一种射频测试针及射频测试设备

技术领域

本发明涉及射频测试领域，尤其涉及一种射频测试针及射频测试设备。

背景技术

射频测试针是一种检测工具，人们可以通过使用射频测试针在晶片层次上测量射频组件的真正特性；也就是说，射频测试针在射频产品生命周期中的几乎每一个阶段都起着重要作用，例如技术开发，模型参数提取，设计验证和调试，以及小规模生产测试和最终的生产测试；其中，射频测试针可以将研究和开发时间缩短并且大大降低开发新产品的成本。

目前，现有技术中的射频测试针需要将射频测试针与产品相接触，然而现有技术中的射频测试针多采用盲插的方式令射频测试针与产品接触，一旦没有将射频测试针对准产品就有可能会发生射频测试针被顶弯损坏的情况，导致射频测试针容易损坏。

发明内容

本发明的目的在于提供一种射频测试针及射频测试设备，来解决现有技术中射频测试针容易损坏的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种射频测试针，包括射频测试组件，还包括连接法兰，所述连接法兰上贯穿地开设有用于安装所述射频测试组件的浮动孔；所述连接法兰通过所述浮动孔套设在所述射频测试组件上；

所述射频测试组件包括内壳体，以及用于包覆所述内壳体的第一外壳体和第二外壳体；所述第一外壳体和所述第二外壳体分别设于所述连接法兰的相对两侧；

所述内壳体的一端穿过所述浮动孔，插接于所述第一外壳体内；所述第二外壳体套设于所述内壳体外；

所述第一外壳体的内侧壁与所述内壳体的外侧壁之间，所述第二外壳体的内侧壁与所述内壳体的外侧壁之间，均留设有安装间隙；所述内壳体外还套设有浮动弹簧，所述浮动弹簧的两端分别置于两所述安装间隙中。

可选地，所述射频测试组件还包括安装于所述内壳体内的第一绝缘体，以及沿所述浮动孔的孔深方向贯穿所述第一绝缘体的内导体；所述内导体和所述第一绝缘体固定。

可选地，所述第一绝缘体由沿其中线对称分布的两分割绝缘体对接组成；

两个所述分割绝缘体于对接处形成有用于安装所述内导体的第一贯通孔，所述第一贯通孔的孔壁上设有第一定位槽；

所述内导体的外侧壁上凸设有用于与所述第一定位槽配合以固定所述内导体和所述第一绝缘体的定位环。

可选地，所述内导体包括用于电连接检测电路的第一针脚和用于电连接产品的第二针脚；

所述第一针脚和所述第二针脚之间设置有第一弹簧；所述第一弹簧的一端与所述第一针脚抵接，另一端与所述第二针脚抵接。

可选地，所述射频测试组件还包括活动式外壳体；所述活动式外壳体的一端可活动地套设于所述第二外壳体内；

所述活动式外壳体与所述内壳体之间设置有第二弹簧；所述第二弹簧设于所述第二外壳体内，所述第二弹簧的一端与与所述内壳体的一端端面抵接，所述第二弹簧的另一端与所述活动式外壳体的一端端面抵接。

可选地，所述活动式外壳体的一端朝所述内壳体内延伸设置有延伸部，且所述延伸部开设有形变槽；

所述内壳体靠近所述活动式外壳体的端部内侧形成有内径沿远离所述活动式外壳体的方向逐渐变小的倾斜腔体，所述延伸部与所述倾斜腔体的壁面抵接。

可选地，所述内导体与所述活动式壳体之间设置有第二绝缘介质和第三绝缘介质；

所述第二绝缘介质开设有第二贯通孔，所述第三绝缘介质开设有第三贯通孔；所述内导体穿过所述第二贯通孔和所述第三贯通孔；

所述活动式壳体对应所述第二绝缘介质的位置设置有第二定位槽；所述活动式壳体对应所述第三绝缘介质的位置设置有第三定位槽。

可选地，所述活动式壳体包括依次设置的第一活动式组合壳体、第二活动式组合壳体和第三活动式组合壳体；

所述第一活动式组合壳体的一端穿过所述第二弹簧并可活动地插接于所述内壳体内；

所述第二活动式组合壳体套设于所述第一活动式组合壳体远离所述内壳体的一端外，且所述第二活动式组合壳体与所述第一活动式组合壳体对接形成所述第二定位槽；

所述第三活动式组合壳体套设于所述第二活动式组合壳体远离所述内壳体的一端外，且所述第三活动式组合壳体与所述第二活动式组合壳体对接形成所述第三定位槽。

可选地，所述第一贯通孔的孔径与所述第一绝缘介质的外径之比、所述第二贯通孔的孔径与所述第二绝缘介质的外径之比及所述第三贯通孔的孔径与所述第三绝缘介质的外径之比均相等。

一种射频测试设备，包括连接座和如上所述的射频测试针；

所述连接座和所述连接法兰固定连接。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明提供的射频测试针及射频测试设备，通过将浮动弹簧套设在内壳体外，并使浮动弹簧的两端分别置于两所述安装间隙中，令射频测试针具有容差性能；当射频测试组件没有对准产品而发生偏移时，连接法兰下方的内壳体及第二外壳体通过浮动弹簧相对于连接法兰向靠近产品的方向偏移，连接法兰上方的内壳体及第二外壳体通过浮动弹簧相对于连接法兰向远离产品的方向偏移，避免射频测试组件因没有对准产品而发生形变，避免射频测试组件被产品顶弯的情况发生；使射频测试针与检查对象之间能够精确对准，以防止射频测试针与检查对象损伤，有效提高射频测试针及射频测试设备的容差性能。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本发明实施例一提供的射频探测针的整体结构示意图；

图2为本发明实施例一提供的射频探测针的正视结构示意图；

图3为本发明实施例一提供的射频探测针的侧视结构示意图；

图4为图3在A-A处的剖面结构示意图；

图5为图4在B处的局部放大结构示意图；

图6为图4在C处的局部放大结构示意图；

图7为图4在D处的局部放大结构示意图；

图8为图4在E处的局部放大结构示意图；

图9为图4在F-F处的剖面结构示意图。

图示说明：10、连接法兰；101、浮动孔；20、浮动弹簧；30、内壳体；301、倾斜腔体；40、第一外壳体；50、第二外壳体；

60、内导体；601、第一针脚；602、第二针脚；603、第一弹簧；

70、第一绝缘介质；701、第一贯通孔；702、第一定位槽；

80、活动式外壳体；801、延伸部；802、第一活动式组合壳体；803、第二活动式组合壳体；804、第三活动式组合壳体；

90、第二弹簧；100、第二绝缘介质；1001、第二贯通孔；110、第三绝缘介质；1101、第三贯通孔。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

请参考图1至图9，图1为本发明实施例一提供的射频探测针的整体结构示意图，图2为本发明实施例一提供的射频探测针的正视结构示意图，图3为本发明实施例一提供的射频探测针的侧视结构示意图，图4为图3在A-A处的剖面结构示意图，图5为图4在B处的局部放大结构示意图，图6为图4在C处的局部放大结构示意图，图7为图4在D处的局部放大结构示意图，图8为图4在E处的局部放大结构示意图，图9为图4在F-F处的剖面结构示意图。

实施例一

本实施例提供了一种射频测试针，应用于射频测试领域，能够对射频产品进行测试，且本实施例的射频测试针具有浮动功能，容差性能强，能够防止射频测试针意外损坏。

如图1至图5所示，本实施例的射频测试针包括射频测试组件，其特征在于，还包括连接法兰10，连接法兰10上贯穿地开设有用于安装射频测试组件的浮动孔101；连接法兰10通过浮动孔101套设在射频测试组件上。

射频测试组件包括内壳体30，以及用于包覆内壳体30的第一外壳体40和第二外壳体50；第一外壳体40和第二外壳体50分别设于连接法兰10的相对两侧。

内壳体30的一端穿过浮动孔101，插接于第一外壳体40内；第二外壳体50套设于内壳体30外。

第一外壳体50的内侧壁与内壳体30的外侧壁之间，第二外壳体50的内侧壁与内壳体30的外侧壁之间，均留设有安装间隙；内壳体30外还套设有浮动弹簧20，浮动弹簧20的两端分别置于两安装间隙中。

具体地，通过将浮动弹簧20套设在内壳体30外，并使浮动弹簧20的两端分别置于两所述安装间隙中，令射频测试针具有容差性能；当射频测试组件没有对准产品而发生偏移时，连接法兰10下方的内壳体30及第二外壳体50通过浮动弹簧20相对于连接法兰10向靠近产品的方向偏移，连接法兰10上方的内壳体30及第二外壳体50通过浮动弹簧20相对于连接法兰10向远离产品的方向偏移，避免射频测试组件因没有对准产品而发生形变，避免射频测试组件被产品顶弯的情况发生；使射频测试针与检查对象具有容差性能，能够精确对准，以防止射频测试针与检查对象损伤，有效提高射频测试针及射频测试设备的容差性能。

另外地，内壳体30穿过浮动孔101，再通过将内壳体30的一端插接于第一外壳体40内，再将第二外壳体50套设于内壳体30的另一端外以完成射频测试组件与连接法兰10的组装，通过令连接法兰10、内壳体30、第一外壳体40及第二外壳体50分体设计，一方面便于射频测试针的组装，另一方面减少了连接法兰10、内壳体30、第一外壳体40及第二外壳体50的最小内径和最大外径的差值，使得各个零件成型所用的棒材切削量少，加工成本低，同时也由于连接法兰10为板状，能够利用冲压成型，进一步减少连接法兰10的制造成本及加工时间。

需要补充的是，内壳体30与第一外壳体40之间的安装间隙为浮动弹簧顶端偏摆腔体，内壳体30与第二外壳体500之间的安装间隙为浮动弹簧底端偏摆腔体，浮动弹簧底端偏摆腔体的内径大于浮动弹簧顶端偏摆腔体的内径，为浮动弹簧20的偏摆量提供了更大的空间，避免浮动弹簧20在偏摆的过程中被卡住，提高了容错性能。

进一步地，如图4和图5所示，射频测试组件还包括安装于内壳体30内的第一绝缘体70，以及沿浮动孔101的孔深方向贯穿第一绝缘体70的内导体60；内导体60和第一绝缘体70固定。

进一步地，如图9所示，第一绝缘体70由沿其中线对称分布的两分割绝缘体对接组成。

两个分割绝缘体于对接处形成有用于安装内导体60的第一贯通孔701，第一贯通孔701的孔壁上设有第一定位槽702。

内导体60的外侧壁上凸设有用于与第一定位槽702配合以固定内导体60和第一绝缘体70的定位环。

具体地，分割绝缘体的数量为2个，每个分割绝缘体均为半圆筒状，2个分割绝缘体拼接能形成圆筒状的第一绝缘体70，且内导体60能通过定位环与第一贯通孔701的孔壁上的第一定位槽702实现定位，而第一绝缘体70分别被内壳体30和第一外壳体40所限位，从而实现内导体60相对于连接法兰10的位置固定；通过上述设置，保证了内导体60在射频测试针中的位置稳定，因此在保证内导体60位置精度的前提下，减少内导体60与其他零件的接触面积也能保证其位置精度，进而可以减少内导体60的整体尺寸，从而减小射频测试针的整体尺寸，起到节省空间，节约成本的效果。

进一步地，如图6和图7的设置，内导体60包括用于电连接检测电路的第一针脚601和用于电连接产品的第二针脚602。

第一针脚601和第二针脚602之间设置有第一弹簧603；第一弹簧603的一端与第一针脚601抵接，另一端与第二针脚602抵接。

通过第一弹簧603的设置，在第一针脚601和第二针脚603起到浮动连接的效果，为内导体60提供了轴向浮动的效果，加强射频测试组件的整体容错性能。

进一步地，如图4所示，射频测试组件还包括活动式外壳体80；活动式外壳体80的一端可活动地套设于第二外壳体50内。

活动式外壳体80与内壳体30之间设置有第二弹簧90；第二弹簧90设于第二外壳体50内，第二弹簧90的一端与与内壳体30的一端端面抵接，第二弹簧90的另一端与活动式外壳体80的一端端面抵接。

具体地，通过第二弹簧90的设置使得活动式外壳体80与产品外侧抵接时，能够与产品外侧紧密接触，起到初步定位的效果，减少射频测试组件没有对准产品的情况发生。

进一步地，如图4和图6所示，活动式外壳体80的一端朝内壳体30内延伸设置有延伸部801，且延伸部801开设有形变槽。

内壳体30靠近活动式外壳体80的端部内侧形成有内径沿远离活动式外壳体80的方向逐渐变小的倾斜腔体301，延伸部801与倾斜腔体301的壁面抵接。

具体地，内壳体30的倾斜腔体的内径由大至小的变化方向为内壳体30远离第二弹簧90的方向；其中，当射频测试组件接触产品时，活动式外壳80与产品接触并持续挤压，活动式外壳80在压力的作用下会往连接法兰10的方向移动，进而延伸部801向倾斜腔体的内部移动，随着延伸部801的移动，延伸部801被倾斜腔体越来越窄的腔壁挤压，在形变槽的作用下延伸部801向内形变，并持续提供压力，令活动式外壳体80与内壳体30的接触更加紧密，提高高频信号的传输效率。

进一步地，如图7和图8所示，内导体60与活动式壳体80之间设置有第二绝缘介质100和第三绝缘介质110。

第二绝缘介质100开设有第二贯通孔1001，第三绝缘介质110开设有第三贯通孔1101；内导体60穿过第二贯通孔1001和第三贯通孔1101。

活动式壳体80对应第二绝缘介质100的位置设置有第二定位槽；活动式壳体80对应第三绝缘介质110的位置设置有第三定位槽。通过第二绝缘介质100和第三绝缘介质110来辅助固定内导体60，提高了内导体60的位置精度和稳定性。

进一步，如图7和图8所示，活动式壳体80包括依次设置的第一活动式组合壳体802、第二活动式组合壳体803和第三活动式组合壳体804。

第一活动式组合壳体802的一端穿过第二弹簧90并可活动地插接于内壳体30内。

第二活动式组合壳体803套设于第一活动式组合壳体802远离内壳体30的一端外，且第二活动式组合壳体803与第一活动式组合壳体802对接形成第二定位槽。

第三活动式组合壳体804套设于第二活动式组合壳体803远离内壳体30的一端外，且第三活动式组合壳体804与第二活动式组合壳体803对接形成第三定位槽。该种结构便于射频测试组件的组装，提高了射频测试针的组装效率。

进一步地，第一贯通孔701的孔径与第一绝缘介质70的外径之比、第二贯通孔1001的孔径与第二绝缘介质100的外径之比及第三贯通孔1101的孔径与第三绝缘介质110的外径之比均相等。通过令上述的多个比值相等，使得内导体60的阻抗特性保持在某一数值，便于射频测试针测量射频信号，提高了测量精度。

综上所述，本实施例提供的射频测试针具有容错性能，能防止射频测试组件因没有对准产品而发生顶弯的情况发生，防止射频测试针与检查对象损伤，并且其定位精度高、结构稳定、整体尺寸小，便于携带，加工成本低。

实施例二

本实施例提供了一种射频测试设备，包括连接座和如实施例一中的的射频测试针。其中，实施例一中叙述了关于射频测试针的具体结构及技术效果，本实施例引用了该射频测试针，同样具有其技术效果。

其中，连接座和连接法兰10固定连接。而连接座既可以连接于气缸、直线电机等机构上，用于自动化检测射频产品，也可以连接于手持握把上用于人工检测射频产品。

综上所述，本实施例提供的射频测试设备具有容错性能，能防止射频测试组件因没有对准产品而发生顶弯的情况发生，防止射频测试针与检查对象损伤，并且其定位精度高、结构稳定、整体尺寸小，便于携带，加工成本低。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。