测试治具耦接于控制装置、电源装置及待测装置的示意图。

图4为另一实施例中，图2的测试治具耦接于控制装置、电源装置及待测装置的示意图。

图5为实施例中，客制化的USB类型C界面的接脚分配示意图。

元件标号说明

101：测试治具

102：第一界面

103：第三界面

104：第二界面

105：第四界面

106：桥接单元

107：供电控制器

108：电源转换器

109：电源切换器

110：供电单元

180：控制装置

190：电源装置

199：待测装置

PH1,PH2,PH3：路径

S1：第一讯号

S2：第二讯号

V1：第一电压

V2：第二电压

V3：第三电压

A1至A12,B1至B12：编号

具体实施方式

为了处理上述本领域的诸多难题，实施例可提供测试治具，以作为解决方案。图1为实施例中，测试治具101的示意图。测试治具101可包含第一接口102、第二接口104、桥接单元106、第三接口103、供电单元110、第四接口105及电源切换器109。

第一接口102可用以存取第一讯号S1。第二接口104可用以存取对应于第一讯号S1的第二讯号S2及/或输出第二电压V2。桥接单元106可耦接于第一接口102及第二接口104之间，用以桥接第一接口102及第二接口104。第三接口103可用以接收第一电压V1。供电单元110可用以根据第一电压V1输出第二电压V2。供电单元110可包含第一端及第二端，其中第一端可耦接于第三接口103以接收第一电压V1，且第二端可输出第二电压V2。第四接口105可用以输出第二电压V2。电源切换器109可用以输出第二电压V2至第二接口104及/或第四界面105。电源切换器109包含第一端、第二端及第三端，其中第一端可耦接于供电单元110的第二端以接收第二电压V2，第二端可耦接于第二界面104，且第三端可耦接于第四界面105。电源切换器109的第一端可选择性地电连接于电源切换器109的第二端及/或第三端。根据实施例，电源切换器109可为机械式切换器或电子式切换器。

图2为另一实施例中，图1的测试治具101的示意图。如图2所示，供电单元110可包含供电控制器107及电源转换器108。供电控制器107可用以将第一电压V1转换为第三电压V3，供电控制器107可包含第一端及第二端，其中第一端可耦接于供电单元110的第一端，且第二端可用以输出第三电压V3。电源转换器108可用以将第三电压V3转换为第二电压V2，电源转换器108可包含第一端及第二端，其中第一端可耦接于供电控制器107的第二端，且第二端可耦接于供电单元110的第二端以输出第二电压V2。

根据实施例，供电控制器107可支持通用串行总线(USB)的供电控制，其提供的电压值、功率值、电流值，以及电源方向可受控制。根据实施例，电源转换器108可包含降压变换器(buck chopper)。电源转换器108可调整输出的电压及电流，以及可选择性地进行滤波及降低电压的链波。

根据实施例，于图2中，第三电压V3可实质上高于第二电压V2。例如，第三电压V3可为20伏特，且第二电压V2可为12伏特。根据实施例，于图1及图2中，第一电压V1可实质上等于第二电压V2。例如，第一电压V1及第二电压V2可为12伏特。

根据实施例，第一界面102可为第一客制化USB类型C(USB type-C)接口，第二接口104可为第二客制化USB类型C接口，第三接口103可为标准USB类型C接口，第四接口105可为直流电源插座(DC jack)，例如同轴连接器。根据实施例，依照需求，第一接口102及第二接口104可客制化以具有相同的接脚分配(pin-out)，也可客制化为具有相异的接脚分配。

图3为图2的测试治具101耦接于控制装置180、电源装置190及待测装置199的示意图。如图3所示，第一接口102可耦接于控制装置180，第三接口103可耦接于电源装置190。控制装置180可例如为用以执行控制及分析的计算机(例如桌面计算机、笔记本电脑、平板计算机或专用的控制器)。电源装置190可为支持耦接于USB类型C接口的适配器、电池或移动电源(power bank)。第二接口104可用以耦接至待测装置199，以使用第二讯号S2测试待测装置199的至少一预定接口。待测装置199的受测试的至少一预定接口可包含集成电路间(Inter-Integrated Circuit，I

举例而言，待测装置199可为主板，于研发期间，可将测试治具101耦接于待测装置199以进行供电及讯号收发，从而方便地进行除错及分析。待研发完成，要进入量产时，可将相关的USB类型C的接口及相关线路拆除或封盖。由于USB类型C接口可支持供电、可存取信息、易于插拔且逐渐高度普及，故可减少上述的本领域难题。由于执行完除错及分析后，相关接口可拆除，故并不会过度提高成本。

如图3所示，其中第一接口102、桥接单元106及第二接口104形成的路径PH1可为测试相关路径。第三接口103、供电单元110、电源切换器109及第二接口104形成的路径PH2，及第三接口103、供电单元110、电源切换器109及第四接口105形成的路径PH3，可为供电相关路径。

如图3所示，若待测装置199具有USB类型C的存取接口，且可使用所述接口来收发讯号及接收电力，则可将待测装置199耦接于第二接口104，以存取信息及接发电力，从而进行除错及分析。

图4为另一实施例中，图2的测试治具101耦接于控制装置180、电源装置190及待测装置199的示意图。举例而言，若待测装置199具有USB类型C的讯号存取接口，但仍须透过直流电源插座供电，则可如图4所示，将待测装置199的讯号存取接口耦接于第二接口104，且将待测装置199的电源接口耦接于第四接口105，以存取信息及接发电力，从而进行除错及分析。

图5为实施例中，客制化的USB类型C界面的接脚分配示意图。举例来说，图1至图4的第一接口102及第二接口104的接脚分配可如图5所示。图5仅为举例，实务上仍可根据需求，调整接脚分配。如图5所示，举例而言，客制化的USB类型C界面的一侧的接脚的编号可为A1至A12，另一侧的接脚的编号可为B1至B12。如图5所示，相关的接脚可例如包含地端接脚(GND)、发送数据接脚(TXD)、接收数据接脚(RXD)、电源接脚(VBUS)、频率接脚(SCK)、数据输出接脚(SO)、数据输入接脚(SI)、芯片选择接脚(CS)、频率接脚(SCL)、序列数据接脚(SDA)等，以支持SPI接口、I

根据实施例，第二接口104可为耦接于待测装置199的双面可插接口。举例而言，将待测装置199透过传输线耦接于第二接口104，USB类型C插头的插入方向不受限制。由于第一接口102及第二接口104的接脚分配为客制化，若USB插头耦接于母座时与预设的方向相反，后续于处理讯号时可另行处理，例如可另行处理记录文件(log)即可进行除错及分析。

总上，使用实施例提供的测试治具101，可改善测试治具与待测装置的沟通的弹性，不须额外准备电源供应器以供电给待测装置，也提供了多种供电路径，故可改善便利度。此外，可避免频繁插拔电源接头，导致的电路板毁损，还可避免接口之间的驱动程序问题。测试治具101可测试当前多数的待测装置，采用USB类型C的接口，因接脚间距(pinpitch)下降，故可进一步节省空间，例如可比传统的排针(pin header)连接器体积更小。因此，可有效处理本领域面临的诸多难题。

在本发明的一实施例中，在新服务器的研发过程中，新服务器的主板必须进行多项测试，有时候需不断地重复进行，确认所有测试项目皆为正常能达到产品出货的规格及质量。因此，利用本发明的测试治具可方便地测试服务器的主板，增进服务器的可靠度，使通过测试的服务器更适合用于人工智能(Artificial Intelligence，简称AI)运算、边缘运算(Edge Computing)，或可当作5G服务器、云端服务器或车联网服务器使用。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。