锁扣面板固定结构及测试载具

技术领域

本发明涉及自动测试技术领域，特别是涉及一种锁扣面板固定结构及测试载具。

背景技术

现如今电子产品遍及我们的生活，一个电子产品的产出的程序和步骤是非常多的，一个电子产品的产出必须要保证它的寿命，所以就要进行老化测试，而老化测试室的布置和空间的利用以及一些治具板的使用便涉及到了最终的产量输出。

在对电子产品测试过程中，需要应用到各种载具对产品进行固定，以实现自动化测试。但现有的自动化测试过程中，需要输送，输送过程中容易出现抖动等情况，导致接触不稳定的情况出现，进而影响后续的测试。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种解决了现有对PCB板老化测试检测定位效果不足，输送测试接触不良等问题，适用于自动化测试，提高测试精度的锁扣面板固定结构及测试载具。

本发明所采用的技术方案是：一种锁扣面板固定结构，包括基座，治具面板以及测试面板，所述基座上设置有测试面，所述测试面开设有测试槽，所述测试槽贯通所述基座，所述基座位于测试槽的一侧设有第一定位元件；所述治具面板上开设有放置槽，所述治具面板位于放置槽两侧安装有导向元件、第二定位元件、以及锁扣元件，所述放置槽对应所述测试槽，所述第二定位元件用于配合第一定位元件、使得基座与治具面板定位配合；所述测试面板包括面板本体，所述面板本体安装有测试导杆、第一测试导电元件、第二测试导电元件、第一测试压紧元件和第二测试压紧元件；所述测试导杆可滑动连接于导向元件，所述锁扣元件用于将面板本体锁制连接于治具面板，所述第一测试导电元件、第二测试导电元件、第一测试压紧元件和第二测试压紧元件均朝向所述放置槽。

对上述方案的进一步改进为，所述第一定位元件为定位轴套，所述定位轴套安装在测试面上，所述第二定位元件为定位轴销，所述定位轴销安装在治具面板上，所述定位轴销用于配合定位轴套。

对上述方案的进一步改进为，所述导向元件包括线性轴承、以及套设在线性轴承上的锁紧环，所述锁紧环用于将线性轴承锁紧固定，所述锁紧环用于将线性轴承固定在治具面板上，所述测试导杆可滑动连接于线性轴承。

对上述方案的进一步改进为，所述锁扣元件包括锁扣底板、设于锁扣底板的铰接轴、以及铰接于铰接轴的锁扣件；所述锁扣底板安装在治具面板的一侧，所述锁扣底板的一侧设有铰接槽，所述铰接轴横设于所述铰接槽，所述锁扣件可转动安装在铰接轴上，所述铰接轴套设有锁扣扭簧，所述锁扣扭簧用于锁扣件与锁扣底板之间施加扭力。

对上述方案的进一步改进为，所述锁扣件包括铰接部、按压部以及锁扣部，所述按压部用于驱动铰接部沿铰接轴转动，使得锁扣部将面板本体锁紧或松开。

对上述方案的进一步改进为，所述第一测试导电元件包括多个测试探针、连接于测试探针的测试接触件、以及安装在面板本体的第一接电块，所述第一接电块与测试探针电连接。

对上述方案的进一步改进为，所述第二测试导电元件包括至少两个接电夹、设于接电夹的测试连接件、以及安装在面板本体的第二接电块，所述第二接电块与测试连接件电连接。

对上述方案的进一步改进为，所述接电夹包括固定夹板、以及铰接于固定夹板的活动夹板，所述固定夹板与活动夹板之间设置有夹持位，所述测试连接件设于夹持位，所述夹持位开设有夹持通孔；所述固定夹板与活动夹板之间设有平压弹簧。

对上述方案的进一步改进为，所述第一测试压紧元件包括弹性压杆、以及固定压杆，所述弹性压杆设有压紧垫，所述弹性压杆配合压紧垫用于将被测试物压紧在放置槽，所述固定压杆安装在面板本体并用于将被测试物压紧在放置槽；

对上述方案的进一步改进为，所述第二测试压紧元件设有多个、并用于将被测试物上的电子元件压紧，所述第二测试压紧元件包括安装在面板本体的测试轴套、可滑动安装在测试轴套的滑动压杆、以及设于滑动压杆与测试轴套之间的平压弹簧。

一种测试载具，包括所述的锁扣面板固定结构。

本发明的有益效果是：

相比现有的测试结构，本发明采用下压锁扣固定结构，基座用于配合治具面板定位，将产品放置到放置槽上，产品为PCB板或相关的电子元器件，通过第二定位元件配合第一定位元件将两者结构定位，面板本体上设置测试导杆，测试导杆滑动在导向元件上，并在锁扣元件作用下使得面板本体锁紧固定。锁紧后通过第一测试压紧元件和第二测试压紧元件对PCB板以及PCB板上的电子元器件压紧，同时第一测试导电元件和第二测试导电元件与PCB板上的接触位置导电接触，以实现导电接触测试。解决了现有对PCB板老化测试检测定位效果不足，输送测试接触不良等问题，适用于自动化测试，提高测试精度。

附图说明

图1为本发明锁扣面板固定结构的立体示意图；

图2为图1中锁扣面板固定结构的爆炸示意图；

图3为图1中锁扣面板固定结构的侧视图；

图4为图1中锁扣面板固定结构的治具面板的结构示意图；

图5为图1中锁扣面板固定结构的测试面板的结构示意图；

图6为图1中锁扣面板固定结构的测试面板另一视角的结构示意图；

图7为图6中测试面板的第二测试导电元件的结构示意图。

附图标记说明：基座1、测试面11、测试槽12、第一定位元件13；

治具面板2、放置槽21、导向元件22、线性轴承221、锁紧环222、第二定位元件23、锁扣元件24、锁扣底板241、铰接槽2411、铰接轴242、锁扣扭簧2421、锁扣件243、铰接部2431、按压部2432、锁扣部2433；

测试面板3、面板本体31、测试导杆32、第一测试导电元件33、测试探针331、测试接触件332、第一接电块333、第二测试导电元件34、接电夹341、固定夹板3411、活动夹板3412、夹持通孔3413、压紧弹簧3414、测试连接件342、第二接电块343、第一测试压紧元件35、弹性压杆351、固定压杆352、压紧垫353、第二测试压紧元件36、测试轴套361、滑动压杆362、平压弹簧363。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。

如图1～图7所示，本发明的一种实施例中，涉及了一种锁扣面板固定结构，包括基座1，治具面板2以及测试面板3，所述基座1上设置有测试面11，所述测试面11开设有测试槽12，所述测试槽12贯通所述基座1，所述基座1位于测试槽12的一侧设有第一定位元件13；所述治具面板2上开设有放置槽21，所述治具面板2位于放置槽21两侧安装有导向元件22、第二定位元件23、以及锁扣元件24，所述放置槽21对应所述测试槽12，所述第二定位元件23用于配合第一定位元件13、使得基座1与治具面板2定位配合；所述测试面板3包括面板本体31，所述面板本体31安装有测试导杆32、第一测试导电元件33、第二测试导电元件34、第一测试压紧元件35和第二测试压紧元件36；所述测试导杆32可滑动连接于导向元件22，所述锁扣元件24用于将面板本体31锁制连接于治具面板2，所述第一测试导电元件33、第二测试导电元件34、第一测试压紧元件35和第二测试压紧元件36均朝向所述放置槽21。

第一定位元件13为定位轴套，所述定位轴套安装在测试面11上，所述第二定位元件23为定位轴销，所述定位轴销安装在治具面板2上，所述定位轴销用于配合定位轴套；本实施例中，通过定位轴套和定位轴销的配合，用于将治具面板2与测试面11配合定位，结构定位精度高，进而页保证在对治具面板2的输送定位，方便对产品测试。

导向元件22包括线性轴承221、以及套设在线性轴承221上的锁紧环222，所述锁紧环222用于将线性轴承221锁紧固定，所述锁紧环222用于将线性轴承221固定在治具面板2上，所述测试导杆32可滑动连接于线性轴承221，本实施例中，采用锁紧环222用于配合线性轴承221固定在治具面板2上，结构安装方便，结构稳定。

锁扣元件24包括锁扣底板241、设于锁扣底板241的铰接轴242、以及铰接于铰接轴242的锁扣件243；所述锁扣底板241安装在治具面板2的一侧，所述锁扣底板241的一侧设有铰接槽2411，所述铰接轴242横设于所述铰接槽2411，所述锁扣件243可转动安装在铰接轴242上，所述铰接轴242套设有锁扣扭簧2421，所述锁扣扭簧2421用于锁扣件243与锁扣底板241之间施加扭力；进一步改进为，锁扣件243包括铰接部2431、按压部2432以及锁扣部2433，所述按压部2432用于驱动铰接部2431沿铰接轴242转动，使得锁扣部2433将面板本体31锁紧或松开。

第一测试导电元件33包括多个测试探针331、连接于测试探针331的测试接触件332、以及安装在面板本体31的第一接电块333，所述第一接电块333与测试探针331电连接，本实施例中，采用多个测试探针331用于接触导电，而第一接电块333用于导电接触，保证接电稳定性。

第二测试导电元件34包括至少两个接电夹341、设于接电夹341的测试连接件342、以及安装在面板本体31的第二接电块343，所述第二接电块343与测试连接件342电连接；本实施例中，采用接电夹341用于夹持PCB板的电源连接线，接电方便。

参阅图7所示，接电夹341包括固定夹板3411、以及铰接于固定夹板3411的活动夹板3412，所述固定夹板3411与活动夹板3412之间设置有夹持位，所述测试连接件342设于夹持位，所述夹持位开设有夹持通孔3413；所述固定夹板3411与活动夹板3412之间设有压紧弹簧3414，通过夹持位和夹持通孔3413用于连接线接线夹持接触。压紧弹簧3414用于将固定夹板3411和活动夹板3412进行施加顶压力，将连接线夹紧。

第一测试压紧元件35包括弹性压杆351、以及固定压杆352，所述弹性压杆351设有压紧垫353，所述弹性压杆351配合压紧垫353用于将被测试物压紧在放置槽21，所述固定压杆352安装在面板本体31并用于将被测试物压紧在放置槽21；通过弹性压杆351和固定压杆352配合用于将PCB板压紧固定，同时设置压紧垫353用于起到缓冲压紧作用，加强对产品测试过程中的定位效果。

第二测试压紧元件36设有多个、并用于将被测试物上的电子元件压紧，所述第二测试压紧元件36包括安装在面板本体31的测试轴套361、可滑动安装在测试轴套361的滑动压杆362、以及设于滑动压杆362与测试轴套361之间的平压弹簧363，本实施例中，通过滑动压杆362和平压弹簧363进行压紧固定，进一步保证结构稳定性，测试精度高。

一种测试载具，采用了以上的结构，均布设置多个工位，可以同时测试多个产品。

本发明采用下压锁扣固定结构，基座1用于配合治具面板2定位，将产品放置到放置槽21上，产品为PCB板或相关的电子元器件，通过第二定位元件23配合第一定位元件13将两者结构定位，面板本体31上设置测试导杆32，测试导杆32滑动在导向元件22上，并在锁扣元件24作用下使得面板本体31锁紧固定。锁紧后通过第一测试压紧元件35和第二测试压紧元件36对PCB板以及PCB板上的电子元器件压紧，同时第一测试导电元件33和第二测试导电元件34与PCB板上的接触位置导电接触，以实现导电接触测试。解决了现有对PCB板老化测试检测定位效果不足，输送测试接触不良等问题，适用于自动化测试，提高测试精度。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。