一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及计算机应用技术领域，特别是涉及一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，手机、笔记本电脑、平板电脑等电子设备的功能日益强大。目前，各种应用软件的不断涌现，众多的程序、服务都对电子设备的运算性能提出了更高的要求。电子设备的运算性能越强，电子设备运行应用软件的速度就越快。

目前，为了让用户更好的了解电子设备的运算性能，技术人员开发出了测评软件(也称为“跑分”软件)。这种测评软件在电子设备上运行时，可以通过一定的测试方法对电子设备的运算性能进行测试，并将测试结果告知用户，从而帮助用户了解电子设备的运算性能。

当前的运算性能测试方法是对电子设备运行应用软件的性能进行测试，输出的是电子设备运行应用软件的性能测试结果。然而，电子设备在实际应用中，更多地用于对复杂数学问题进行求解，例如采用回溯法搜索平面及三维面上满足特定条件的解，当前的运算性能测试方法无法衡量电子设备对复杂数学问题的求解能力。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，以实现对电子设备在复杂数学问题求解方面的性能测试。具体技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法，该方法包括：

获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图；

依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点；

统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量；

基于总数量，确定运算性能测试结果。

可选的，获取预先设置的回溯地图的步骤，包括：

获取处理器性能参数；

从预先设置的多个回溯地图中，选择满足处理器性能参数的回溯地图。

可选的，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点的步骤，包括：

从回溯起点开始，向回溯地图的各个方向进行搜索；

若搜索到的当前位置既不是障碍物也不属于已访问点，则将当前位置加入已访问点，其中，已访问点用于记录已经搜索过的位置；

若当前位置不是回溯终点，则继续向回溯地图的各个方向进行搜索；

若当前位置是回溯终点，则将当前位置从已访问点中移出，以使回退一步的位置从回溯地图的其他方向搜索至回溯终点。

可选的，在依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点的步骤之前，该方法还包括：

启动计时器，并将计数器清零；

清零已访问点；

统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量的步骤，包括：

若搜索到的当前位置是回溯终点，则将计数器的数值累加1；

若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行清零已访问点的步骤；

若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量。

可选的，基于总数量，确定运算性能测试结果的步骤，包括：

根据总数量及预设时长，计算平均搜索速度；

基于平均搜索速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均搜索速度成正比关系。

可选的，在基于总数量，确定运算性能测试结果的步骤之后，该方法还包括：

将运算性能测试结果输出至测试界面。

第二方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试装置，该装置包括：

获取模块，用于获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图；

搜索模块，用于依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点；

统计模块，用于统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量；

确定模块，用于基于总数量，确定运算性能测试结果。

可选的，获取模块，具体用于获取处理器性能参数；从预先设置的多个回溯地图中，选择满足处理器性能参数的回溯地图。

可选的，搜索模块，具体用于从回溯起点开始，向回溯地图的各个方向进行搜索；若搜索到的当前位置既不是障碍物也不属于已访问点，则将当前位置加入已访问点，其中，已访问点用于记录已经搜索过的位置；若当前位置不是回溯终点，则继续向回溯地图的各个方向进行搜索；若当前位置是回溯终点，则将当前位置从已访问点中移出，以使回退一步的位置从回溯地图的其他方向搜索至回溯终点。

可选的，该装置还包括：

启动模块，用于启动计时器，并将计数器清零；

清零模块，用于清零已访问点；

统计模块，具体用于若搜索到的当前位置是回溯终点，则将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行清零已访问点的步骤；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量。

可选的，确定模块，具体用于根据总数量及预设时长，计算平均搜索速度；基于平均搜索速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均搜索速度成正比关系。

可选的，该装置还包括：

输出模块，用于将运算性能测试结果输出至测试界面。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的计算机程序时，实现本发明实施例第一方面所提供的方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质内存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例第一方面所提供的方法。

第五方面，本发明实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行本发明实施例第一方面所提供的方法。

本发明实施例有益效果：

本发明实施例提供的方案中，通过获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，基于总数量，确定运算性能测试结果。采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，能够测试出电子设备采用回溯法进行搜索的能力，即一段时长内能够完成多少次搜索，得到从回溯起点到回溯终点的搜索结果，从而实现了对电子设备在复杂数学问题求解方面的性能测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。

图1为本发明实施例的一种运算性能测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例的另一种运算性能测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例的运算性能测试装置的结构示意图；

图4为本发明实施例的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了实现对电子设备在复杂数学问题求解方面的性能测试，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。下面，首先对本发明实施例所提供的运算性能测试方法进行介绍。

本发明实施例所提供的运算性能测试方法的执行主体为：具有数学运算能力的电子设备，例如可以为手机、笔记本电脑、平板电脑、PC(Personal Computer，个人计算机)等。

如图1所示，本发明实施例所提供的一种运算性能测试方法，可以包括如下步骤。

S101，获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图。

S102，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点。

S103，统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量。

S104，基于总数量，确定运算性能测试结果。

应用本发明实施例，通过获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，基于总数量，确定运算性能测试结果。采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，能够测试出电子设备采用回溯法进行搜索的能力，即一段时长内能够完成多少次搜索，得到从回溯起点到回溯终点的搜索结果，从而实现了对电子设备在复杂数学问题求解方面的性能测试。

在本发明实施例中，采用回溯法进行搜索，以解决搜索平面及三维面上的满足特定条件的解的复杂数学问题。回溯法是一种选优搜索法，又称为试探法，按选优条件向前搜索，以达到目标。当搜索到某一步时，发现原先选择并不优或达不到目标，就退回一步重新选择，这种走不通就退回再走的技术为回溯法，而满足回溯条件的某个状态的点成为回溯点。下面，对回溯法中的几个概念进行介绍。

回溯起点：开始执行搜索时的起点，在未开始搜索时，保持在此点。

回溯终点：搜索目标所在的位置，在搜索完成后，保持在此点。

回溯地图：包含要搜索的地图布局信息，即障碍物信息的表，表明了哪些位置是障碍物，有障碍物的表示为1，无障碍物的表示为0。

已访问点：表示已经搜索过的位置，即已经探明的信息点。每执行一步搜索，变换一个位置，可以理解为走到了棋盘的下一格，这个新位置成为已经探明的信息点。将这些已经探明的信息点记录为已访问点，已访问点可以是一个栈结构。

综上可知，回溯起点、回溯终点和回溯地图是在采用回溯法进行搜索的输入，回溯起点、回溯终点和回溯地图可以是人工预先设置的，也可以是电子设备预先生成的。

在本发明实施例的一种实现方式中，获取预先设置的回溯地图的方式，具体可以为：获取处理器性能参数；从预先设置的多个回溯地图中，选择满足处理器性能参数的回溯地图。

针对同一数学运算场景，可以预先设置多个回溯地图，例如可以设置10阶、20阶、30阶的回溯地图，在实际选择哪一个回溯地图时，可以根据处理器性能参数进行选择，处理器性能参数是指能够体现处理器处理能力的属性参数，通常包括CPU(Central ProcessingUnit，中央处理单元)核数和频率，处理器性能参数越大(例如CPU核数越大、频率越大等)，说明处理器能够进行数学运算的能力就越强，相应的，处理器性能参数越大，所选择的回溯地图就可以越复杂，即阶数越高，反之亦反。因此，根据处理器性能参数，来选择回溯地图，可以灵活调整要搜索的地图结构，适当增加或减少复杂度，能够灵活适应不同性能的电子设备。

在获得回溯起点、回溯终点和回溯地图后，便可依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点。

具体的，S102具体可以为：从回溯起点开始，向回溯地图的各个方向进行搜索；若搜索到的当前位置既不是障碍物也不属于已访问点，则将当前位置加入已访问点，其中，已访问点用于记录已经搜索过的位置；若当前位置不是回溯终点，则继续向回溯地图的各个方向进行搜索；若当前位置是回溯终点，则将当前位置从已访问点中移出，以使回退一步的位置从回溯地图的其他方向搜索至回溯终点。

采用回溯法进行搜索的具体过程为：定位到回溯起点，从回溯起点开始向回溯地图的各个方向进行搜索，即向回溯起点的左侧、上侧、右侧下侧分别进行搜索；判断搜索到的当前位置是否为障碍物、是否属于已访问点，如果当前位置不是障碍物也不属于已访问点，则将当前位置加入已访问点，如果当前位置是障碍物或属于已访问点，则退出本步骤；判断搜索到的当前位置是否为回溯终点，如果当前位置不是回溯终点，则可继续向回溯地图的各个方向进行搜索，即向当前位置的左侧、上侧、右侧下侧分别进行搜索，搜索出下一个位置，如果当前位置是回溯终点，则将当前位置从已访问点中移出，以使回退一步的位置从回溯地图的其他方向搜索至回溯终点，这样能够保证回溯起点到回溯终点之间的所有路径都可以搜索到。已访问点可以采用先进后出的栈结构，因此，在将当前位置从已访问点中移出时，可以直接进行弹栈操作即可将当前位置从已访问点中移出。

在本发明实施例的一种实现方式中，在执行S102之前，该方法还可以执行：启动计时器，并将计数器清零；清零已访问点。

相应的，S103具体可以为：若搜索到的当前位置是回溯终点，则将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行清零已访问点的步骤；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量。

本发明实施例可以采用计时器来记录运算性能测试进行的时长，采用计数器用来记录完成了从回溯起点至回溯终点的搜索数量，在每完成一次搜索后，将计数器记录的数值累加1。并且，每次进行搜索之前，需要将已访问点清零，以保证已访问点中记录的仅为本次搜索探明的位置。

如果一次搜索后，计时器的计时时长还未达到预设时长，则应继续进行搜索，由于利用回溯法进行搜索的回溯起点、回溯终点和回溯地图固定不变，需返回执行清零已访问点的步骤。如果计时器的计时时长达到了预设时长，则应当停止搜索，基于计数器中记录的完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，确定出运算性能测试结果。与搜索地图相同，预设时长也可以基于处理器性能参数预先设定，也就是说，基于处理器性能参数，也可以灵活调整预设时长的取值，以适应不同性能的电子设备。

电子设备不断地采用回溯法进行从回溯起点至回溯终点的搜索，并对完成搜索的数量进行统计，电子设备的运算性能体现在工作时长(即预设时长)内能够完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，工作时长内能够完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量越多，则说明电子设备的运算性能越好。在本发明实施例中，需要对预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量进行统计，基于统计得到的总数量即可确定出运算性能测试结果，具体的统计过程就是每完成一次从回溯起点至回溯终点的搜索过程，就将搜索数量加1。所确定出的运算性能测试结果可以是具体的评分分数，也可以是优、良、中、差等表示性能程度的结果，还可以直接将统计得到的总数量作为运算性能测试结果，这里不做具体限定。

在实际应用中，一般是将运算性能测试结果反馈给用户，为了方便用户更为直观地看出电子设备运算性能的好坏，运算性能测试结果通常设置为测试评分。相应的，S104具体可以为：根据总数量及预设时长，计算平均搜索速度；基于平均搜索速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均搜索速度成正比关系。

平均搜索速度是指电子设备在单位时间内能够完成从回溯起点至回溯终点的搜索数量，在开始进行测试时，可以记录下起始时间，在达到预设时长时，可以记录下结束时间，则平均搜索速度＝总数量/(结束时间-起始时间)，或者也可以直接用总数量除以预设时长，得到平均搜索速度。测试评分与平均搜索速度之间呈正比关系，也就是说，平均搜索速度越快，则电子设备的运算性能越好，相应可以分配更高的测试评分。在具体的应用中，测试评分的满分可以设置为10分或者100分，在基于平均搜索速度分配测试评分时，可以在0分至满分的区间内进行分配。

基于图1所示实施例，本发明实施例所提供的另一种运算性能测试方法，如图2所示，可以包括如下步骤。

S201，获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图。

S202，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点。

S203，统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量。

S204，基于总数量，确定运算性能测试结果。

S205，将运算性能测试结果输出至测试界面。

在经过如图1所示实施例的方法确定出运行性能测试结果后，可以将得到的运算性能测试结果输出至测试界面，该测试界面为人工交互界面，这样，用户可以从测试界面上直观地看到电子设备进行复杂数学问题求解，尤其是采用回溯法进行搜索以解决数学问题的性能，进一步的，如果电子设备的运算性能测试结果很好，可以选择让该电子设备处理更为复杂的数学问题。

为了便于理解，下面结合具体施例，对本发明实施例所提供的运算性能测试方法进行介绍。以使用安兔兔测评软件评测PC为例，安兔兔测评软件将回溯法搜索性能测试作为性能评测的一个测试项。

首先，用户手动打开安兔兔测评软件并点击测试按钮以启动评测。

其次，运行运算性能测试方法：

第一步，输入回溯起点、回溯终点、回溯地图、超时时间(即预设时长)。

第二步，启动计时器，记录起始时间，清零计数器C＝0。

第三步，清零已访问点。已访问点保存已经探明的信息点，是一个先进后出的栈结构。

第四步，开始使用回溯法进行搜索。回溯方法如下：

(1)定位到回溯起点。

(2)判断当前位置是否为障碍物、是否属于已访问点。如果是则退出本步骤，如果不是则执行第(3)步。

(3)将当前位置加入已访问点。

(4)判断当前位置是否为回溯终点，如果不是则执行第(5)步，如果是则将计数器加1，继续执行第(6)步。

(5)从当前位置分别向回溯地图的四个方向开始搜索，即向左侧、上侧、右侧、下侧分别搜索。本步骤是会执行一个递归操作，会重新从新的位置开始回溯。

(6)将当前位置从已访问点中移出(因为已访问点是栈结构，所以只需要弹栈即可)。

第五步，判断是否达到超时时间，如果未超时，继续执行第三步，如果超时则结束本步骤，记录下结束时间。

第六步，计算平均搜索速度：平均搜索速度＝总数量/(结束时间-起始时间)。

第七步，输出运算性能测试结果到测试界面。其中，运算性能测试结果为基于平均搜索速度确定出的测试评分。

最后，查看评测的结果：

1)处理器性能总分值

2)处理器常用算法

3)处理器单核性能

4)处理器多核性能

其中，处理器单核性能测试项包含了本发明的运算性能测试方法。

基于上述方法实施例，本发明实施例提供了一种运算性能测试装置，如图3所示，该装置可以包括：

获取模块310，用于获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图；

搜索模块320，用于依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点；

统计模块330，用于统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量；

确定模块340，用于基于总数量，确定运算性能测试结果。

可选的，获取模块310，具体可以用于获取处理器性能参数；从预先设置的多个回溯地图中，选择满足处理器性能参数的回溯地图。

可选的，搜索模块320，具体可以用于从回溯起点开始，向回溯地图的各个方向进行搜索；若搜索到的当前位置既不是障碍物也不属于已访问点，则将当前位置加入已访问点，其中，已访问点用于记录已经搜索过的位置；若当前位置不是回溯终点，则继续向回溯地图的各个方向进行搜索；若当前位置是回溯终点，则将当前位置从已访问点中移出，以使回退一步的位置从回溯地图的其他方向搜索至回溯终点。

可选的，该装置还可以包括：

启动模块，用于启动计时器，并将计数器清零；

清零模块，用于清零已访问点；

统计模块330，具体可以用于若搜索到的当前位置是回溯终点，则将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行清零已访问点的步骤；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量。

可选的，确定模块340，具体可以用于根据总数量及预设时长，计算平均搜索速度；基于平均搜索速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均搜索速度成正比关系。

可选的，该装置还可以包括：

输出模块，用于将运算性能测试结果输出至测试界面。

应用本发明实施例，通过获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，基于总数量，确定运算性能测试结果。采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，能够测试出电子设备采用回溯法进行搜索的能力，即一段时长内能够完成多少次搜索，得到从回溯起点到回溯终点的搜索结果，从而实现了对电子设备在复杂数学问题求解方面的性能测试。

本发明实施例还提供了一种电子设备，如图4所示，包括处理器401和存储器402，其中，存储器402，用于存放计算机程序；处理器401，用于执行存储器402上所存放的计算机程序时，实现上述运算性能测试方法。

上述存储器可以包括RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)，也可以包括NVM(Non-volatile Memory，非易失性存储器)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离上述处理器的存储装置。

上述处理器可以是通用处理器，包括CPU、NP(Network Processor，网络处理器)等；还可以是DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理器)、ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit，专用集成电路)、FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

本实施例中，上述处理器通过读取存储器中存储的计算机程序，并通过运行计算机程序，能够实现：通过获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，基于总数量，确定运算性能测试结果。采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，能够测试出电子设备采用回溯法进行搜索的能力，即一段时长内能够完成多少次搜索，得到从回溯起点到回溯终点的搜索结果，从而实现了对电子设备在复杂数学问题求解方面的性能测试。

另外，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质内存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述运算性能测试方法。

本实施例中，计算机可读存储介质存储有在运行时执行本发明实施例所提供的运算性能测试方法的计算机程序，因此能够实现：通过获取预先设置的回溯起点、回溯终点以及回溯地图，依据回溯地图，采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，基于总数量，确定运算性能测试结果。采用回溯法从回溯起点搜索至回溯终点，统计出预设时长内完成从回溯起点至回溯终点的搜索总数量，能够测试出电子设备采用回溯法进行搜索的能力，即一段时长内能够完成多少次搜索，得到从回溯起点到回溯终点的搜索结果，从而实现了对电子设备在复杂数学问题求解方面的性能测试。

在本发明提供的又一实施例中，还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述运算性能测试方法。

在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、DSL(Digital Subscriber Line，数字用户线))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如DVD(DigitalVersatile Disc，数字多功能光盘))、或者半导体介质(例如SSD(Solid State Disk，固态硬盘))等。

对于运算性能测试装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品实施例而言，由于其所涉及的方法内容基本相似于前述的方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于运算性能测试装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。