配置参数调节方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及芯片技术领域，具体而言，涉及一种配置参数调节方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

MIPI是一种广泛应用于手机、平板、可穿戴设备各组件之间的通讯协议，协议中规定了两种传输模式：低速传输模式与高速传输模式。从机根据主机发送的控制序列选择对应的传输模式接收数据。

随着手机显示分辨率的急速提升，MIPI的速率要求也从1.0Gbps提升到2.5Gbps。MIPI作为一种多lane并行接口，对数据在时序上的一致性要求很高，因而随着速率的不断提升，设计中对版图和器件制程漂移的要求也越来越高。

传统的计算设备的MIPI配置调节方法是选出少数典型的计算设备进行数据测试，然后根据测试的结果调整配置。在所有的测试项目完成后，认为已经调整出的配置作为一个通用配置应用于所有的计算设备上。但这种方式随着MIPI速率的一再提升，存在使得计算设备的设计裕量缩窄而造成良率损失。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种配置参数调节方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，用以解决目前计算设备的MIPI配置调节方法采用典型计算设备测试的配置结果应用于所有计算设备带来的设计裕量缩窄而造成良率损失的问题。

第一方面，本发明提供一种配置参数调节方法，该方法包括向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果；其中，测试信息基于待调节的MIPI接口速率确定，测试信息包括多套不同的测试参数，测试信息用于目标计算设备根据每套测试参数进行功能测试，功能测试结果包括目标计算设备输出的每套测试参数对应的功能测试结果；根据预存的标准功能结果和每套测试参数的功能测试结果，在多套不同的测试参数中确定目标测试参数；根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节。

上述设计的配置参数调节方法，基于多套不同的测试参数对目标计算设备进行功能测试，从而在多套不同的测试参数中快速寻找出目标计算设备最佳配置的目标测试参数，进而根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节，从而使得目标计算设备可以获得最优配置参数，在保证高良率的同时，不用额外在目标计算设备内部增加校准电路，减小面积；另外，通过这种方式也提高了计算设备最优配置参数调节的效率。

在第一方面的可选实施方式中，根据预存的标准功能结果和每套测试参数的功能测试结果，在多套不同的测试参数中确定目标测试参数，包括：将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对；将每套测试参数的功能测试结果中与预存的标准功能结果相似度最大的功能测试结果对应的测试参数，确定为目标测试参数。

本实施方式通过将每套测试参数的功能测试结果中与预存的标准功能结果相似度最大的功能测试结果对应的测试参数，确定为目标测试参数，从而准确快速确定目标计算设备的最优配置参数。

在第一方面的可选实施方式中，其中，功能测试结果与标准功能结果均为波形；将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对，包括：采用波形匹配算法，将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对。

在第一方面的可选实施方式中，向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果，包括：向目标计算设备发送测试信息中的多套不同的测试参数，并获取每套测试参数对应的功能测试结果；其中，多套不同的测试参数用于供目标计算设备依次遍历每套测试参数，以进行功能测试。

本实施方式将测试信息中的多套不同的测试参数一次性发送给目标计算设备，避免目标计算设备与测试机台多次通信带来时间耗费，进而提高目标计算设备的配置参数调节的效率。

在第一方面的可选实施方式中，向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果，包括：向目标计算设备发送测试信息中的一套测试参数；在获取目标计算设备输出的测试参数对应的功能测试结果后，向目标计算设备发送测试信息中的其他测试参数进行功能测试，直至测试信息中的所有测试参数发送完毕为止。

本实施方式一次仅发送一套测试参数，从而避免目标计算设备一次性接收多套测试参数带来的计算存储压力，提高目标计算设备的配置参数调节的可靠性和适用性。

在第一方面的可选实施方式中，在向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果之前，该方法还包括：获取并存储上位机发送的测试内容；其中，测试内容包括测试信息以及标准功能结果。本实施方式通过上位机发送获得测试信息和标准功能结果，从而减小测试机台的计算量，提高测试机台的测试处理速度。

在第一方面的可选实施方式中，根据目标测试参数对目标计算设备的配置参数进行调节，包括：将目标计算设备的配置参数的数值调节为目标测试参数的对应数值，以对目标计算设备的配置参数进行调节。

第二方面，本发明提供一种配置参数调节装置，该装置包括发送模块、确定模块以及调节模块；发送模块，用于向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果；其中，测试信息基于待调节的MIPI接口速率确定，测试信息包括多套不同的测试参数，测试信息用于目标计算设备根据每套测试参数进行功能测试，功能测试结果包括目标计算设备输出的每套测试参数对应的功能测试结果；确定模块，用于根据预存的标准功能结果和每套测试参数的功能测试结果，在多套不同的测试参数中确定目标测试参数；调节模块，用于根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节。

上述设计的配置参数调节装置，本方案基于多套不同的测试参数对目标计算设备进行功能测试，从而在多套不同的测试参数中快速寻找出目标计算设备最佳配置的目标测试参数，进而根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节，从而使得目标计算设备可以获得最优配置参数，在保证高良率的同时，不用额外在目标计算设备内部增加校准电路，减小面积；另外，通过这种方式也提高了计算设备最优配置参数调节的效率。

在第二方面的可选实施方式中，该确定模块，具体用于将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对；将每套测试参数的功能测试结果中与预存的标准功能结果相似度最大的功能测试结果对应的测试参数，确定为目标测试参数。

在第二方面的可选实施方式中，其中，功能测试结果与标准功能结果均为波形；该确定模块，还具体用于采用波形匹配算法，将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对。

在第二方面的可选实施方式中，该发送模块，具体用于向目标计算设备发送测试信息中的多套不同的测试参数，并获取每套测试参数对应的功能测试结果；其中，多套不同的测试参数用于供目标计算设备依次遍历每套测试参数，以进行功能测试。

在第二方面的可选实施方式中，该发送模块，还具体用于向目标计算设备发送测试信息中的一套测试参数；在获取目标计算设备输出的测试参数对应的功能测试结果后，向目标计算设备发送测试信息中的其他测试参数进行功能测试，直至测试信息中的所有测试参数发送完毕为止。

在第二方面的可选实施方式中，该装置还包括获取模块，用于获取并存储上位机发送的测试内容；其中，测试内容包括测试信息以及标准功能结果。

在第二方面的可选实施方式中，该调节模块，具体用于将目标计算设备的配置参数的数值调节为目标测试参数的对应数值，以对目标计算设备的配置参数进行调节。

第三方面，本申请提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式中的所述方法。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式中的所述方法。

第五方面，本申请提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式中的所述方法。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的配置参数调节方法流程示意图；

图2为本申请实施例提供的配置参数调节装置结构示意图；

图3为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

图标：200-发送模块；210-确定模块；220-调节模块；230-获取模块；3-电子设备；301-处理器；302-存储器；303-通信总线。

具体实施方式

下面将结合附图对本申请技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本申请的保护范围。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

在本申请实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

在本申请实施例的描述中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

在本申请实施例的描述中，术语“多个”指的是两个以上(包括两个)，同理，“多组”指的是两组以上(包括两组)，“多片”指的是两片以上(包括两片)。

在本申请实施例的描述中，技术术语“中心”“纵向”“横向”“长度”“宽度”“厚度”“上”“下”“前”“后”“左”“右”“竖直”“水平”“顶”“底”“内”“外”“顺时针”“逆时针”“轴向”“径向”“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。

在本申请实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”“相连”“连接”“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。

MIPI是一种广泛应用于手机、平板、可穿戴设备各组件之间的通讯协议，协议中规定了两种传输模式：低速传输模式与高速传输模式。从机根据主机发送的控制序列选择对应的传输模式接收数据。

例如，随着手机显示分辨率的急速提升，MIPI的速率要求也从1.0Gbps提升到2.5Gbps。MIPI作为一种多lane并行接口，对数据在时序上的一致性要求很高，因而随着速率的不断提升，设计中对版图和器件制程漂移的要求也越来越高。

传统的计算设备的MIPI配置调节方法是选出少数典型的计算设备进行数据测试，然后根据测试的结果调整配置。在所有的测试项目完成后，认为已经调整出的配置作为一个通用配置应用于所有的计算设备上。但这种方式随着MIPI速率的一再提升，存在使得计算设备的设计裕量缩窄而造成良率损失。

对此，本申请提供一种配置参数调节方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，基于多套不同的测试参数对目标计算设备进行功能测试，从而在多套不同的测试参数中快速寻找出目标计算设备最佳配置的目标测试参数，进而根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节，从而使得目标计算设备可以获得最优配置参数，在保证高良率的同时，不要额外在IC内部增加校准电路，减小面积；另外，通过这种方式也提高了计算设备最优配置参数调节的效率。

具体地，本申请首先提供一种配置参数调节方法，该方法可应用于计算设备，该计算设备包括但不限于计算机、服务器以及测试机台等等，如图1所示，该方法可通过如下方式实现：

步骤S100：向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果。

步骤S110：根据预存的标准功能结果和每套测试参数的功能测试结果，在多套不同的测试参数中确定目标测试参数。

步骤S120：根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节。

在本实施方式中，目标计算设备可以是芯片、集成电路版图等具有计算能力的电子设备，本方案用于对芯片、控制器等具有计算能力的电子设备的MIPI接口的速率对应的配置参数进行调节，使得芯片、控制器等电子设备在配置参数调节后可采用MIPI对应速率进行通讯。

对于步骤S100，测试信息基于待调节的MIPI接口速率确定，具体地，作为一种可能的实施方式，工作人员可在测试台上基于待调节的MIPI接口速率从而对测试参数进行编辑，从而生成测试信息，进而实现测试信息快速编辑的效果。

作为另一种可能的实施方式，工作人员可在上位机上对基于待调节的MIPI接口速率从而对测试参数进行编辑，从而生成测试信息和标准功能结果，并将测试信息和标准功能结果通过上位机发送给测试机台，从而使得测试台获得测试信息和标准功能结果，进而减小测试机台的计算量，提高测试机台的测试处理速度。其中，测试信息包括多套不同的测试参数，不同套测试参数之间的测试参数值不同，测试信息用于目标计算设备根据每套测试参数进行功能测试。具体地，测试机台与目标计算设备的接口电连接，然后通过目标计算设备的接口将测试信息发送给目标计算设备，目标计算设备内部自动识别测试信息中的测试参数，从而调试对应的相关功能，进而输出每套测试参数对应的功能测试结果，测试机台可获取并保存目标计算设备输出的每套测试参数对应的功能测试结果。

作为具体的实施例，在目标计算设备为集成电路芯片的情况下，本方案的测试参数可包括配置寄存器信息，通过调试集成电路芯片中寄存器信息的配置，从而可调节集成电路芯片中的电压、电流等信息，从而调试集成电路芯片对应的功能。

在本实施例的可选实施方式中，测试机台在发送测试信息可通过如下方式：作为一种可能的实施方式，测试机台可将测试信息中的多套测试参数一次性发给目标计算设备，目标计算设备在接收到多套测试参数后可依次遍历每套测试参数进行功能测试，并输出每套测试参数对应的功能测试结果，从而避免目标计算设备与测试机台多次通信带来时间耗费，进而提高目标计算设备的配置参数调节的效率。

作为另一种可能的实施方式，测试机台可向目标计算设备发送测试信息中的一套测试参数，目标计算设备基于接收到的一套测试参数进行功能测试并输出对应的功能测试结果后，测试机台则发送测试信息中的下一套测试参数给目标计算设备，以此类推，直至将测试信息中的所有测试参数发送完毕为止，从而可获得目标计算设备输出的多套测试参数中每套测试参数对应的功能测试结果，从而避免目标计算设备一次性接收多套测试参数带来的计算存储压力。

在获得目标计算设备输出的每套测试参数对应的功能测试结果的情况下，测试机台可根据预存的标准功能结果和每套测试参数的功能测试结果，在多套不同的测试参数中确定目标测试参数。作为一种可能的实施方式，测试机台可将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对；将每套测试参数的功能测试结果中与预存的标准功能结果相似度最大的功能测试结果对应的测试参数，确定为目标测试参数，其中，预存的标准功能结果可根据采用调试后的MIPI速率执行过程中的计算设备的配置信息确定。

具体地，本方案获得的功能测试结果与预存的标准功能结果均可为波形，在此情况下，本方案可采用波形匹配算法，将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对，从而计算每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果的相似度，进而将相似度最大的功能测试结果对应的测试参数确定为目标测试参数。

本方案在确定目标测试参数后，即可根据目标测试参数对目标计算设备的配置参数进行调节。具体地，作为一种可能的实施方式，本方案可将目标计算设备的配置参数的数值调节为目标测试参数的对应数值，以对目标计算设备的配置参数进行调节。作为另一种可能的实施方式，本方案可将目标测试参数重新烧写到目标计算设备中，从而对目标计算设备的配置参数进行调节。

上述设计的配置参数调节方法，本方案基于多套不同的测试参数对目标计算设备进行功能测试，从而在多套不同的测试参数中快速寻找出目标计算设备最佳配置的目标测试参数，进而根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节，从而使得目标计算设备可以获得最优配置参数，在保证高良率的同时，不用额外在目标计算设备内部增加校准电路，减小面积；另外，通过这种方式也提高了计算设备最优配置参数调节的效率。

图2出示了本申请提供一种配置参数调节装置的示意性结构框图，应理解，该装置与图1中执行的方法实施例对应，能够执行前述的方法涉及的步骤，该装置具体的功能可以参见上文中的描述，为避免重复，此处适当省略详细描述。该装置包括至少一个能以软件或固件(firmware)的形式存储于存储器中或固化在装置的操作系统(operating system，OS)中的软件功能模块。具体地，该装置包括：发送模块200、确定模块210以及调节模块220；发送模块200，用于向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果；其中，测试信息基于待调节的MIPI接口速率确定，测试信息包括多套不同的测试参数，测试信息用于目标计算设备根据每套测试参数进行功能测试，功能测试结果包括目标计算设备输出的每套测试参数对应的功能测试结果；确定模块210，用于根据预存的标准功能结果和每套测试参数的功能测试结果，在多套不同的测试参数中确定目标测试参数；调节模块220，用于根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节。

上述设计的配置参数调节装置，本方案基于多套不同的测试参数对目标计算设备进行功能测试，从而在多套不同的测试参数中快速寻找出目标计算设备最佳配置的目标测试参数，进而根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节，从而使得目标计算设备可以获得最优配置参数，在保证高良率的同时，不用额外在目标计算设备内部增加校准电路，减小面积；另外，通过这种方式也提高了计算设备最优配置参数调节的效率。

在本实施例的可选实施方式中，该确定模块210，具体用于将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对；将每套测试参数的功能测试结果中与预存的标准功能结果相似度最大的功能测试结果对应的测试参数，确定为目标测试参数。

在本实施例的可选实施方式中，其中，功能测试结果与标准功能结果均为波形；该确定模块210，还具体用于采用波形匹配算法，将每套测试参数的功能测试结果与预存的标准功能结果进行比对。

在本实施例的可选实施方式中，该发送模块200，具体用于向目标计算设备发送测试信息中的多套不同的测试参数，并获取每套测试参数对应的功能测试结果；其中，多套不同的测试参数用于供目标计算设备依次遍历每套测试参数，以进行功能测试。

在本实施例的可选实施方式中，该发送模块200，还具体用于向目标计算设备发送测试信息中的一套测试参数；在获取目标计算设备输出的测试参数对应的功能测试结果后，向目标计算设备发送测试信息中的其他测试参数进行功能测试，直至测试信息中的所有测试参数发送完毕为止。

在本实施例的可选实施方式中，该装置还包括获取模块230，用于获取并存储上位机发送的测试内容；其中，测试内容包括测试信息以及标准功能结果。

在本实施例的可选实施方式中，该调节模块220，具体用于将目标计算设备的配置参数的数值调节为目标测试参数的对应数值，以对目标计算设备的配置参数进行调节。

根据本申请的一些实施例，如图3所示，本申请提供一种电子设备3，包括：处理器301和存储器302，处理器301和存储器302通过通信总线303和/或其他形式的连接机构(未标出)互连并相互通讯，存储器302存储有处理器301可执行的计算机程序，当计算设备运行时，处理器301执行该计算机程序，以执行时执行任一可选的实现方式中外端机执行的方法，例如步骤S100和步骤S120：向目标计算设备发送测试信息，获得目标计算设备基于测试信息的功能测试结果；根据预存的标准功能结果和每套测试参数的功能测试结果，在多套不同的测试参数中确定目标测试参数；根据目标测试参数，对目标计算设备的配置参数进行调节。

本申请提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行前述任一可选的实现方式中的方法。

其中，存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,简称SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,简称EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory,简称EPROM)，可编程只读存储器(Programmable Red-Only Memory,简称PROM)，只读存储器(Read-OnlyMemory,简称ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

本申请提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行任一可选的实现方式中的方法。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本申请的权利要求和说明书的范围当中。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本申请并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。