开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质

技术领域

本发明属于开关测试技术领域，涉及一种开关测试系统，尤其涉及一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质。

背景技术

对于线圈式接近开关参数的测试，需要测出接近开关在不同温度下，在一定的距离范围内每个距离点下对应的输出电压、RP、Ls、Lp、Q值，并保存这些参数值；目前市面上没有满足这些测试要求的整套测试系统。现有测试方式通常是手动测试，或者仅针对部分功能的测试，效率较低。

有鉴于此，如今迫切需要设计一种新的开关测试方式，以便克服现有开关测试方式存在的上述至少部分缺陷。

发明内容

本发明提供一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。

为解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，采用如下技术方案：

一种开关自动测试系统，所述自动测试系统包括：上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；

所述上位机测控模块分别连接伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块，用以对所述伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块进行控制，并保存开关的测试结果；

所述伺服定位模块用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；

所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；

所述电压采集模块连接待测开关，用以对待测开关进行电压采集；

所述LCR测试模块连接待测开关，用以对待测开关的LCR参数进行测试。

作为本发明的一种实施方式，所述上位机测控模块包括：

伺服定位模块控制单元，用以通过RS485接口连接伺服，设置伺服原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存；

高低温冲击控制单元，用以控制所述高低温冲击模块对待测开关进行-40℃、25℃、150℃预设温度的加温测试；

电压采集控制单元，用以通过USB接口控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存；

LCR测试模块控制单元，用以通过USB接口控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。

作为本发明的一种实施方式，所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行-40℃、25℃、150℃加温测试。

作为本发明的一种实施方式，所述高低温冲击模块包括产生高低温冲击设备和耐高低温材料做的保温罩，通过设置高低温设备使输出-40℃、25℃、150℃气流，气流加入到保温罩中，对待测件进行温度调节，同时能采集反馈保温罩中带测件的环境温度。

根据本发明的另一个方面，采用如下技术方案：一种开关自动测试方法，所述自动测试方法包括：

伺服定位步骤；伺服定位模块固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；

高低温冲击步骤；高低温冲击模块罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；

电压采集步骤；电压采集模块对待测开关进行电压采集；

LCR测试步骤；LCR测试模块对待测开关的设定LCR参数进行测试。

作为本发明的一种实施方式，所述伺服定位步骤包括：上位机测控模块的伺服定位模块控制单元通过RS485接口连接伺服定位模块，设置原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存。

作为本发明的一种实施方式，所述电压采集步骤包括：上位机测控模块的电压采集控制单元通过USB接口控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存。

作为本发明的一种实施方式，所述LCR测试步骤包括：上位机测控模块的LCR测试模块控制单元通过USB接口控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。

根据本发明的又一个方面，采用如下技术方案：一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

根据本发明的又一个方面，采用如下技术方案：一种存储介质，其上存储有计算机程序指令，该计算机程序指令被处理器执行时实现上述方法的步骤。

本发明的有益效果在于：本发明提出的开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。

附图说明

图1为本发明一实施例中开关自动测试系统的组成示意图。

图2为本发明一实施例中开关自动测试方法的流程图。

图3为本发明一实施例中电子设备的组成示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细说明本发明的优选实施例。

为了进一步理解本发明，下面结合实施例对本发明优选实施方案进行描述，但是应当理解，这些描述只是为进一步说明本发明的特征和优点，而不是对本发明权利要求的限制。

该部分的描述只针对几个典型的实施例，本发明并不仅局限于实施例描述的范围。相同或相近的现有技术手段与实施例中的一些技术特征进行相互替换也在本发明描述和保护的范围内。

说明书中各个实施例中的步骤的表述只是为了方便说明，本申请的实现方式不受步骤实现的顺序限制。

说明书中的“连接”既包含直接连接，也包含间接连接。

本发明揭示了一种开关自动测试系统，图1为本发明一实施例中开关自动测试系统的组成示意图；请参阅图1，所述自动测试系统包括：上位机测控模块1、伺服定位模块2、高低温冲击模块3、电压采集模块4及LCR测试模块5。本发明可用于测试线圈式接近开关，也可以是其他和距离相关的感应开关。

所述上位机测控模块1分别连接伺服定位模块2、高低温冲击模块3、电压采集模块4、LCR测试模块5，用以对所述伺服定位模块2、高低温冲击模块3、电压采集模块4、LCR测试模块5进行控制，并保存开关的测试结果。

所述伺服定位模块2用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动。

所述高低温冲击模块3用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试。在一实施例中，所述高低温冲击模块3用以罩住待测开关，对待测开关进行-40℃、25℃、150℃加温测试。所述高低温冲击模块3包括产生高低温冲击设备和耐高低温材料做的保温罩，通过设置高低温设备使输出-40℃、25℃、150℃气流，气流加入到保温罩中，对待测件进行温度调节，同时能采集反馈保温罩中带测件的环境温度。

所述电压采集模块4连接待测开关，用以对待测开关进行电压采集。所述LCR测试模块5连接待测开关，用以对待测开关的LCR参数进行测试。

在本发明的一实施例中，所述上位机测控模块1包括：伺服定位模块控制单元11、高低温冲击控制单元12、电压采集控制单元13、LCR测试模块控制单元14。

所述伺服定位模块控制单元11用以通过RS485接口连接伺服，设置伺服原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存。所述高低温冲击控制单元12用以控制所述高低温冲击模块对待测开关进行预设温度(如-40℃、25℃、150℃，当然也可以是其他设定温度)的加温测试。所述电压采集控制单元13用以通过USB接口控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存。所述LCR测试模块控制单元14用以通过USB接口控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。

所述上位机测控模块可以包括软件系统，软件系统可以包括伺服定位控制、位置和电压采集保存、位置和LCR参数读取保存，上位机可以设置伺服系统(伺服定位模块)的原点，接近开关的测试距离范围、步进距离、保存文档位置，单击启动循环距离测试按钮启动接近开关往复运动测试，往复运动范围和往复次数可以设置，每步进一位，读取电压、LCR参数和当前的位置距离，并把这些参数自动保存到选择的csv文档中。

本发明还揭示一种开关自动测试方法，图2为本发明一实施例中开关自动测试方法的流程图；请参阅图2，所述自动测试方法包括：

【步骤S1】伺服定位步骤；伺服定位模块固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；

在一实施例中，所述伺服定位步骤包括：上位机测控模块的伺服定位模块控制单元通过RS485接口连接伺服定位模块，设置原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存。

【步骤S2】高低温冲击步骤；高低温冲击模块罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；

【步骤S3】电压采集步骤；电压采集模块对待测开关进行电压采集；

在一实施例中，所述电压采集步骤包括：上位机测控模块的电压采集控制单元通过USB接口控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存。

【步骤S4】LCR测试步骤；LCR测试模块对待测开关的设定LCR参数进行测试。在一实施例中，

在一实施例中，所述LCR测试步骤包括：上位机测控模块的LCR测试模块控制单元通过USB接口控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。

本发明还揭示一种电子设备，图3为本发明一实施例中电子设备的组成示意图；请参阅图3，在硬件层面所述电子设备包括存储器、处理器及至少一网络接口；所述处理器可以为微处理器，所述存储器可以包括内存，如可以包括随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)，也可以包括非易失性存储器(non-volatilememory)等。当然，所述电子设备还可以根据需要设置其他硬件。

所述处理器、网络接口和存储器可以通过内部总线相互连接，该内部总线可以是ISA(工业标准体系结构)总线、PCI(外设部件互连标准)总线或EISA(扩展工业标准结构)总线等；所述总线可以包括地址总线、数据总线、控制总线等。所述存储器用于存放程序(可包括操作系统程序及应用程序)；程序可以包括程序代码，所述程序代码可以包括计算机操作指令。存储器可以包括内存和非易失性存储器，并向处理器提供指令和数据。

在一实施例中，所述处理器可以从非易失性存储器中读取对应的程序到内存中，而后运行；处理器能执行存储器所存放的程序，并具体用于执行以下操作(如图1所示)：

【步骤S1】伺服定位步骤；伺服定位模块固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；

【步骤S2】高低温冲击步骤；高低温冲击模块罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；

【步骤S3】电压采集步骤；电压采集模块对待测开关进行电压采集；

【步骤S4】LCR测试步骤；LCR测试模块对待测开关的设定LCR参数进行测试。

本发明进一步揭示一种存储介质，其上存储有计算机程序指令，该计算机程序指令被处理器执行时实现本发明方法的如下步骤(如图1所示)：

【步骤S1】伺服定位步骤；伺服定位模块固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；

【步骤S2】高低温冲击步骤；高低温冲击模块罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；

【步骤S3】电压采集步骤；电压采集模块对待测开关进行电压采集；

【步骤S4】LCR测试步骤；LCR测试模块对待测开关的设定LCR参数进行测试。

综上所述，本发明提出的开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。本发明通过高低温冲击设备和保温罩提供测试所需各种温度，上位机测控软件控制伺服定位模块做精确定位运动，同时控制电压采集模块和LCR测试模块测试各参数并自动保存测试结果。

需要注意的是，本申请可在软件和/或软件与硬件的组合体中被实施；例如，可采用专用集成电路(ASIC)、通用目的计算机或任何其他类似硬件设备来实现。在一些实施例中，本申请的软件程序可以通过处理器执行以实现上文步骤或功能。同样地，本申请的软件程序(包括相关的数据结构)可以被存储到计算机可读记录介质中；例如，RAM存储器，磁或光驱动器或软磁盘及类似设备。另外，本申请的一些步骤或功能可采用硬件来实现；例如，作为与处理器配合从而执行各个步骤或功能的电路。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

这里本发明的描述和应用是说明性的，并非想将本发明的范围限制在上述实施例中。实施例中所涉及的效果或优点可因多种因素干扰而可能不能在实施例中体现，对于效果或优点的描述不用于对实施例进行限制。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的，对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是，在不脱离本发明的精神或本质特征的情况下，本发明可以以其它形式、结构、布置、比例，以及用其它组件、材料和部件来实现。在不脱离本发明范围和精神的情况下，可以对这里所披露的实施例进行其它变形和改变。