一种偏光片的型号鉴别方法

技术领域

本发明涉及偏光片技术领域，具体属于一种偏光片的型号鉴别方法。

背景技术

偏光片的基本结构包括：最中间的PVA(聚乙烯醇)，两层TAC(三醋酸纤维素)，PSAfilm(压敏胶)，Release film(离型膜)和Protective film(保护膜)。其中，起到偏振作用的是PVA层，但是PVA极易水解，为了保护偏光膜的物理特性，因此在PVA的两侧各复合一层具有高光透过率、耐水性好又有一定机械强度的(TAC)薄膜进行防护，这就形成了偏光片原板。在普通TN型LCD偏光片生产中，根据不同的使用要求，需要在偏光片原板的一侧涂复一定厚度的PSA，并复合上对PSA进行保护的隔离膜；而在另一侧要根据产品类型，分别复合保护膜、反射膜,半透半反胶层膜，由此形成偏光片成品。

偏光片生产过程中由于流程单缺失、标签打错等原因导致退料，使得库存卷料堆积压力过大；因此，急需对混存的偏光片卷料进行型号判定和去库存处理。而混料去库存处理前需判定各卷料对应的型号，就需建立一个偏光片卷料的型号判定方法，同时避免对偏光片判定处理过程中对偏光片的各层产生损害，以免造成判定误差，导致型号判定不准确，产生客诉风险。

发明内容

本发明的目的是提供一种偏光片的型号鉴别方法，克服了现有技术的不足。

为解决上述问题，本发明所采取的技术方案如下：

一种偏光片的型号鉴别方法，包括以下步骤：

S1，对偏光片的面内的相位差值与厚度方向的相位差值进行测试，判断偏光片是否有补偿值；

S2，对偏光片的雾度、偏振度、色度、透过率值进行测试，获得偏光片的光学性能数据；

S3，将偏光片撕去离型膜和保护膜，然后浸入60-120℃的水中，泡开后，去除压敏胶和偏光子层，得到上TAC膜和下TAC膜；

S4，对上TAC膜和下TAC膜进行烘干，烘干温度为100-130℃，时间为1-10min，然后对上TAC膜和下TAC膜进行厚度测试，得到上TAC膜和下TAC膜的厚度数据；

S5，对偏光片和离型膜、保护膜的厚度进行测试，通过偏光片、偏光子、离型膜、保护膜、上TAC膜和下TAC膜的厚度数据对压敏胶层的厚度数据进行计算；

S6，对上TAC膜进行抗划伤、防眩光性能测试，判断上TAC膜的种类；

S7，对偏光片使用的压敏胶使用红外光谱仪进行测试，并将获得的数据与已知的压敏胶的红外光谱数据进行对比，判定偏光片使用的压敏胶的种类；

S8，根据偏光片各层的厚度数据、补偿值、光学性能数据和上TAC膜的种类、压敏胶的种类，确定偏光片的型号。

进一步，步骤S3中的水温为90℃，时间为1h。

进一步，步骤S4中的烘干温度为110℃，时间为4min。

进一步，所述偏光子的厚度为20-22um。

本发明与现有技术相比较，本发明的实施效果如下：本发明的方法的判定速度快，操作方便，能够有效的判断不明型号的偏光片的种类，且判定处理过程中对偏光片各结构的影响小，判定结果准确，对解决偏光片库存堆积起到了关键的作用。

附图说明

图1为实施例1的偏光片泡开前后的效果图；

图2为实施例2的偏光片泡开前后的效果图；

图3为实施例3的偏光片泡开前后的效果图；

图4为实施例4的偏光片泡开前后的效果图；

图5为实施例5的偏光片泡开前后的效果图；

图6为实施例6的偏光片泡开前后的效果图；

图7为将不同厚度的TAC膜烘干至恒重所需时间和温度的数据。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

实施例1

从卷料上裁切取下一小片偏光片用于型号的判定，尺寸为10cm*10cm，也可根据需要选取合适的大小；然后对偏光片的面内的相位差值与厚度方向的相位差值进行测试，判断偏光片是否有补偿值；接着对偏光片的雾度、偏振度、色度、透过率值进行测试，获得偏光片的光学性能数据。

然后，将偏光片撕去离型膜和保护膜，然后浸入60℃的水中，5h后泡开，如图1所示，然后去除下TAC膜外侧的压敏胶、上TAC膜与下TAC膜之间偏光子层，得到上TAC膜和下TAC膜；对上TAC膜和下TAC膜进行烘干，烘干温度为100℃，时间为1min，然后对上TAC膜和下TAC膜进行厚度测试，得到上TAC膜和下TAC膜的厚度数据；上TAC膜和下TAC膜之间为偏光子层，偏光子层在水中浸泡后会与上TAC膜和下TAC膜脱离，偏光子层的厚度为20um，一般不超过22um。通过对偏光片和离型膜、保护膜的厚度进行测试，通过偏光片、偏光子、离型膜、保护膜、上TAC膜和下TAC膜的厚度数据对压敏胶层的厚度数据进行计算；得到偏光片各层的厚度数据，得到偏光片原料厚度参数。

对上TAC膜进行抗划伤、防眩光性能测试，判断上TAC膜的种类；刮取部分下TAC膜外侧的压敏胶，对偏光片使用的压敏胶使用红外光谱仪进行测试，并将获得的数据与已知的压敏胶的红外光谱数据进行对比，判定偏光片使用的压敏胶的种类。

最后，根据偏光片各层的厚度数据、补偿值、光学性能数据和上TAC膜的种类、压敏胶的种类，确定偏光片的型号，即卷料的型号。

实施例2

与实施例1的不同在于，将偏光片撕去离型膜和保护膜，然后浸入70℃的水中，4h后泡开，如图2所示。

实施例3

与实施例1的不同在于，将偏光片撕去离型膜和保护膜，然后浸入80℃的水中，3h后泡开，如图3所示。

实施例4

与实施例1的不同在于，将偏光片撕去离型膜和保护膜，然后浸入90℃的水中，1h后泡开，如图4所示。

实施例5

与实施例1的不同在于，将偏光片撕去离型膜和保护膜，然后浸入100℃的水中，1h后泡开，如图5所示。

实施例6

与实施例1的不同在于，将偏光片撕去离型膜和保护膜，然后浸入120℃的水中，1h后泡开，如图6所示。

实施例7

与实施例1的不同在于，对上TAC膜和下TAC膜进行烘干，烘干温度为100℃，时间为4min，如图7所示。

实施例8

与实施例1的不同在于，对上TAC膜和下TAC膜进行烘干，烘干温度为110℃，时间为4min，如图7所示。

实施例9

与实施例1的不同在于，对上TAC膜和下TAC膜进行烘干，烘干温度为120℃，时间为4min，如图7所示。

实施例10

与实施例1的不同在于，对上TAC膜和下TAC膜进行烘干，烘干温度为130℃，时间为4min，如图7所示。

在实施例1、8-10中还分别选取厚度为60um、80um和100um厚度的上TAC膜在0-8min内进行烘干，烘干效果如图7所示。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。