掌桥专利:专业的专利平台
掌桥专利
首页

多种SSD同时测试方法、系统及装置

文献发布时间:2024-04-18 19:58:26


多种SSD同时测试方法、系统及装置

技术领域

本申请涉及硬盘测试技术领域,具体是涉及多种SSD同时测试方法、系统及装置。

背景技术

现有技术中,SATA(Serial ATA,一种接口标准,协议层使用AHCI进行通信,数据通过SATA总线传输)SSD和PCIE(一种接口标准,协议上使用NVME进行通信,数据通过PCIE主线传输)SSD这两种硬盘需单独测试,其测试流程分别如下:

SATA SSD的测试流程如下:

1、SATA被测试固态硬盘的测试装置准备完毕。

2、对应测试端口插上SATA被测试固态硬盘被测试固态硬盘(一般有6个端口,可以同时进行6块SATA被测试固态硬盘进行性能测试)。

3、系统开机,SATA被测试固态硬盘设备进行上电,并和系统建立link。

4、软件启动,根据预设条件去查询系统的通信协议是否是AHCI模式:

4.1如果检测系统通信协议模式不是AHCI模式,直接报错退出,终止测试。

4.2如果检测系统通信协议模式是AHCI模式,跳转到步骤5。

5、检测对应端口上是否有SATA被测试固态硬盘设备:

5.1所有端口上都没有SATA被测试固态硬盘设备,软件报错退出,终止测试。

5.2端口上有符合测试的SATA被测试固态硬盘设备,跳转到步骤6。

6、软件启动成功,并检测到有需要测试的SATA被测试固态硬盘设备。

7、接收到找盘指令,进行找盘确认,并获取被测试固态硬盘的具体信息。

8、然后对设备进行读写测试。

PCIE SSD的测试流程如下:

1、PCIE被测试固态硬盘的测试装置准备完毕。

2、对应测试端口插上PCIE被测试固态硬盘被测试固态硬盘(一般有4个端口,可以同时进行4块PCIE被测试固态硬盘进行性能测试)。

3、系统开机,PCIE被测试固态硬盘设备进行上电,并和系统建立link。

4、软件启动,根据预设条件去查询系统是否有对应的上掉电串口信息:

4.1如果检测系统没有所需要的上掉电串口信息,直接报错退出,终止测试。

4.2如果检测系统有所需要的上掉电串口信息,跳转到步骤5。

5、然后对设备上的上掉电串口进行初始化:

5.1所有上掉电串口都没有初始化成功,软件报错退出,终止测试。

5.2有上掉电串口初始化成功,跳转到步骤6。

6、上掉电串口初始化成功的端口进行上下电测试:

6.1没有上掉电串口上下电测试成功的端口,软件报错退出,终止测试。

6.2有上掉电串口上下电测试成功的端口,跳转到步骤7。

7、软件启动成功,并检测到有需要测试的PCIE被测试固态硬盘设备。

8、接收到找盘指令,进行找盘确认,并获取被测试固态硬盘的具体信息。

9、然后对设备进行读写测试。

现有技术中,对于多种不同种类的固态硬盘,测试治具不统一,不同种类的SSD(Solid State Drive固态硬盘,是由若干个NAND Flash阵列组成的数据存储设备)产品需要按适配的测试治具进行性能测试,并且现有SSD产品的测试软件不能兼容不同种类的SSD产品,操作人员有时区分不清产品导致软件操作困扰问题的产生,影响SSD产品的产品性能测试效率,进而影响SSD产品的量产效率。

发明内容

本申请的目的是为了克服上述背景技术的不足,提供一种多种SSD同时测试方法、系统及装置。

第一方面,提供多种SSD同时测试方法,包括以下步骤:

搭建多种SSD同时测试的测试装置,所述测试装置的端口兼容多种SSD的插入,建立被测试固态硬盘和测试治具之间的连接;

对测试治具上的上掉电串口进行上掉电测试,获取串口的上掉电的测试结果;

当串口的上掉电测试成功时,查找被测试固态硬盘,获取被测试固态硬盘的设备种类;

根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,执行对被测试固态硬盘的性能测试操作。

根据第一方面,在第一方面的第一种实现方式中,所述对测试治具上的上掉电串口进行上掉电测试,获取串口的上掉电的测试结果步骤,具体包括以下步骤:

查找测试治具对应端口上的上掉电串口在系统中的存无工况;

当测试治具上至少存在一个上掉电串口时,对找到的上掉电串口执行初始化操作,获取初始化结果;

当初始化成功时,对初始化成功的上掉电串口执行上掉电测试,获取串口上掉电的测试结果。

根据第一方面,在第一方面的第二种实现方式中,所述当串口的上掉电测试成功时,查找被测试固态硬盘,获取被测试固态硬盘的设备种类步骤,具体包括以下步骤:

当串口的上掉电测试成功时,获取被测试固态硬盘在系统中的BUS号;

根据获取的被测试固态硬盘在系统中的BUS号,获取被测试固态硬盘的设备种类。

根据第一方面,在第三方面的第一种实现方式中,所述根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,执行对被测试固态硬盘的测试步骤,具体包括以下步骤:

根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,发送识盘命令,获取被测试固态硬盘通道的具体信息;

对获取具体信息的通道进行信息获取测试,获取该通道的信息获取的测试结果;

对通道信息获取测试成功的被测试固态硬盘的通道进行性能测试。

根据第一方面的第三种实现方式,在第一方面的第四种实现方式中,所述根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,发送识盘命令,获取被测试固态硬盘的具体信息步骤,具体包括以下步骤:

根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,发送与设备种类相对应的Identify命令进行识盘,获取Identify命令的返回工况;

当Identify命令返回成功时,获取并记录被测试固态硬盘该通道的相关信息。

根据第一方面的第一种实现方式,在第一方面的第五种实现方式中,所述对获取具体信息的通道进行信息获取测试,获取该通道的信息获取的测试结果步骤,具体包括以下步骤:

对获取具体信息的通道进行Standard SMART信息的信息获取测试;

对Standard SMART信息的信息获取成功的通道进行Internal SMART信息的获取测试;

当Internal SMART信息的获取测试成功时,判定该通道的信息获取测试成功。

根据第一方面的第三种实现方式,在第一方面的第六种实现方式中,所述对通道信息获取测试成功的被测试固态硬盘的通道进行性能测试步骤,具体包括以下步骤:

对通道信息获取测试成功的被测试固态硬盘的通道进行写测试;

对写测试成功的被测试固态硬盘的通道进行掉电测试;

对掉电测试成功的被测试固态硬盘的通道进行上电测试;

对上电测试成功的被测试固态硬盘的通道进行读测试;

当读测试通过时,判定该被测试固态硬盘的性能测试通过。

第二方面,本申请提供一种多种SSD同时测试系统,包括:

连接建立模块,用于搭建多种SSD同时测试的测试装置,所述测试装置的端口兼容多种SSD的插入,建立被测试固态硬盘和测试治具之间的连接;

上掉电串口查找模块,与所述连接建立模块通信连接,用于查找测试治具对应端口上的上掉电串口在系统中的存无工况;

初始化结果获取模块,与所述上掉电串口查找模块通信连接,用于当测试治具上至少存在一个上掉电串口时,对找到的上掉电串口执行初始化操作,获取初始化结果;

串口测试结果获取模块,与所述连接建立模块通信连接,用于对测试治具上的上掉电串口进行上掉电测试,获取串口的上掉电的测试结果

设备种类获取模块,与所述串口测试结果获取模块通信连接,用于当串口的上掉电测试成功时,查找被测试固态硬盘,获取被测试固态硬盘的设备种类;

性能测试模块,与所述设备种类获取模块通信连接,用于根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,执行对被测试固态硬盘的性能测试操作。

根据第二方面,在第二方面的第一种实现方式中,所述设备种类获取模块包括:

BUS号获取单元,用于当串口的上掉电测试成功时,获取被测试固态硬盘在系统中的BUS号;

设备种类获取单元,与所述BUS号获取单元通信连接,用于根据获取的被测试固态硬盘在系统中的BUS号,获取被测试固态硬盘的设备种类。

第三方面,本申请还提供了一种应用于如上所述的多种SSD同时测试方法中的装置,包括测试治具,所述测试治具上具有多个端口,所述端口兼容多种SSD产品的接口。

与现有技术相比,本申请的优点如下:

本申请提供的多种SSD同时测试方法,通过搭建多种SSD插入进行测试的测试治具,统一测试治具,优化测试软件的测试方法,自动识别被测试固态硬盘的设备种类,操作人员无需关注被测试固态硬盘的设备种类,无需人工选择对应的测试治具,不存在测试治具和被测试设备不匹配情形,提升了SSD产品测试操作的简便性,有效提升SSD产品的测试效率,从而提升产品的量产效率。

附图说明

图1为本申请实施例提供的多种SSD同时测试方法的方法流程图;

图2为本申请实施例提供的多种SSD同时测试方法的另一方法流程图;

图3为本申请实施例提供的多种SSD同时测试系统的功能模块框图。

具体实施方式

现在将详细参照本申请的具体实施例,在附图中例示了本申请的例子。尽管将结合具体实施例描述本申请,但将理解,不是想要将本申请限于所述的实施例。相反,想要覆盖由所附权利要求限定的在本申请的精神和范围内包括的变更、修改和等价物。应注意,这里描述的方法步骤都可以由任何功能块或功能布置来实现,且任何功能块或功能布置可被实现为物理实体或逻辑实体、或者两者的组合。

为了使本领域技术人员更好地理解本申请,下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细说明。

注意:接下来要介绍的示例仅是一个具体的例子,而不作为限制本申请的实施例必须为如下具体的步骤、数值、条件、数据、顺序等等。本领域技术人员可以通过阅读本说明书来运用本申请的构思来构造本说明书中未提到的更多实施例。

现有技术中,固态硬盘量产测试中,存在以下技术问题:

1、不同种类的固态硬盘的测试治具不统一,不同的SSD种类要按适配的测试chamber进行性能测试,操作人员要根据产品种类选择对应的测试机台,运行适配的测试软件;

2、测试软件不能兼容不同SSD的测试,导致操作人员有时区分不清产品带来的操作软件的困扰,运行起来后才会发现测试软件和被测试固态硬盘不匹配,影响测试效率;

3、SATA SSD和PCIE SSD不能在同一个chamber中进行同时测试。

有鉴于此,请参考图1,本申请提供了一种多种SSD同时测试方法,包括:

步骤S1.搭建多种SSD同时测试的测试装置,所述测试装置的端口兼容多种SSD的插入,建立被测试固态硬盘和测试治具之间的连接;

步骤S2.对测试治具上的上掉电串口进行上掉电测试,获取串口的上掉电的测试结果;

步骤S3.当串口的上掉电测试成功时,查找被测试固态硬盘,获取被测试固态硬盘的设备种类;

步骤S4.根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,执行对被测试固态硬盘的性能测试操作。

本申请提供的多种SSD同时测试方法,通过搭建多种SSD插入进行测试的测试治具,统一测试治具,通过优化测试软件的测试方法,自动识别被测试固态硬盘的设备种类,执行设备测试,操作人员无需关注被测试固态硬盘的设备种类,无需人工选择对应的测试治具,不存在测试治具和被测试设备不匹配情形,使得SSD产品测试操作简便化,有效提升SSD产品的测试效率,从而提升固态硬盘产品的量产效率。

其中,所述被测试固态硬盘为SATA SSD和/或PCIE SSD。SATASSD接口为SATA接口,采用的通道也是SATA通道,第二种是PCIE SSD,其接口为M.2接口,采用的通道是PCIE通道,支持NVMe协议。

在一实施例中,所述步骤S1.搭建多种SSD同时测试的测试装置,所述测试装置的端口兼容多种SSD的插入,建立被测试固态硬盘和测试治具之间的连接,具体包括以下步骤:

在高低温温箱Chamber中放入测试治具,单个测试治具上设置多个端口,较具体地,在单个的测试治具上设置4个端口,同时进行4块被测试固态硬盘的性能测试,所述端口兼容不同种SSD产品的插入,较具体地,兼容SATA SSD和PCIE SSD两种固态硬盘产品的插入,更具体地,端口兼容SATA SSD接口和PCIE SSD产品的接口的形状即可,再将SATA SSD产品和/或PCIE SSD产品通过对应的线路与高低温温箱内的测试治具连接即可;

将测试治具的端口插入被测试固态硬盘;

将测试治具开机,被测试固态硬盘通电后建议与测试治具的连接,其中,所述连接为电连接和/或通信连接。

在一实施例中,所述步骤S2-步骤S4通过启动和运行多种SSD同时测试的测试软件实现的。

在一实施例中,所述步骤S2.对测试治具上插入被测试固态硬盘的端口的上掉电串口进行上掉电测试,获取串口的上掉电的测试结果步骤,具体包括以下步骤:

S21.查找测试治具插入被测试固态硬盘的端口上的上掉电串口在系统中的存无工况;

S22.当测试治具上至少存在一个上掉电串口时,对找到的上掉电串口执行初始化操作,获取初始化结果;

S231.当初始化成功时,对初始化成功的上掉电串口执行上掉电测试,获取串口上掉电的测试结果;

S232.当初始化失败时,不执行后续的性能测试步骤。

本申请提供的多种SSD同时测试方法,通过搭建多种SSD产品统一的测试治具,获取测试治具的上掉电串口的上掉电测试工况,当串口的上掉电测试通过时,自动检测获取被测试固态硬盘的测试种类,并执行统一的测试方法,对不同种类的SSD产品进行性能测试,实现对多种SSD产品的统一治具统一测试方法的性能测试,有效提升产品的测试效率。

在一实施例中,所述步骤S3.当串口的上掉电测试成功时,查找被测试固态硬盘,获取被测试固态硬盘的设备种类步骤,具体包括以下步骤:

步骤S31.当串口的上掉电测试成功时,根据被测试设备在系统中的BUS号和测试治具上的端口号,根据规则进行一一对应,获取被测试固态硬盘在系统中的BUS号;

步骤S32.根据获取的被测试固态硬盘在系统中的BUS号,获取被测试固态硬盘的设备种类,通过该方法自动识别获取被测试设备的设备种类,实现在统一的测试治具上实现对不同种类的SSD产品的性能测试,改进现有的需人工在对应的治具上匹配对应种类的SSD产品的繁杂性并避免该操作的出错情形出现。

上述系统为测试软件系统。

在一较具体实施例中,请参考图2,所述步骤S4、根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,执行对被测试固态硬盘的测试步骤,具体包括以下步骤:

步骤S41、根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,发送识盘命令,获取被测试固态硬盘通道的具体信息;

步骤S421、对获取具体信息的通道进行信息获取测试,获取该通道的信息获取的测试结果;

步骤S422、对未获取到具体信息的通道,不执行后续测试操作。

步骤S43、对通道信息获取测试成功的被测试固态硬盘的通道进行性能测试。

在一实施例中,所述步骤S41.根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,发送识盘命令,获取被测试固态硬盘的具体信息步骤,具体包括以下步骤:

根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,发送与设备种类相对应的Identify命令,获取Identify命令的返回工况;

当Identify命令返回成功时,获取并记录被测试固态硬盘该通道的相关信息。

在一较具体实施例中,所述步骤S421.对获取具体信息的通道进行信息获取测试,获取该通道的信息获取的测试结果步骤,具体包括以下步骤:

对获取具体信息的通道进行Standard SMART信息的信息获取测试;

对Standard SMART信息的信息获取成功的通道进行Internal SMART信息的获取测试;

当Internal SMART信息的获取测试成功时,判定该通道的信息获取测试成功。

本申请中,所述Standard SMART信息为固态硬盘的标准SMART信息,所述InternalSMART信息为固态硬盘的非标准SMART信息或内部SMART信息。SMART信息可以最直观地反应出当前硬盘的健康状态,SMART Attribute Data中记录了硬盘运行时最重要的信息,比如当前的工作时间,通电次数,盘片温度,坏块数,寿命余量,PE数,链路错误次数,写入量,读出量等等。Standard SMART信息反应所有固态硬盘的通用健康信息,Internal SMART信息反应不同种类的固态硬盘的非通用健康信息。

在一实施例中,所述性能测试包括SSD产品的上电测试、掉电测试、读测试和写测试。

在一较具体实施例中,所述步骤S421.对通道信息获取测试成功的被测试固态硬盘的通道进行性能测试步骤,具体包括以下步骤:

对通道信息获取测试成功的被测试固态硬盘的通道进行写测试;

对写测试成功的被测试固态硬盘的通道进行掉电测试;对写测试失败的被测试固态硬盘该通道,报通道写测试失败并且不进行后续测试操作;

对掉电测试成功的被测试固态硬盘的通道进行上电测试;对掉电测试失败的被测试固态硬盘该通道,报通道掉电测试失败并且不进行后续测试操作;

对上电测试成功的被测试固态硬盘的通道进行读测试;对上电测试失败的被测试固态硬盘该通道,报通道上电测试失败并且不进行后续测试操作;

当读测试通过时,判定该被测试固态硬盘的性能测试通过;对读测试失败的被测试固态硬盘该通道不进行后续测试操作。

在一实施例中,所述对上电测试成功的被测试固态硬盘的通道进行读测试步骤之后,还包括以下步骤:

获取读测试成功的被测试固态硬盘的通道的信息获取工况,具体地,获取该通道的Standard SMART信息;

对获取Standard SMART信息成功的通道,进行Internal SMART信息获取;

对获取Standard SMART信息失败的通道,该通道测试报获取Standard SMART失败,不执行后续的Internal SMART信息获取的获取测试;

当获取Standard SMART信息成功时,获取并记录Internal SMART信息;

对获取Internal SMART信息失败的通道,该通道测试报获取Internal SMART失败,不执行后续的测试流程;

通过重复上述的SSD产品的上掉电串口测试→通道信息获取测试→SSD产品的性能测试→通道信息获取测试,完成对所有的SSD产品的性能测试,并生成产品测试报告。

基于同一发明构思,请参考图3,本申请提供了一种多种SSD同时测试系统,包括连接建立模块100、串口测试结果获取模块200、设备种类获取模块300和性能测试模块400。连接建立模块100用于搭建多种SSD同时测试的测试装置,所述测试装置的端口兼容多种SSD的插入,建立被测试固态硬盘和测试治具之间的连接;串口测试结果获取模块200与所述连接建立模块100通信连接,用于对测试治具上的上掉电串口进行上掉电测试,获取串口的上掉电的测试结果;设备种类获取模块300与所述串口测试结果获取模块200通信连接,用于当串口的上掉电测试成功时,查找被测试固态硬盘,获取被测试固态硬盘的设备种类;性能测试模块400与所述设备种类获取模块300通信连接,用于根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,执行对被测试固态硬盘的性能测试操作。

在一实施例中,所述设备种类获取模块包括BUS号获取单元和设备种类获取单元,BUS号获取单元用于当串口的上掉电测试成功时,获取被测试固态硬盘在系统中的BUS号;设备种类获取单元与所述BUS号获取单元通信连接,用于根据获取的被测试固态硬盘在系统中的BUS号,获取被测试固态硬盘的设备种类。

在一实施例中,所述性能测试模块包括信息获取单元、上掉电测试单元、通道信息获取测试单元和测试单元,所述信息获取单元用于根据获取的被测试固态硬盘的设备种类,发送识盘命令,获取被测试固态硬盘通道的具体信息;上掉电性能测试单元与所述信息获取单元通信连接,用于对信息获取成功的通道进行上掉电测试;通道信息获取测试单元,与所述上掉电测试单元通信连接,用于对获取具体信息的通道进行信息获取测试,获取该通道的信息获取的测试结果;测试单元与所述通道信息获取测试单元通信连接,对通道信息获取测试成功的被测试固态硬盘的通道进行性能测试。

基于同一发明构思,本申请还提供了一种应用于如上所述的多种SSD同时测试方法中的装置,包括测试治具,所述测试治具上具有多个端口,所述端口兼容多种SSD产品的接口,其为多种SSD同时进行测试或者称为无需关注设备种类的统一进行测试提供了硬件支撑基础。

在一实施例中,将测试治具置放于温度可控的高低温温箱中,可以通过软件控制温箱的温度,从而实现对固态硬盘在不同温度环境下的性能测试。

基于同一发明构思,本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述方法的所有方法步骤或部分方法步骤。

本申请实现上述方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,计算机程序包括计算机程序代码,计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。计算机可读介质可以包括:能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,RandomAccess Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。

基于同一发明构思,本申请实施例还提供一种电子设备,包括存储器和处理器,存储器上储存有在处理器上运行的计算机程序,处理器执行计算机程序时实现上述方法中的所有方法步骤或部分方法步骤。

所称处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等,处理器是计算机装置的控制中心,利用各种接口和线路连接整个计算机装置的各个部分。

存储器可用于存储计算机程序和/或模块,处理器通过运行或执行存储在存储器内的计算机程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,实现计算机装置的各种功能。存储器可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(例如声音播放功能、图像播放功能等);存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(例如音频数据、视频数据等)。此外,存储器可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如硬盘、内存、插接式硬盘,智能存储卡(SMARTMedia Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。

本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、服务器或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、服务器和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

相关技术
  • 基于Linux系统的SSD预处理方法及系统、性能测试方法及系统
  • 一种Dual Port SSD的SI测试方法、装置
  • 固态硬盘SSD性能测试方法和装置
  • 点播分发系统压力测试方法及装置、计算机装置及计算机存储介质
  • 支持多种接口协议的SSD测试装置、系统和方法
  • 一种支持多种SSD测试的装置、系统和方法
技术分类

06120116489796