一种MTK耦合测试方法、系统及介质

技术领域

本申请涉及耦合测试领域，具体而言，涉及一种MTK耦合测试方法、系统及介质。

背景技术

移动通信技术不断更新，自第一代模拟无线通信系统的产生到 90 年代的第二代首批数字通信系统的普及，仅用不到十年时间，移动通信技术经历了从简单语音通信到高保密、高系统容量和支持数据传输的通信方式演变。第三代移动通信网络是一种宽带数据处理系统，能支持高速率数据传输，使得影像电话、移动互联网、大数据传输等通讯方式成为可能，再到当下用的4G 网络，它拥有更高的传输速率和更好的通信质量，也是得益于其不断的发展。同时，随着无线电通信电路和芯片的快速发展，移动通讯终端正在向便捷化、智能化、多功能化不断演进，通过MTK平台对芯片进行耦合测试，从而精准的分析耦合测试结果，现有的耦合测试方法没有对射频信号进行调制，造成射频信号在进行调制过程中的偏差较大，影响测试结果，此外在测试过程中射频信号中的噪声也会影响测试结果，造成较大的测试误差，针对上述问题，目前亟待有效的技术解决方案。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种MTK耦合测试方法、系统及介质，通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据耦合测试结果进行实时调整射频信号，从而提高耦合测试精度。

本申请实施例还提供了一种MTK耦合测试方法，包括：

获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；

根据优化信号进行调制，得到调试信号；

根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；

将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；

根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；

根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并得到测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端。

可选地，在本申请实施例所述的MTK耦合测试方法中，获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号，具体包括：

获取射频信号，并计算射频信号的频率，将射频信号的频率进行滤波，并生成波形图；

将波形图进行分析，将计算波形噪声，将波形噪声与预设的噪声进行比较，得到噪声偏差率；

若噪声偏差率大于或等于预设的噪声偏差率阈值，则生成调整信息，根据调整信息将波形图进行平滑处理；

若噪声偏差率小于预设的噪声偏差率阈值，则生成优化信号，并根据优化信号进行调制。

可选地，在本申请实施例所述的MTK耦合测试方法中，根据优化信号进行调制，得到调试信号，具体包括：

获取优化信号，将优化信号加载到高频震荡信号，进行频谱搬移，得到频谱信息；

根据频谱信息计算优化信号的幅值与频率；

将优化信号的幅值与频率计算相移信息与频移信息；

将相移信息与预设的相移信息进行比较，得到相移偏差率，根据相移偏差对优化信号的相位进行优化，得到第一优化信号；

将频移信息与预设的频移信息进行比较，得到频移偏差率，根据频移偏差率对优化信号的频率进行优化，得到第二优化信号；

将第一优化信号与第二优化信号进行融合计算，生成调制信号。

可选地，在本申请实施例所述的MTK耦合测试方法中，根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果，具体包括：

获取调试信号，根据调试信号对MTK进行耦合测试，并计算耦合功率；

将耦合功率与预设的功率进行比较，得到功率偏差；

根据功率偏差生成修正信息，根据修正信息调整调试信号的调试参数。

可选地，在本申请实施例所述的MTK耦合测试方法中，根据功率偏差生成修正信息，根据修正信息调整调试信号的调试参数之后，还包括：

根据调试参数计算调试衰减信息，将衰减信息与预设的衰减信息进行比较，得到衰减偏差率；

若衰减偏差率大于第一偏差率阈值且小于第二偏差率阈值，则生成第一调制信息，根据第一调制信息对调制参数进行第一方式调整；

若衰减偏差率大于第二偏差率阈值在，则生成第二调制信息，根据第二调制信息对调制参数进行第二方式调整。

可选地，在本申请实施例所述的MTK耦合测试方法中，根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并得到测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端，具体包括：

获取测试信息，将测试信息进行归类，得到类别信息；

根据类别信息生成对应的测试报表，并根据报表信息进行分析二次耦合后的耦合偏差；

将耦合偏差进行排序，并根据排序结果将测试报表进行整合，将整合后的测试报表传输至终端。

第二方面，本申请实施例提供了一种MTK耦合测试系统，该系统包括：存储器及处理器，所述存储器中包括MTK耦合测试方法的程序，所述MTK耦合测试方法的程序被所述处理器执行时实现以下步骤：

获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；

根据优化信号进行调制，得到调试信号；

根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；

将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；

根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；

根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端。

可选地，在本申请实施例所述的MTK耦合测试系统中，获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号，具体包括：

获取射频信号，并计算射频信号的频率，将射频信号的频率进行滤波，并生成波形图；

将波形图进行分析，将计算波形噪声，将波形噪声与预设的噪声进行比较，得到噪声偏差率；

若噪声偏差率大于或等于预设的噪声偏差率阈值，则生成调整信息，根据调整信息将波形图进行平滑处理；

若小于，则生成优化信号，并根据优化信号进行调制。

可选地，在本申请实施例所述的MTK耦合测试系统中，根据优化信号进行调制，得到调试信号，具体包括：

获取优化信号，将优化信号加载到高频震荡信号，进行频谱搬移，得到频谱信息；

根据频谱信息计算优化信号的幅值与频率；

将优化信号的幅值与频率计算相移信息与频移信息；

将相移信息与预设的相移信息进行比较，得到相移偏差率，根据相移偏差对优化信号的相位进行优化，得到第一优化信号；

将频移信息与预设的频移信息进行比较，得到频移偏差率，根据频移偏差率对优化信号的频率进行优化，得到第二优化信号；

将第一优化信号与第二优化信号进行融合计算，生成调制信号。

第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中包括MTK耦合测试方法程序，所述MTK耦合测试方法程序被处理器执行时，实现如上述任一项所述的MTK耦合测试方法的步骤。

由上可知，本申请实施例提供的一种MTK耦合测试方法、系统及介质，通过获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；根据优化信号进行调制，得到调试信号；根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端；通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据耦合测试结果进行实时调整射频信号，从而提高耦合测试精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的MTK耦合测试方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的MTK耦合测试方法的射频信号平滑处理流程图；

图3为本申请实施例提供的MTK耦合测试方法的调制信号生成方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到，相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

请参照图1，图1是本申请一些实施例中的一种MTK耦合测试方法的流程图。该MTK耦合测试方法用于终端设备中，该MTK耦合测试方法，包括以下步骤：

S101，获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号，根据优化信号进行调制，得到调试信号；

S102，根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；

S103，将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；

S104，根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；

S105，根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并得到测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端。

需要说明的是，通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据测试结果进行分析测试偏差，根据测试偏差对测试结果进行动态补偿，提高MTK耦合测试精度。

请参照图2，图2是本申请一些实施例中的一种MTK耦合测试方法的射频信号平滑处理流程图。根据本发明实施例，获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号，具体包括：

S201，获取射频信号，并计算射频信号的频率，将射频信号的频率进行滤波，并生成波形图；

S202，将波形图进行分析，将计算波形噪声，将波形噪声与预设的噪声进行比较，得到噪声偏差率；

S203，若噪声偏差率大于或等于预设的噪声偏差率阈值，则生成调整信息，根据调整信息将波形图进行平滑处理；

S204，若噪声偏差率小于预设的噪声偏差率阈值，则生成优化信号，并根据优化信号进行调制。

需要说明的是，通过对射频信号进行波形处理，从而对射频信号进行降噪，提高射频信号的精度，此外，通过对波形图进行噪声偏差分析，从而精准的对波形图进行平滑降噪处理，提高降噪精准性。

请参照图3，图3是本申请一些实施例中的一种MTK耦合测试方法的调制信号生成方法流程图。根据本发明实施例，根据优化信号进行调制，得到调试信号，具体包括：

S301，获取优化信号，将优化信号加载到高频震荡信号，进行频谱搬移，得到频谱信息，根据频谱信息计算优化信号的幅值与频率；

S302，将优化信号的幅值与频率计算相移信息与频移信息；

S303，将相移信息与预设的相移信息进行比较，得到相移偏差率，根据相移偏差对优化信号的相位进行优化，得到第一优化信号；

S304，将频移信息与预设的频移信息进行比较，得到频移偏差率，根据频移偏差率对优化信号的频率进行优化，得到第二优化信号；

S305，将第一优化信号与第二优化信号进行融合计算，生成调制信号。

需要说明的是，通过对优化信息进行频谱搬移，并计算优化信号的幅值与频率，从而可以精准的分析优化信号，使优化信号可以更好的对MTK进行耦合测试，提高测试精度。

根据本发明实施例，根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果，具体包括：

获取调试信号，根据调试信号对MTK进行耦合测试，并计算耦合功率；

将耦合功率与预设的功率进行比较，得到功率偏差；

根据功率偏差生成修正信息，根据修正信息调整调试信号的调试参数。

需要说明的是，通过不同的耦合功率可以对调试信号进行调整，并计算耦合功率，通过分析耦合功率进行调试参数的动态调整，提高调试信号的精度。

根据本发明实施例，根据功率偏差生成修正信息，根据修正信息调整调试信号的调试参数之后，还包括：

根据调试参数计算调试衰减信息，将衰减信息与预设的衰减信息进行比较，得到衰减偏差率；

若衰减偏差率大于第一偏差率阈值且小于第二偏差率阈值，则生成第一调制信息，根据第一调制信息对调制参数进行第一方式调整；

若衰减偏差率大于第二偏差率阈值在，则生成第二调制信息，根据第二调制信息对调制参数进行第二方式调整。

需要说明的是，在进行调试过程中，通过分析调试衰减信息判断调试参数的精度，不同的衰减偏差率生成不同的调制信息，从而精准的对调制参数进行调整，提高调制信号的精度。

根据本发明实施例，根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并得到测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端，具体包括：

获取测试信息，将测试信息进行归类，得到类别信息；

根据类别信息生成对应的测试报表，并根据报表信息进行分析二次耦合后的耦合偏差；

将耦合偏差进行排序，并根据排序结果将测试报表进行整合，将整合后的测试报表传输至终端。

需要说明的是，在进行耦合测试过程中会生成实时的耦合测试报表，根据耦合偏差对耦合报表进行排序，从而可以使耦合报表可以精准的反映耦合测试的精度，从而高效的对耦合测试结果进行分析。

根据本发明实施例，还包括：获取射频信号，根据射频信号对MTK耦合进行测试，并计算功耗信息；

将功耗信息与预设的功耗信息进行比较，得到功耗偏差率；

判断功耗偏差率是否大于或等于预设的功耗偏差率阈值；

若大于或等于，则生成杂散抑制信息，根据杂散抑制信息对功耗偏差进行抑制；

若小于，则根据射频信号对MTK进行耦合测试。

需要说明的是，在进行耦合测试过程中会产生一定的功耗，通过分析功耗进行判断杂散信号偏差，并根据杂散信号偏差进行纠正射频信号，从而保证测试的精度。

第二方面，本申请实施例提供了一种MTK耦合测试系统，该系统包括：存储器及处理器，存储器中包括MTK耦合测试方法的程序，MTK耦合测试方法的程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；

根据优化信号进行调制，得到调试信号；

根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；

将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；

根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；

根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端。

需要说明的是，通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据测试结果进行分析测试偏差，根据测试偏差对测试结果进行动态补偿，提高MTK耦合测试精度。

根据本发明实施例，获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号，具体包括：

获取射频信号，并计算射频信号的频率，将射频信号的频率进行滤波，并生成波形图；

将波形图进行分析，将计算波形噪声，将波形噪声与预设的噪声进行比较，得到噪声偏差率；

若噪声偏差率大于或等于预设的噪声偏差率阈值，则生成调整信息，根据调整信息将波形图进行平滑处理；

若小于，则生成优化信号，并根据优化信号进行调制。

需要说明的是，通过对射频信号进行波形处理，从而对射频信号进行降噪，提高射频信号的精度，此外，通过对波形图进行噪声偏差分析，从而精准的对波形图进行平滑降噪处理，提高降噪精准性。

根据本发明实施例，根据优化信号进行调制，得到调试信号，具体包括：

获取优化信号，将优化信号加载到高频震荡信号，进行频谱搬移，得到频谱信息；

根据频谱信息计算优化信号的幅值与频率；

将优化信号的幅值与频率计算相移信息与频移信息；

将相移信息与预设的相移信息进行比较，得到相移偏差率，根据相移偏差对优化信号的相位进行优化，得到第一优化信号；

将频移信息与预设的频移信息进行比较，得到频移偏差率，根据频移偏差率对优化信号的频率进行优化，得到第二优化信号；

将第一优化信号与第二优化信号进行融合计算，生成调制信号。

需要说明的是，通过对优化信息进行频谱搬移，并计算优化信号的幅值与频率，从而可以精准的分析优化信号，使优化信号可以更好的对MTK进行耦合测试，提高测试精度。

根据本发明实施例，根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果，具体包括：

获取调试信号，根据调试信号对MTK进行耦合测试，并计算耦合功率；

将耦合功率与预设的功率进行比较，得到功率偏差；

根据功率偏差生成修正信息，根据修正信息调整调试信号的调试参数。

需要说明的是，通过不同的耦合功率可以对调试信号进行调整，并计算耦合功率，通过分析耦合功率进行调试参数的动态调整，提高调试信号的精度。

根据本发明实施例，根据功率偏差生成修正信息，根据修正信息调整调试信号的调试参数之后，还包括：

根据调试参数计算调试衰减信息，将衰减信息与预设的衰减信息进行比较，得到衰减偏差率；

若衰减偏差率大于第一偏差率阈值且小于第二偏差率阈值，则生成第一调制信息，根据第一调制信息对调制参数进行第一方式调整；

若衰减偏差率大于第二偏差率阈值在，则生成第二调制信息，根据第二调制信息对调制参数进行第二方式调整。

需要说明的是，在进行调试过程中，通过分析调试衰减信息判断调试参数的精度，不同的衰减偏差率生成不同的调制信息，从而精准的对调制参数进行调整，提高调制信号的精度。

根据本发明实施例，根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并得到测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端，具体包括：

获取测试信息，将测试信息进行归类，得到类别信息；

根据类别信息生成对应的测试报表，并根据报表信息进行分析二次耦合后的耦合偏差；

将耦合偏差进行排序，并根据排序结果将测试报表进行整合，将整合后的测试报表传输至终端。

需要说明的是，在进行耦合测试过程中会生成实时的耦合测试报表，根据耦合偏差对耦合报表进行排序，从而可以使耦合报表可以精准的反映耦合测试的精度，从而高效的对耦合测试结果进行分析。

根据本发明实施例，还包括：获取射频信号，根据射频信号对MTK耦合进行测试，并计算功耗信息；

将功耗信息与预设的功耗信息进行比较，得到功耗偏差率；

判断功耗偏差率是否大于或等于预设的功耗偏差率阈值；

若大于或等于，则生成杂散抑制信息，根据杂散抑制信息对功耗偏差进行抑制；

若小于，则根据射频信号对MTK进行耦合测试。

需要说明的是，在进行耦合测试过程中会产生一定的功耗，通过分析功耗进行判断杂散信号偏差，并根据杂散信号偏差进行纠正射频信号，从而保证测试的精度。

本发明第三方面提供了一种计算机可读存储介质，可读存储介质中包括MTK耦合测试方法程序，MTK耦合测试方法程序被处理器执行时，实现如上述任一项的MTK耦合测试方法的步骤。

本发明公开的一种MTK耦合测试方法、系统及介质，通过获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；根据优化信号进行调制，得到调试信号；根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端；通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据耦合测试结果进行实时调整射频信号，从而提高耦合测试精度。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

或者，本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。