设备测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及测试技术领域，具体涉及一种设备测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

随着科学技术的发展，电子设备越来越受用户的欢迎。电子设备一般由内存、中央处理器以及存储介质组成，存储介质一般用户保存电子设备的数据。

存储介质中存储的一些数据只允许被使用而不允许被修改，因此，在开发的过程中，需要对存储介质的写保护能力进行测试。目前，一般是手动对存储介质的写保护能力进行测试，效率较低，成本较高。

发明内容

本申请实施例提供一种设备测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，可以解决测试效率低，测试成本高的技术问题。

一种设备测试方法，包括：

获取待测设备的测试指令集；

根据上述测试指令集中的读取指令，读取上述待测设备的存储介质中已存储的第一数据；

根据上述测试指令集中的更新指令，更新上述存储介质中的上述第一数据；

重启上述待测设备，并读取上述存储介质中已存储的第二数据；

若上述第一数据和上述第二数据相同，则确定上述存储介质具备写保护能力。

相应地，本申请实施例提供一种设备测试装置，包括：

获取模块，用于获取待测设备的测试指令集；

读取模块，用于根据上述测试指令集中的读取指令，读取上述待测设备的存储介质中已存储的第一数据；

更新模块，用于根据上述测试指令集中的更新指令，更新上述存储介质中的上述第一数据；

重启模块，用于重启上述待测设备，并读取上述存储介质中已存储的第二数据；

确定模块，用于若上述第一数据和上述第二数据相同，则确定上述存储介质具备写保护能力。

此外，本申请实施例还提供一种电子设备，包括处理器和存储器，上述存储器存储有计算机程序，上述处理器用于运行上述存储器内的计算机程序实现本申请实施例提供的设备测试方法。

此外，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质存储有计算机程序，上述计算机程序适于处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种设备测试方法。

此外，本申请实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本申请实施例所提供的任一种设备测试方法。

在本申请实施例中，先获取待测设备的测试指令集。然后根据测试指令集中的读取指令，读取待测设备的存储介质中已存储的第一数据。接着，根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的所述第一数据。其次，重启待测设备，并读取存储介质中已存储的第二数据。若第一数据和第二数据相同，则确定存储介质具备写保护能力。

即在本申请实施例中，通过测试指令集中的读取指令读取存储介质的第一数据，通过测试指令集中的更新指令更新第一数据，如果重启后读取的第二数据与第一数据相同，则说明存储介质具备写保护能力，从而自动对存储介质的写保护能力进行测试，无需人工手动进行测试，减少测试时间，提高测试效率，降低测试成本，并且，可以避免由人为因素导致的无效的测试结果，提高测试的有效性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的设备测试方法的流程示意图；

图2是本申请实施例提供的另一种设备测试方法的示意图；

图3是本申请实施例提供的另一种设备测试方法的流程示意图；

图4是本申请实施例提供的设备测试装置的结构示意图；

图5是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请实施例提供一种设备测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。其中，该设备测试装置可以集成在电子设备中，该电子设备可以是服务器，也可以是终端等设备。

其中，服务器可以是独立的物理服务器，也可以是多个物理服务器构成的服务器集群或者分布式系统，还可以是提供云服务、云数据库、云计算、云函数、云存储、网络服务、云通信、中间件服务、域名服务、安全服务、网络加速服务(Content Delivery Network，CDN)、以及大数据和人工智能平台等基础云计算服务的云服务器。

终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式计算机、智能音箱、智能手表等，但并不局限于此。终端以及服务器可以通过有线或无线通信方式进行直接或间接地连接，本申请在此不做限制。

另外，本申请实施例中的“多个”指两个或两个以上。本申请实施例中的“第一”和“第二”等用于区分描述，而不能理解为暗示相对重要性。

以下分别进行详细说明。需要说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。

在本实施例中，将从设备测试装置的角度进行描述，为了方便对本申请的设备测试方法进行说明，以下将以设备测试装置集成在终端中进行详细说明，即以终端作为执行主体进行详细说明，终端也即为待测设备。

请参阅图1，图1是本申请一实施例提供的设备测试方法的流程示意图。该设备测试方法可以包括：

S101、获取待测设备的测试指令集。

待测设备可以在接收到开始测试指令时，根据开始测试指令中的地址，获取测试设备的测试指令集。或者，可以将待测设备与测试设备进行连接，测试设备用于对待测设备进行测试。测试设备当检测到与待测设备建立连接之后，将测试指令集发送至待测设备，待测设备从而获取到测试指令集。

应理解，测试设备可以确定待测设备的类型，然后将待测设备的类型对应的测试指令集发送至待测设备。一种类型的待测设备可以对应一种测试指令集，使得无需创建较多的测试指令集，提高测试效率，降低成本。

S102、根据测试指令集中的读取指令，读取待测设备的存储介质中已存储的第一数据。

因为存储介质中一些数据只允许被读取而不允许被修改，所以，在测试存储介质的写保护能力的过程中，需要先读取存储介质中已经存储的第一数据，用于后续进行比对。所以，在测试指令集中设置读取指令，使得待测设备在运行测试指令集的过程中，可以根据测试指令集中的读取指令，读取存储介质中的第一数据。

存储介质可以包括：只读存储器(ROM，Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。

S103、根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的第一数据。

在读取第一数据之后，要测试第一数据是否被更新，则还需要对第一数据进行更新。因此，测试指令集中包括了更新指令，使得待测设备在运行测试指令集的过程中，可以根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的第一数据。

其中，更新指令可以为修改指令、写入指令以及删除指令等。修改指令指将存储介质中的数据A修改为数据B，写入指令指将新的数据存储至存储介质中。删除指令指删除存储介质中已经存储的数据。

当更新指令为写入指令时，根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的第一数据，包括：

根据测试指令集中的写入指令，将测试指令集中的重写数据存储至存储介质中，以更新存储介质中的第一数据。

可选地，在对第一数据进行更新之后，可以得到第三数据，可以将第三数据进行存储，以便当测试失败时，可以根据第三数据进行分析。

S104、重启待测设备，并读取存储介质中已存储的第二数据。

当存储介质具备写保护能力时，待测设备在读取到存储介质已经存储的第一数据以及对第一数据进行更新之后，如果进行重启，则可以对存储介质中存储的数据进行还原。因此，待测设备在读取到存储介质已经存储的第一数据以及对第一数据进行更新之后，可以自行进行重启，并在重启完成之后，读取存储介质中的第二数据。

S105、若第一数据和第二数据相同，则确定存储介质具备写保护能力。

如果第一数据和第二数据相同，说明存储介质中存储的数据没有被修改，则可以确定存储介质具备写保护能力，写保护能力指数据被读取但不被修改的能力。

如果第一数据和第二数据不相同，说明存储介质中存储的数据已经被修改，则可以确定存储介质不具备写保护能力。

由以上可知，在本申请实施例中，先获取待测设备的测试指令集。然后根据测试指令集中的读取指令，读取待测设备的存储介质中已存储的第一数据。接着，根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的所述第一数据。其次，重启待测设备，并读取存储介质中已存储的第二数据。若第一数据和第二数据相同，则确定存储介质具备写保护能力。

即在本申请实施例中，通过测试指令集中的读取指令读取存储介质的第一数据，通过测试指令集中的更新指令更新第一数据，如果重启后读取的第二数据与第一数据相同，则说明存储介质具备写保护能力，从而自动对存储介质的写保护能力进行测试，无需人工手动进行测试，减少测试时间，提高测试效率，降低测试成本，并且，可以避免由人为因素导致的无效的测试结果，提高测试的有效性。

为了方便对存储介质的管理，可以对存储介质进行划分，得到存储介质对应的各个分区。所以，在一些实施例中，获取待测设备的测试指令集，包括：

确定待测设备中存储介质的分区标识列表；

获取分区标识列表中标识对应的测试指令集。

因为不同存储介质的分区不相同，因此，可以指获取待测设备中存储介质包括的分区的测试指令集。其中，可以是一个分区对应一个测试指令集。

分区可以为Modem分区、bootloader分区、boot分区、recoverty分区、system分区或者data分区等。

需要说明的是，待测设备可以一次性获取存储介质的全部分区的测试指令集。或者，待测设备也可以一次只获取一个分区的测试指令集，然后在该分区作为待测分区测试完成之后，再从获取未测试的一个分区的测试指令集。

当存储介质包括各个分区时，可以分别对各个分区进行测试，然后再根据各个分区的测试结果确定存储介质的写保护能力。所以，在另一些实施例中，根据测试指令集中的读取指令，读取待测设备的存储介质中已存储的第一数据，根据测试指令集中的写入指令，将测试指令集中的重写数据存储至存储介质中，包括：

根据分区标识列表，从分区中筛选出待测分区，并根据待测分区的测试指令集中的读取指令，读取待测分区中已存储的第一数据；

根据待测分区的测试指令集中的写入指令，将待测分区的测试指令集中的重写数据存储至待测分区中；

读取存储介质中已存储的第二数据，若第一数据和第二数据相同，则确定存储介质具备写保护能力，包括：

读取待测分区中已存储的第二数据；

若第一数据和第二数据相同，则确定待测分区具备写保护能力；

根据待测分区的写保护能力，确定存储介质的写保护能力。

其中，可以从分区标识列表中随机选取一个标识作为待测标识，或者，可以将分区标识列表中的第一个标识作为待测标识，又或者，也可以将分区标识列表中的最后一个标识作为待测标识。待测设备在得到待测标识之后，再将待测标识对应的分区作为待测分区。

需要说明的是，存储介质中可能存在一些不需要具备写保护能力的分区，因此，分区标识列表中可以只包括存储介质中需要具备保护写保护能力的分区的标识。

重写数据指存储至待测分区的新的数据。不同分区的重写数据可以是相同，也可以是不相同，用户可以根据实际情况进行设置，本实施例在此不做限定。

因为在实际应用场景的过程中，写入不同分区的数据可能是不相同的，所以，在测试的过程中，如果不同分区的重写数据相同，则不能更好模拟实际应用场景，写保护能力的测试结果的准确性较低。

所以，在另一些实施例中，根据待测分区的测试指令集中的写入指令，将待测分区的测试指令集中的重写数据存储至所述待测分区中，包括：

将待测分区的标识输入至测试指令集中的随机函数中进行运算，得到待测分区对应的重写数据；

根据待测分区的测试指令集中的写入指令，将重写数据存储至待测分区中。

此时，本实施例的设备测试方法可以如图2所示。在本实施例中，重写数据通过随机函数获取，则分区的重写数据是随机的，使得不同分区的重写数据是不同的，从而使得可以更好模拟实际应用场景，提高写保护能力的测试结果的准确性。

应理解，测试指令集中也可以直接包括待测分区的重写数据，即测试设备从待测设备中获取到分区标识列表之后，可以根据分区标识列表中标识，通过随机函数，生成各个分区的重写数据，然后待测设备在获取到测试指令集之后，直接将根据待测分区的测试指令集中的写入指令，将重写数据存储至待测分区中。

可选地，由于不同分区的测试时间是不相同的，因此，在另一些实施例中，根据待测分区的测试指令集中的写入指令，将待测分区的测试指令集中的重写数据存储至所述待测分区中，包括：

将当前时间输入至测试指令集中的随机函数中进行运算，得到待测分区对应的重写数据；

根据待测分区的测试指令集中的写入命令，将重写数据存储至待测分区中。

在本实施例中，重写数据通过随机函数获取，则重写数据是随机的，而不同分区的测试时间不相同，使得不同时间的重写数据是不同的，从而使得不同分区的重写数据相同，进而使得可以更好模拟实际应用场景，提高写保护能力的测试结果的准确性。

当从分区中筛选出待测分区之后，如果分区中还存在待测分区，则需要返回执行根据分区标识列表，从分区中筛选出待测分区的步骤。所以，当从分区中筛选出待测分区之后，可以将分区标识列表中的待测标识进行标记，以使返回执行根据分区标识列表，从分区中筛选出待测分区的步骤时，待测设备可以将分区标识列表中没有标记的标识，作为新的待测标识，并将新的待测标识对应的分区作为新的待测分区。

然而，如果将分区标识列表中的待测标识进行标记，则终端从分区标识列表中筛选出待测标识时，需要对分区标识列表进行遍历，耗费的时间较长，效率较低。

所以，在另一些实施例中，在若第一数据和第二数据相同，则确定待测分区具备写保护能力之后，还包括：

删除待测分区在分区标识列表中对应的标识，并确定分区标识列表的状态；

若分区标识列表的状态为非空白状态，则返回执行根据分区标识列表，从分区中筛选出待测分区的步骤；

根据待测分区的写保护能力，确定存储介质的写保护能力，包括：

若分区标识列表的状态为空白状态，则根据待测分区的写保护能力，确定存储介质的写保护能力。

在本实施例中，当对待测分区的测试完成时，可以删除待测分区在分区标识列表中对应的标识，即当一个分区在分区标识列表中没有存在对应的标识时，说明该分区的测试已经完成，也即是，当分区标识列表中没有包括标识时，意味着存储介质的全部分区的测试均已经完成。

因此，当对待测分区的测试完成时，待测设备可以确定分区标识列表的状态，如果分区标识列表的状态为空白状态，意味着分区标识列表中没有包括标识，说明存储介质的全部分区的测试均已经完成，所以，此时可以根据各个待测分区的写保护能力，确定存储介质的写保护能力。

如果分区标识列表的状态为非空白状态，意味着还存在没有测试的分区，此时，返回执行根据分区标识列表，从分区中筛选出待测分区的步骤。

在本实施例中，将待测分区在分区标识列表中对应的标识进行删除，使得待测设备可以根据分区标识列表的状态确定存储介质是否还存在未测试的分区，无需通过遍历分区标识列表的方式，确定存储介质是否还存在未测试的分区，较为快速，从而提高测试效率。

并且，由于待测分区在分区标识列表中对应的标识进行被删除，也即是，分区标识列表中的标识对应的分区均为未测试的分区，此时，待测分区可以从分区标识列表中任意选取一个标识作为新的待测标识，无需去遍历已经测试完成的待测分区的标识，使得可以更加快速地得到新的待测标识，从而提高测试效率。

在对分区进行测试的过程中，不但可以对分区的写保护能力进行测试，而且可以对分区对按键动作的响应能力进行测试。比如，当触发电源键进行开机时，运行boot分区中存储的数据，从而完成开机。如果不能boot分区中存储的数据，即boot分区不能响应电源键的触发操作，则不能开机。

因此，在另一些实施例中，在若第一数据和第二数据相同，则确定待测分区具备写保护能力之后，还包括：

根据待测分区的测试指令集，执行待测分区的按键动作；

基于待测分区的按键动作，运行待测分区中的数据，得到待测分区对按键动作的响应能力。

其中，测试指令集可以包括命令集和用例集，命令集用于测试分区的写保护能力，用例集用于测试分区对按键动作的响应能力。

需要说明的是，待测设备对待测分区的写保护能力的测试完成之后，可以测试待测分区对按键动作的响应能力，然后再接着测试新的待测分区的写保护能力。

并且，每当一个待测分区的测试完成之后，可以将该待测分区的测试结果(包括写保护能力的测试结果和对按键动作的响应能力的测试结果)存在至测试报告中。

当存储介质的全部分区的测试均完成之后，可以自动发送邮件通知工作人员，邮件内容可以包括测试内容、测试结果以及测试包括等，此时，本实施例中的设备测试方法可以如图3所示。

在本实施例中，自动生成测试报告以及将测试报告发送至工作人员，从而使得整个测试过程自动化，进而提高测试效率。

为便于更好的实施本申请实施例提供的设备测试方法，本申请实施例还提供一种基于上述设备测试方法的装置。其中名词的含义与上述设备测试方法中相同，具体实现细节可以参考方法实施例中的说明。

例如，如图4所示，该设备测试装置可以包括：

获取模块401，用于获取待测设备的测试指令集。

读取模块402，用于根据测试指令集中的读取指令，读取待测设备的存储介质中已存储的第一数据。

更新模块403，用于根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的所述第一数据。

重启模块404，用于重启待测设备，并读取存储介质中已存储的第二数据。

确定模块405，用于若第一数据和所述第二数据相同，则确定存储介质具备写保护能力。

可选地，更新指令为写入指令。相应地，更新模块403具体用于执行：

根据测试指令集中的写入指令，将测试指令集中的重写数据存储至存储介质中，以更新存储介质中的第一数据。

可选地，存储介质包括至少两个分区。

相应地，获取模块401具体用于执行：

确定待测设备中存储介质的分区标识列表；

获取分区标识列表中标识对应的测试指令集。

可选地，读取模块402具体用于执行：

根据分区标识列表，从分区中筛选出待测分区，并根据待测分区的测试指令集中的读取指令，读取待测分区中已存储的第一数据。

更新模块403具体用于执行：

根据待测分区的测试指令集中的写入指令，将待测分区的测试指令集中的重写数据存储至待测分区中。

重启模块404具体用于执行：

读取待测分区中已存储的第二数据。

确定模块405具体用于执行：

若第一数据和所述第二数据相同，则确定待测分区具备写保护能力；

根据待测分区的写保护能力，确定存储介质的写保护能力。

可选地，该设备测试装置还包括：

删除模块，用于执行：

删除待测分区在分区标识列表中对应的标识，并确定分区标识列表的状态；

若分区标识列表的状态为非空白状态，则返回执行根据分区标识列表，从分区中筛选出待测分区的步骤。

相应地，确定模块405具体用于执行：

若分区标识列表的状态为空白状态，则根据待测分区的写保护能力，确定存储介质的写保护能力。

更新模块403具体用于执行：

将待测分区的标识输入至测试指令集中的随机函数中进行运算，得到待测分区对应的重写数据；

根据待测分区的测试指令集中的写入指令，将重写数据存储至待测分区中。

可选地，该设备测试装置还包括：

按键测试模块，用于执行：

根据待测分区的测试指令集，执行待测分区的按键动作；

基于待测分区的按键动作，运行待测分区中的数据，得到待测分区对按键动作的响应能力。

具体实施时，以上各个模块可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个模块的具体实施方式以及对应的有益效果可参见前面的方法实施例，在此不再赘述。

本申请实施例还提供一种电子设备，该电子设备可以是服务器或终端等，如图5所示，其示出了本申请实施例所涉及的电子设备的结构示意图，具体来讲：

该电子设备可以包括一个或者一个以上处理核心的处理器501、一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器502、电源503和输入单元504等部件。本领域技术人员可以理解，图5中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：

处理器501是该电子设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储器502内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器502内的数据，执行电子设备的各种功能和处理数据。可选的，处理器501可包括一个或多个处理核心；优选的，处理器501可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器501中。

存储器502可用于存储计算机程序以及模块，处理器501通过运行存储在存储器502的计算机程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储器502可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的计算机程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等；存储数据区可存储根据电子设备的使用所创建的数据等。此外，存储器502可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储器502还可以包括存储器控制器，以提供处理器501对存储器502的访问。

电子设备还包括给各个部件供电的电源503，优选的，电源503可以通过电源管理系统与处理器501逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源503还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。

该电子设备还可包括输入单元504，该输入单元504可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。

尽管未示出，电子设备还可以包括显示单元等，在此不再赘述。具体在本实施例中，电子设备中的处理器501会按照如下的指令，将一个或一个以上的计算机程序的进程对应的可执行文件加载到存储器502中，并由处理器501来运行存储在存储器502中的计算机程序，从而实现各种功能，比如：

获取待测设备的测试指令集；

根据测试指令集中的读取指令，读取待测设备的存储介质中已存储的第一数据；

根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的第一数据；

重启待测设备，并读取存储介质中已存储的第二数据；

若第一数据和第二数据相同，则确定存储介质具备写保护能力。

以上各个操作的具体实施方式以及对应的有益效果可参见上文对设备测试方法的详细描述，在此不作赘述。

本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过计算机程序来完成，或通过计算机程序控制相关的硬件来完成，该计算机程序可以存储于一计算机可读存储介质中，并由处理器进行加载和执行。

为此，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其中存储有计算机程序，该计算机程序能够被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种设备测试方法中的步骤。例如，该计算机程序可以执行如下步骤：

获取待测设备的测试指令集；

根据测试指令集中的读取指令，读取待测设备的存储介质中已存储的第一数据；

根据测试指令集中的更新指令，更新存储介质中的第一数据；

重启待测设备，并读取存储介质中已存储的第二数据；

若第一数据和第二数据相同，则确定存储介质具备写保护能力。

以上各个操作的具体实施方式以及对应的有益效果可参见前面的实施例，在此不再赘述。

其中，该计算机可读存储介质可以包括：只读存储器(ROM，Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。

由于该计算机可读存储介质中所存储的计算机程序，可以执行本申请实施例所提供的任一种设备测试方法中的步骤，因此，可以实现本申请实施例所提供的任一种设备测试方法所能实现的有益效果，详见前面的实施例，在此不再赘述。

其中，根据本申请的一个方面，提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行上述设备测试方法。

以上对本申请实施例所提供的一种设备测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。