测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及一种测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法。

背景技术

在工厂大批量生产热敏器件的过程中，难免存在一些热敏器件的感应灵敏度低，性能差的现象，因此在热敏器件出厂之前，需要对每个热敏器件进行优劣检测。而现有的热敏器件由模拟热敏器件逐渐转型到数字化热敏器件，数字化热敏器件的波动性区别于模拟热敏器件，工作人员需要对应研发一种关于数字化热敏器件的批量测试设备以对热敏器件进行优劣检测。然而，市场上大部分数字探头测试设备只能单次测试单个热敏器件的内部热敏模块，无法对大批量热敏器件同时进行测试，从而导致大批量热敏器件的测试效率降低。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法，旨在提高对批量热敏器件的测试效率。

为此，本发明提出一种一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；所述采样件固定放置板用于放置N个待测件，N大于等于1，包括以下步骤：

步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S200、控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的N个待测件辐射热能；

步骤S300、经所述采样件获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；

步骤S400、根据至少一个所述检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。

可选地，所述以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：

步骤S110、控制所述驱动组件带动所述采样件移动，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

可选地，所述步骤S100还包括：

步骤S120、控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块处于预设接触状态。

可选地，在所述步骤S200和所述步骤S300之间，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S500、所述采样件在预设时间内获取到所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态和所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S600、所述采样件在预设时间内无法获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态，并控制所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置。

可选地，所述测试装置还包括遮挡组件，所述遮挡组件设置于所述加热组件和所述采样件固定放置板之间，所述控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能的步骤具体为：

步骤S210、控制所述加热组件工作；

步骤S220、控制所述遮挡组件动作，以使所述加热组件对所述采样件固定放置板上未被所述遮挡组件遮挡的位置辐射热能。

可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；

所述步骤S300具体为：

步骤S310、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热均匀程度参数。

可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于第三动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，所述第三动作状态为半遮挡；

所述步骤S300具体为：

步骤S320、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热响应强度参数。

可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

控制所述第一遮挡件处于第二动作状态，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；

所述步骤S300具体为：

步骤S330、在所述第一遮挡件处于所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热稳定性程度参数。

可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，在所述步骤S200之前，所述测试装置控制方法还包括：

控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块紧贴。

可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，在步骤S400之前，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S100、所述测试装置获取到第二指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置；

其中，在所述采样件固定放置板处于第二位置时，所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸与采样件处于第二接触状态。

可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S700、控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件和所述采样件移动，直至所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。

本发明还提出一种测试装置，所述测试装置包括：

测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于放置N个待测件的采样件固定放置板；

加热组件，所述加热组件设置于所述测试装置内；

驱动组件，所述驱动组件设置于所述测试装置内；

采样件，所述采样件设置于所述测试装置内；

所述驱动组件，用于带动所述采样件固定放置板移动至第一位置；

电控组件，所述电控组件获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能；经所述采样件获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；所述电控组件获取到第二指令时，控制所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于第二接触状态；根据至少一个所述检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示；控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件和所述采样件移动，直至所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。

可选地，所述加热组件包括发热棒和温度控制组件；所述发热棒和所述温度控制组件电连接；

所述温度控制传感器，用于控制所述发热棒产生热能。

可选地，所述测试装置还包括隔热组件；

所述加热组件设置于所述隔热组件的内部；

所述隔热组件，用于包裹所述加热组件。

可选地，所述测试装置还包括：

导热组件，所述导热组件设置于所述加热组件和所述采样件固定放置板之间；

所述导热组件，用于将所述加热组件的热能传导至所述采样件固定放置板。

可选地，所述测试装置还包括遮挡组件；

所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置；

所述第一遮挡件，用于产生载波并以第一预设频率进行第一动作状态和第二动作状态之间的交替切换工作；

所述第二遮挡件，用于进行第一动作状态和第三动作状态之间的交替切换工作。

可选地，所述驱动组件的数量为三个，分别为第一驱动组件、第二驱动组件和第三驱动组件；

所述第一驱动组件上设置有所述采样件固定放置板，所述第二驱动组件上设置有所述加热组件，所述第三驱动组件上设置有所述采样件；

所述第一驱动组件，用于驱动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置或从第二位置移动至第一位置；

所述第二驱动组件，用于驱动所述加热组件沿高度方向移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态或第二接触状态；

所述第三驱动组件，用于驱动所述采样件沿高度方向移动，以使所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸与采样件处于预设接触状态或第二接触状态。

可选地，所述第一驱动组件包括：

第一驱动电机；

第一运动滑块，所述第一运动滑块与所述第一驱动电机驱动连接，所述第一运动滑块与所述采样件固定放置板连接；

所述第一驱动电机，用于驱动所述第一运动滑块带动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置或从第二位置移动至第一位置。

可选地，所述第二驱动组件包括：

第二驱动电机；

第二运动滑块，所述第二运动滑块与所述第二驱动电机驱动连接，所述第二运动滑块与所述加热组件连接；

所述第二驱动电机，用于驱动所述第二运动滑块带动所述加热组件沿高度方向移动，以使所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态或第二接触状态。

可选地，所述第三驱动组件包括：

第三驱动电机；

第三运动滑块，所述第三运动滑块与所述第三驱动电机驱动连接，所述第三运动滑块与所述采样件连接；

所述第三驱动电机，用于驱动所述第三运动滑块带动所述采样件沿高度方向移动，所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸部分与采样件处于预设接触状态或第二接触状态。

可选地，所述测试装置还包括触发组件，所述触发组件设置于所述测试装置主体的侧面。

可选地，所述测试装置还包括显示组件，所述显示组件与所述测试装置电连接。

本发明还提出一种批量热敏器件测试方法，基于以上内容所述的测试装置，包括以下步骤：

步骤S1000、准备所述测试装置，并将所述测试装置上电；

步骤S2000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第二指令并控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置；

步骤S3000、将N个热敏器件放置在所述采样件固定放置板上，以使所述N个热敏器件的采样接口凸出部分向下放置；

步骤S4000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第一指令并控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动从第二位置移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个热敏器件辐射热能；经所述采样件获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；

步骤S5000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第二指令并控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置，以使所述采样件固定放置板上的N个热敏器件的采样接口凸与采样件处于第二接触状态；根据至少一个所述检测参数，确定N个热敏器件的工作性能并进行提示。

本发明公开一种测试装置控制方法，测试装置上设置有驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；采样件固定放置板用于放置N个待测件，N大于等于1，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件固定放置板移动至第一位置，以使采样件与采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。步骤S200、控制加热组件工作，以对采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能；步骤S300、经采样件获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；步骤S400、根据至少一个检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。本发明提高了对批量待测件的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法的流程示意图；

图2为本发明测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法另一实施例的流程示意图；

图3为图1中S200以及S300的细化流程示意图；

图4为本发明测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法另一实施例的流程示意图；

图5为本发明测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法的结构图示意图。

附图标号说明：

10、采样件固定放置板；20、加热组件；30、采样件；40、电控组件；50、隔热组件；61、第一遮挡件；62、第二遮挡件；70、导热组件；81、第一驱动组件；82、第二驱动组件；83、第三驱动组件。

本发明目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

需要理解的是，在工厂大批量生产热敏器件的过程中，难免存在一些热敏器件的感应灵敏度低，性能差的现象，因此在热敏器件出厂之前，需要对每个热敏器件进行优劣检测。而现有的热敏器件由模拟热敏器件逐渐转型到数字化热敏器件，数字化热敏器件的波动性区别于模拟热敏器件，工作人员需要对应研发一种关于数字化热敏器件的批量测试设备以对热敏器件进行优劣检测。然而，市场上大部分数字探头测试设备只能单次测试单个热敏器件的内部热敏模块，无法对大批量热敏器件同时进行测试，从而导致大批量热敏器件的测试效率降低。

因此，本发明提出一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有驱动组件、加热组件20、采样件30和采样件30固定放置板10；所述采样件30固定放置板10用于放置N个待测件，N大于等于1，包括以下步骤：

步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10移动至第一位置，以使所述采样件30与所述采样件30固定放置板10上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S200、控制所述加热组件20工作，以对所述采样件30固定放置板10上的N个待测件辐射热能；

步骤S300、经所述采样件30获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；

步骤S400、根据至少一个所述检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。

在本实施例中，以待测件为热敏器件为例进行说明。

具体地，在实际应用中，用户触发启动测试装置时，测试装置会相应获取到第一指令，同时测试装置控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置，以使采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态，以及使加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态。需要理解的是，本实施例中提到的第一位置指的是测试装置的内部位置，第二位置指的是测试装置的外部位置。

进一步地，采样件30在3秒钟内获取到N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的响应时，可确认当前加热组件20与N个热敏器件的内部热敏模块处于预设接触状态和采样件30与N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。进一步地，测试装置控制加热组件20工作，以对采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射热能。经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数。测试装置根据至少一个检测参数，确定N个热敏器件的工作性能并进行提示。进一步地 ，用户可根据提示以判断出每一热敏器件的优劣情况，以从多个热敏器件中筛选出不良品。

此外，采样件303秒钟内无法获取到N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认加热组件20与N个热敏器件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或采样件30与N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态。进一步地，测试装置控制驱动组件复位，以带动采样件30固定放置板10从测试装置的内部位置移动至测试装置的外部位置，以方便用户重新调整N个热敏器件在采样件30固定放置板10上的摆放位置。待N个热敏器件的摆放位置调整完毕后，用户再次触发启动测试装置，测试装置会相应接收到第一指令，同时测试装置控制驱动组件再次带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态，以及使加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态。

需要理解的是，在本实施例中，采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态指的是采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分紧贴；加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态指的是加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块紧贴。为保证加热组件20产生的热能可传导至N个热敏器件的内部热敏模块上，以及采样件30能准确获取每一热敏器件的采样接口凸出部分的检测参数；在测试装置控制加热组件20对采样件30固定放置板10上的N个热敏器件进行辐射热能前，加热组件20的下方位置与N个热敏器件的内部热敏模块紧贴，以使多个热敏器件的内部热敏模块可在加热组件20工作时能快速感应到热能；此外，采样件30与N个热敏器件的采样接口凸出部分紧贴，以使采样件30能准确获取每一热敏器件输出的采样接口凸出部分的检测参数。

本发明公开一种测试装置控制方法，测试装置上设置有驱动组件、加热组件20、采样件30和采样件30固定放置板10；采样件30固定放置板10用于放置N个待测件，N大于等于1，其特征在于，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10移动至第一位置，以使采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。步骤S200、控制加热组件20工作，以对采样件30固定放置板10上的多个待测件辐射热能；步骤S300、经采样件30获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；步骤S400、根据至少一个检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。本发明实现了N个待测件可同时进行测试，以提高对批量待测件的测试效率。

参照图2，所述以使所述采样件30与所述采样件30固定放置板10上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：

步骤S110、控制所述驱动组件带动所述采样件30移动，以使所述采样件30与所述采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

实施例一，测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件同时带动采样件30和采样件30固定放置板10同时移动，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴状态。在实施例一中，测试装置控制驱动组件同时带动采样件30和采样件30固定放置板10移动，从而加快对采样件30固定放置板10上N个待测件的测试速度。

实施例二，测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10移动，从而使采样件30固定放置板10带动N个待测件移动至测试装置的内部位置。确认采样件30固定放置板10处于测试装置的内部位置以后，测试装置控制驱动组件再带动采样件30移动，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态，在实施例二中，测试装置控制驱动组件错开时间控制采样件30固定放置板10和采样件30移动，用于防止在测试装置在使用的时间过长时，出现采样件30固定放置板10动作变慢，而采样件30已经到达预设位置而导致采样件30固定放置板10卡住的情况。

进一步地，参照图2，所述步骤S100还包括：

步骤S120、控制所述驱动组件带动所述加热组件20移动，以使所述加热组件20与所述采样件30固定放置板10上的N个待测件的热敏模块处于预设接触状态。

实施例一、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件同时带动采样件30、采样件30固定放置板10和加热组件20同时移动，直至加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个待测件的热敏模块处于紧贴的接触状态以及采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态，从而加快对采样件30固定放置板10上N个待测件的测试速度。在实施例一中，测试装置控制驱动组件同时带动采样件30、采样件30固定放置板10和加热组件20移动，从而加快对采样件30固定放置板10上N个待测件的测试速度。

实施例二，测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10移动，从而使采样件30固定放置板10带动N个待测件移动至测试装置的内部位置。确认采样件30固定放置板10处于测试装置的内部位置以后，测试装置控制驱动组件再带动采样件30和加热组件20同时移动，直至加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个待测件的热敏模块处于紧贴的接触状态以及采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态。在实施例二中，测试装置先控制驱动组件带动采样件30固定放置板10移动，确定采样件30固定放置板10达到预设位置后，再控制驱动组件带动采样件30和加热组件20同时移动，不仅加快对采样件30固定放置板10上N个待测件的测试速度，而且还能避免出现采样件30固定放置板10在移动时与采样件30或加热组件20卡住的现象。

实施例三，测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10移动，从而使采样件30固定放置板10带动N个待测件移动至测试装置的内部位置。确认采样件30固定放置板10处于测试装置的内部位置以后，测试装置控制驱动组件再带动采样件30移动，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态。确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态时，测试装置控制驱动组件再带动加热组件20移动，直至加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个待测件的热敏模块处于紧贴的接触状态。在实施例三中，测试装置控制驱动组件错开控制采样件30固定放置板10、采样件30和加热组件20三个组件的移动时间，用于防止在测试装置在使用的时间过长时，出现采样件30固定放置板10动作变慢，而采样件30或加热组件20已经到达预设位置而导致采样件30固定放置板10卡住的情况。

在本实施例中，参照图2，在所述步骤S200和所述步骤S300之间，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S500、所述采样件30在预设时间内获取到所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件20与所述N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态和所述采样件30与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S600、所述采样件30在预设时间内无法获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件20与所述N个待测件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或所述采样件30与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态，并控制所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10从所述第一位置移动至第二位置。

可以理解的是，采样件30在3秒钟内获取到N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，可确认当前热组件与N个待测件的内部热敏模块处于紧贴的接触状态和采样件30与N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态。进一步地，测试装置控制加热组件20工作，以对采样件30固定放置板10上的N个待测件辐射热能。经采样件30获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数。测试装置根据至少一个检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。进一步地 ，用户可根据提示以判断出每一待测件的优劣情况，以从多个待测件中筛选出不良品。

反之，采样件303秒钟内无法获取到N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认加热组件20与N个待测件的内部热敏模块处于非紧贴的接触状态和/或采样件30与N个待测件的采样接口凸出部分处于非紧贴的接触状态。此时，测试装置进一步地控制驱动组件复位，以带动采样件30固定放置板10从测试装置的内部位置移动至测试装置的外部位置，以方便用户重新调整N个待测件在采样件30固定放置板10上的摆放位置。待N个待测件的摆放位置调整完毕后，用户再次触发启动测试装置，测试装置相应接收到第一指令，同时测试装置控制驱动组件再次带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态，以及使加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个待测件的热敏模块处于紧贴的接触状态。

在本实施例中，参照图3，所述测试装置还包括遮挡组件，所述遮挡组件设置于所述加热组件20和所述采样件30固定放置板10之间，所述控制所述加热组件20工作，以对所述采样件30固定放置板10上的多个待测件辐射热能的步骤具体为：

步骤S210、控制所述加热组件20工作；

步骤S220、控制所述遮挡组件动作，以使所述加热组件20对所述采样件30固定放置板10上未被所述遮挡组件遮挡的位置辐射热能。

在本实施例中，以待测件为热敏器件为例进行说明。

具体地，在实际应用中，用户触发启动测试装置时，测试装置会相应接收到第一指令，同时测试装置控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置，以使采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态，以及使加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态。在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态时，测试装置控制加热组件20开始工作，同时测试装置控制遮挡组件开始进行不同的遮挡动作，以使加热组件20对采样件30固定放置板10上未被遮挡组件遮挡的位置辐射热能。采样件30固定放置板10上的N个热敏器件由于遮挡组件进行不同的遮挡动作而接收不同的热能，由此采样件30可进一步地获取出热敏器件的采样接口凸出部分输出的不同参数。

在实施例一中，参照图3，所述遮挡组件包括第一遮挡件61和第二遮挡件62，所述第一遮挡件61与所述第二遮挡件62沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

控制所述第一遮挡件61以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件62处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；

所述步骤S300具体为：

步骤S310、在所述第一遮挡件61处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件30获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热均匀程度参数。

具体地，在实施例一中，在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态时，测试装置控制加热组件20开始工作，同时测试装置控制第一遮挡件61以第一预设频率在全打开状态和全遮挡状态之间交替切换，以及控制第二遮挡组件处于全打开状态。

进一步地，在第一遮挡件61以第一预设频率在全打开状态和全遮挡状态之间交替切换，以及第二遮挡组件处于全打开状态时，加热组件20对所述采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射的热能，此时可经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数，从而确定N个热敏器件的受热均匀程度参数。

需要理解的是，第一预设频率可以为1HZ，在此处不作限定。

在实施例二中，参照图3，所述遮挡组件包括第一遮挡件61和第二遮挡件62，所述第一遮挡件61与所述第二遮挡件62沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

控制所述第一遮挡件61以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件62处于第三动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，所述第三动作状态为半遮挡；

所述步骤S300具体为：

步骤S320、在所述第一遮挡件61处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件30获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热响应强度参数。

具体地，在实施例二中，在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态时，测试装置控制加热组件20开始工作，同时测试装置控制第一遮挡件61以第一预设频率在全打开状态和全遮挡状态之间交替切换，以及控制第二遮挡组件处于半遮挡状态。

进一步地，在第一遮挡件61以第一预设频率在全打开状态和全遮挡状态之间交替切换，以及第二遮挡组件处于半遮挡状态时，加热组件20对所述采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射的热能，此时可经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数，从而确定N个热敏器件的受热响应强度参数。

需要理解的是，第一预设频率可以为1HZ，在此处不作限定。

在实施例三中，参照图3，所述遮挡组件包括第一遮挡件61和第二遮挡件62，所述第一遮挡件61与所述第二遮挡件62沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

控制所述第一遮挡件61处于第二动作状态，以及控制所述第二遮挡件62处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；

所述步骤S300具体为：

步骤S330、在所述第一遮挡件61处于所述第二动作状态时，经所述采样件30获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热稳定性程度参数。

具体地，在实施例三中，在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态时，测试装置控制加热组件20开始工作，同时测试装置控制第一遮挡件61处于全遮挡状态和控制第二遮挡组件处于全打开状态。

进一步地，在第一遮挡件61处于全遮挡状态，以及第二遮挡组件处于全打开状态时，加热组件20对所述采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射的热能，此时加热组件20产生的热能已被第一遮挡件61完全遮挡，由此可经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数，从而确定N个热敏器件的受热稳定性程度参数。

在本实施例中，参照图4，在所述步骤S200之前，所述测试装置控制方法还包括：

控制所述驱动组件带动所述加热组件20移动，以使所述加热组件20与所述采样件30固定放置板10上的N个待测件的热敏模块紧贴。

可以理解的是，测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以带动加热组件20移动，直至加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个待测件的热敏模块处于紧贴的接触状态，以确保加热组件20产生的热能可辐射至N个热敏器件的内部热敏模块，进一步地，N个热敏器件接收加热组件20的热能时通过其采样接口凸出部分输出相应的检测参数。

在本实施例中，参照图4，在步骤S400之前，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S100、所述测试装置获取到第二指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10从所述第一位置移动至第二位置；

其中，在所述采样件30固定放置板10处于第二位置时，所述采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸与采样件30处于第二接触状态。

进一步地，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S700、控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件20和所述采样件30移动，直至所述加热组件20与所述N个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。

在本实施例中，以待测件为热敏器件为例进行说明。

需要理解的是，采样件30在预设时间内无法获取到N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的响应时，用户可确认当前N个热敏器件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或采样件30与N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态。此时，用户可通过重新调整采样件30固定放置板10上N个热敏器件的放置位置，以确保加热组件20与N个热敏器件的内部热敏模块处于预设接触状态和采样件30与N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

实施例一，用户再次触发启动测试装置，测试装置会相应获取到第二指令，以控制驱动组件同时带动采样件30、加热组件20和采样件30固定放置板10移动，以使采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非接触状态、加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于非接触状态，以及采样件30固定放置板10处于测试装置的外部位置。采样件30固定放置板10处于测试装置的外部位置时，用户重新调整采样件30固定放置板10上N个热敏器件的摆放位置。在实施例一中，测试装置控制驱动组件同时带动采样件30、采样件30固定放置板10和加热组件20移动，以加快对采样件30固定放置板10上N个热敏器件的测试速度。

实施例二，用户再次触发启动测试装置，测试装置会相应获取到第二指令，以控制驱动组件同时带动采样件30和加热组件20移动，以使采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于非接触状态。确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于非接触状态时，测试装置控制驱动组件进一步地带动驱动组件带动采样件30固定放置板10从测试装置的内部位置移动至测试装置的外部位置，以方便用户重新调整采样件30固定放置板10上N个热敏器件的摆放位置。在实施例二中，测试装置先控制驱动组件带动采样件30和加热组件20移动，确认采样件30和加热组件20分别与N个热敏器件处于非接触状态时再进一步控制驱动组件带动采样件30固定放置板10移动，不仅不影响对采样件30固定放置板10上N个热敏器件的测试速度，而且还能避免出现采样件30固定放置板10在移动时与采样件30或加热组件20卡住的现象。

实施例三，用户再次触发启动测试装置，测试装置会相应获取到第二指令，以控制驱动组件先带动采样件30移动，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非接触状态。在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非接触状态时，测试装置控制驱动组件进一步地带动加热组件20移动，直至加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于非接触状态。在确认加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于非接触状态时，测试装置控制驱动组件进一步地带动采样件30固定放置板10移动，以使采样件30固定放置板10从测试装置的内部位置移动至测试装置的外部位置。在实施例三中，测试装置依次控制采样件30、加热组件20和采样件30固定放置板10移动，可用于避免出现采样件30固定放置板10动作变慢而导致卡住的现象。

其中，本实施例中提到的第一位置指的是测试装置的内部位置，第二位置指的是测试装置的外部位置，第二接触状态指的是非接触状态。

本发明还提出一种测试装置，参考图5，所述测试装置包括：

测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于放置N个待测件的采样件30固定放置板10；

加热组件20，所述加热组件20设置于所述测试装置内；

驱动组件，所述驱动组件设置于所述测试装置内；

采样件30，所述采样件30设置于所述测试装置内；

所述驱动组件，用于带动所述采样件30固定放置板10移动至第一位置；

电控组件40，所述电控组件40获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10移动至第一位置，以使所述采样件30与所述采样件30固定放置板10上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；控制所述加热组件20工作，以对所述采样件30固定放置板10上的多个待测件辐射热能；经所述采样件30获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；所述电控组件40获取到第二指令时，控制所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10从所述第一位置移动至第二位置，以使所述采样件30与所述采样件30固定放置板10上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于第二接触状态；根据至少一个所述检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示；控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件20和所述采样件30移动，直至所述加热组件20与所述N个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。

在本实施例中，以待测件为热敏器件为例进行说明。

具体地，用户触发启动测试装置时，电控组件40会相应获取到第一指令，以控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10、加热组件20和采样件30移动，直至采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置、采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态，以及使加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于紧贴的接触状态。进一步地，在确认当前加热组件20与N个热敏器件的内部热敏模块处于紧贴的接触状态和采样件30与N个热敏器件的采样接口凸出部分处于紧贴的接触状态时，电控组件40控制加热组件20工作，以对采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射热能。经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数。电控组件40根据至少一个检测参数，确定N个热敏器件的工作性能并进行提示。进一步地，用户再次触发启动测试装置，电控组件40会相应获取到第二指令，以控制驱动组件开始工作，同时电控组件40控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件30固定放置板10、加热组件20和采样件30移动，直至采样件30固定放置板10从测试装置的内部位置移动至外部位置、采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于非接触状态，以及使加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于非接触状态。进一步地，用户可根据提示以判断出每一热敏器件的优劣情况，以从N个热敏器件中筛选出不良品。

在本实施例中，参考图5，所述加热组件20包括发热棒和温度控制组件；所述发热棒和所述温度控制组件电连接；

所述温度控制传感器，用于控制所述发热棒产生热能。

可以理解的是，加热组件20处于工作状态时，其内部温度控制传感器开始工作并以PID温度控制方式控制发热棒产生恒定的热能。同时，发热棒将产生的热能传导至采样件30固定放置板10，以对采样件30固定放置板10上的N个待测件辐射热能。由于N个待测件的内部热敏模块均与加热组件20处于紧贴的接触状态，因此发热棒在对N个待测件辐射热能时，N个待测件的内部热敏模块可及时接收，同时N个待测件的采样接口凸出部分相应输出检测参数。而采样件30与N个待测件的采样接口凸出部分处于紧贴状态，采样件30获取N个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数。进一步地，电控组件40根据采样件30采集的至少一个检测参数，可确定N个待测件的工作性能并进行提示。用户可根据提示以判断出每一待测件的优劣情况，以从多个待测件中筛选出不良品。

进一步地，参考图5，所述测试装置还包括隔热组件50；

所述加热组件20设置于所述隔热组件50的内部；

所述隔热组件50，用于包裹所述加热组件20。

可以理解的是，在温度控制传感器以PID温度控制方式控制发热棒产生热能，以使发热棒将热能辐射至采样件30固定放置板10上的N个待测件的过程中，热能会散发至空气中，使得待测件接收的热能不够充分，进一步地导致待测件的采样接口凸出部分输出的响应不准确。

因此，本实施例中还设置有隔热组件50，且隔热组件50采用石棉实现，需要理解的是，石棉具有高度耐火性、电绝缘性和绝热性，是重要的防火、绝缘和保温材料。具体地，在电控组件40控制温度控制传感器开始工作，以使发热棒发热并产生热能时，石棉用于包裹加热组件20，即用于包裹发热棒以及温度控制传感器，以使发热棒与外界环境隔离，尽量使得温度控制传感器控制发热棒产生的热能可维持在恒定值。本实施例中的隔热组件50可避免出现发热棒产生的热能被散发于空气中，导致N个待测件接收的热能不够充分的现象。

进一步地，参考图5，所述测试装置还包括：

导热组件70，所述导热组件70设置于所述加热组件20和所述采样件30固定放置板10之间；

所述导热组件70，用于将所述加热组件20的热能传导至所述采样件30固定放置板10。

可以理解的是，在温度控制传感器以PID温度控制方式控制发热棒产生热能，以使发热棒将热能辐射至采样件30固定放置板10上的N个待测件的过程中，需要将发热棒产生的热能辐射至采样件30固定放置板10上的N个待测件。因此，本实施例中还设置有导热组件70，用于将发热棒产生的热能传导至采样件30固定放置板10上。在本实施例中，导热组件70采用石墨导热体实现，此外，石墨导热体还设置有多个通孔，多个通孔用于将热能的传导。

需要理解的是，加热组件20设置于隔热组件50的内部，隔热组件50用于包裹加热组件20，以避免加热组件20的热能散发至空气中。相反地，导热组件70未设置有隔热组件50包裹，本实施例中导热组件70不设置隔热组件50包裹，以避免在加热组件20产生过高的热能时，导热组件70传导的热能因难以散发至空气，而出现采样件30固定放置板10上N个待测件接收过高的热能的现象。需要理解的是，待测件接收过高的热能影响其输出检测参数的准确性。因此，本实施例中的导热组件70不需要被隔热组件50包裹，有利于热能的散发。

在本实施例中，参考图5，所述测试装置还包括遮挡组件；

所述遮挡组件包括第一遮挡件61和第二遮挡件62，所述第一遮挡件61与所述第二遮挡件62沿高度方向上下对应设置；

所述第一遮挡件61，用于产生载波并以第一预设频率进行第一动作状态和第二动作状态之间的交替切换工作；

所述第二遮挡件62，用于进行第一动作状态和第三动作状态之间的交替切换工作。

需要理解的是，第一遮挡件61采用电机实现，以产生载波频率从而进行第一动作状态和第二动作状态之间的交替切换工作。其中，第一预设频率可以为1HZ频率，此处不作限定。此外，本实施例中第一动作状态指的是全打开状态，第二动作状态指的是全遮挡状态，第三动作状态指的是半遮挡状态。

实施例一、在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态时，电控组件40控制加热组件20开始工作，同时电控组件40控制第一遮挡件61以第一预设频率在全打开状态和全遮挡状态之间交替切换，以及控制第二遮挡组件处于全打开状态。进一步地，加热组件20对所述采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射的热能，此时可经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数，从而确定N个热敏器件的受热均匀程度参数。

实施例二、在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态时，电控组件40控制加热组件20开始工作，同时电控组件40控制第一遮挡件61以第一预设频率在全打开状态和全遮挡状态之间交替切换，以及控制第二遮挡组件处于半遮挡状态。进一步地，加热组件20对所述采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射的热能，此时可经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数，从而确定N个热敏器件的受热响应强度参数。

实施例三、在确认采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态以及加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的热敏模块处于预设接触状态时，电控组件40控制加热组件20开始工作，同时电控组件40控制第一遮挡件61处于全遮挡状态和控制第二遮挡组件处于全打开状态。进一步地，加热组件20对所述采样件30固定放置板10上的N个热敏器件辐射的热能，此时可经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数，从而确定N个热敏器件的受热稳定性程度参数。

进一步地，参考图5，所述驱动组件的数量为三个，分别为第一驱动组件81、第二驱动组件82和第三驱动组件83；

所述第一驱动组件81上设置有所述采样件30固定放置板10，所述第二驱动组件82上设置有所述加热组件20，所述第三驱动组件83上设置有所述采样件30；

所述第一驱动组件81，用于驱动所述采样件30固定放置板10从第一位置移动至第二位置或从第二位置移动至第一位置；

所述第二驱动组件82，用于驱动所述加热组件20沿高度方向移动，以使所述加热组件20与所述采样件30固定放置板10上的N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态或第二接触状态；

所述第三驱动组件83，用于驱动所述采样件30沿高度方向移动，以使所述采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸与采样件30处于预设接触状态或第二接触状态。

可以理解的是，本实施例中第一位置指的是测试装置的内部位置，第二位置指的是测试装置的外部位置；预设接触状态指的是紧贴的接触状态，第二接触状态指的是非接触状态。

具体地，第一驱动组件81开始工作时，带动采样件30固定放置板10从测试装置的内部位置移动至测试装置的外部位置或从测试装置的外部位置移动至测试装置的内部位置。第二驱动组件82开始工作时，带动加热组件20向上或向下平行移动，以使加热组件20与采样件30固定放置板10上的N个待测件的内部热敏模块处于紧贴的接触状态或非接触状态。第三驱动组件83开始工作时，带动采样件30向上或向下平行移动，以使采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸与采样件30处于紧贴的接触状态或非接触状态。

进一步地，参考图5，所述第一驱动组件81包括：

第一驱动电机；

第一运动滑块，所述第一运动滑块与所述第一驱动电机驱动连接，所述第一运动滑块与所述采样件30固定放置板10连接；

所述第一驱动电机，用于驱动所述第一运动滑块带动所述采样件30固定放置板10从第一位置移动至第二位置或从第二位置移动至第一位置。

可以理解的是，电控组件40接收第一指令时，控制第一驱动电机开始工作，以使第一驱动电机驱动第一运动滑块带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置；电控组件40接收第二指令时，控制第一驱动电机开始工作，以使第一驱动电机驱动第一运动滑块带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的外部位置，采样件30固定放置板10处于测试装置的外部位置时，用户可将N个待测件放置于采样件30固定放置板10上，以为再次触发启动测试装置做准备。

进一步地，参考图5，所述第二驱动组件82包括：

第二驱动电机；

第二运动滑块，所述第二运动滑块与所述第二驱动电机驱动连接，所述第二运动滑块与所述加热组件20连接；

所述第二驱动电机，用于驱动所述第二运动滑块带动所述加热组件20沿高度方向移动，以使所述加热组件20与所述N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态或第二接触状态。

可以理解的是，电控组件40接收第一指令时，控制第二驱动电机开始工作，以使第二驱动电机驱动第二运动滑块带动加热组件20向下平移，直至加热组件20与N个待测件的内部热敏模块处于紧贴的接触状态；电控组件40接收第二指令时，控制第二驱动电机驱动第二运动滑块带动加热组件20向上平移，直至加热组件20与N个待测件的内部热敏模块处于非接触状态。

需要理解的是，在本实施例中第二运动滑块还与导热组件70连接，由于加热组件20的表面有隔热组件50包裹，而隔热组件50的下方位置设置有导热组件70，因此在第二驱动电机驱动第二运动滑块带动加热组件20向下移动时，第二运动滑块带动同时带动导热组件70和被隔热组件50包裹着的加热组件20同步向下移动，直至导热组件70与N个待测件的内部热敏模块处于紧贴的接触状态，电控组件40才进一步地控制加热组件20开始工作。

进一步地，参考图5，所述第三驱动组件83包括：

第三驱动电机；

第三运动滑块，所述第三运动滑块与所述第三驱动电机驱动连接，所述第三运动滑块与所述采样件30连接；

所述第三驱动电机，用于驱动所述第三运动滑块带动所述采样件30沿高度方向移动，所述采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸部分与采样件30处于预设接触状态或第二接触状态。

可以理解的是，电控组件40接收第一指令时，控制第三驱动电机开始工作，以使第三驱动电机驱动第三运动滑块带动采样件30向上平移，直至采样件30与盘上的N个待测件的采样接口凸部分处于紧贴的接触状态；电控组件40接收第二指令时，控制第三驱动电机驱动第三运动滑块带动采样件30向下平移，直至采样件30与盘上的N个待测件的采样接口凸部分处于非接触状态。

在本实施例中，参考图5，所述测试装置还包括触发组件，所述触发组件设置于所述测试装置主体的侧面。

可选的，触发组件可以采用触发按钮和触控屏实现。

本实施例中，触发组件采用触发按钮实现，用于触发测试装置启动并开始工作。具体地，在实际应用中，用户将多个热敏器件放置在采样件30固定放置板10上，同时短按触发按钮，测试装置内的电控组件40相应接收到第一指令，电控组件40控制第一驱动组件81驱动第一运动滑块带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置，同时，电控组件40还控制第二驱动组件82以及第三驱动组件83工作，以使第二驱动组件82驱动第二运动滑块带动加热组件20向下平移，直至加热组件20与N个待测件的内部热敏模块处于紧贴的接触状态，以及使得第三驱动组件83驱动第三运动滑块带动采样件30向上平移，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个待测件的采样接口凸部分处于紧贴的接触状态。进一步地对采样件30固定放置板10上的N个待测件进行测试。

需要理解的是，采样件30在预设时间内无法获取到N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，用户可在测试装置处于工作状态时，长按触发按钮，测试装置内的电控组件40会相应获取到第二指令，电控组件40控制第一驱动组件81驱动第一运动滑块带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的外部位置，同时，电控组件40还控制第二驱动组件82以及第三驱动组件83工作，以使第二驱动组件82驱动第二运动滑块带动加热组件20向上平移，直至加热组件20与N个待测件的内部热敏模块处于非接触状态，以及使得第三驱动组件83驱动第三运动滑块带动采样件30向下平移，直至采样件30与盘上的N个待测件的采样接口凸部分处于非接触状态。此时，用户可通过重新调整采样件30固定放置板10上N个待测件的放置位置，以确保加热组件20与N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态和采样件30与N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

在本实施例中，参考图5，所述测试装置还包括显示组件，所述显示组件与所述测试装置电连接。

可选的，显示组件可采用LED显示屏和液晶显示屏实现。

在本实施例中，显示组件采用LED显示屏实现。具体地，在实际应用中，电控组件40根据采样件30获取到的至少一个检测参数，确定N个待测件的工作性能的同时，电控组件40还控制LED显示屏显示每一待测件的工作性能，例如，待测件的受热均匀程度图像、待测件的受热响应强度图像以及待测件的受热稳定性程度图像等等。用户可根据LED显示屏显示的图像，以综合判断每一待测件的优劣情况。

本发明还提出一种批量热敏器件测试方法，基于以上内容所述的测试装置，包括以下步骤：

步骤S1000、准备所述测试装置，并将所述测试装置上电；

步骤S2000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第二指令并控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10从第一位置移动至第二位置；

步骤S3000、将N个热敏器件放置在所述采样件30固定放置板10上，以使所述N个热敏器件的采样接口凸出部分向下放置；

步骤S4000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第一指令并控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10移动从第二位置移动至第一位置，以使所述采样件30与所述采样件30固定放置板10上的N个所述热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；控制所述加热组件20工作，以对所述采样件30固定放置板10上的多个热敏器件辐射热能；经所述采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；

步骤S5000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第二指令并控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件30固定放置板10从第一位置移动至第二位置，以使所述采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸与采样件30处于第二接触状态；根据至少一个所述检测参数，确定N个热敏器件的工作性能并进行提示。

在实际应用中，用户在触发启动测试装置前，先将测试装置接上电源，并长按触发按钮，以触发测试装置内的电控组件40接收第二指令。电控组件40在接收第二指令后控制第一驱动组件81以驱动第一运动滑块带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的外部位置，同时，电控组件40还控制第二驱动组件82以及第三驱动组件83工作，以使第二驱动组件82驱动第二运动滑块带动加热组件20向上平移，直至加热组件20与N个热敏器件的内部热敏模块处于非接触状态，以及使得第三驱动组件83驱动第三运动滑块带动采样件30向下平移，直至采样件30与盘上的N个热敏器件的采样接口凸部分处于非接触状态。

进一步地，在采样件30固定放置板10处于测试装置的外部位置时，用户将N个热敏器件放置在所述采样件30固定放置板10上，以使所述N个热敏器件的采样接口凸出部分向下放置；以使N个热敏器件的内部热敏模块向上放置以及N个热敏器件的采样接口凸出部分向下放置，以为实现加热组件20向下移动能与N个热敏器件的内部热敏模块接触，以及为实现采样件30向上移动能与N个热敏器件的采样接口凸出部分接触而创造条件。

进一步地，N个热敏器件放置完毕后，用户短按触发按钮，以触发测试装置内的电控组件40接收第一指令。电控组件40在接收第一指令后控制第一驱动组件81驱动第一运动滑块带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的内部位置，同时，电控组件40还控制第二驱动组件82以及第三驱动组件83工作，以使第二驱动组件82驱动第二运动滑块带动加热组件20向下平移，直至加热组件20与N个热敏器件的内部热敏模块处于紧贴的接触状态，以及使得第三驱动组件83驱动第三运动滑块带动采样件30向上平移，直至采样件30与采样件30固定放置板10上的N个热敏器件的采样接口凸部分处于紧贴的接触状态，从而进一步地对采样件30固定放置板10上的N个热敏器件进行测试。经采样件30获取N个热敏器件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数，电控组件40根据至少一个检测参数，确定N个热敏器件的工作性能并控制显示组件显示相应的图像，以对用户进行提示。

进一步地，电控组件40确定N个热敏器件的工作性能并通过显示组件提示后，电控组件40控制第二驱动组件82和第三驱动组件83工作，以使第二驱动组件82驱动第二运动滑块带动加热组件20向上平移，直至加热组件20与N个热敏器件的内部热敏模块处于非接触状态，以及使得第三驱动组件83驱动第三运动滑块带动采样件30向下平移，直至采样件30与盘上的N个热敏器件的采样接口凸部分处于非接触状态。同时，电控组件40控制第一驱动组件81工作，以带动采样件30固定放置板10移动至测试装置的外部位置，用户根据测试装置的提示以判断出每一热敏器件的优劣情况，在采样件30固定放置板10上筛选出不良品。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。