一种芯片检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及芯片检测领域，特别是涉及一种芯片检测方法，本发明还涉及一种芯片检测装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着芯片制造工艺的发展以及市场需求的提高，对于芯片性能的要求也越来越高，芯片生产完成后的检测环节也越来越重要，传统的芯片检测方法针对待测芯片需要进行大量测试项的测试，这就表示有可能在对次序靠后的测试项测试时才发现问题，导致发现芯片问题的效率较低，也即检测效率较低。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片检测方法，在后序轮次的芯片测试过程中，优先对之前测试不合格的测试项展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率；本发明的另一目的是提供一种芯片检测装置、设备及计算机可读存储介质，在后序轮次的芯片测试过程中，优先对之前测试不合格的测试项展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种芯片检测方法，包括：

在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；

对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格；

若不合格，则按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，所述目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕；

若未测试完毕，执行所述在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；

若测试完毕，执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；

其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值。

另一方面，所述对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格包括：

将当前所述目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号；

根据所述响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格。

另一方面，所述判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若不合格，则记录当前所述目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理。

另一方面，所述指定信息包括不合格待测芯片的身份标识、当前所述目标测试项的激励信号、不合格待测芯片对于当前所述目标测试项的激励信号的响应信号以及所述响应信号对应的预期值。

另一方面，所述根据所述响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若合格，则执行所述在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；

控制提示器提示所述目标测试项是否测试合格的判断结果。

另一方面，所述将当前所述目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号之后，该芯片检测方法还包括：

获取当前轮次的待测芯片的响应信号中具备指定特性的信号，并进行保存。

另一方面，应用于处理器；

所述处理器与待测芯片位于同一块电路板。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种芯片检测装置，包括：

选择模块，用于在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；

测试模块，用于对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格，若不合格，则触发调整模块；

所述调整模块，用于按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，所述目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕，若未测试完毕，触发所述选择模块，若测试完毕，触发执行模块；

所述执行模块，用于执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；

其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种芯片检测设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述芯片检测方法的步骤。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述芯片检测方法的步骤。

本发明提供了一种芯片检测方法，考虑到对同一批次的大量芯片需要划分多个轮次进行测试，前序轮次的测试结果中的问题测试项很有可能在同批次的后续轮次中再次出现，因此本发明可以在发现某一轮次的某一测试项不合格时，便可以提升该测试项在后续轮次中被随机选中的概率，如此一来，下一轮次的测试过程便可能提早对“在前序轮次中测试不合格的测试项”展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率。

本发明还提供了一种芯片检测装置、设备及计算机可读存储介质，具有如上芯片检测方法相同的有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对相关技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的一种芯片检测方法的流程示意图；

图2为本发明提供的另一种芯片检测方法的流程示意图

图3为本发明提供的一种芯片检测系统的结构示意图；

图4为本发明提供的一种芯片检测装置的结构示意图；

图5为本发明提供的一种芯片检测设备的结构示意图；

图6为本发明提供的一种计算机可读存储介质的结构示意图。

具体实施方式

本发明的核心是提供一种芯片检测方法，在后序轮次的芯片测试过程中，优先对之前测试不合格的测试项展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率；本发明的另一核心是提供一种芯片检测装置、设备及计算机可读存储介质，在后序轮次的芯片测试过程中，优先对之前测试不合格的测试项展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图1，图1为本发明提供的一种芯片检测方法的流程示意图，该芯片检测方法包括：

S101：在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；

具体的，考虑到如上背景技术中的技术问题，又结合考虑到对同一批次的大量芯片需要划分多个轮次进行测试，前序轮次的测试结果中的问题测试项很有可能在同批次的后续轮次中再次出现，因此本发明实施例中欲基于任意轮次的芯片测试中的测试结果，提升不合格测试项在后续测试轮次中被随机选中的概率，从而使得后续轮次的测试过程中，更有可能及早的发现问题，从上述原理可以看出，在任一轮次的测试过程中，本发明都可以随机的选取一个测试项作为目标测试项，然后展开对该轮次芯片的目标测试项的测试，从而逐个测试项地完成本轮次的芯片测试，因此本步骤中首先在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项，以便作为后续步骤的数据基础。

其中，值得一提的是，单一批次中的芯片数量较多，而同时支持芯片测试的数量又有限，因此对于单一批次的芯片可能需要多轮测试才能完成；测试项概率分布中包括各个该批次芯片的各个测试项被随机选中的概率，第一轮测试所对应的各个测试项被随机选中的概率可以相等；在进行单轮次测试的过程中，被随机选中过的测试项不会再次被随机选中，以防对于相同测试项进行重复测试。

S102：对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试并判断目标测试项是否测试合格；

具体的，在选取出目标测试项后，便可以对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试，本发明实施例还可以对测试结果进行判断从而基于不同的判断结果触发后续不同的步骤。

S103：若不合格，则按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕，若未测试完毕，执行S101，若测试完毕，执行S104；

具体的，考虑到本发明实施例中的主要原理即为对下一轮次对应的测试项概率分布中，不合格测试项被随机选中的概率进行提升，因此本步骤中便可以在判断结果为不合格时，按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，目标测试项被随机选中的概率；同时考虑到单轮测试中的测试项需要逐个进行，因此可以判断当前轮次是否测试完毕，以便触发后续步骤。

具体的，也正是由于调整了下一轮次对应的测试项概率分布中，目标测试项被随机选中的概率，那么在下一轮次进行测试的过程中，便有可能优先对目标测试项进行测试，如果该批次芯片的目标测试项的确都容易出现问题，那么变有利于及早发现下一轮次芯片的问题，提升了芯片检测效率。

其中，预设规则可以为多种类型，例如可以为：将目标测试项被随机选中的概率提升预设百分比(例如可以为5％)，将除目标测试项之外的所有测试项被随机选中的概率降低5％/n(n为该批次芯片的测试项总数)，从而在保持所有测试项被随机选中概率之和为1的基础上，提升目标测试项被随机选中的概率。

当然，除了上述具体实例外，预设规则还可以为其他具体形式，本发明实施例在此不做限定。

具体的，在没有测试完毕的情况下，便可以确定对于指定批次芯片当前轮次测试中的下一个目标测试项。

S104：对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；

其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值。

具体的，在测试完毕的情况下，便可以展开对于指定批次芯片的下一轮的待测芯片的测试，直至最终轮次便可以完成测试。

其中，当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值指的是该轮测试开始测试时所使用的测试项概率分布；当前轮次测试的测试项概率分布的初始值指的是某轮测试对应的测试项概率分布在第一次被修改之前的数值。

本发明提供了一种芯片检测方法，考虑到对同一批次的大量芯片需要划分多个轮次进行测试，前序轮次的测试结果中的问题测试项很有可能在同批次的后续轮次中再次出现，因此本发明可以在发现某一轮次的某一测试项不合格时，便可以提升该测试项在后续轮次中被随机选中的概率，如此一来，下一轮次的测试过程便可能提早对“在前序轮次中测试不合格的测试项”展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率。

作为一种可选的实施例，对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试并判断目标测试项是否测试合格包括：

将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号；

根据响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格。

具体的，为了更好地对本发明实施例进行说明，请参考图2以及图3，图2为本发明提供的另一种芯片检测方法的流程示意图，图3为本发明提供的一种芯片检测系统的结构示意图。在图2中，随机激励也即指随机选定的目标测试项对应的激励信号，待测芯片输出的响应信号可以通过损失函数来评估是否符合预期(也即评估目标测试项是否合格)，符合预期时可以返回再次随机选择目标测试项并确定对应的激励信号，如果不符合预期则可以通过“结果记录”功能记录当前目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理，“校准以及比重调整”则指的是“按照预设规则提升下一轮测试对应的测试项概率分布中，目标测试项被随机选中的概率”，然后再次选择本轮测试项中的下一个目标测试项及其对应的激励信号；信号监测则指的是获取待测芯片针对目标测试项的激励信号输出的响应信号中具备指定特性的信号，并进行保存。在图3中，激励模块对应产生图2中的激励信号，对比模块对应于图2中通过损失函数进行是否符合预期的判断，存储模块对应实现图2中结果记录功能，校准模块对应实现图2中的校准“校准及比重调整”功能，监测模块则对应实现图2中的信号监测功能。

具体的，芯片的具体测试过程可以是将测试项对应的激励信号输入至芯片，并根据芯片的响应信号与对应预期值的对比，来判断该测试项是否测试合格，因此本发明实施例中可以将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号，然后根据响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格。

具体的，在展开对于整个批次的待测芯片的测试之前，还可以将各个测试项对应的激励信号以及响应信号范围，按照管脚，位宽，频率等分类，编写入特定文件中，从而在测试过程中通过对该文件的解析，成功将测试项对应的激励信号输送到各个待测信号并获得响应信号。

其中，预设损失函数可以为MSE(Mean Square Error，均方差)损失函数，具体表达为：

其中，MSE为单轮测试的所有待测芯片关于目标测试项的均方差值，n为单轮测试所有待测芯片(输出响应信号)的总数，i表示在目标测试项测试时，单轮测试所有待测芯片输出的所有响应信号的次序，f(x)表示待测芯片的响应信号，y代表与响应信号对应的预期值。

具体的，关于均方差损失函数的应用时，可以基于单轮测试所有待测芯片针对同一测试项(的激励信号)的响应信号及其预期值，得到单轮测试所有待测芯片针对同一测试项的MSE值，然后通过将MSE值与预设阈值进行比较，如果大于预设阈值，则说明单轮测试所有待测芯片针对同一测试项(的激励信号)的响应信号及其预期值的整体偏差较大，单轮测试所有待测芯片针对同一测试项整体合格，否则说明整体偏差较小，单轮测试所有待测芯片针对同一测试项整体不合格；当然，还可以针对单轮测试中单个待测芯片针对目标测试项(的激励信号)的响应信号及其预期值得到方差，也即(f(x)-y)

作为一种可选的实施例，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若不合格，则记录当前目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理。

具体的，考虑到为了对于不合格测试项进行处理，工作人员可能需要用到不合格测试项的指定信息，因此本发明实施例中在判定当前轮次的待测芯片的目标测试项不合格后，可以记录当前目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理。

作为一种可选的实施例，指定信息包括不合格待测芯片的身份标识、当前目标测试项的激励信号、不合格待测芯片对于当前目标测试项的激励信号的响应信号以及响应信号对应的预期值。

具体的，不合格待测芯片的身份标识、当前目标测试项的激励信号、不合格待测芯片对于当前目标测试项的激励信号的响应信号以及响应信号对应的预期值可以全面的表征出测试不合格的待测芯片及其对应的相关信号，以便工作人员快速的进行问题分析处理。

当然，除了该具体形式外，指定信息还可以为其他信息组合，本发明实施例在此不做限定。

作为一种可选的实施例，根据响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若合格，则执行在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；

控制提示器提示目标测试项是否测试合格的判断结果。

具体的，考虑到测试项合格的情况下，同样需要对该轮次中其余未测试的测试项进行测试，因此本发明实施例中在目标测试项合格的情况下，也可以执行在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤。

其中，为了便于工作人员及时获知每个测试项的测试结果，本发明实施例中还可以控制提示器提示目标测试项是否测试合格的判断结果。

其中，提示器可以为多种类型，例如可以为显示器或者语音播报器等，本发明实施例在此不做限定。

作为一种可选的实施例，将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号之后，该芯片检测方法还包括：

获取当前轮次的待测芯片的响应信号中具备指定特性的信号，并进行保存。

具体的，考虑到待测芯片的响应信号中包括大量信号，而工作人员可能对其中部分信号需要重点关注，因此为了便于工作人员快速获取到重点关注的信号，因此本发明实施例中可以将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号之后，获取当前轮次的待测芯片的响应信号中具备指定特性的信号，并进行保存。

其中，指定特性可以为多种具体形式，例如可以为指定电平状态(高/低)的持续时长大于预设时长阈值等，本发明实施例在此不做限定。

作为一种可选的实施例，应用于处理器；

处理器与待测芯片位于同一块电路板。

具体的，考虑到电路板内部走线的信号传输速率较高，因此本发明实施例中的芯片检测方法可以应用于处理器中，且处理器与待测芯片位于同一块电路板，因此涉及到的信号传输可以通过电路板内部走线进行高速传输，简化了电路板上的模块与外部计算机的链接关系，从而极大程度上消除了由于传输数据线以及传输速率的限制从而导致的芯片检测效率低下的问题，能够进一步提升芯片检测效率。

请参考图4，图4为本发明提供的一种芯片检测装置的结构示意图，该芯片检测装置包括：

选择模块41，用于在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；

测试模块42，用于对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试并判断目标测试项是否测试合格，若不合格，则触发调整模块43；

调整模块43，用于按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕，若未测试完毕，触发选择模块41，若测试完毕，触发执行模块44；

执行模块44，用于执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；

其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值。

对于本发明实施例提供的芯片检测装置的介绍请参照前述的芯片检测方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。

请参考图5，图5为本发明提供的一种芯片检测设备的结构示意图，该芯片检测设备包括：

存储器51，用于存储计算机程序；

处理器52，用于执行计算机程序时实现如前述实施例中芯片检测方法的步骤。

具体的，存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机可读指令，该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机可读指令的运行提供环境。处理器执行存储器中保存的计算机程序时，可以实现以下步骤：在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试并判断目标测试项是否测试合格；若不合格，则按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕；若未测试完毕，执行在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；若测试完毕，执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值。

本发明提供了一种芯片检测设备，考虑到对同一批次的大量芯片需要划分多个轮次进行测试，前序轮次的测试结果中的问题测试项很有可能在同批次的后续轮次中再次出现，因此本发明可以在发现某一轮次的某一测试项不合格时，便可以提升该测试项在后续轮次中被随机选中的概率，如此一来，下一轮次的测试过程便可能提早对“在前序轮次中测试不合格的测试项”展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试并判断目标测试项是否测试合格包括：

将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号；

根据响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若不合格，则记录当前目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：指定信息包括不合格待测芯片的身份标识、当前目标测试项的激励信号、不合格待测芯片对于当前目标测试项的激励信号的响应信号以及响应信号对应的预期值。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：根据响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若合格，则执行在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；

控制提示器提示目标测试项是否测试合格的判断结果。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号之后，该芯片检测方法还包括：

获取当前轮次的待测芯片的响应信号中具备指定特性的信号，并进行保存。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：应用于处理器；

处理器与待测芯片位于同一块电路板。

对于本发明实施例提供的芯片检测设备的介绍请参照前述的芯片检测方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。

请参考图6，图6为本发明提供的一种计算机可读存储介质的结构示意图，计算机可读存储介质60上存储有计算机程序61，计算机程序61被处理器52执行时实现如前述实施例中芯片检测方法的步骤。

具体的，该可读存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。该存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试并判断目标测试项是否测试合格；若不合格，则按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕；若未测试完毕，执行在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；若测试完毕，执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值。

本发明提供了一种计算机可读存储介质，考虑到对同一批次的大量芯片需要划分多个轮次进行测试，前序轮次的测试结果中的问题测试项很有可能在同批次的后续轮次中再次出现，因此本发明可以在发现某一轮次的某一测试项不合格时，便可以提升该测试项在后续轮次中被随机选中的概率，如此一来，下一轮次的测试过程便可能提早对“在前序轮次中测试不合格的测试项”展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：对当前轮次的待测芯片的目标测试项进行测试并判断目标测试项是否测试合格包括：

将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号；

根据响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若不合格，则记录当前目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：指定信息包括不合格待测芯片的身份标识、当前目标测试项的激励信号、不合格待测芯片对于当前目标测试项的激励信号的响应信号以及响应信号对应的预期值。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：根据响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：

若合格，则执行在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；

控制提示器提示目标测试项是否测试合格的判断结果。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：将当前目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号之后，该芯片检测方法还包括：

获取当前轮次的待测芯片的响应信号中具备指定特性的信号，并进行保存。

作为一种可选的实施例，处理器执行存储器中保存的计算机子程序时，可以实现以下步骤：应用于处理器；

处理器与待测芯片位于同一块电路板。

对于本发明实施例提供的计算机可读存储介质的介绍请参照前述的芯片检测方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。