一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及计算机应用技术领域，特别是涉及一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，手机、笔记本电脑、平板电脑等电子设备的功能日益强大。目前，各种应用软件的不断涌现，众多的程序、服务都对电子设备的运算性能提出了更高的要求。电子设备的运算性能越强，电子设备运行应用软件的速度就越快。

目前，为了让用户更好的了解电子设备的运算性能，技术人员开发出了测评软件(也称为“跑分”软件)。这种测评软件在电子设备上运行时，可以通过一定的测试方法对电子设备的运算性能进行测试，并将测试结果告知用户，从而帮助用户了解电子设备的运算性能。

当前的运算性能测试方法是对电子设备运行应用软件的性能进行测试，输出的是电子设备运行应用软件的性能测试结果，然而，电子设备在实际应用中，更主要的是进行数学运算，当前的运算性能测试方法无法衡量电子设备在数学运算，尤其是在整数运算方面的性能。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，以实现对电子设备在整数运算方面的性能测试。具体技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法，该方法包括：

生成随机数；

若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；

统计预设时长内完成分解处理的合数数量；

基于合数数量，确定运算性能测试结果。

可选的，生成随机数的步骤，包括：

获取处理器性能参数；

根据处理器性能参数，确定随机种子及随机范围；

基于随机种子，生成随机数；

若所生成的随机数在随机范围内，则保留所生成的随机数。

可选的，对该随机数进行分解处理的步骤，包括：

以该随机数为搜索上限，遍历2至搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除搜索上限，则确定当前质数为质数因子；

将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。

可选的，在生成随机数的步骤之前，该方法还包括：

在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；

统计预设时长内完成分解处理的合数数量的步骤，包括：

在完成分解处理后，将计数器的数值累加1；

若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机数的步骤；

若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成分解处理的合数数量。

可选的，基于合数数量，确定运算性能测试结果的步骤，包括：

根据合数数量及预设时长，计算平均分解速度；

基于平均分解速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均分解速度成正比关系。

可选的，在基于合数数量，确定运算性能测试结果的步骤之后，该方法还包括：

将运算性能测试结果输出至测试界面。

第二方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试装置，该装置包括：

生成模块，用于生成随机数；

分解处理模块，用于若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；

统计模块，用于统计预设时长内完成分解处理的合数数量；

确定模块，用于基于合数数量，确定运算性能测试结果。

可选的，生成模块，具体用于获取处理器性能参数；根据处理器性能参数，确定随机种子及随机范围；基于随机种子，生成随机数；若所生成的随机数在随机范围内，则保留所生成的随机数。

可选的，分解处理模块，具体用于以该随机数为搜索上限，遍历2至搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除搜索上限，则确定当前质数为质数因子；将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。

可选的，该装置还包括：

启动模块，用于在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；

统计模块，具体用于在完成分解处理后，将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机数的步骤；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成分解处理的合数数量。

可选的，确定模块，具体用于根据合数数量及预设时长，计算平均分解速度；基于平均分解速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均分解速度成正比关系。

可选的，该装置还包括：

输出模块，用于将运算性能测试结果输出至测试界面。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的计算机程序时，实现本发明实施例第一方面所提供的方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质内存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例第一方面所提供的方法。

第五方面，本发明实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行本发明实施例第一方面所提供的方法。

本发明实施例有益效果：

本发明实施例提供的方案中，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。

图1为本发明实施例的一种运算性能测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例的另一种运算性能测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例的再一种运算性能测试方法的流程示意图；

图4为本发明实施例的又一种运算性能测试方法的流程示意图；

图5为本发明实施例的运算性能测试装置的结构示意图；

图6为本发明实施例的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了实现对电子设备在整数运算方面的性能测试，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。下面，首先对本发明实施例所提供的运算性能测试方法进行介绍。

本发明实施例所提供的运算性能测试方法的执行主体为：具有数学运算能力的电子设备，例如可以为手机、笔记本电脑、平板电脑、PC(Personal Computer，个人计算机)等。

如图1所示，本发明实施例所提供的一种运算性能测试方法，可以包括如下步骤。

S101，生成随机数。

S102，若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理。

S103，统计预设时长内完成分解处理的合数数量。

S104，基于合数数量，确定运算性能测试结果。

应用本发明实施例，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。

本发明实施例在进行运算性能测试时，生成随机数，由于整数运算主要包括对合数的分解处理，因此，在生成随机数后，需要对所生成的随机数进行判断，判断所生成的随机数是否为合数，如果所生成的随机数是合数，则对所生成的随机数进行分解处理。如果所生成的随机数不是合数，则无法对其进行分解处理，应丢弃该随机数，并重新生成随机数。

其中，合数是指在大于数字1的自然数中除了能被1和本身整除外，还能被其他正整数整除的数，与之相对的是质数(也被称为素数)，而自然数1既不属于质数也不属于合数。很明显最小的合数是4，最小的质数是2。

在本发明实施例的具体实现方式中，可以一次性生成多个随机数，依次判断每个随机数是否为合数，并在为合数的情况下对其进行分解处理；也可以先生成一个随机数，判断其是否为合数，如果是合数则对其进行分解处理，在完成分解处理后，再生成另一个随机数，重新执行上述步骤。

具体的，对随机数进行分解处理的步骤，具体可以为：以该随机数为搜索上限，遍历2至搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除搜索上限，则确定当前质数为质数因子；将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。

任何一个合数都能被分解为多个质数的乘积，基于此，假设生成的随机数为N，具体的分解过程就是：以N为搜索上限，遍历从2到N之间的所有质数，如果当前质数P能够整除N，即N％P＝0，则认为当前质数P为一个质数因子。如果当前质数P不能整除N，则应当丢弃该当前质数P，继续搜索下一个质数。然后将N置为N/P(即将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限)，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。

电子设备不断地对是合数的随机数进行分解处理，并对完成分解处理的合数数量进行统计，电子设备的整数运算性能主要体现在工作时长(即预设时长)内能够完成分解处理的合数数量，工作时长内能够完成分解处理的合数数量越多，则说明电子设备的整数运算性能越好。在本发明实施例中，需要对预设时长内完成分解处理的合数数量进行统计，基于统计得到的合数数量即可确定出运算性能测试结果。所确定出的运算性能测试结果可以是具体的评分分数，也可以是优、良、中、差等表示性能程度的结果，还可以直接将统计得到的合数数量作为运算性能测试结果，这里不做具体限定。

在实际应用中，一般是将运算性能测试结果反馈给用户，为了方便用户更为直观地看出电子设备运算性能的好坏，运算性能测试结果通常设置为测试评分。相应的，基于合数数量，确定运算性能测试结果的步骤，具体可以为：根据合数数量及预设时长，计算平均分解速度；基于平均分解速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均分解速度成正比关系。

平均分解速度是指电子设备在单位时间内能够完成分解处理的合数数量，在开始进行测试时，可以记录下起始时间，在达到预设时长时，可以记录下结束时间，则平均分解速度＝合数数量/(结束时间-起始时间)，或者也可以直接用合数数量除以预设时长，得到平均分解速度。测试评分与平均分解速度之间呈正比关系，也就是说，平均分解速度越快，则电子设备的整数运算性能越好，相应可以分配更高的测试评分。在具体的应用中，测试评分的满分可以设置为10分或者100分，在基于平均分解速度分配测试评分时，可以在0分至满分的区间内进行分配。

基于图1所示实施例，本发明实施例所提供的另一种运算性能测试方法，如图2所示，可以包括如下步骤。

S201，获取处理器性能参数。

S202，根据处理器性能参数，确定随机种子及随机范围。

S203，基于随机种子，生成随机数。

S204，若所生成的随机数在随机范围内，且该随机数为合数，则对该随机数进行分解处理。

S205，统计预设时长内完成分解处理的合数数量。

S206，基于合数数量，确定运算性能测试结果。

一般计算机的随机数都是伪随机数，通常是先获取一个随机种子(真随机数，一般是固定值)作为初始条件，然后用一定的算法不停迭代产生随机数。在具有相同的随机种子情况下生成的随机数序列是相同的。随机范围是指电子设备能够处理数值的合理范围。

随机种子和随机范围一般与处理器的处理性能相关，在本发明实施例中，随机种子和随机范围是可调整的，具体的调整方式是先获取处理器性能参数，处理器性能参数是指能够体现处理器处理能力的属性参数，通常包括CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)核数和频率，处理器性能参数越大(例如CPU核数越大、频率越大等)，说明处理器能够进行整数运算的能力就越强，相应的，处理器性能参数越大，随机种子就可以设置的更大一些、随机范围也可设置的更宽一些，反之亦反。因此，根据处理器性能参数，来确定随机种子和随机范围的取值，能够实现对随机种子和随机范围的调整。具体根据处理器性能参数确定随机种子和随机范围方式，可以是预先设置好处理器性能参数与随机种子、随机范围之间的映射关系，该映射关系表征了处理器性能参数与随机种子、随机范围之间正相关，在获取到处理器性能参数后，基于该映射关系即可得到相应的随机种子和随机范围。

在确定出随机种子和随机范围后，可以基于随机种子生成随机数，具体基于随机种子生成随机数的方式可以采用平方取中法、线性同余法等方法，这些方法都属于本领域惯用的基于随机种子生成随机数的方法，这里不再赘述。如果生成的随机数在随机范围内且为合数，说明所生成的随机数是电子设备能够处理的合理合数，则可进行后续的合数分解处理。如果所生成的随机数不在随机范围内，则说明所生成的随机数不适合，应丢弃该随机数并重新生成一个随机数。

通过本发明实施例，能够实现对随机种子和随机范围的调整，从而可以控制生成的合数大小，能够灵活适应不同性能的电子设备。

基于图1所示实施例，本发明实施例所提供的再一种运算性能测试方法，如图3所示，可以包括如下步骤。

S301，在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零。

S302，生成随机数。

S303，若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理。

S304，在完成分解处理后，将计数器的数值累加1。

S305，判断计时器的计时时长是否达到预设时长，若达到则执行S306，若未达到则返回执行S302。

S306，从计数器中读取出预设时长内完成分解处理的合数数量。

S307，基于合数数量，确定运算性能测试结果。

一般情况下，电子设备的运算性能测试是触发启动的，可以是由用户通过点击测试界面上的启动按钮触发的，也可以是电子设备周期性启动触发的。在触发启动时，会生成一个测试开始指令，当电子设备接收到测试开始指令时，启动计时器并将计数器清零，计时器用来记录运算性能测试进行的时长，计数器用来记录完成了分解处理的合数数量，在完成一次分解处理后，将计数器记录的数值累加1。

如果一次分解处理完成后，计时器的计时时长还未达到预设时长，则应继续进行合数分解处理，需返回执行生成随机数的步骤，生成一个新的随机数重新对其进行分解处理。如果计时器的计时时长达到了预设时长，则应当停止生成随机数，基于预设时长内完成分解处理的合数数量，确定出运算性能测试结果，具体确定运算性能测试结果的方式与图1所示实施例中的方式相同，这里不再赘述。

基于图1所示实施例，本发明实施例所提供的又一种运算性能测试方法，如图4所示，可以包括如下步骤。

S401，生成随机数。

S402，若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理。

S403，统计预设时长内完成分解处理的合数数量。

S404，基于合数数量，确定运算性能测试结果。

S405，将运算性能测试结果输出至测试界面。

在经过如上述实施例的方法确定出运行性能测试结果后，可以将得到的运算性能测试结果输出至测试界面，该测试界面为人工交互界面，这样，用户可以从测试界面上直观地看到电子设备进行整数运算，尤其是进行合数分解处理的性能，进一步的，如果电子设备的运算性能测试结果很好，可以选择让该电子设备处理更为复杂的整数。

为了便于理解，下面结合具体施例，对本发明实施例所提供的运算性能测试方法进行介绍。以使用安兔兔测评软件评测PC为例，安兔兔测评软件将合数分解运算性能测试作为性能评测的一个测试项。

首先，用户手动打开安兔兔测评软件并点击测试按钮以启动评测。

其次，运行运算性能测试方法：

第一步，获取处理器性能参数，根据处理器性能参数，确定随机种子seed及随机范围range[RAND_MIN,RAND_MAX]和工作时长timespan。

第二步，启动计时器，记录起始时间，清零计数器C＝0。

第三步，依据随机种子seed生成随机数，如果随机数在下限RAND_MIN和上限RAND_MAX范围内则执行第四步，否则重新生成随机数。

第四步，判断生成的随机数N是否为合数，如果是合数则执行第五步，否则在第三步重新生成随机数。

第五步，分解合数。分解方法如下：

遍历从2到N之间的所有质数，如果当前质数P能够整除N，即N％P＝0，则认为当前质数P为一个质数因子。然后将N置为N/P，重新从2开始寻找质数因子，直到N为1，即完成所有的分解处理。如果当前质数P不能整除N，则继续下一个质数的循环。

待将合数分解完成后，累加计数器C，记录完成分解处理的合数数量。

第六步，判断测试时长是否超过了预定的工作时长，如果未超过，则继续执行第三步，如果超过则结束本步骤，记录结束时间。

第七步，计算平均分解速度：平均分解速度＝合数数量/(结束时间-起始时间)。

第八步，输出运算性能测试结果到测试界面。其中，运算性能测试结果为基于平均分解速度确定出的测试评分。

通过使用随机种子来生成随机范围内的随机数，在所生成的随机数为合数的情况下，将合数分解为多个质数的乘积，得到的质数因子为该合数可被之整除的质数序列。在实际环境中可以通过调整随机种子值和随机范围来控制生成的合数大小，通过计算合数分解的数量就可以衡量电子设备在整数运算测试项目上所表现的性能，并可以通过调整随机种子和随机范围来灵活应对不同性能的电子设备。

基于上述方法实施例，本发明实施例提供了一种运算性能测试装置，如图5所示，该装置可以包括：

生成模块510，用于生成随机数；

分解处理模块520，用于若所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理；

统计模块530，用于统计预设时长内完成分解处理的合数数量；

确定模块540，用于基于合数数量，确定运算性能测试结果。

可选的，生成模块510，具体可以用于获取处理器性能参数；根据处理器性能参数，确定随机种子及随机范围；基于随机种子，生成随机数；若所生成的随机数在随机范围内，则保留所生成的随机数。

可选的，分解处理模块520，具体可以用于以该随机数为搜索上限，遍历2至搜索上限之间的所有质数，如果当前质数可整除搜索上限，则确定当前质数为质数因子；将搜索上限除以当前质数的商值设置为更新的搜索上限，重新从2开始搜索质数因子，直至更新的搜索上限为1。

可选的，该装置还可以包括：

启动模块，用于在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；

统计模块530，具体可以用于在完成分解处理后，将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机数的步骤；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内完成分解处理的合数数量。

可选的，确定模块540，具体可以用于根据合数数量及预设时长，计算平均分解速度；基于平均分解速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均分解速度成正比关系。

可选的，该装置还可以包括：

输出模块，用于将运算性能测试结果输出至测试界面。

应用本发明实施例，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。

本发明实施例还提供了一种电子设备，如图6所示，包括处理器601和存储器602，其中，存储器602，用于存放计算机程序；处理器601，用于执行存储器602上所存放的计算机程序时，实现上述运算性能测试方法。

上述存储器可以包括RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)，也可以包括NVM(Non-volatile Memory，非易失性存储器)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离上述处理器的存储装置。

上述处理器可以是通用处理器，包括CPU、NP(Network Processor，网络处理器)等；还可以是DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理器)、ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit，专用集成电路)、FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

本实施例中，上述处理器通过读取存储器中存储的计算机程序，并通过运行计算机程序，能够实现：通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。

另外，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质内存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述运算性能测试方法。

本实施例中，计算机可读存储介质存储有在运行时执行本发明实施例所提供的运算性能测试方法的计算机程序，因此能够实现：通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。

在本发明提供的又一实施例中，还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述运算性能测试方法。

在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、DSL(Digital Subscriber Line，数字用户线))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如DVD(DigitalVersatile Disc，数字多功能光盘))、或者半导体介质(例如SSD(Solid State Disk，固态硬盘))等。

对于运算性能测试装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品实施例而言，由于其所涉及的方法内容基本相似于前述的方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于运算性能测试装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。