语音MOS的测试方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及语音测试技术领域，尤其涉及一种语音MOS的测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

语音业务已成为移动通信中的主要业务之一，用户对语音质量的要求影响着语音业务的进步和发展，因此，建立一种高效的语音MOS测试方法对语音业务的发展至关重要。

目前，语音MOS测试主要采用异地主被叫语音MOS交替测试的方法，该方法是通过模拟用户互拨，来确定语音传输的时延等信息。

然而，该方法对于语音MOS的时延和均值方面的测试信息存在一定的差异，无法保证语音MOS测试结果的准确性。

发明内容

本申请实施例提供一种语音MOS的测试方法、装置、设备及存储介质，用以解决现有的语音测试技术中无法保证语音MOS时延和均值准确性的问题。

第一方面，本申请实施例提供一种语音MOS的测试方法，包括：

确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同；

将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值；

根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，包括：

确定目标网络、以及目标网络下的目标应用场景、第一测试设备、第二测试设备、以及第三测试设备；

获取第一测试设备在目标应用场景下进行语音模拟测试后的初始语音MOS测试结果、第一测试设备在目标应用场景下进行语音测试后的第一语音MOS测试结果、以及第二测试设备和第三测试设备在目标应用场景下进行语音测试后第二语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值，包括：

确定第一语音MOS测试结果中的第一主被叫MOS时延和第一主被叫MOS均值、以及第二语音MOS测试结果中的第二主被叫MOS时延和第二主被叫MOS均值；

将第一主被叫MOS时延与第二主被叫MOS时延进行比对，得到MOS时延差值；

将第一主被叫MOS均值与第二主被叫MOS均值进行比对，得到MOS均值差值；

根据MOS时延差值和MOS均值差值，得到测试差值。

在本申请实施例中，根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果，包括：

将初始语音测试结果中的主被叫MOS时延和测试差值中的MOS时延差值进行求和处理，得到目标MOS时延；

将初始语音测试结果中的主被叫MOS均值和测试差值中的MOS时延均值进行求和处理，得到目标MOS均值；

根据目标MOS时延和目标MOS均值，得到目标语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，当目标网络下的目标应用场景有多个时，在确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果之后，方法还包括：

根据多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，分别得到初始更新语音MOS测试结果、第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果；

将第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果进行比对，得到更新测试差值；

根据初始更新语音MOS测试结果、以及更新测试差值，得到更新目标语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，根据多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，分别得到初始更新语音MOS测试结果、第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果，包括：

对多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到初始更新语音MOS测试结果；

对多个目标应用场景下的第一语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到第一更新语音MOS测试结果；

对多个目标应用场景下的第二语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到第二更新语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，将第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试平均结果进行比对，得到更新测试差值，包括：

确定第一更新语音MOS测试结果中的第一更新主被叫MOS时延和第一更新主被叫MOS均值、以及第二更新语音MOS测试结果中的第二更新主被叫MOS时延和第二更新主被叫MOS均值；

将第一更新主被叫MOS时延和第二更新主被叫MOS时延进行比对，得到更新MOS时延差值；

将第一更新主被叫MOS均值与第二更新主被叫MOS均值进行比对，得到更新MOS均值差值；

根据更新MOS时延差值和更新MOS均值差值，得到更新测试差值。

在本申请实施例中，根据初始更新语音MOS测试结果、以及更新测试差值，得到更新目标语音MOS测试结果，包括：

将初始更新语音MOS测试结果中的更新主被叫MOS时延和更新测试差值中的更新MOS时延差值进行求和处理，得到更新目标MOS时延；

将初始更新语音测试结果中的更新主被叫MOS均值和更新测试差值中的更新MOS均值差值进行求和处理，得到更新目标MOS均值；

根据更新目标MOS时延和更新目标MOS均值，得到更新目标语音MOS测试结果。

第二方面，本申请提供一种语音MOS的测试装置，包括：

确定模块，用于确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同；

校正模块，用于将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值；

输出模块，用于根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果。

第三方面，本申请提供一种电子设备，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；

所述存储器存储计算机执行指令；

所述处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，以实现本申请实施例的方法。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，计算机执行指令被处理器执行时用于实现本申请实施例的方法。

本申请提供的语音MOS的测试方法、装置、设备及存储介质，通过确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同；将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值；根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果的手段，从而实现了在进行语音MOS测试时，准确测试语音MOS真实时延和语音质量的情况。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为本申请实施例提供的语音MOS的测试方法的流程示意图；

图2为本申请实施例提供的另一种语音MOS的测试方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的语音MOS的测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

现有技术中，在进行语音MOS测试时，一般采用异地双向交替的语音MOS测试方法，两台异地设备虽然可以进行时间同步，但由于两台设备的性能不同、以及测试过程中两台设备的时间会变得不完全同步，导致测试过程中主叫放音和被叫录音的时间不完全同步，进而导致主叫和被叫的时延误差较大。

为了解决上述问题，本申请提供的语音MOS的测试方法、装置、设备及存储介质，可以在目标网络的目标应用场景下，通过一个测试设备按照路测的方式对语音MOS主叫和被叫信息进行测试，得到模拟主被叫MOS时延和模拟主被叫MOS均值，其中主被叫MOS时延是指主叫放音时产生的时延和指被叫录音时产生的时延，主被叫MOS均值是指主叫放音时测试得到的MOS值和被叫录音时测试得到的MOS值；并通过该设备进行测试得到第一主被叫MOS时延和第一主被叫MOS均值、以及两台设备进行异地测试得到第二主被叫MOS时延和第二主被叫MOS均值；分别将第一主被叫MOS时延和第二主被叫MOS时延、第一主被叫MOS均值和第二主被叫MOS均值进行比对做差，可以得到主被叫MOS时延和主被叫MOS均值的测试差值，同时将模拟主被叫MOS时延、模拟主被叫MOS均值分别与测试差值结合，得到校正后的语音MOS测试结果，从而可以实现一台设备可以得到两台异地设备进行MOS测试时的真实语音情况，提高了语音MOS测试结果的准确性。

下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。

本申请实施例提供的语音MOS的测试方法的执行主体可以是服务器。其中，服务器可以为电脑等设备。本实施例对执行主体的实现方式不做特别限制，只要该执行主体能够确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同；将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值；根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果即可。

其中，目标网络是指运营商提供的应用于不同环境的网络。

目标应用场景是指根据运营商重点塑造的品牌形象区域所确定的口碑场景，其中，品牌形象区域包括跨省高铁、国际机场、地铁、高等校园、机场高速等区域。

MOS(Mean Opinion Score)是指一种用于衡量语音质量的标准，可以反应语音质量的好坏。

语音MOS测试结果是指通过语音MOS测试设备对语音信息传输的MOS时延和MOS均值进行测试得到的测试结果，该测试结果可以作为衡量网络质量的标准之一。

时延是指一种衡量网络质量的标准，包括语音时延、数据时延等，本申请中的时延主要指在进行语音业务测试时得到的语音时延，包括通信终端上引入的语音时延、通信终端与网络设备之间的语音时延、以及网络设备之间的语音时延。

图1为本申请实施例提供的语音MOS的测试方法的流程示意图。如图1所示，该方法可以包括：

S101、确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同。

其中，初始语音MOS测试结果是指一台设备通过路测的方式进行语音MOS测试得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值。

路测是指一种无线网络优化数据采集的方式，通过接入无线网络，使用移动网络的语音、数据等业务，实时观察业务质量，并将整个测试过程和结果进行记录。

主被叫MOS时延包括主叫MOS时延和被叫MOS时延，主叫MOS时延可以指测试设备放音时产生的时延，被叫MOS时延可以指测试设备录音时产生的时延。

MOS均值是指对进行语音MOS测试后得到的语音的质量进行确认得到的语音质量结果。

其中，在本申请实施例中，确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，包括：

确定目标网络、以及目标网络下的目标应用场景、第一测试设备、第二测试设备、以及第三测试设备；

获取第一测试设备在目标应用场景下进行语音模拟测试后的初始语音MOS测试结果、第一测试设备在目标应用场景下进行语音测试后的第一语音MOS测试结果、以及第二测试设备和第三测试设备在目标应用场景下进行语音测试后第二语音MOS测试结果。

通过选定一个可以进行语音MOS测试的网络环境，并将进行测试的网络应用场景放入该网络环境下，同时确定用于语音MOS测试的三个设备，包括独立完成语音MOS测试的第一设备、以及相互交替完成语音MOS测试的第二设备和第三设备，第二设备和第三设备为不同设备；其次，第一设备在该网络应用场景下，采用路测的方式进行语音MOS测试，可以得到实时的放音MOS时延、录音MOS时延、放音MOS均值和录音MOS均值，然后继续使用该第一设备完成该网络应用场景下的语音MOS测试，从而得到第一放音MOS时延、第一录音MOS时延、第一放音MOS均值和第一录音MOS均值，最后使用第二设备和第三设备交替完成该网络应用场景下的真实语音MOS测试，得到第二放音MOS时延、第二录音MOS时延、第二放音MOS均值和第二录音MOS均值。

S102、将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值。

其中，测试差值包括MOS时延差值和MOS均值差值，MOS时延差值是指第一主叫MOS时延和第二主叫MOS时延之间的差值、以及第一被叫MOS时延和第二被叫MOS时延之间的差值，MOS均值差值是指第一主叫MOS均值和第二主叫MOS均值之间的差值、以及第一被叫MOS均值和第二被叫MOS均值之间的差值。

通过第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果之间的测试差值，可以确定采用一台设备进行语音MOS测试得到的结果与采用两台异地设备进行语音MOS测试得到的结果之间的测试误差，该误差可用于校正一台设备的语音MOS测试结果，以便为一台设备代替两台异地设备进行语音MOS测试做准备。

其中，在本申请实施例中，将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值，包括：

确定第一语音MOS测试结果中的第一主被叫MOS时延和第一主被叫MOS均值、以及第二语音MOS测试结果中的第二主被叫MOS时延和第二主被叫MOS均值；

将第一主被叫MOS时延与第二主被叫MOS时延进行比对，得到MOS时延差值；

将第一主被叫MOS均值与第二主被叫MOS均值进行比对，得到MOS均值差值；

根据MOS时延差值和MOS均值差值，得到测试差值。

其中，根据第一设备进行语音MOS测试的结果，得到第一主叫MOS时延、第一被叫MOS时延、第一主叫MOS均值、以及第一被叫MOS均值；根据第二设备和第三设备进行语音MOS测试的结果，得到第二主叫MOS时延、第二被叫MOS时延、第二主叫MOS均值和第二被叫MOS均值；将第一主叫MOS时延和第二主叫MOS时延进行比对做差，可以确定第一设备单独测试时和第二设备第三设备一起测试时产生的主叫MOS时延差值，将第一被叫MOS时延和第二被叫MOS时延进行比对做差，可以确定第一设备单独测试时和第二设备第三设备一起测试时产生的被叫MOS时延差值；将第一主叫MOS均值和第二主叫MOS均值进行比对做差，可以确定第一设备单独测试时和第二设备第三设备一起测试时产生的主叫MOS时延均值，将第一被叫MOS均值和第二被叫MOS均值进行比对做差，可以确定第一设备单独测试时和第二设备第三设备一起测试时产生的被叫MOS均值差值；根据上述主叫时延差值、被叫时延差值、主叫均值差值和被叫均值差值，便可以得到第一设备进行语音MOS测试时与第二设备和第三设备一起进行语音MOS测试之间的测试差值，通过该测试差值可以确定一台设备进行测试与两台异地设备进行测试得到的结果之间的误差，并以一定周期进更新迭代计算，得到更新测试差值，从而保证了测试差值的准确性和可行性，以便对模拟语音MOS时延值和模拟语音MOS均值进行迭代校正。

S103、根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果。

其中，目标语音MOS测试结果是指根据主叫时延差值、被叫时延差值、主叫均值差值和被叫均值差值，分别对一台设备通过路测方式得到的主叫时延、被叫时延、主叫均值和被叫均值进行校正，从而得到的测试结果。

其中，在本申请实施例中，根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果，包括：

将初始语音MOS测试结果中的主被叫MOS时延和测试差值中的MOS时延差值进行求和处理，得到目标MOS时延；

将初始语音MOS测试结果中的主被叫MOS均值和测试差值中的MOS时延均值进行求和处理，得到目标MOS均值；

根据目标MOS时延和目标MOS均值，得到目标语音MOS测试结果。

其中，根据初始语音测试结果，确定第一设备在应用场景下进行路测后得到的主叫时延、被叫时延、主叫均值和被叫均值；将该主叫时延、被叫时延分别与测试差值中的主叫MOS时延差值、被叫MOS时延差值进行相加，可以得到经过校正后的主叫MOS时延和被叫MOS时延；将该主叫均值、被叫均值分别和测试差值中的主叫MOS均值差值、被叫MOS均值差值相加，可以得到经过校正后的主叫MOS均值和被叫MOS均值；根据校正后的主叫MOS时延、被叫MOS时延、主叫MOS均值和被叫MOS均值，便可以得到校正后的语音MOS测试结果，该语音MOS测试结果可以有效减小语音MOS测试中产生的时延误差，同时也实现了校正后测试结果的形象化呈现，提高了语音MOS测试结果的准确性。

其中，在本申请实施例中，当目标网络下的目标应用场景有多个时，在确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果之后，方法还包括：

根据多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，分别得到初始更新语音MOS测试结果、第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果；

将第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果进行比对，得到更新测试差值；

根据初始更新语音MOS测试结果、以及更新测试差值，得到更新目标语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，根据多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，分别得到初始更新语音MOS测试结果、第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果，包括：

对多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到初始更新MOS测试结果；

对多个目标应用场景下的第一语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到第一更新MOS测试结果；

对多个目标应用场景下的第二语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到第二更新MOS测试结果。

其中，当进行语音MOS测试的网络环境下有多个网络应用场景时，可以将各个网络应用场景分别放入该网络环境下，并确定用于语音MOS测试的设备，包括独立完成语音MOS测试的第一设备、以及相互交替完成语音MOS测试的第二设备和第三设备，其中，第二设备和第三设备为不同设备；其次，第一设备通过路测的方式完成各个网络应用场景下的语音模拟MOS测试，可以得到初始主被叫MOS时延和初始主被叫MOS均值，该初始主被叫MOS时延和初始主被叫MOS均值为语音MOS测试的实时结果，通过对该实时结果进行校正，可以得到误差较小的语音MOS测试结果；继续使用该第一设备完成各个网络应用场景下的真实语音MOS测试，可以得到第一主被叫MOS时延和第一主被叫MOS均值，最后使用第二设备和第三设备交替完成该网络应用场景下的真实语音MOS测试，得到第二主被叫MOS时延和第二主被叫MOS均值，该第一主被叫MOS时延、第一主被叫MOS均值与第二主被叫MOS时延和第二主被叫MOS均值之间的差值可以用于校正语音MOS实时结果。

在本申请实施例中，将第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试平均结果进行比对，得到更新测试差值，包括：

确定第一更新语音MOS测试结果中的第一更新主被叫MOS时延和第一更新主被叫MOS均值、以及第二更新语音MOS测试结果中的第二更新主被叫MOS时延和第二更新主被叫MOS均值；

将第一更新主被叫MOS时延和第二更新主被叫MOS时延进行比对，得到更新MOS时延差值；

将第一更新主被叫MOS均值与第二更新主被叫MOS均值进行比对，得到更新MOS均值差值；

根据更新MOS时延差值和更新MOS均值差值，得到更新测试差值。

其中，根据第一设备在多个应用场景下进行语音MOS测试的结果，可以得到各个应用场景下的第一主被叫MOS时延和第一主被叫MOS均值；根据第二设备和第三设备分别在各个应用场景下进行语音MOS测试的结果，可以得到各个第二主被叫MOS时延和各个第二主被叫MOS均值；分别对各个应用场景下对应的第一主被叫MOS时延和第二主被叫MOS时延进行比对做差，可以确定第一设备在各个应用场景下单独测试时和第二设备第三设备在各个应用场景下一起测试时产生的MOS时延差值；分别对各个应用场景下对应的第一主被叫MOS均值和第二主被叫MOS均值进行比对做差，可以确定第一设备单独测试时和第二设备第三设备一起测试时产生的MOS均值差值；根据MOS时延差值和MOS均值差值，便可以得到在各个应用场景下，第一设备进行语音MOS测试时与第二设备和第三设备一起进行语音MOS测试之间的测试差值。

在本申请实施例中，根据初始更新语音MOS测试结果、以及更新测试差值，得到更新目标语音MOS测试结果，包括：

将初始更新语音MOS测试结果中的更新主被叫MOS时延和更新测试差值中的更新MOS时延差值进行求和处理，得到更新目标MOS时延；

将初始更新语音MOS测试结果中的更新主被叫MOS均值和更新测试差值中的更新MOS均值差值进行求和处理，得到更新目标MOS均值；

根据更新目标MOS时延和更新目标MOS均值，得到更新目标语音MOS测试结果。

其中，根据第一设备在各个应用场景下进行语音模拟测试，可以确定各个主被叫MOS时延和各个主被叫MOS均值，根据各个应用场景，将各个主被叫MOS时延分别与测试差值中的MOS时延差值相加，可以对各个主被叫MOS时延进行误差校正，从而得到经过校正后的MOS时延；根据各个应用场景，将各个主被叫MOS均值分别与测试差值中的MOS均值差值相加，可以对各个主被叫MOS均值进行误差校正，从而得到经过校正后的MOS均值；根据校正后的MOS时延和校正后的MOS均值，便可以得到校正后的语音MOS测试结果，该语音MOS测试结果即可作为双向语音MOS的测试值。

本申请提供的语音MOS的测试方法，可以通过确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同；将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值；根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果，从而解决了现有技术中双向语音MOS测试结果时延误差较大的问题，同时，通过利用一个测试设备完成两个测试设备的测试任务，解决了双向MOS测试时无法准确得出语音传输真实情况的问题，提高了语音MOS测试结果的准确性。

图2为本申请实施例提供的另一种语音MOS的测试方法的流程示意图。如图2所示，该方法可以包括：

S201、确定语音应用场景、以及语音应用场景下的模拟语音MOS时延和模拟语音MOS均值。

其中，确定需要进行语音MOS测试的各个语音应用场景，将各个语音应用场景放在同一网络环境下，采用一台设备在各个语音应用场景下进行语音MOS模拟测试，得到模拟语音MOS时延和模拟语音MOS均值，根据模拟语音MOS时延和模拟语音MOS均值，得到各个测试场景下语音MOS的模拟测试值。

另外，由于实际日期或者天气等因素的影响，语音应用场景可能会随之发生变化，因此需要根据实际情况来实时确定进行语音MOS测试的更新语音应用场景，并在该更新语音应用场景下进行语音模拟MOS测试和语音MOS实际测试，以确保测试结果的准确性，为后续采用一个设备完成语音MOS双向测试提供更加有效的测试依据，提高了一台设备进行语音MOS测试的可行性。

S202、根据语音MOS测试场景，确定一台设备测试得到的各个语音MOS测试值、以及两台异地设备测试得到的各个语音MOS测试值，其中，语音MOS测试值包括MOS时延测试值和MOS均值测试值。

其中，两台异地设备是指两台进行异地双向语音MOS测试的设备。

在语音MOS测试场景下进行语音MOS测试，首先，采用一台设备对该语音MOS测试场景下语音MOS的第一主叫时延、第一被叫时延、以及第一主叫MOS均值和第一被叫MOS均值进行测试，得到该一台设备下的各个语音MOS测试值；其次，选取两台异地的设备对语音MOS测试场景下语音MOS的第二主叫时延、第二被叫时延、以及第二主叫MOS均值和第二被叫MOS均值进行测试，得到该两台异地设备的各个语音MOS测试值。

S203、将同一台设备的各个语音MOS测试值与两台异地设备的各个语音MOS测试值分别进行比对，得到语音MOS测试差值。

其中，根据同一台设备的各个语音MOS测试值，确定第一主叫时延、第一被叫时延、以及第一主叫MOS均值和第一被叫MOS均值；根据两台异地设备的各个语音MOS测试值，确定第二主叫时延、第二被叫时延、以及第二主叫MOS均值和第二被叫MOS均值；将第一主叫时延、第一被叫时延、以及第一主叫MOS均值和第一被叫MOS均值分别与第二主叫时延、第二被叫时延、以及第二主叫MOS均值和第二被叫MOS均值进行比对，得到语音MOS测试差值。

S204、根据语音MOS测试差值，确定语音MOS测试平均差值。

其中，根据语音MOS测试差值，得到主被叫时延的测试差值、主被叫MOS均值的测试差值；根据语音MOS测试场景，对主被叫时延的测试差值和主被叫MOS均值的测试差值分别进行加权平均处理，进而可以确定语音MOS测试平均差值。

S205、根据语音MOS模拟测试值、以及语音MOS测试平均差值，对语音MOS测试值进行校正，得到目标语音MOS测试结果。

其中，根据语音MOS模拟测试值，得到模拟语音MOS时延和模拟语音MOS均值；根据语音MOS测试平均差值，得到主被叫时延差值和主被叫MOS均值差值；将模拟语音MOS时延与主被叫时延差值进行求和处理，得到目标时延；将模拟语音MOS均值与主被叫MOS均值差值进行求和处理，得到目标MOS均值；根据目标时延和目标MOS均值，得到矫正后的语音MOS测试值。

本申请实施例提供的另一种语音MOS的测试方法，可以在同一网络环境下对各个应用场景进行语音MOS模拟测试，从而得到语音MOS模拟测试结果，同时可以进行语音MOS时延测试和语音MOS均值测试，从而得到一台设备进行语音MOS测试得到的结果和两台异地设备进行语音双向MOS测试得到的结果之间的测试差值，并根据该测试差值对语音MOS模拟测试结果进行校正处理，从而得到理想的语音MOS测试值。因此，实现了对一台设备的测试结果进行校正，从而完成两台设备双向语音测试的功能，降低了进行语音MOS测试时的时延误差，提高了语音MOS测试的准确性。

图3为本申请实施例提供的语音MOS的测试装置的结构示意图。如图3所示，该语音MOS的测试装置30包括：确定模块301、校正模块302、以及输出模块303。其中：

确定模块301，用于确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同；

校正模块302，用于将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值；

输出模块303，用于根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，确定模块301还可以具体用于：

确定目标网络、以及目标网络下的目标应用场景、第一测试设备、第二测试设备、以及第三测试设备；

获取第一测试设备在目标应用场景下进行语音模拟测试后的初始语音MOS测试结果、第一测试设备在目标应用场景下进行语音测试后的第一语音MOS测试结果、以及第二测试设备和第三测试设备在目标应用场景下进行语音测试后第二语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，校正模块302还可以具体用于：

确定第一语音MOS测试结果中的第一主被叫MOS时延和第一主被叫MOS均值、以及第二语音MOS测试结果中的第二主被叫MOS时延和第二主被叫MOS均值；

将第一主被叫MOS时延与第二主被叫MOS时延进行比对，得到MOS时延差值；

将第一主被叫MOS均值与第二主被叫MOS均值进行比对，得到MOS均值差值；

根据MOS时延差值和MOS均值差值，得到测试差值。

在本申请实施例中，输出模块303还可以具体用于：

将初始语音测试结果中的主被叫MOS时延和测试差值中的MOS时延差值进行求和处理，得到目标MOS时延；

将初始语音测试结果中的主被叫MOS均值和测试差值中的MOS时延均值进行求和处理，得到目标MOS均值；

根据目标MOS时延和目标MOS均值，得到目标语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，当目标网络下的目标应用场景有多个时，确定模块301还可以具体用于：

根据多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，分别得到初始更新语音MOS测试结果、第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果；

将第一更新语音MOS测试结果和第二更新语音MOS测试结果进行比对，得到更新测试差值；

根据初始更新语音MOS测试结果、以及更新测试差值，得到更新目标语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，当目标网络下的目标应用场景有多个时，确定模块301还可以具体用于：

对多个目标应用场景下的初始语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到初始更新语音MOS测试结果；

对多个目标应用场景下的第一语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到第一更新语音MOS测试结果；

对多个目标应用场景下的第二语音MOS测试结果进行加权求平均处理，得到第二更新语音MOS测试结果。

在本申请实施例中，当目标网络下的目标应用场景有多个时，校正模块302还可以具体用于：

确定第一更新语音MOS测试结果中的第一更新主被叫MOS时延和第一更新主被叫MOS均值、以及第二更新语音MOS测试结果中的第二更新主被叫MOS时延和第二更新主被叫MOS均值；

将第一更新主被叫MOS时延和第二更新主被叫MOS时延进行比对，得到更新MOS时延差值；

将第一更新主被叫MOS均值与第二更新主被叫MOS均值进行比对，得到更新MOS均值差值；

根据更新MOS时延差值和更新MOS均值差值，得到更新测试差值。

在本申请实施例中，当目标网络下的目标应用场景有多个时，输出模块303还可以具体用于：

将初始更新语音MOS测试结果中的更新主被叫MOS时延和更新测试差值中的更新MOS时延差值进行求和处理，得到更新目标MOS时延；

将初始更新语音MOS测试结果中的更新主被叫MOS均值和更新测试差值中的更新MOS均值差值进行求和处理，得到更新目标MOS均值；

根据更新目标MOS时延和更新目标MOS均值，得到更新目标语音MOS测试结果。

由上可知，本申请实施例的语音MOS的测试装置30由确定模块301，用于确定目标网络下的目标应用场景、以及目标应用场景下的初始语音MOS测试结果、第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果，其中，初始语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音模拟测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第一语音MOS测试结果为使用第一测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二语音MOS测试结果为使用第二测试设备和第三测试设备进行语音测试后得到的主被叫MOS时延和主被叫MOS均值，第二测试设备和第三测试设备不同；校正模块302，用于将第一语音MOS测试结果和第二语音MOS测试结果进行比对，得到测试差值；输出模块303，用于根据初始语音MOS测试结果、以及测试差值，得到目标语音MOS测试结果。由此，通过一个设备进行语音MOS测试与两个不同设备进行语音MOS测试之间的测试差值，来对模拟语音MOS测试结果进行校正，使得语音MOS测试得到的结果更加准确，解决了语音双向MOS测试结果误差较大的问题，为简化语音MOS测试设备提供了测试依据。

图4为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。如图4所示，该电子设备40包括：

该电子设备40可以包括一个或者一个以上处理核心的处理器401、一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器402、通信部件403等部件。其中，处理器401、存储器402以及通信部件403通过总线404连接。

在具体实现过程中，至少一个处理器401执行存储器402存储的计算机执行指令，使得至少一个处理器401执行如上的语音MOS的测试方法。

处理器401的具体实现过程可参见上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，本实施例此处不再赘述。

在上述的图4所示的实施例中，应理解，处理器可以是中央处理单元(英文：Central Processing Unit，简称：CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(英文：Digital Signal Processor，简称：DSP)、专用集成电路(英文：Application SpecificIntegrated Circuit，简称：ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成，或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。

存储器可能包含高速存储器(Random Access Memory，RAM)，也可能还包括非易失性存储器(Non-volatile Memory，NVM)，例如至少一个磁盘存储器。

总线可以是工业标准体系结构(Industry Standard Architecture，ISA)总线、外部设备互连(Peripheral Component，PCI)总线或扩展工业标准体系结构(ExtendedIndustry Standard Architecture，EISA)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，本申请附图中的总线并不限定仅有一根总线或一种类型的总线。

在一些实施例中，还提出一种计算机程序产品，包括计算机程序或指令，该计算机程序或指令被处理器执行时实现上述任一种语音MOS的测试方法中的步骤。

以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成，或通过指令控制相关的硬件来完成，该指令可以存储于一计算机可读存储介质中，并由处理器进行加载和执行。

为此，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其中存储有多条指令，该指令能够被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种语音MOS的测试方法中的步骤。

其中，该存储介质可以包括：只读存储器(ROM，Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。

根据本申请的一个方面，提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。

由于该存储介质中所存储的指令，可以执行本申请实施例所提供的任一种语音MOS的测试方法中的步骤，因此，可以实现本申请实施例所提供的任一种语音MOS的测试方法所能实现的有益效果，详见前面的实施例，在此不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求书来限制。