测试和测量仪器中的并行触发路径

相关申请的交叉引用

本公开要求于2021年8月23日提交的、名称为“PARALLEL TRIGGER PATHS IN ATEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT”的美国临时申请No. 63/236,184的权益，该美国临时申请的公开内容以其全文通过引用并入本文。

技术领域

本公开涉及测试和测量仪器，并且更具体地，涉及针对测试和测量仪器的触发系统。

背景技术

示波器和其他测试仪器典型地包括：多个输入信道端口，用于从测试中设备接收一个或多个信号；“辅助触发”输入端口，用于接收外部触发信号；以及“触发出（triggerout）”端口，将来自第一示波器的触发信号输出到下游仪器或设备。随着示波器已经从模拟触发系统移动到数字触发系统，从在第一示波器或探测器的前端处发生的事件到它生成触发出信号的时间延迟已经增加数个量级。从接收到第一辅助触发的时间直到第一示波器生成触发出信号的该时间延迟导致对于期望使用触发出信号以驱动另一捕获仪器的用户而言的问题，尤其是针对具有短捕获时间窗口的那些事件。换言之，如果级联的一对仪器耦合到相同测试中设备（DUT）并且第二仪器依赖于第一仪器的触发出信号以触发第二仪器上的数据或信号捕获，则通过第一仪器处理触发出信号所导致的时间延迟可能使第二仪器完全错过感兴趣事件。该问题的具体示例包括：具有示波器作为与谱分析仪或相机级联的第一捕获仪器。到触发出信号离开示波器的时间，感兴趣事件可能已经过去，且不再可以由这些次要获取仪器捕获。这对于具有短持续时间的感兴趣事件而言尤其成立。

数字触发系统的长时延也是对于使用链在一起的若干示波器的客户而言的问题。典型地，这些客户将触发提供到第一示波器的辅助触发输入中，且然后将该第一示波器的触发出驱动到下一示波器的辅助触发入（trigger in）。第二示波器的触发出被驱动到第三示波器的辅助触发入。辅助触发信号的该菊花链可以被扩展到近无限数目的示波器。然而，对可在这些链中支持的示波器的数目的现实世界限制是示波器的最大捕获时间减去所需的捕获时间再除以触发的时延。如果在供所有级联设备获取感兴趣事件的充足时间中接收到针对级联设备的触发信号，则级联设备中的所获取的信号的后处理可以对准捕获并有效地去除时延。甚至在确实在感兴趣事件内接收级联触发信号的级联系统中，更高触发时延也要求更长后处理，这是由于未使用的获取存储器的量随时延而扩缩。换言之，随着经延迟的触发信号通过系统进行级联，级联测试系统存储浩大量的数据。并且，不存在用于减小级联触发信号的时延以最小化级联测量设备完全错过事件窗口的可能性的目前解决方案。

本公开实施例解决了现有设备的这些和其他限制。

附图说明

图1是根据本公开实施例的具有并行触发路径的测试和测量仪器（诸如，示波器）的功能框图。

图2是图示了根据本公开实施例的具有并行触发路径的仪器的另一表示的功能框图。

图3是根据本公开实施例的在模拟触发路径中包括模拟触发调节电路380的测试和测量仪器的功能框图。

图4是根据本公开实施例的包括模拟触发调节电路以及使用所获取的输入信号调节以生成输入信号触发的第二触发单元的测试和测量仪器的功能框图。

图5是图示了根据本公开实施例的图4中图示的测试和测量仪器的可替换实施例的功能框图。

具体实施方式

根据本公开实施例，通过与标准触发处理路径并行地添加低时延触发处理路径，减小在测试和测量仪器中从触发入信号生成触发出信号的时延是可能的。在一些实施例中，用户可以选择哪个触发路径用于生成仪器的输出触发信号。

图1是用于实现本文公开的本公开实施例的示例测试和测量仪器100（诸如，示波器）的框图。测试和测量仪器100包括：一个或多个端口102，其可以是任何电信令介质。端口102可以包括接收机、发射机和/或收发器。每个端口102是测试和测量仪器100的信道。端口102与一个或多个处理器116耦合以处理在端口102处从一个或多个测试中设备（DUT）接收的信号和/或波形。尽管为了便于图示而在图1中示出了仅一个处理器116，但本领域技术人员应当理解，可以组合地使用不同类型的多个处理器116，而不是单个处理器116。

端口102还可以连接到测试仪器100中的测量单元，为了便于图示而未描绘该测量单元。这种测量单元可以包括能够测量经由端口102而接收的信号的方面（例如电压、安培数、幅度等）的任何部件。测试和测量仪器可以包括附加硬件和/或处理器，诸如调节电路、模数转换器、和/或用于将所接收的信号转换成波形以用于进一步分析的其他电路系统。所得到的波形然后可以被存储在存储器110中，以及被显示在显示器112上。

该一个或多个处理器116可以被配置成执行来自存储器110的指令，且可以执行由这种指令指示的任何方法和/或关联步骤，诸如显示和修改由仪器接收的输入信号。存储器110可以被实现为处理器高速缓存、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、固态存储器、硬盘驱动器或任何其他存储器类型。存储器110充当用于存储数据、计算机程序产品和其他指令的介质。

用户输入114耦合到处理器116。用户输入114可以包括键盘、鼠标、触摸屏、和/或用户可采用以设立和控制仪器100的任何其他控制装置。用户输入114可以包括显示器112上的图形用户界面。用户输入114可以进一步包括仪器100上来自用户的或者来自远程设备的编程输入。显示器112可以是显示屏、基于阴极射线管的显示器、或者用于将波形、测量结果和其他数据显示给用户的任何其他监视器。尽管测试仪器100的部件被描绘为集成在测试和测量仪器100内，但本领域技术人员应当领会，这些部件中的任一个可以处于测试仪器100外部且可以以任何传统方式（例如，有线和/或无线通信介质和/或机制）耦合到测试仪器100。例如，在一些实施例中，显示器112可以远离于测试和测量仪器100，或者仪器可以被配置成除了在仪器100上显示输出外还将它发送到远程设备。在进一步实施例中，来自测量仪器100的输出可以被发送到远程设备（诸如，云设备）或者被存储在远程设备（诸如，云设备）中，该远程设备是可从耦合到云设备的其他机器访问的。

测试和测量仪器100还包括：辅助触发输入120，其被配置成接收由与仪器100分离的设备生成的触发信号。典型地，触发信号是指示通过端口102中的一个或多个而接收的输入信号中的特定感兴趣事件的起始时间的模拟信号。触发信号还可以指示与仪器100及其测试和测量操作相关的其他事件。数字触发处理器124耦合到辅助触发输入端口120，以处理所接收的触发信号并创建数字触发信号，以供处理器116使用以控制仪器100的操作。数字触发输出端口128将经数字处理的触发信号传送到输出。在传统设备中，数字触发输出端口128是来自仪器的仅有触发输出。一般地，通过数字触发处理器124处理从辅助触发输入120接收的触发输入信号耗费相当长时间来处理，在1-2μs的量级。在将多个仪器彼此级联的系统中，设备中的每一个中的数字触发处理器124中的每一个所使用的处理时间是加性的，且导致上面描述的级联触发延迟，这是不期望的。

根据本公开的实施例进一步包括：模拟触发处理器144，其比上面描述的数字触发处理器124快得多地处理从辅助触发输入120到模拟触发输出148的触发输入信号。例如，处理从辅助触发输入120到模拟触发输出148的触发输入信号可能引发35ns的延迟，其比针对数字触发的1-2μs处理时间快得多。在一些实施例中，用于处理从辅助触发输入120到模拟触发输出148的触发输入信号的处理时间可能引发20-50ns之间或者甚至多达100ns的延迟，其比数字触发处理延迟更快。在模拟触发输出148被生成之后，取决于测试系统的需要，用户可以选择数字触发输出128或模拟触发输出作为从仪器输出的所选择的触发信号150。在一些实施例中，选择器130可以被用户配置或操作以选择期望触发输出。在一些实施例中，选择器130可以是复用器。在其他实施例中，触发选择器130可以接受可由用户在仪器100的设立期间配置的编程输入。在另外其他实施例中，用户可以选择或配置触发选择器130以并行地输出数字触发输出128和模拟触发输出148两者，尽管数字触发输出128可能由于处理数字触发输出的更长时间而滞后于模拟触发输出148。在更进一步实施例中，触发选择器130可以缺省为处理数字触发输出128，除非用户选择代之以传递模拟触发输出148。

图2是图示了根据本公开实施例的具有并行触发路径的仪器200的另一表示的功能框图。图2中表示的功能框可以与如下描述的参考图1而描述的功能框相关。一般地，仪器200包括一个或多个输入端口202，其中每一个可以表示仪器200的信道。输入端口202中的每一个可以可选地耦合到前置放大器204且可选地耦合到模数转换器（ADC）206。仪器200还包括辅助触发输入220，以发信号通知在输入端口202中的一个或多个上接收的输入信号的感兴趣点的开始或者与仪器200的操作相关的其他信号。来自辅助触发输入220的触发信号可以由比较器243评估，比较器243接受来自触发输入220以及来自数模转换器（DAC）242的触发信号输入。比较器使用来自DAC 242的输入值以建立用于与触发信号比较的阈值。由DAC 242产生的值可以是用户可选择的且与期望触发信号电平相关。当触发信号电平超过或在一些情况下小于从DAC 242接收的值时，比较器243输出或传递触发信号作为其输出。

数字后端260接收来自ADC 206的输入以及来自比较器243的输入，来自ADC 206的输入包含用于测试和测量的感兴趣输入信号，来自比较器243的输入指示已经在辅助触发输入220上接收到适当触发信号。一般地，数字后端260根据其所编程的操作来处理来自ADC206的输入信号。数字后端260的功能中的一些或全部可以由例如图1的处理器116执行。数字后端260可以包括用于建立输入信号的采样率的抽取器（decimator）262，且可以进一步包括用于使经采样的输入信号作为输入波形而存储在存储器270中的存储器控制器268。数字后端260可以包括：数字触发处理器264，其如上所描述的那样进行操作。来自数字后端260的输出或控制信号可以被发送到控制器280，控制器280操作仪器200以在存储器270中存储的输入波形上或在其他波形上执行一个或多个测试和测量功能。控制器280可以包括一个或多个处理器，诸如图1的处理器116。进一步地，数字后端260的处理中的一些或全部可以由图1的处理器116或者测试和测量设备中的其他适当配置的处理器执行。

可作为复用器的选择器230操作为上面描述的触发选择器130。选择器230从来自比较器243的模拟触发信号以及由数字信号处理器264生成的数字触发两者接收输入。如上所描述，用户控制选择器230确定数字触发或模拟触发中的哪一个或者全部两者由仪器200在触发输出250处输出。用户还可以控制是模拟还是数字触发被仪器200使用以控制仪器的操作。例如，用户可以指定模拟触发或数字触发将被仪器200使用以停止目前波形的获取。可以通过图1的用户输入114将用户控制传送到仪器200，用户输入114可以是编程输入或通过用户界面的输入。尽管未分离地图示，但仪器200可以包括缓冲器、放大器、或者用于调节在触发输出250处输出的触发信号以供下游的其他仪器使用的其他电路系统。

使用参考图1和2而描述的系统，用户可以选择从辅助触发输入120或220导出的模拟触发输出、或者由数字触发处理器124或264生成的数字触发输出、或者全部两者，作为仪器100、200的相应触发输出。甚至在用户选择模拟触发信号作为仪器的输出信号的系统中，仪器自身也将优选地使用由数字触发处理器124或264生成的数字触发，作为供本地仪器使用的触发信号。然而，通过选择模拟触发出，在使多个级联设备各自使用来自前一设备的级联触发之一的测试系统中，与当今系统相比大大地减小这种系统的总体时延，这是因为经过仪器的模拟触发路径比数字触发路径快得多，如上所描述。

图2中图示的实施例的一个潜在缺点是：当来自比较器243的模拟触发信号被选择为触发出250时，仪器200的模拟触发出信号将仅匹配于在辅助触发输入220处接收的辅助触发入的脉冲宽度和极性。稍微修改模拟触发信号以提供针对触发出信号的一致脉冲宽度和方向可以是有益的，而不论边缘触发被设置到哪个极性。

图3是包括模拟触发调节电路380的测试和测量仪器300的功能框图。测试和测量仪器300的部件中的许多与参考图2描述的测试和测量仪器200相同或类似，且为了简明而不再描述。模拟触发调节电路380可以体现在现场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）、具体编程的一般或具体处理器、分立部件中，或者由这些设备中的一个或多个的组合体现。

模拟触发调节电路380包括锁存器或触发电路（flip-flop）（诸如锁存器382）以及单发（one-shot）电路384，其如下所描述的那样进行操作。一般地，模拟触发调节电路380操作为滤波器和边缘触发脉冲发生器，其被配置成将在辅助触发输入220处接收的模拟触发信号修改成具有期望形状和极性的输出模拟触发信号。输出模拟触发信号的期望形状包括脉冲宽度、脉冲幅度和脉冲持续时间。可以通过选择锁存器382的彼此相反的两个输出中期望的一个，来控制输出模拟触发信号的极性。

锁存器382进一步包括：延缓（Holdoff）输入，其操作以在延缓输入被断言时防止锁存器382生成信号。取决于实现，延缓输入可以是正或负逻辑。一般地，当仪器300的操作者希望防止仪器采取输入信号的另一获取时，生成延缓信号。用户还可以控制延缓信号将邻近获取之间的空间增大到某个预定量或者避免获取与正在测试的设备同步。模拟触发调节电路380中的逻辑可以被约束到最小时钟周期或者可以被异步运行，以避免正常数字触发系统的时延，诸如由数字触发处理器264导致。

在所图示的实施例中，来自比较器243的模拟触发信号被呈现给锁存器382的时钟输入。来自比较器243的模拟触发信号还被呈现给数字触发处理器264，使得仪器300可以生成供仪器使用的数字触发，如上所描述。当延缓信号被断言时并且当比较器243输出合格模拟触发信号时，锁存器382在彼此相反的其两个输出中的任一个上生成输出信号。取决于用户更喜欢哪个极性，来自锁存器382的所选择的输出信号被呈现给单发电路384，单发电路384生成具有预先选择的持续时间、幅度和极性的输出脉冲。来自单发电路384的该输出信号变为已从来自辅助触发输入220的模拟触发信号滤波的模拟触发信号，如上所描述。而且如上所描述，通过使用选择器230，用户可以控制是来自单发电路384的经滤波的模拟输出脉冲还是由数字触发处理器264产生的数字触发要被发送到仪器300的触发输出250。

在仪器300中，比较器243的输出是对数字触发处理器264的一个输入，但数字触发处理器可以包括基于其他触发事件的数十个或甚至数百个其他潜在触发输入。对数字触发处理器264的这些其他潜在触发输入可以由软件控制且由用户基于期望触发条件来修改。

图4是包括模拟触发调节电路380以及使用所获取的输入信号调节以从输入信号生成触发的第二触发单元的测试和测量仪器400的功能框图。在测试和测量仪器400中，包括辅助触发输入220、DAC 242、比较器243和模拟触发调节电路380的上面参考图3描述的辅助触发系统与上面描述的系统相同或类似地操作。测试和测量仪器400进一步包括：输入触发调节电路480，其基于从在一个或多个输入端口402上接收的输入信号评估的条件来进行操作。测试和测量仪器400还包括图2和3中图示的其他部件，诸如数字后端260和控制器280，为了清楚起见已经省略该其他部件。

如上所描述，除在辅助触发输入220上接收的辅助触发外，测试和测量仪器400还可以在正在获取测试信号时基于测试信号的条件来生成触发。前置放大器404一般对来自输入端口402之一的输入信号进行缓冲或放大，并将其输出发送到数字后端，如上所描述。然而，测试和测量仪器400进一步包括：输入触发调节电路480，其起作用以从所获取的输入信号生成触发信号。实际上，将经放大的输入信号从前置放大器404输出到比较器443。比较器443与上面描述的比较器243类似地操作，以在输入信号超过或未能超过由DAC 442设置的阈值时从输入信号生成触发信号。然后，来自比较器443的触发信号与由比较器243生成的信号类似地操作。例如，当在锁存器482处接收到满足的触发脉冲时，输入触发调节电路480在单发电路484处生成输出脉冲。来自比较器443的输出被呈现给数字触发器464，如果在辅助触发输入220处检测到辅助触发信号，则数字触发器464还从比较器243接收输入。数字触发处理器464基于来自比较器243的辅助触发信号或来自比较器443的输入信号触发中的任一个来生成数字触发。可以使用选择器430（诸如，复用器）以选择经调节的模拟触发、经调节的输入触发或来自数字触发处理器464的数字触发中的任一个。在一些实施例中，上面描述的数字触发464或数字触发264中的任一个还可以包括调节电路（诸如，输入触发调节电路480或辅助模拟触发调节电路380）以生成具体输出脉冲，以指示触发事件已经发生。

通过包括用于接收来自比较器243的辅助触发信号和来自比较器443的输入信号触发两者的输入，测试和测量仪器400确保发生在端口402上对输入测试信号的获取，即使数字触发系统错过模拟触发系统检测到的触发。在一个实施例中，当从比较器243接收到模拟触发时，在数字触发处理器464中启动定时器（在图4中未图示），并且当定时器超过通过对系统进行表征而设置的时间时，迫使触发。

尽管在图4中图示了仅一个输入信号触发系统，但本发明实施例可以包括多个独立输入信号触发系统，每一个被设置成在输入信号的各种条件上触发。这些条件由用户在针对操作而设立仪器400时预定。

在示波器信道的某个带宽处，包括分立比较器（诸如，比较器443）由于高获取速度（诸如，超过100 GHz）而不可行。图5图示了其中模拟触发比较器集成到前置放大器504中的测试和测量仪器500。DAC（诸如，图4的DAC 442）可以与前置放大器504中的比较器集成，或可以体现在分离的设备中。在另外其他实施例中，输入触发调节电路480或其部分也可以集成到前置放大器504中。

使用根据上面描述的公开内容的实施例，用户可以选择从测试和测量仪器输出可用触发器中的哪些。在一些实施例中，用户可以选择将在辅助触发输入上直接通过仪器而接收的辅助触发信号传递到辅助触发输出。该配置以可能的最快方式传递辅助触发，同时仍给本地机器提供从模拟辅助触发生成数字触发的能力。从辅助触发输入接收的触发信号可以具有比在测量仪器的输入端口上接收的测试信号低且在一些情况下低得多的带宽。在其他实施例中，可以调节来自辅助触发输入的模拟触发信号，诸如在从测量仪器发送它之前利用标准脉冲宽度、高度和极性进行调节。在其他实施例中，可以基于在输入端口上接收的传入测试信号来生成触发。在那些实施例中，触发信号还可以在被选择为来自仪器的触发输出之前被调节。在另外其他实施例中，由仪器从辅助触发输入或从传入测试信号生成的数字触发可以被选为仪器的所选择的触发输出。

本公开的方面可以在特别创建的硬件上、在固件、数字信号处理器上或者在包括根据所编程的指令进行操作的处理器的特殊编程的通用计算机上操作。如本文使用的术语控制器或处理器意在包括微处理器、微型计算机、专用集成电路（ASIC）和专用硬件控制器。本公开的一个或多个方面可以体现在由一个或多个计算机（包括监视模块）或其他设备执行的计算机可使用数据和计算机可执行指令中，诸如一个或多个程序模块中。一般地，程序模块包括在由计算机或其他设备中的处理器执行时执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、部件、数据结构等。计算机可执行指令可以被存储在非瞬变计算机可读介质上，该非瞬变计算机可读介质诸如是硬盘、光盘、可移除储存介质、固态存储器、随机存取存储器（RAM）等。如本领域技术人员应当领会的那样，可以如在各种方面中期望的那样组合或分发程序模块的功能。另外，功能可以整体或部分地体现在固件或硬件等同物（诸如集成电路、FPGA等等）中。可以使用特定数据结构以更有效地实现本公开的一个或多个方面，并且这种数据结构是在本文描述的计算机可执行指令和计算机可使用数据的范围内想到的。

在一些情况下，所公开的方面可以以硬件、固件、软件或其任何组合而实现。所公开的方面还可以被实现为由一个或多个非瞬变计算机可读介质携带或在一个或多个非瞬变计算机可读介质上存储的指令，该指令可以由一个或多个处理器读取和执行。这种指令可以被称作计算机程序产品。如本文所讨论，计算机可读介质意指可由计算设备访问的任何介质。作为示例而非限制，计算机可读介质可以包括计算机储存介质和通信介质。

计算机储存介质意指可以用于存储计算机可读信息的任何介质。作为示例而非限制，计算机储存介质可以包括RAM、ROM、电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）、闪速存储器或其他存储器技术、致密盘只读存储器（CD-ROM）、数字视频盘（DVD）、或者其他光盘储存器、磁带盒、磁带、磁盘储存器或其他磁储存设备、以及在任何技术中实现的任何其他易失性或非易失性、可移除或不可移除介质。计算机储存介质排除了信号本身和瞬变形式的信号传输。

通信介质意指可以用于计算机可读信息的通信的任何介质。作为示例而非限制，通信介质可以包括同轴线缆、光纤电缆、空气、或者适于电、光、射频（RF）、红外、声或其他类型的信号的通信的任何其他介质。

示例

下面提供了本文公开的技术的说明性示例。技术的配置可以包括下面描述的示例中的任何一个或多个和任何组合。

示例1是一种测试和测量仪器，包括：辅助触发输入端口，用于接收辅助触发信号；数字触发处理器，用于在第一处理时间内从所述辅助触发信号生成数字触发信号；模拟触发处理器，用于在比所述第一处理时间快的第二处理时间内从所述辅助触发信号生成模拟触发信号；以及用户可配置选择器，耦合到所述数字触发处理器和所述模拟触发处理器，所述用户可配置选择器被配置成输出所述数字触发信号或所述模拟触发信号，作为仪器的所选择的触发输出信号。

示例2是根据示例1的测试和测量仪器，进一步包括：输入信道，用于接受供仪器分析的输入信号。

示例3是根据示例2的测试和测量仪器，进一步包括：输入，通过所述输入，用户可以使仪器使用所述模拟触发信号或所述数字触发信号中所选择的一个以控制所述输入信号的获取。

示例4是根据前述示例中任一项的测试和测量仪器，其中所述模拟触发处理器包括：比较器，被结构化成接收所述辅助触发信号且仅当所接收的辅助触发信号超过预定阈值时才传递输出信号。

示例5是根据示例4的测试和测量仪器，其中所述模拟触发处理器包括脉冲调节电路。

示例6是根据示例5的测试和测量仪器，其中所述脉冲调节电路包括延缓输入，并且其中当所述延缓输入被断言时，所述脉冲调节电路不生成输出。

示例7是根据示例5的测试和测量仪器，其中所述脉冲调节电路接受从所述辅助触发信号导出的输入信号并生成具有预定义形状的输出信号。

示例8是根据示例7的测试和测量仪器，其中所述输出信号具有预定义幅度、宽度或极性。

示例9是根据示例2的测试和测量仪器，其中所述数字触发处理器被结构化成：基于在所述输入信道上接收的输入信号的条件来生成第二数字触发信号。

示例10是根据示例9的测试和测量仪器，其中所述输入信号的导致所述第二数字触发信号的生成的条件是用户定义的。

示例11是根据前述示例中任一项的测试和测量仪器，其中所述数字触发处理器是延缓输入，并且其中当所述延缓输入被断言时，所述数字触发处理器不生成输出。

示例12是一种在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，包括：在输入端口处接受输入信号以用于评估；在触发端口处接受辅助触发信号；从所述辅助触发信号生成数字触发信号；从所述辅助触发信号生成模拟触发信号；接受来自用户的触发选择；以及取决于所述触发选择，传递所述数字触发信号或所述模拟触发信号作为测试和测量设备的输出。

示例13是根据示例12的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，其中从所述辅助触发信号生成模拟触发信号包括：将所述辅助触发信号与预定阈值进行比较；以及仅当所接收的辅助触发信号超过所述预定阈值时，才传递所述模拟触发信号。

示例14是根据示例13的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，进一步包括：通过调节电路来调节所述模拟触发信号。

示例15是根据示例14的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，其中通过调节电路来调节所述模拟触发信号包括：在延缓输入被断言时，中止所述模拟触发信号的生成。

示例16是根据示例14的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，其中通过调节电路来调节所述模拟触发信号包括：生成具有预定义形状的模拟触发信号。

示例17是根据示例16的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，其中所述模拟触发信号具有预定义幅度、宽度或极性。

示例18是根据前述示例方法中任一项的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，进一步包括：基于在所述输入信道上接收的输入信号的条件来生成第二数字触发信号。

示例19是根据示例18的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，其中基于条件来生成第二数字触发信号包括：基于用户定义的条件来生成所述第二数字触发信号。

示例20是根据前述示例方法中任一项的在测试和测量仪器中生成触发信号的方法，其中从所述辅助触发信号生成数字触发信号包括：在延缓输入被断言时，中止所述数字触发信号的生成。

另外，该所撰写的描述提到了特定特征。应当理解，本说明书中的公开内容包括那些特定特征的所有可能组合。例如，在特定方面的上下文中公开特定特征的情况下，还可以尽可能地在其他方面的上下文中使用该特征。

而且，当在本申请中提到具有两个或更多个所定义的步骤或操作的方法时，可以按任何次序或者同时实施所定义的步骤或操作，除非上下文排除了那些可能性。

包括权利要求、摘要和附图的说明书中公开的所有特征以及所公开的任何方法或过程中的所有步骤可以是以除其中这种特征和/或步骤中的至少一些互斥的组合外的任何组合而组合的。包括权利要求、摘要和附图的说明书中公开的每个特征可以被服务于相同、等效或类似目的的可替换特征所替代，除非以其他方式明确声明。

尽管已经出于图示的目的图示和描述了本公开的具体方面，但应当理解，在不脱离本公开的精神和范围的情况下可以作出各种修改。相应地，本公开不应当受限制，除了受所附权利要求限制。