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一种适用于弧面造型产品的测试装置

文献发布时间:2024-04-18 19:58:26


一种适用于弧面造型产品的测试装置

技术领域

本发明涉及产品测试设备技术领域,特别涉及一种适用于弧面造型产品的测试装置。

背景技术

弧形面造型的结构相对于平面结构,具有更好的抗冲压和结构稳固的优点,所以其寿命会更加长。所以近年来弧形面造型的产品越来越普遍,弧形面造型的产品例如曲面屏手机、曲面显示屏、VR设备等产品也开始走向千家万户。弧形面产品的功能等测试能够直观反映其的性能好坏,显然适合普遍弧形面造型的产品测试设备对于这些的行业显得尤其重要。现有的产品测试结构,受限于产品外形影响,适用性差,大多数都是针对平面产品的测试,测试非平面造型的产品时容易损伤探针且测试信号不稳定,对于日益复杂造型的产品测试需求来说显然是不够的。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决现有技术中的上述技术问题之一。为此,本发明实施例提供一种适用于弧面造型产品的测试装置,适合普遍弧形面造型的产品测试,也可适合平面造型的产品测试。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,包括能够相互配合的第一测试部和第二测试部,所述第一测试部包括安装座、第一承载件、第一测试组件以及第二测试组件,所述第一承载件活动设置于所述安装座且能够沿竖直方向上下升降,所述第一测试组件和所述第二测试组件固定于所述安装座且均位于所述安装座与所述第一承载件之间,所述第一承载件背向所述安装座的一面布置有第一适配面和第二适配面,所述第一承载件朝向所述安装座靠近时,第一测试组件的第一测针能够穿过所述第一适配面以及所述第二测试组件的第二测针能够穿过所述第二适配面,所述第二测试部包括第二承载件、第三测试组件以及第四测试组件,所述第三测试组件和所述第四测试组件均设置于所述第二承载件,所述第三测试组件包括能够沿竖直方向活动的定位件以及第三测针,所述第三测针能够从所述定位件的第三适配面伸出,所述第四测试组件包括第四适配面以及能够缩至持平所述第四适配面的第四测针,所述第二承载件与所述第一承载件扣合后,所述第一适配面和所述第三适配面限定出用于测试弧面造型产品的型腔,所述第二适配面和所述第四适配面限定出用于测试平面造型产品的型腔。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述安装座上设置若干根导向柱,所述导向柱插设于所述第一承载件,以使所述第一承载件能够上下升降,其中,所述安装座与所述第一承载件之间还设置有第一复位弹簧,以使所述第一测针的端部维持低于所述第一适配面,以及使所述第二测针维持低于所述第二适配面。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述第一测试组件包括第一PCBA板和第一固定件,所述第一PCBA板固定于所述第一固定件的一端,所述第一测针可伸缩,且所述第一测针从所述第一固定件的另一端贯穿至与所述第一PCBA板焊接。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述第一固定件由多片固定片堆叠固定而成,一部分所述固定片设置有供所述第一测针穿过的限位孔,另一部分所述固定片对应所述第一测针的位置设置有避让槽,具有所述限位孔的所述固定片与具有所述避让槽的所述固定片间隔设置,其中,所述限位孔与所述第一测针间隙配合。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述第二测试组件包括第二固定件和第二PCBA板,所述第二PCBA板固定于所述第二固定件的一端,所述第二测针从所述第二固定件的另一端穿过后焊接连接所述第二PCBA板,所述第二固定件供所述第二测针穿过的通孔与所述第二测针间隙配合。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述第一承载件朝向所述安装座的一面设置有供所述第一测试组件活动的第一凹槽以及供所述第二测试组件活动的第二凹槽,所述第一凹槽内开设有引导所述第一测针伸出所述第一适配面的第一导向孔,所述第二凹槽内开设有引导所述第二测针伸出所述第二适配面的第二导向孔,其中,所述第二适配面位于所述第一适配面的一侧,所述第二适配面高于所述第一适配面以形成限位台阶,所述第一适配面的另一侧设置有由弹簧驱动的预紧块,所述预紧块具备朝向所述限位台阶运动的趋势。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述第三测试组件包括第三PCBA板、第三固定件以及缓冲结构,所述第三PCBA板固定于所述第三固定件的一侧,所述缓冲结构设置于所述第三固定件的另一侧,所述定位件在所述缓冲结构的作用下能够沿竖直方向进行直线往复运动,所述第三PCBA板上的所述第三测针依次穿过所述第三固定件、所述缓冲结构以及所述定位件,其中,所述定位件设置有引导所述第三测针进入所述第三适配面的第三导向孔。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述第三固定件的两侧布置有导向结构,所述导向结构包括第一导向板和第二导向板,所述第一导向板和所述第二导向板分别布置于所述第三固定件的两侧,所述第一导向板和所述第二导向板均设置有与所述第三测针相适配的第四导向孔,所述第三固定件对应所述第三测针的位置镂空。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述缓冲结构包括第一连接件和第二连接件,所述第二连接件具有贯穿两端的槽道,所述第二连接件固定于所述第一连接件后,所述第一连接件封堵所述槽道的一端,所述槽道的另一端两侧设置有限位部,其中,所述定位件活动设置于所述槽道,所述定位件与所述第一连接件之间设置有第二复位弹簧,以使所述定位件维持抵住所述限位部。

根据本发明实施例的适用于弧面造型产品的测试装置,所述定位件的两侧设置有与所述限位部相配合的凸部,所述第三适配面的两侧设置有用于限定弧面造型产品的立柱。

基于上述技术方案,本发明实施例至少具有以下有益效果:上述技术方案中,第一承载件设置成能够沿竖直方向上下升降,且在此基础上,第一测针、第二测针、第三测针以及第四测针均能够被压缩,进行弧面造型产品的测试时,将弧面造型产品放置于第一适配面,然后将第二承载件与第一承载件相扣合,通过定位件将第一适配面上的弧面造型产品限制住,以便第三适配面能够运动至与弧面造型产品贴合,随着继续将第二承载件朝向安装座压合,第一测试组件的第一测针慢慢穿过第一承载件压抵于弧面造型产品的待测点,第三测试组件的第三测针慢慢穿过第三适配面压抵于弧面造型产品的待测点,随着继续将第二承载件朝向安装座压合,原先抵于弧面造型产品的第一测针和第三测针被压缩,同时使未抵接弧面造型产品的第一测针或第三测针能够覆盖弧面造型产品的待测点,实现对弧面造型产品的全面测点,相较于现有的测试结构无法全面测量弧面造型产品,本申请的测试装置能够测试弧面造型产品弧形面上带落差的测试点,扩展可以测试带落差的平面上不同高度的测试点。其中,能够升降的定位件以及第一承载件起到保护测针的作用,使测针无接触损伤。再者,进行平面产品的测试时,将待测的平面造型产品放置于第二适配面,然后缓慢将第二承载件与第一承载件压合,使第四适配面运动至与平面造型产品贴合,继续压合即可使第二测针和第四测针伸出适配面对平面造型产品进行测点测试,使得本申请的测试装置既能适合普遍弧形面造型的产品测试,也能适合平面造型的产品测试。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步地说明;

图1是本发明实施例的结构示意图;

图2是本发明实施例中,第一测试部的分解示意图;

图3是本发明实施例中,第二测试部的分解示意图;

图4是本发明实施例中,第一承载件的结构示意图一;

图5是本发明实施例中,第二承载件的结构示意图;

图6是本发明实施例中,第一承载件的结构示意图二;

图7是本发明实施例中,安装座的结构示意图;

图8是本发明实施例中,第一测试组件的结构示意图;

图9是本发明实施例中,第二测试组件的结构示意图;

图10是本发明实施例中,第一测试组件的分解示意图;

图11是本发明实施例中,第三测试组件的分解示意图;

图12是本发明实施例中,第四测试组件的分解示意图。

具体实施方式

本部分将详细描述本发明的具体实施例,本发明之较佳实施例在附图中示出,附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述,使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案,但其不能理解为对本发明保护范围的限制。

在本发明的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中,若干的含义是一个或者多个,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

参照图1,本申请实施例的适用于弧面造型产品的测试装置包括能够相互配合的第一测试部和第二测试部300。

其中,如图2所示,第一测试部包括安装座100、第一承载件200、第一测试组件210以及第二测试组件220,第一承载件200活动设置于安装座100且能够沿竖直方向上下升降,第一测试组件210和第二测试组件220固定于安装座100且均位于安装座100与第一承载件200之间,如图4所示,第一承载件200背向安装座100的一面布置有第一适配面201和第二适配面202,第一承载件200朝向安装座100靠近时,第一测试组件210的第一测针2111能够穿过第一适配面201以及第二测试组件220的第二测针2211能够穿过第二适配面202。其中,未进行测试前,第一测针2111和第二测针2211均未外露于第一承载件200之外,以保护测针。

如图3和图5所示,第二测试部300包括第二承载件330、第三测试组件320以及第四测试组件310,第三测试组件320和第四测试组件310均设置于第二承载件330,第三测试组件320包括能够沿竖直方向活动的定位件321以及第三测针3281,第三测针3281能够从定位件321的第三适配面3212伸出,第四测试组件310包括第四适配面3111以及能够缩至持平第四适配面3111的第四测针3121,第二承载件330与第一承载件200扣合后,第一适配面201和第三适配面3212限定出用于测试弧面造型产品的型腔,第二适配面202和第四适配面3111限定出用于测试平面造型产品的型腔。

上述方案里,第一承载件200设置成能够沿竖直方向上下升降,以便第一测针2111和第二测针2211能够伸出第一承载件200外对产品进行测试,且在此基础上,第一测针2111、第二测针2211、第三测针3281以及第四测针3121均能够被压缩,进行弧面造型产品的测试时,将弧面造型产品放置于第一适配面201,然后将第二承载件330与第一承载件200相扣合,通过第三测试组件320的定位件321将第一适配面201上的弧面造型产品限制住,以便第三适配面3212能够运动至与弧面造型产品贴合,随着继续将第二承载件330朝向安装座100压合,第一测试组件210的第一测针2111慢慢穿过第一承载件200的第一适配面201压抵于弧面造型产品的待测点,第三测试组件320的第三测针3281慢慢穿过第三适配面3212压抵于弧面造型产品的待测点,随着继续将第二承载件330朝向安装座100压合,原先抵于弧面造型产品的第一测针2111和第三测针3281被压缩,同时使未抵接弧面造型产品的第一测针2111或第三测针3281能够覆盖弧面造型产品的待测点,实现对弧面造型产品的全面测点,相较于现有的测试结构无法全面测量弧面造型产品,本申请的测试装置能够测试弧面造型产品弧形面上带落差的测试点,扩展可以测试带落差的平面上不同高度的测试点。

其中,能够升降的定位件321以及第一承载件200起到保护测针的作用,使测针无接触损伤。再者,进行平面产品的测试时,将待测的平面造型产品放置于第二适配面202,然后缓慢将第二承载件330与第一承载件200压合,使第四适配面3111运动至与平面造型产品贴合,继续压合即可使第二测针2211和第四测针伸出适配面对平面造型产品进行测点测试,使得本申请的测试装置既能适合普遍弧形面造型的产品测试,也能适合平面造型的产品测试。

如图2所示,安装座100上设置若干根导向柱120,导向柱120均匀分布于安装座100的四周,导向柱120插设于第一承载件200,以使第一承载件200能够上下升降,具体的,第一承载件200设置有与导向柱120相配合的导向孔,其中,安装座100与第一承载件200之间还设置有第一复位弹簧110,以使第一测针2111的端部维持低于第一适配面201,以及使第二测针2211维持低于第二适配面202,在不进行测试时有效保护测针。

如图7所示,安装座100的中部设置有第一安装槽101和第二安装槽102,第一测试组件210卡入第一安装槽101后通过螺栓连接安装座100,第二测试组件220卡入第二安装槽102后通过螺栓连接安装座100,以使整个第一测试部的结构紧凑,测试人员手持方便。

本实施例中,如图8和图10所示,第一测试组件210包括第一PCBA板211和第一固定件212,第一PCBA板211固定于第一固定件212的一端,第一测针2111可伸缩,且第一测针2111从第一固定件212的另一端贯穿至与第一PCBA板211焊接,第一固定件212起到导向的作用,同时还能够避免测针变形,其中,第一固定件212由多片固定片2122堆叠固定而成,一部分固定片2122设置有供第一测针2111穿过的限位孔,另一部分固定片2122对应第一测针2111的位置设置有避让槽,具有限位孔的固定片2122与具有避让槽的固定片2122间隔设置,其中,限位孔与第一测针2111间隙配合,限位孔起到引导第一测针2111的作用,而避让槽能够避免多片固定片2122形成的第一固定件212过厚,避免第一测针2111活动不顺畅的情况,进而导致损坏测针。需说明的是,第一PCBA板211设置有测试电路,第一测针2111电性连接第一PCBA板211上的测试电路。

如图9所示,第二测试组件220包括第二固定件222和第二PCBA板221,第二PCBA板221固定于第二固定件222的一端,第二测针2211从第二固定件222的另一端穿过后焊接连接第二PCBA板221,第二固定件222供第二测针2211穿过的通孔与第二测针2211间隙配合,通孔能够防止测针过长导致的变形,进而影响测试精度,同样,第二PCBA板221上也设置有测试电路,第二测针2211电性连接第二PCBA板221上的测试电路。

如图6所示,第一承载件200朝向安装座100的一面设置有供第一测试组件210活动的第一凹槽204以及供第二测试组件220活动的第二凹槽205,凹槽的设置使得第一测试组件210和第二测试组件220具备足够的活动空间,第一凹槽204内开设有引导第一测针2111伸出第一适配面201的第一导向孔2011,第二凹槽205内开设有引导第二测针2211伸出第二适配面202的第二导向孔,导向孔的设置使得每次测试,测针均能够被准确引导到待测位置进行测试,有效提高测试的精度,其中,第二适配面202位于第一适配面201的一侧,第二适配面202高于第一适配面201以形成限位台阶,第一适配面201的另一侧设置有由弹簧驱动的预紧块203,预紧块203具备朝向限位台阶运动的趋势,预紧块203、限位台阶以及定位件321共同限制弧面造型产品的水平方向的活动,以便测试过程中,弧面造型产品不会产生位移导致测量不准。

如图11所示,第三测试组件320包括第三PCBA板328、第三固定件326以及缓冲结构,第三PCBA板328固定于第三固定件326的一侧,缓冲结构设置于第三固定件326的另一侧,定位件321在缓冲结构的作用下能够沿竖直方向进行直线往复运动,第三PCBA板328上的第三测针3281依次穿过第三固定件326、缓冲结构以及定位件321,其中,定位件321设置有引导第三测针3281进入第三适配面3212的第三导向孔3213,第三导向孔3213能够确保测试时,测针测量位置的准确。

进一步的,第三固定件326的两侧布置有导向结构,导向结构包括第一导向板327和第二导向板325,第一导向板327和第二导向板325分别布置于第三固定件326的两侧,第一导向板327和第二导向板325均设置有与第三测针3281相适配的第四导向孔,第三固定件326对应第三测针3281的位置镂空,避免测针过长导致测针压缩不顺利,而导向结构的设置能够避免测针过长而产生弯曲的情况。

进一步的,缓冲结构包括第一连接件323和第二连接件322,第二连接件322具有贯穿两端的槽道3221,第二连接件322固定于第一连接件323后,第一连接件323封堵槽道3221的一端,槽道3221的另一端两侧设置有限位部3222,其中,定位件321活动设置于槽道3221,定位件321与第一连接件323之间设置有第二复位弹簧324,以使定位件321维持抵住限位部3222,限位部3222和第一连接件323用于限制定位部321的活动范围。上述结构的设置,确保定位件321的活动是直线运动,以便测针能够准确测量弧面造型产品。

此外,定位件321的两侧设置有与限位部3222相配合的凸部3214,第三适配面3212的两侧设置有用于限定弧面造型产品的立柱3211,其中,预紧块203和限位台阶限制弧面造型产品的两侧,而立柱3211能够限制住弧面造型产品的两端,进而实现完全限制弧面造型产品的水平方向的位移。

如图12所示,本实施例的第四测试组件310包括第四PCBA板312、导向块311以及第四固定件313,第四PCBA板312卡于第四固定件313上的凹槽3131,导向块311将第四PCBA板312压紧固定于第四固定件313,第四适配面设置于导向块311,导向块311对应第四测针3121的位置设置有引导孔3112,以保护测针。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明,但是本发明不限于上述实施例,在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

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