一种分集天线的检测方法、装置、电子设备和存储介质

技术领域

本公开涉及通信技术领域，尤其涉及一种分集天线的检测方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

当前的终端设备，例如移动设备，在生产的过程中需要进行天线的检测，通过对天线进行检测判断天线是否已经连接良好。如果生产过程中天线没有连接良好，那么，移动设备到了用户手里，就会出现各种信号不好的情况。

现有技术中的天线的检测方法是通过将移动设备放置在一个天线耦合板旁边，通过查看天线耦合板仪表上的功率值是否在合理的范围内，以此判断生产的移动设备中天线是否连接完好。当天线耦合板仪表上的功率值不在合理的范围内时，此时天线发射通路存在异常，但无法确认天线发射通路发生异常的位置，检测效率较低。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种分集天线的检测方法、装置、电子设备和存储介质，实现对分集天线发射通路异常的检测。

第一方面，本公开实施例提供了一种分集天线的检测方法，方法应用于射频电路，所述射频电路包括射频收发器、分集开关和分集天线，其中，所述射频收发器包括信号发射口；所述分集天线与所述分集开关的第一端电连接，所述分集开关的第二端与所述射频收发器电连接；

所述方法包括：

在接收到天线通路检测指令后，获取所述分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号，其中，所述馈电点为所述分集开关与所述分集天线的电连接点；

在所述第一目标信号满足第一预设阈值时，控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线；

获取分集天线发射的第二目标信号；

在所述第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通。

可选的，所述在接收到天线通路检测指令后，获取所述分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号，包括：

在接收到天线通路检测指令后，下发所述天线通路检测指令至所述射频收发器；

控制所述射频收发器通过所述信号发射口发射与所述天线通路检测指令对应的通路测试信号；

获取所述分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号。

可选的，所述在所述第一目标信号满足第一预设阈值时，控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线，包括：

在所述第一目标信号满足第一预设阈值时，下发天线检测指令至所述射频收发器；

控制所述射频收发器通过所述信号发射口发射与所述天线检测指令对应的天线测试信号至所述分集天线。

可选的，所述在所述第一目标信号满足第一预设阈值时，下发天线检测指令至所述射频收发器，包括：

在所述第一目标信号满足第一预设阈值时，将所述通路测试信号存储至指令信号表格；

从所述指令信号表格中选取天线测试信号对应的天线检测指令，并将所述天线检测指令下发至所述射频收发器。

可选的，所述在所述第一目标信号满足第一预设阈值时，控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线，包括：

在所述第一目标信号与所述通路测试信号的差值小于或等于第一预设阈值时，控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线。

可选的，所述在所述第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通，包括：

在所述第二目标信号与所述天线测试信号的差值小于或等于第二预设阈值时，分集天线的发射通路导通；

在所述第二目标信号与所述天线测试信号的差值大于第二预设阈值时，所述分集天线的发射通路异常。

可选的，所述射频电路还包括耦合器，所述分集开关包括单刀三掷开关，所述分集天线与所述耦合器的第一端电连接，所述耦合器的第二端与所述单刀三掷开关的静触点电连接，所述单刀三掷开关的第一动触点与所述信号发射口电连接；

所述在接收到天线通路检测指令后，控制所述射频收发器通过所述信号发射口发射通路测试信号，包括：

在接收到天线通路检测指令后，控制所述单刀三掷开关的静触点与所述第一动触点电连接，以使所述射频收发器通过所述信号发射口发射通路测试信号。

第二方面，本公开实施例提供一种分集天线的检测装置，包括：

第一目标信号获取模块，用于在接收到天线通路检测指令后，获取馈电点位置处的第一目标信号，其中，所述馈电点为所述分集开关与所述分集天线的电连接点；

天线测试信号发射模块，用于在所述第一目标信号的强度值满足第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线；

第二目标信号获取模块，用于获取分集天线发射的第二目标信号；

天线状态确定模块，用于在所述第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通。

第三方面，本公开实施例提供一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第一方面中任一所述的方法。

第四方面，本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如第一方面中任一所述的方法。

本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本公开实施例提供的分集天线的检测方法、装置、电子设备和存储介质，在接收到天线通路检测指令后，获取分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号，在第一目标信号满足第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至分集天线，获取分集天线发射的第二目标信号，在第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通，即在确定分集天线的信号发射口与馈电点之间的通路导通后，判断分集天线是否正常，在确定分集天线正常后，确定分集天线的发射通路导通，实现在分集天线发射通路异常时，确认是分集天线的信号发射口与馈电点之间的通路异常还是分集天线异常，提高分集天线的检测效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本公开实施例提供的一种分集天线的检测方法的流程示意图；

图2是本公开实施例提供的一种射频电路的结构示意图；

图3是本公开实施例提供的另一种分集天线的检测方法的流程示意图；

图4是本公开实施例提供的又一种分集天线的检测方法的流程示意图；

图5是本公开实施例提供的又一种分集天线的检测方法的流程示意图；

图6是本公开实施例提供的另一种射频电路的结构示意图；

图7是本公开实施例提供的一种分集天线的检测装置的结构示意图；

图8是本公开实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本公开的上述目的、特征和优点，下面将对本公开的方案进行进一步描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本公开，但本公开还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施；显然，说明书中的实施例只是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。

本公开的技术方案可以应用于电子设备，其中，电子设备可以是电脑、平板、手机或者其他智能终端设备等。该电子设备具有显示屏，其中，显示屏可以是触摸屏，也可以是非触摸屏，对于具有触摸屏的电子设备，用户可以通过手势、手指或者触控工具(例如，触控笔)实现与电子设备的交互操作。对于非触摸屏的电子设备，可以通过外部设备(例如，鼠标、键盘或者摄像头等)或者语音识别或者表情识别等实现与电子设备的交互操作。

其中，本公开对电子设备的操作系统的类型不做限定。例如，安卓系统、Linux系统、视窗操作系统(Windows系统)、镜像系统(iOS系统)等。

图1是本公开实施例提供的一种分集天线的检测方法的流程示意图，本实施例可适用于对分集天线中射频电路检测的情况。本实施例方法可由分集天线的检测装置中的控制器来执行，该装置可采用硬件/或软件的方式来实现，并可配置于电子设备中，可实现本申请任意实施例所述的分集天线的检测方法。

如图1所示，该方法具体包括如下：

S10、在接收到天线通路检测指令后，获取分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号。

其中，馈电点为分集开关与分集天线的电连接点。

参见图2，射频电路包括射频收发器30、分集开关20和分集天线10，分集天线10与分集开关20的第一端电连接，分集开关20的第二端与射频收发器30电连接，具体的，分集开关20的第二端与射频收发器的信号发射口TX电连接。

为实现对分集天线10的检测，本公开实施例提供的射频电路中，射频收发器30包括信号发射口TX，通过信号发射口TX发射射频信号至分集开关20，然后通过获取分集开关20发射的射频信号与信号发射口TX发射的射频信号的关系，确定分集天线10是否正常连接。而对分集天线10的检测，首先需要确认分集天线10的发射通路是否导通。具体的，通过下发天线通路检测指令至射频收发器30，控制射频收发器30通过信号发射口TX发射通路测试信号，并在下发天线通路检测指令后获取分集天线10对应的馈电点100位置处的第一目标信号，其中，馈电点100为分集开关20与分集天线10的电连接点。

S20、在第一目标信号满足第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至分集天线。

在下发天线通路检测指令后，若获取的分集天线10对应的馈电点100位置处的第一目标信号与下发的天线通路检测指令中对应的通路测试信号的差值满足第一预设阈值时，此时可以确定信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路导通。在确定信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路导通后，通过控制射频收发器30发射天线测试信号至分集天线10，判断分集天线10是否正常。

S30、获取分集天线发射的第二目标信号。

当控制射频收发器30发射天线测试信号至分集天线10后，若分集天线10正常，此时可获取到分集天线10发射的第二目标信号，若分集天线10异常，此时获取到的分集天线10发射的第二目标信号与天线测试信号之间的差值较大，或无法获取到分集天线10发射的第二目标信号。

S40、在第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通。

可选的，在第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通，包括：

在第二目标信号与天线测试信号的差值小于或等于第二预设阈值时，分集天线的发射通路导通。

在第二目标信号与天线测试信号的差值大于第二预设阈值时，分集天线的发射通路异常。

若第二目标信号与天线测试信号的差值小于或等于第二预设阈值，即通过信号发射口TX发射的天线测试信号在信号发射口TX与分集天线10之间无损耗，且信号发射口TX与分集天线10之间导通，此时，可以确定分集天线10正常。

此外，若第二目标信号与天线测试信号的差值大于第二预设阈值，即通过信号发射口TX发射的天线测试信号无法通过分集天线10发射出去，此时，可以确定分集天线10异常。

由于步骤S20确定了信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路导通，步骤S40确定分集天线10正常，因此可以确定分集天线10的发射通路导通。

本公开实施例提供的分集天线的检测方法，在接收到天线通路检测指令后，获取分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号，在第一目标信号满足第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至分集天线，获取分集天线发射的第二目标信号，在第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通，即在确定分集天线的信号发射口与馈电点之间的通路导通后，判断分集天线是否正常，在确定分集天线正常后，确定分集天线的发射通路导通，实现在分集天线发射通路异常时，确认是分集天线的信号发射口与馈电点之间的通路异常还是分集天线异常，提高分集天线的检测效率。

图3是本公开实施例提供的另一种分集天线的检测方法的流程示意图，本实施例是在上述实施例的基础上，如图3所示，步骤S10的一种可实现方式包括：

S11、在接收到天线通路检测指令后，下发天线通路检测指令至射频收发器。

在手机或者各种具有天线的移动设备在生产的过程中，当完成手机的生产后，通过下发指令进而对生产的各个手机或具有天线的移动设备进行天线的检测，其中，指令包括天线通路检测指令和天线检测指令。首先，先检测信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路是否导通，因此，当分集天线的检测装置中的控制器接收到天线通路检测指令后，控制器下发天线通路检测指令至射频收发器30，控制射频收发器30发送与天线通路检测指令对应的通路测试信号。

S12、控制射频收发器通过信号发射口发射与天线通路检测指令对应的通路测试信号。

控制器下发天线通路检测指令至射频收发器30后，控制射频收发器30通过信号发射口TX发射与天线通路检测指令对应的通路测试信号，具体的，不同天线通路检测指令对应的通路测试信号的强度不同。

S13、获取分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号。

当控制射频收发器30通过信号发射口TX发射与天线通路检测指令对应的通路测试信号后，此时在分集天线10对应的馈电点100位置处可以获取到第一目标信号，通过判断第一目标信号与天线通路检测指令对应的通路测试信号之间关系，确定信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路是否导通。

本公开实施例提供的分集天线的检测方法，在接收到天线通路检测指令后，下发天线通路检测指令至射频收发器，控制射频收发器通过信号发射口发射与天线通路检测指令对应通路测试信号，在通过信号发射口发射通路测试信号后，获取分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号，实现根据下发的天线通路检测指令，控制射频收发器通过信号发射口发射与天线通路检测指令对应的通路测试信号。

图4是本公开实施例提供的又一种分集天线的检测方法的流程示意图，本实施例是在上述实施例的基础上，如图4所述，步骤S20的一种可实现方式为：

S21、在第一目标信号满足第一预设阈值时，下发天线检测指令至射频收发器。

可选的，在第一目标信号与通路测试信号的差值小于或等于第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至分集天线。

当控制射频收发器30通过信号发射口TX发射与天线通路检测指令对应的通路测试信号后，此时在分集天线10对应的馈电点100位置处可以获取到第一目标信号，通过判断第一目标信号与天线通路检测指令对应的通路测试信号之间关系，确定信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路是否导通。具体的，当第一目标信号与通路测试信号的差值小于或等于第一预设阈值时，即控制射频收发器30通过信号发射口发射的通路测试信号在信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路上无损耗，且信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路导通，在确认信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路导通后，控制射频收发器30发射天线检测信号至分集天线10，判断分集天线10是否连接正常。

此外，若第一目标信号与通路测试信号的差值大于第一预设阈值时，可以确认信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路异常，而造成信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路异常的原因可能是因为信号发射口TX发射的通路测试信号的强度较强，较强的通路测试信号烧毁了信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路上的部分器件。因此，当第一目标信号与通路测试信号的差值大于第一预设阈值时，结束天线通路检测流程。

S22、控制射频收发器通过信号发射口发射与天线检测指令对应的天线测试信号至分集天线。

当下发天线检测指令至射频收发器30后，控制射频收发器30通过信号发射口TX发射与天线检测指令对应的天线测试信号至分集天线10，若分集天线10与馈电点100连接正常且分集天线10正常，此时可获取到分集天线10发射的第二目标信号，且第一目标信号与天线测试信号之间的差值在预设范围内，若分集天线10与馈电点100连接异常和/或分集天线10异常，此时无法获取到分集天线10发射的第二目标信号，或获取到的分集天线10发射的第二目标信号与天线测试信号之间的差值较大。

本公开实施例提供的分集天线的检测方法，在第一目标信号满足第一预设阈值时，下发天线检测指令至射频收发器，控制射频收发器通过信号发射口发射与天线检测指令对应的天线测试信号至分集天线，在确定分集天线的信号发射口与馈电点之间的通路导通后，通过下发天线检测指令至射频收发器判断分集天线是否正常。

图5是本公开实施例提供的又一种分集天线的检测方法的流程示意图，本公开实施例是在图4对应的实施例的基础上，如图5所示，步骤S21的一种可实现方式包括：

S210、在第一目标信号满足第一预设阈值时，将通路测试信号存储至指令信号表格。

当控制射频收发器30通过信号发射口TX发射与天线通路检测指令对应的通路测试信号后，此时在分集天线10对应的馈电点100位置处可以获取到第一目标信号，通过判断第一目标信号与天线通路检测指令对应的通路测试信号之间关系，确定信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路是否导通。具体的，当第一目标信号与通路测试信号的差值小于或等于第一预设阈值时，即通过信号发射口TX发射的通路测试信号在信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路上无损耗，且信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路导通，此时可以确定天线通路检测指令对应的通路测试信号强度满足信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路的各器件，因此，将该通路测试信号存储至指令信号表格，当该通路测试信号存储至指令信号表格，指令信号表格自动匹配出与通路测试信号对应的天线检测指令以及天线测试信号。

示例性的，指令信号表格包括通路测试信号、天线检测指令以及天线测试信号，如下表所示：

表1指令信号表格

当控制射频收发器30通过信号发射口TX发射与天线通路检测指令1对应的通路测试信号5dB后，且在分集天线10对应的馈电点100位置处可以获取到第一目标信号，此时，将天线通路检测指令1对应的通路测试信号5dB存储至指令信号表格中。

S211、从指令信号表格中选取天线测试信号对应的天线检测指令，并将天线检测指令下发至射频收发器。

由于存储在指令信号表格中的各通路测试信号强度满足信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路的各器件，因此指令信号表格与通路测试信号对应的天线测试信号也满足信号发射口TX与分集天线10对应的馈电点100之间的通路的各器件，通过从指令信号表格中选取天线测试信号对应的天线检测指令，下发天线检测指令至射频收发器，控制射频收发器发射与天线检测指令对应的天线测试信号。

示例性的，若分集天线的控制装置中的控制器控制射频收发器发射5dB的信号，此时控制器从指令信号表格中选取天线测试信号为5dB对应的天线检测指令，并将天线检测指令下发至射频收发器，参见图1，天线测试信号为5dB对应的天线检测指令为指令1。

本公开实施例提供的分集天线的检测方法，在第一目标信号满足第一预设阈值时，将通路测试信号存储至指令信号表格，从指令信号表格中选取天线测试信号对应的天线检测指令，并将天线检测指令下发至所述射频收发器，由于指令信号表格中通路测试信号、天线检测指令以及天线测试信号存在相互对应关系，因此，选取的天线检测指令中的天线测试信号也满足信号发射口与分集天线对应的馈电点100之间的通路的各器件，因此，实现对分集天线的检测。

图6是本公开实施例提供的另一种射频电路的结构示意图，如图6所示，射频电路还包括耦合器60，分集开关20包括单刀三掷开关，分集天线10与耦合器60的第一端电连接，耦合器60的第二端与单刀三掷开关的静触点电连接，单刀三掷开关的第一动触点与信号发射口TX电连接。

在接收到天线通路检测指令后，控制射频收发器通过信号发射口发射通路测试信号，包括：

在接收到天线通路检测指令后，控制单刀三掷开关的静触点与第一动触点电连接，以使射频收发器通过信号发射口发射通路测试信号。

如图6所示，当接收到天线通路检测指令后，通过控制单刀三掷开关的静触点与第一动触点电连接，以使射频收发器通过信号发射口发射通路测试信号。

此外，当射频电路包括耦合器时，此时分集天线对应的馈电点位置为耦合器与分集天线的电连接点，通过在射频电路中设置耦合器，当接收到天线通路检测指令后，控制信号发射口发射与天线通路测试指令对应的通路测试信号，此时位于分集天线与分集开关之间的耦合器可以获取到达耦合器的通路测试信号对应的功率值，通过分析耦合器获取的通路测试信号的功率值与信号发射口发射的通路测试信号的功率值的差值，进而保证信号发射端口发射的天线测试信号的功率值更加准确。

如图6所示，射频收发器还包括第一接收滤波器40、第二接收滤波器50、第一信号接收口RX1和第二信号接收口RX2，第一信号接收口RX1与第一接收滤波器40电连接，第二信号接收口RX2与第二接收滤波器50电连接，单刀三掷开关的第二动触点与第一接收滤波器40电连接，单刀三掷开关的第三动触点与第二接收滤波器50电连接。当确定分集天线的发射通路导通后，下发天线接收通路检测指令，并根据天线接收通路检测指令控制单刀三掷开关的静触点与第二动触点电连接或根据天线接收通路检测指令控制单刀三掷开关的静触点与第三动触点电连接，以使射频收发器通过第一信号接收口RX1或第二信号接收口RX2接收分集天线的接收通路测试信号，实现对分集天线接收通路是否导通的检测。

图7是本公开实施例提供的一种分集天线的检测装置的结构示意图，如图7所示，检测装置包括：

第一目标信号获取模块710，用于在接收到天线通路检测指令后，获取馈电点位置处的第一目标信号，其中，馈电点为分集开关与分集天线的电连接点。

天线测试信号发射模块720，用于在第一目标信号的强度值满足第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至分集天线。

第二目标信号获取模块730，用于获取分集天线发射的第二目标信号。

天线状态确定模块740，用于在第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通。

本公开实施例提供的分集天线的检测装置，第一目标信号获取模块在接收到天线通路检测指令后，获取分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号，天线测试信号发射模块在第一目标信号满足第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至分集天线，第二目标信号获取模块获取分集天线发射的第二目标信号，天线状态确定模块在第二目标信号满足第二预设阈值时，确定分集天线的发射通路导通，即在确定分集天线的信号发射口与馈电点之间的通路导通后，判断分集天线是否正常，在确定分集天线正常后，确定分集天线的发射通路导通，实现在分集天线发射通路异常时，确认是分集天线的信号发射口与馈电点之间的通路异常还是分集天线异常，提高分集天线的检测效率。

可选的，还包括：

天线通路检测指令下发单元，用于在接收到天线通路检测指令后，下发天线通路检测指令至射频收发器。

通路测试信号发射单元，用于控制射频收发器通过信号发射口发射与天线通路检测指令对应的通路测试信号。

第一目标信号获取单元，用于获取分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号。

可选的，还包括：

天线检测指令下发单元，用于在第一目标信号满足第一预设阈值时，下发天线检测指令至射频收发器。

天线测试信号发射单元，用于控制射频收发器通过信号发射口发射与天线检测指令对应的天线测试信号至分集天线。

可选的，还包括：

存储单元，用于在第一目标信号满足第一预设阈值时，将通路测试信号存储至指令信号表格。

天线检测指令选取单元，用于从指令信号表格中选取天线测试信号对应的天线检测指令，并将天线检测指令下发至射频收发器。

可选的，还包括：

天线测试信号发射子单元，用于在第一目标信号与通路测试信号的差值小于或等于第一预设阈值时，控制射频收发器发射天线测试信号至分集天线。

可选的，还包括：

分集天线导通确定单元，用于在第二目标信号与天线测试信号的差值小于或等于第二预设阈值时，分集天线的发射通路导通。

分集天线异常确定单元，用于在第二目标信号与天线测试信号的差值大于第二预设阈值时，分集天线的发射通路异常。

可选的，还包括：

开关控制单元，用于在接收到天线通路检测指令后，控制单刀三掷开关的静触点与第一动触点电连接，以使射频收发器通过信号发射口发射通路测试信号。

本发明实施例所提供的装置可执行本发明任意实施例所提供的方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

图8是本公开实施例提供的一种电子设备的结构示意图，如图8所示，该电子设备包括处理器610、存储器620、输入装置630和输出装置640；计算机设备中处理器610的数量可以是一个或多个，图8中以一个处理器610为例；电子设备中的处理器610、存储器620、输入装置630和输出装置640可以通过总线或其他方式连接，图8中以通过总线连接为例。

存储器620作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中方法对应的程序指令/模块。处理器610通过运行存储在存储器620中的软件程序、指令以及模块，从而执行计算机设备的各种功能应用以及数据处理，即实现本发明实施例所提供的方法。

存储器620可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器620可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器620可进一步包括相对于处理器610远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至计算机设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输入装置630可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入，可以包括键盘、鼠标等。输出装置640可包括显示屏等显示设备。

本公开实施例还提供了一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于实现本发明实施例所提供的方法。

当然，本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质，其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作，还可以执行本发明任意实施例所提供的方法中的相关操作。

通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

值得注意的是，上述保护装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本公开的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本公开。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本公开的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本公开将不会被限制于本文所述的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。