遥控器测试方法、装置及存储介质

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种遥控器测试方法、装置及存储介质。

背景技术

目前，在对遥控器的按键进行测试时，往往是逐一按下/松开所有按键来测试按键是否处于正常状态，这种方式耗时较长，影响遥控器按键的测试效率，因此，如何提供一种高效的遥控器按键测试方法，实现对遥控器按键的快速测试，成为了亟待解决的问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种遥控器测试方法，能够对遥控器按键是否处于正常状态进行快速测试，节省时间，提高了测试效率。

本发明还提出一种具有上述遥控器测试方法的遥控器测试装置。

本发明还提出一种具有上述遥控器测试方法的计算机可读存储介质。

根据本发明的第一方面实施例的遥控器测试方法，包括：

标记待测试遥控器的所有按键的位置，所述位置包括所有所述按键的所在行；

根据第一操作指令，将所有所述按键设置为按压状态；

设置所有所述按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的所述按键的第一电平状态；

根据第二操作指令，将所有所述按键设置为松开状态；

设置所有所述按键在所述松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的所述按键的第二电平状态；

其中，所述第一电平状态用于表征待测试的所述按键在所述按压状态下是否为正常状态，所述第二电平状态用于表征待测试的所述按键在所述松开状态下是否为正常状态。

根据本发明实施例的遥控器测试方法，至少具有如下有益效果：这种遥控器测试方法通过标记所有按键位置，对每个按键进行位置确认，根据第一操作指令将所有按键设置为按压状态，并设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，根据第二操作指令将所有按键设置为松开状态，并设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，这样能够通过第一电平状态和第二电平状态表征出按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

根据本发明的一些实施例，所述根据第一操作指令，将所有所述按键设置为按压状态，包括：

同时按下所有所述按键，将所有所述按键设置为按压状态。

根据本发明的一些实施例，所述设置所有所述按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的所述按键的第一电平状态，包括：

设置每一行的所述按键的工作模式为第三模式；

设置目标列的所述按键的工作模式为第四模式，设置非目标列的所述按键的工作模式为第五模式；

获取每一行的所述按键的第一电平状态。

根据本发明的一些实施例，所述设置每一行的所述按键的工作模式为第三模式，包括：

设置每一行的所述按键的I/O口为上拉输入模式。

根据本发明的一些实施例，所述设置目标列的所述按键的工作模式为第四模式，设置非目标列的所述按键的工作模式为第五模式，包括：

设置目标列的所述按键的I/O口为低电平输出模式；

设置非目标列的所述按键的I/O口为非上拉输入模式。

根据本发明的一些实施例，所述根据第二操作指令，将所有所述按键设置为松开状态，包括：

同时按下所有所述按键，在预定时间之后松开所有所述按键，将所有所述按键设置为松开状态。

根据本发明的一些实施例，所述设置所有所述按键在所述松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的所述按键的第二电平状态，包括：

设置每一行的所述按键的工作模式为第六模式，设置每一列的所述按键的工作模式为第七模式；

获取每一行的所述按键的第二电平状态。

根据本发明的一些实施例，所述设置每一行的所述按键的工作模式为第六模式，设置每一列的所述按键的工作模式为第七模式，包括：

设置每一行的所述按键的I/O口为上拉输入模式；

设置每一列的所述按键的I/O口为低电平输出模式。

根据本发明的第二方面实施例的遥控器测试装置，包括：

第一处理模块，用于标记待测试遥控器的所有按键的位置，所述位置包括所有所述按键的所在行；

第二处理模块，用于根据第一操作指令，将所有所述按键设置为按压状态；

第三处理模块，用于设置所有所述按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的所述按键的第一电平状态；

第四处理模块，用于根据第二操作指令，将所有所述按键设置为松开状态；

第五处理模块，用于设置所有所述按键在所述松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的所述按键的第二电平状态；

其中，所述第一电平状态用于表征待测试的所述按键在所述按压状态下是否为正常状态，所述第二电平状态用于表征待测试的所述按键在所述松开状态下是否为正常状态。

根据本发明实施例的遥控器测试装置，至少具有如下有益效果：这种遥控器测试装置通过第一处理模块标记所有按键位置，对每个按键进行位置确认，第二处理模块根据第一操作指令将所有按键设置为按压状态，第三处理模块设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，第四处理模块根据第二操作指令将所有按键设置为松开状态，第五处理模块设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，这样能够通过第一电平状态和第二电平状态表征出按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

根据本发明的第三方面实施例的计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如第一方面实施例所述的遥控器测试方法。

根据本发明实施例的计算机可读存储介质，至少具有如下有益效果：这种计算机可读存储介质采用上述遥控器测试方法，通过标记所有按键位置，对每个按键进行位置确认，根据第一操作指令将所有按键设置为按压状态，并设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，根据第二操作指令将所有按键设置为松开状态，并设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，这样能够通过第一电平状态和第二电平状态表征出按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明，其中：

图1为本发明实施例的遥控器测试方法的流程图；

图2为本发明另一实施例的遥控器测试方法的流程图；

图3为本发明另一实施例的遥控器测试方法的流程图；

图4为本发明另一实施例的遥控器测试方法的流程图；

图5为本发明另一实施例的遥控器测试方法的流程图；

图6位本发明另一具体实施例的遥控器测试方法的测试示意图；

图7为本发明实施例的遥控器测试装置的结构示意图。

附图标记：710、第一处理模块；720、第二处理模块；730、第三处理模块；740、第四处理模块；750、第五处理模块。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

本发明的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

第一方面，参照图1，本发明实施例的遥控器测试方法包括：

S100，标记待测试遥控器的所有按键的位置，位置包括所有按键的所在行；

S200，根据第一操作指令，将所有按键设置为按压状态；

S300，设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态；

S400，根据第二操作指令，将所有按键设置为松开状态；

S500，设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态；

其中，第一电平状态用于表征待测试的按键在按压状态下是否为正常状态，第二电平状态用于表征待测试的按键在松开状态下是否为正常状态。

在对遥控器的按键进行测试时，对遥控器的所有按键进行位置标记，标记按键所在行与所在列，这样可以得到矩阵形式的按键行列，根据第一操作指令，将所有按键设置为按压状态，需要说明的是，第一操作指令可以是遥控器检测到特定的按键被按下，例如，检测到某四个按键被同时按下，启动对遥控器按键的测试，将所有按键设置为按压状态，也可以是设置其他的触发测试规则，启动对遥控器按键的测试，将所有按键设置为按压状态。进而，设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，即根据第一电平状态判断所有按键在按压状态下是否正常，进一地，根据第二操作指令，将所有按键设置为松开状态，需要说明的是，第二操作指令可以是松开所有按压的按键，使所有按键处于松开状态，设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，即根据第二电平状态判断所有按键在松开状态下是否正常，这样能够通过第一电平状态和第二电平状态表征出按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

在一些实施例中，步骤S200，根据第一操作指令，将所有按键设置为按压状态，包括：

S210，同时按下所有所述按键，将所有按键设置为按压状态。

在对遥控器按键在按压状态下是否正常进行测试时，首先同时按下所有按键，使所有按键处于按压状态，进而，设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，即根据第一电平状态判断所有按键在按压状态下是否正常。

参照图2，在一些实施例中，步骤S300，设置所有按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，包括：

S310，设置每一行的按键的工作模式为第三模式；

S320，设置目标列的按键的工作模式为第四模式，设置非目标列的按键的工作模式为第五模式；

S330，获取每一行的按键的第一电平状态。

首先设置每一行的按键的工作模式为第三模式，例如，将每一行的按键的I/O口设置为上拉输入模式；进而设置目标列的按键的工作模式为第四模式，非目标列的按键的工作模式为第五模式，例如，将目标列的按键的I/O口设置为低电平输出模式，非目标列对应的I/O口设置为非上拉输入模式，这样通过获取每一行的按键的I/O口的第一电平状态，即可判断目标列的按键是否正常，具体地，若每一行对应的I/O口的第一电平状态为低电平，则表示目标列的所有按键按压状态是正常的，否则，目标列的按键存在异常，这样可以快速的测试按键在按压状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

在一些具体实施例中，步骤S310，设置每一行的按键的工作模式为第三模式，包括：

S311，设置每一行的所述按键的I/O口为上拉输入模式。

在对遥控器按键在按压状态下是否正常进行测试时，首先同时按下所有按键，使所有按键处于按压状态，首先将每一行的按键的I/O口设置为上拉输入模式；进而设置目标列的按键的工作模式为第四模式，非目标列的按键的工作模式为第五模式，这样通过获取每一行的按键的I/O口的第一电平状态，即可判断目标列的按键是否正常，这样可以快速的测试按键在按压状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

参照图3，在一些具体实施例中，步骤S320，设置目标列的按键的工作模式为第四模式，设置非目标列的按键的工作模式为第五模式，包括：

S321，设置目标列的按键的I/O口为低电平输出模式；

S322，设置非目标列的按键的I/O口为非上拉输入模式。

在对遥控器按键在按压状态下是否正常进行测试时，首先同时按下所有按键，使所有按键处于按压状态，首先设置每一行的按键的工作模式为第一模式，例如，将每一行的按键的I/O口设置为上拉输入模式；进而将目标列的按键的I/O口设置为低电平输出模式，非目标列对应的I/O口设置为非上拉输入模式，这样通过获取每一行的按键的I/O口的第一电平状态，即可判断目标列的按键是否正常，具体地，若每一行对应的I/O口的第一电平状态为低电平，则表示目标列的所有按键按压状态是正常的，否则，目标列的按键存在异常，这样可以快速的测试按键在按压状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

需要说明的是，在测试完所有列的按键在按压状态下是否正常之后，还可以直接将测试结果通过LED灯、显示屏显示以及无线发码中的至少一种方式表征第一电平状态，在确定测试到某一列出现按键异常时，停止后续的测试步骤，采取对出现按键异常的某一列进行定向测试，从而确定出异常按键的位置，这样可以进一步地简化测试过程，节约测试时间。

在一些实施例中，步骤S400，根据第二操作指令，将所有所述按键设置为松开状态，包括：

S410，同时按下所有按键，在预定时间之后松开所有按键，将所有按键设置为松开状态。

在对遥控器按键在松开状态下是否正常进行测试时，首先同时按下所有的按键并保持所有按键处于按压状态，在预定时间之后松开所有按键，使所有按键处于松开状态，需要说明的是，这一预定时间可以根据实际情况进行设置，例如，可以是同时按下所有的按键，在所有按键按下2秒之后，松开所有按键，也可以是其他预定时间值，但不限于此。

参照图4，在一些实施例中，步骤S500，设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，包括：

S510，设置每一行的按键的工作模式为第六模式，设置每一列的按键的工作模式为第七模式；

S520，获取每一行的按键的第二电平状态。

在对遥控器按键在松开状态下是否正常进行测试时，首先同时按下所有的按键并保持所有按键处于按压状态，在预定时间之后松开所有按键，使所有按键处于松开状态，进而，设置每一行的按键的工作模式为第六模式，设置每一列的按键的工作模式为第七模式，例如，将每一行的按键的I/O口设置为上拉输入模式，每一列的按键的I/O口设置为低电平输出模式，这样通过获取每一行的按键的I/O口的第二电平状态，即可判断所有按键在松开状态下是否正常，具体地，若每一行对应的I/O口的第二电平状态为高电平，则表明所有按键的松开状态是正常的，若出现至少一行的按键对应的I/O口的第二电平状态为低电平，则表明至少一行的按键的松开状态存在异常，这样可以快速的测试按键在松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

参照图5，在一些具体实施例中，步骤S510，设置每一行的按键的工作模式为第六模式，设置每一列的按键的工作模式为第七模式，包括：

S511，设置每一行的按键的I/O口为上拉输入模式；

S512，设置每一列的按键的I/O口为低电平输出模式。

在对遥控器按键在松开状态下是否正常进行测试时，首先同时按下所有的按键并保持所有按键处于按压状态，在预定时间之后松开所有按键，使所有按键处于松开状态，将每一行的按键的I/O口设置为上拉输入模式，每一列的按键的I/O口设置为低电平输出模式，这样通过获取每一行的按键的I/O口的第二电平状态，即可判断所有按键在松开状态下是否正常，具体地，若每一行对应的I/O口的第二电平状态为高电平，则表明所有按键的松开状态是正常的，若出现至少一行的按键对应的I/O口的第二电平状态为低电平，则表明至少一行的按键的松开状态存在异常，这样可以快速的测试按键在松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

在一些实施例中，采用LED灯、显示屏显示以及无线发码中的至少一种方式表征电平状态。在获取到每一行的按键在按压状态的第一电平状态和松开状态下的第二电平状态之后，根据第一电平状态和第二电平状态的实际情况采用LED灯、显示屏显示以及无线发码中的至少一种方式表征第一电平状态和第二电平状态，例如，在对按键的按压状态是否正常进行测试时，每一行的按键的I/O口的第一电平状态均是低电平，表明目标列的按键正常，这时，可以采用LED灯指示的方式，通过LED灯的快闪两下，表征目标列按键测试正常，若出现至少一行的按键的I/O口第一电平状态为高电平，表明目标列存在按键异常，通过LED灯快闪三下，表征目标列的按键测试异常。同样的，也可以在显示屏上对测试正常和测试异常进行显示，测试正常时显示屏上显示“key test passed”，测试异常时显示“Key testfailed”；还可以采用无线发码方式对第一电平状态进行表征，测试正常时通过无线发送“0x55 0xaa0x01”，测试异常时通过无线发送“0x55 0xaa 0x02”。在其他实施例中还可以采用其他方式进行表征第一电平状态和第二电平状态，不限于此。这样能够更加清楚直观地获取到遥控器按键的测试情况，通过一次测试之后将测试情况显示，能够快速地测试遥控器的按键在松开状态下是否正常，节省时间，提高了测试效率。

参照图6，下面以一个具体的实施例详细描述本发明实施例的遥控器测试方法。值得理解的是，下述描述仅是示例性说明，而不是对发明的具体限制。

对某个遥控器上的按键进行位置标记，包括对所有按键的所在行和所在列进行标记，由此得到矩阵形式的按键行列，所有按键的列标记为PA0、PA1、PA2、PA3、PA4、PA5、PA6、PA7，所有按键的行标记为PB0、PB1、PB2、PB3、PB4、PB5、PB6。设置触发测试规则为当遥控器的按键中特定的四个按键同时被按下，启动对遥控器按键的测试。同时按下全部的按键，进入对遥控器按键的测试，将每一行的按键的I/O口设置为上拉输入模式，即PB0、PB1、PB2、PB3、PB4、PB5、PB6的I/O口的初始化状态为上拉输入模式，进而将第一列PA0的按键的I/O口设置为低电平输出模式，其他列(PA1、PA2、PA3、PA4、PA5、PA6、PA7)对应的I/O口设置为非上拉输入模式，获取PB0、PB1、PB2、PB3、PB4、PB5、PB6的I/O口的第一电平状态，若所有行的I/O口的第一电平状态都为低电平，则第一列PA0的所有按键检测正常，若出现至少一行的I/O口的第一电平状态为高电平，表明第一列PA0存在按键异常，则通过无线发码的方式输出检测不良码；按此方式对其他列(PA1、PA2、PA3、PA4、PA5、PA6、PA7)的按键进行测试，当所有列的按键测试正常之后，同时将所有按键松开，将所有列(PA0、PA1、PA2、PA3、PA4、PA5、PA6、PA7)的I/O口设置为低电平输出模式，所有行(PB0、PB1、PB2、PB3、PB4、PB5、PB6)的I/O口设置为上拉输入模式，获取所有行(PB0、PB1、PB2、PB3、PB4、PB5、PB6)的I/O的第二电平状态，若所有行的I/O的第二电平状态都为高电平，则表示所有行的按键正常，通过无线发码的方式输出按键测试的良好码，否则，通过无线发码的方式输出按键测试的不良码。这样能够快速的测试按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

第二方面，参照图7，本发明实施例的遥控器测试装置包括：

第一处理模块710，用于标记待测试遥控器的所有按键的位置，所述位置包括所有按键的所在行；

第二处理模块720，用于根据第一操作指令，将所有按键设置为按压状态；

第三处理模块730，用于设置所有按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态；

第四处理模块740，用于根据第二操作指令，将所有按键设置为松开状态；

第五处理模块750，用于设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态；

其中，所述第一电平状态用于表征待测试的按键在按压状态下是否为正常状态，第二电平状态用于表征待测试的按键在松开状态下是否为正常状态。

在对遥控器的按键进行测试时，第一处理模块710对遥控器的所有按键进行位置标记，标记按键所在行与所在列，这样可以得到矩阵形式的按键行列，第二处理模块720根据第一操作指令，将所有按键设置为按压状态，需要说明的是，第一操作指令可以是遥控器检测到特定的按键被按下，例如，检测到某四个按键被同时按下，启动对遥控器按键的测试，将所有按键设置为按压状态，也可以是设置其他的触发测试规则，启动对遥控器按键的测试，将所有按键设置为按压状态。进而，第三处理模块730设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，即根据第一电平状态判断所有按键在按压状态下是否正常，进一地，第四处理模块740根据第二操作指令，将所有按键设置为松开状态，需要说明的是，第二操作指令可以是松开所有按压的按键，使所有按键处于松开状态，第五处理模块750设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，即根据第二电平状态判断所有按键在松开状态下是否正常，这样能够通过第一电平状态和第二电平状态表征出按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

第三方面，本发明实施例的遥控器测试设备，包括至少一个处理器，以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行指令时实现如第一方面实施例的遥控器测试方法。

根据本发明实施例的遥控器测试设备，至少具有如下有益效果：这种遥控器测试设备采用上述的遥控器测试方法，通过标记所有按键位置，对每个按键进行位置确认，根据第一操作指令将所有按键设置为按压状态，并设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，根据第二操作指令将所有按键设置为松开状态，并设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，这样能够通过第一电平状态和第二电平状态表征出按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

第四方面，本发明还提出一种具有上述遥控器测试方法的计算机可读存储介质。计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于使计算机执行如第一方面实施例的遥控器测试方法。

根据本发明实施例的计算机可读存储介质，至少具有如下有益效果：这种计算机可读存储介质采用上述遥控器测试方法，通过标记所有按键位置，对每个按键进行位置确认，根据第一操作指令将所有按键设置为按压状态，并设置所有按键在按压状态下的工作模式为第一模式，获取每一行的按键的第一电平状态，根据第二操作指令将所有按键设置为松开状态，并设置所有按键在松开状态下的工作模式为第二模式，获取每一行的按键的第二电平状态，这样能够通过第一电平状态和第二电平状态表征出按键在按压状态下/松开状态下是否正常，从而对遥控器按键的正常/异常状态快速测试，节省时间，提高了测试效率。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。