目标介质的属性确定系统和点胶设备

技术领域

本申请实施例涉及但不限于电子技术，尤其涉及一种目标介质的属性确定系统和点胶设备。

背景技术

随着计算机(Computer)、通讯(Communication)以及消费类电子(ConsumerElectronics)的蓬勃发展，越来越多的电子产品用到了点胶机自动化设备来完成电子零部件的固定及组装。

目前点胶机上使用的检测模块是二维(Two Dimensional，2D)的，检测模块确定的是二维胶粘剂的属性信息。

然而，随着电子产品零部件越来越复杂，三维(Three Dimensional，3D)点胶方式越来越多，传统的2D检测模块已经无法完全满足市场需求。

发明内容

本申请实施例提供一种目标介质的属性确定系统和点胶设备，目的是能够实现对三维目标介质的属性信息的确定。

本申请实施例之一，一种目标介质的属性确定系统，包括：

照射装置，用于发出照射在具有目标介质的目标物体的表面的图案光；与所述目标物体的表面相交的光束光轴与所述目标物体的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于预设角度且小于90度；

拍摄装置，用于对所述具有目标介质的目标物体进行拍摄，得到目标图像；与所述目标物体的表面相交的镜头光轴与所述目标物体的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于所述预设角度且小于90度；

处理装置，用于根据所述目标图像，确定所述目标介质的属性信息。

本申请实施例之一，一种点胶设备，包括上述的目标介质的属性确定系统。

在本申请实施例中，由于与目标物体的表面相交的光束光轴与目标物体的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于预设角度且小于90度，以及与目标物体的表面相交的镜头光轴与目标物体的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于预设角度且小于90度，从而图案光能够均匀地分布在目标物体的表面，进而拍摄装置拍摄的目标图像能够清晰的体现具有目标介质的目标物体中的各个部分，使得根据目标图像确定的目标介质的属性信息准确。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。

图1为本申请实施例提供的一种DMD芯片的工作原理示意图；

图2为本申请实施例提供的一种DLP投影光机的光路示意图；

图3为本申请实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的另一种目标介质的属性确定系统的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的又一种目标介质的属性确定系统的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的再一种目标介质的属性确定系统的结构示意图；

图7为本申请另一实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的一种制作调制光束的原理示意图；

图9为本申请又一实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图；

图10为本申请又一实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图；

图11为本申请实施例提供的一种等分的胶路示意图；

图12为本申请实施例提供的一种点胶设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将通过实施例并结合附图具体地对本申请的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。

需要说明的是：在本申请实例中，“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

另外，本申请实施例所记载的技术方案之间，在不冲突的情况下，可以任意组合。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

点胶机利用各种胶水在各种电子零部件上通过自动化软件实现胶路规划和胶路检测。其中，胶水包括以下至少之一：无影(Ultraviolet Rays，UV)胶、环氧胶、两液混合硬化胶(Two-component adhesive，AB)胶、热熔胶、瞬干胶、硅胶、聚氨酯双组分胶等。

目前点胶机上使用的视觉检测模块大多都是2D的，只能实现简单的胶路规划和比较明显的胶路缺陷检测。由于当前电子产品零部件越来越复杂，点胶路径也变得复杂起来，比如真无线立体声(True Wireless Stereo，TWS)蓝牙耳机外形小巧圆润，不规则弧线路径较多，路径高低起伏也较多，另外使用的胶水大多数具有高透性，普通的光源打在胶水上只会透光或者反光，2D相机只能聚焦拍摄某一层的胶水，传统的2D检测模块已经无法完全满足市场需求。

目前市场上的点胶设备(例如包括点胶机)正在更新升级，亟需一种能识别胶水三维形貌进而可以进行胶路缺陷检测并计算胶量的3D视觉检测模块。

光场相机是一种通过单次拍摄即可进行3D重建的视觉模块。但前提是所拍摄物体具有比较充足的纹理特征。本申请提出一种基于纹理结构光源(例如图案光)的光场相机，通过设计一种满足光场相机采样纹理要求的纹理结构光源，形成一套集光源、镜头、相机于一体的光场三维检测系统。

对于光场相机来说只需提供一个能产生足够精细纹理的光源，而这种光源是一种基于数字微镜阵列(Digital Micromirror Device，DMD)的数字光处理(Digital LightProcessing，DLP)投影光机，核心部件是DMD芯片。DMD芯片上密密麻麻地排列了90万到200万面方形小镜子。示例性地，每个小镜子的尺寸为5.4μm，而且每个小镜子都可以独立向正负方向翻转17°。光线通过开状态的小镜子反射再经投影镜头聚焦到物体表面成像，光线通过关状态的小镜子反射到吸收面上。

图1为本申请实施例提供的一种DMD芯片的工作原理示意图，如图1所示，当入射光照射到小镜子上时，如果一个方形小镜子从平状态已经转换为关状态，则该小镜子会将入射光终止(to termination)，如果一个方形小镜子从平状态已经转换为开状态，则该小镜子会将入射光反射至探测器(to detector)。其中，探测器例如是拍摄装置。

图2为本申请实施例提供的一种DLP投影光机的光路示意图，如图2所示，红色光通过反射镜21和第一二向色板22反射到达聚光管24，蓝色光分别通过第二二向色板23透射和第一二向色板22透射到达聚光管24，绿色光分别通过第二二向色板23反射和第一二向色板22透射到达聚光管24。聚光管24将红色光、蓝色光以及绿色光聚合得到的光进行聚合。从聚光管24出来的光通过聚光镜组25(包括第一聚光镜251、第二聚光镜252以及第三聚光镜253后)到达第一全内反射(Total Internal Reflection，TIR)棱镜26，并通过第一TIR棱镜26反射到DMD芯片27，DMD芯片27中开状态的小镜子将光线反射出来，然后光依次通过第一TIR棱镜26和第二TIR棱镜28到达投影镜头29，以使投影镜头29将光投射出去。在本申请实施例中，通过DMD芯片27中开状态的小镜子，来确定图案光的图案。

本申请的光场相机拍摄不透明介质(例如乳白色环氧胶水)或半透明介质时，使用DLP投影光机可以增加胶水表面纹理，有利于胶水三维形貌的重建。

图3为本申请实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图，如图3所示，该目标介质的属性确定系统300包括：照射装置301、拍摄装置302以及处理装置303。

照射装置301，用于发出照射在具有目标介质的目标物体304的表面的图案光；与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于预设角度且小于90度；

拍摄装置302，用于对所述具有目标介质的目标物体304进行拍摄，得到目标图像；与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于所述预设角度且小于90度；

处理装置303，用于根据所述目标图像，确定所述目标介质的属性信息。

在一些实施例中，拍摄装置302可以包括具有镜头的光场相机。在一些实施例中，处理装置303可以在检测到向不具有目标介质的目标物体中设置目标介质完成后，向拍摄装置302发送拍摄指令，以使拍摄装置302拍摄得到目标图像。在一些实施例中，目标图像可以是拍摄得到的一帧图像。在另一些实施例中，目标图像可以是对多帧图像进行融合，多帧图像对应的焦距不同。例如，多帧图像对应的多个焦距，分别对应目标物体304的多个高度。

在一些实施例中，照射装置301可以包括数字光处理(DLP)投影设备。在另一些实施例中，照射装置301可以包括能够发出可编程光源或可编程屏幕光源的设备。例如，照射装置301可以包括混合数据相机。

在一些实施例中，照射装置301和拍摄装置302可以分开设置。在另一些实施例中，照射装置301和拍摄装置302可以集成在一个设备中。在一些实施例中，拍摄装置302与处理装置303可以分开设置。在另一些实施例中，拍摄装置302与处理装置303可以集成在一个设备中。

在一些实施例中，拍摄装置302可以包括摄像头(也称镜头)。

在一些实施例中，图案光可以是固定形状的光。例如，图案光可以为横向直条纹光、纵向直条纹光、横向直条纹光和纵向直条纹光的结合、环状直条纹光或放射形直条纹光等。在另一些实施例中，图案光可以根据目标物体304的表面的形状确定。例如，目标物体304的表面为矩形，图案光可以为横向直条纹光或纵向直条纹光。又例如，目标形状的表面为圆形或椭圆形或圆形或椭圆形的类似形状，图案光可以为放射形直条纹光或环状直条纹光。

在一些实施例中，DLP投影设备可以投射至少两种格式的图案。例如，DLP投影设备可以投射一维格式对应的图案，一维格式对应烧录的是一行0、1数字。又例如，DLP投影设备可以投射二维格式对应的图案，二维格式对应烧录的是多行多列0、1数字。在一些实施例中，一维格式对应的图案对应的条纹为横条纹或纵条纹(直条纹或弧形条纹)。在一些实施例中，二维格式对应的图案的条纹为棋盘格或各种形式的二维图案。

在一些实施例中，目标介质可以包括胶水或胶黏剂。在一些实施例中，目标介质可以包括以下至少之一：UV胶、环氧胶、AB胶、热熔胶、瞬干胶、硅胶、聚氨酯双组分胶等。在一些实施例中，目标介质可以为不透明介质、半透明介质，或透明介质。在本申请任一实施例中，不透明介质可以包括不透明胶黏剂。在本申请任一实施例中，半透明介质可以包括半透明胶黏剂。在本申请任一实施例中，透明介质可以包括透明胶黏剂。

在一些实施例中，目标物体304可以为任一个能够设置目标介质的物体。例如，目标物体304可以为耳机壳体、手机壳体、手表壳体、电脑壳体或学习机壳体等等。在一些实施例中，目标物体304的表面可以为目标物体304的内表面，或者目标物体304的外表面，或者目标物体304的侧表面，或者目标物体304的上表面，或者目标物体304的下表面。在一些实施例中，目标物体304的表面可以为三维形状，在另一些实施例中，目标物体304的表面可以为二维形状。在一些实施例中，目标物体304的表面可以平行于水平面，或者，平行于用于放置目标物体的平面，或者，平行于用于固定目标物体的平面。

在一些实施例中，预设角度可以大于或等于60度。例如，预设角度可以等于60度，或者预设角度可以大于60度，或者预设角度可以大于或等于70度，或者预设角度可以大于或等于80度，或者，预设角度可以大于或等于85度，或者，预设角度可以大于或等于87度等等。

在一些实施例中，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面之间的角度，可以跟与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面之间的角度相同或不同。例如，前者是60度，后者是70度。又例如，前者是60度，后者是90度。又例如，前者是80度，后者也是80度。

在一些实施例中，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面垂直，且与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面垂直。在另一些实施例中，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面之间的角度大于或等于预设角度且小于90度，且与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面垂直。在又一些实施例中，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面垂直，且与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面之间的角度大于所述预设角度且小于90度。在又一些实施例中，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面之间的角度大于或等于预设角度且小于90度，且与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面之间的角度大于所述预设角度且小于90度。

在一些实施例中，照射装置901与拍摄装置302可以抵接设置，从而能够尽可能地使得与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面垂直，和/或，尽可能地使得与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面垂直。

在一些实施例中，照射装置301对应的物方焦平面与拍摄装置302对应的物方焦平面相同。在另一些实施例中，照射装置301对应的物方焦平面与拍摄装置302对应的物方焦平面不同，照射装置301对应的物方焦平面与拍摄装置302对应的物方焦平面平行。例如，拍摄装置302对应的物方焦平面在照射装置301对应的物方焦平面与拍摄装置302之间，且拍摄装置302对应的物方焦平面与照射装置301对应的物方焦平面平行。

在图3对应的实施例中，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴，与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴重叠。这样，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴与所述目标物体304的表面垂直，且与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴与所述目标物体304的表面垂直。需要说明的是，在图3之外的其它实施例中，与所述目标物体304的表面相交的光束光轴，和与所述目标物体304的表面相交的镜头光轴还有上述列举的其它形式。

在一些实施例中，属性信息可以包括以下至少之一：体积、质量、缺陷信息等。

在一些实施例中，拍摄装置可以将拍摄的目标图像发送给处理装置。

在本申请实施例中，由于与目标物体的表面相交的光束光轴与目标物体的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于预设角度且小于90度，以及与目标物体的表面相交的镜头光轴与目标物体的表面，垂直或者两者之间的角度大于或等于预设角度且小于90度，从而图案光能够均匀地分布在目标物体的表面，进而拍摄装置拍摄的目标图像能够清晰的体现具有胶粘剂的目标物体中的各个部分，使得根据目标图像确定的胶粘剂的属性信息准确。

在一些实施例中，所述照射装置301，还用于将所述图案光照射在不具有目标介质的目标物体304的表面；

所述拍摄装置302，还用于对所述不具有目标介质的目标物体304进行拍摄，得到初始图像；

所述处理装置303，还用于根据所述初始图像和所述目标图像，确定所述目标介质的属性信息。

在本申请实施过程中，在点胶之前，照射装置301也会对不具有目标介质的目标物体304的表面进行照射，拍摄装置302会对不具有目标介质的目标物体304的表面进行拍摄的，得到初始图像，从而处理装置303可以根据所述初始图像和所述目标图像，确定所述目标介质的属性信息。

在一些实施例中，点胶可以替换为以下之一：施胶、涂胶、灌胶、滴胶等。

在一些实施例中，拍摄装置302可以将拍摄的初始图像发送给处理装置303。

在一些实施例中，照射装置301可以在点胶过程中不发光，和/或，拍摄装置302可以在点胶过程中关闭，从而节省照射装置301和/或拍摄装置302的电量。在另一些实施例中，照射装置301可以在点胶过程中发光，拍摄装置302可以在点胶过程中每个预设时长获取特定图像，从而处理装置303可以根据初始图像和至少一个特定图像，确定预设时长内的涂到的目标介质是否准确。在一些实施例中，拍摄装置302可以将拍摄的至少一个特定图像发送给处理装置303。

在一些实施例中，在多次设置目标介质(例如点胶)的情况下，拍摄装置可以拍摄每次点胶后的图像，从而可以根据每次点胶前后对应的图像，确定每次点胶的属性信息，和/或，根据每次点胶后对应的图像和初始图像，确定每次已点胶的属性信息。

在一些实施例中，缺陷信息可以包括以下至少之一：路径偏移、胶量大于或等于第一阈值，胶量小于或等于第二阈值。其中，胶量可以包括体积和/或质量。

在一些实施例中，目标介质的属性确定系统还包括移动装置，移动装置用于对目标物体进行移动。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质无缺陷信息的情况下，可以控制移动装置将目标物体304移动至第一目标位置。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质的路径偏移的情况下，可以控制移动装置将目标物体304移动至第二目标位置。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质的体积和/或质量大于或等于第一阈值的情况下，可以控制移动装置将目标物体304移动至第三目标位置。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质的体积和/或质量小于或等于第二阈值的情况下，可以控制移动装置将目标物体304移动至第四目标位置。

在一些实施例中，处理装置303在控制移动装置将当前目标物体从当前位置，移动至第一目标位置、第二目标位置、第三目标位置或第四目标位置的情况下，处理装置303可以将下一个目标物体移动至当前位置，从而采用本申请的方案继续确定下一个目标物体中目标介质的属性信息。

在一些实施例中，处理装置303可以记录每个目标物体的编号信息。

在一些实施例中，目标介质的属性确定系统还包括提示装置，提示装置可以包括显示屏和/或播放装置，显示屏用于显示提示信息，播放装置用于播放提示信息或提示信息对应的提示音。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质无缺陷信息的情况下，处理装置303可以控制提示装置发出第一提示信息。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质的路径偏移的情况下，处理装置303可以控制提示装置发出第二提示信息。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质的体积和/或质量大于或等于第一阈值的情况下，处理装置303可以控制提示装置发出第三提示信息。在一些实施例中，在处理装置303确定目标介质的体积和/或质量小于或等于第二阈值的情况下，处理装置303可以控制提示装置发出第四提示信息。

图4为本申请实施例提供的另一种目标介质的属性确定系统的结构示意图，如图4所示，该目标介质的属性确定系统300包括照射装置301、拍摄装置302和处理装置303。关于照射装置301、拍摄装置302和处理装置303的说明，请参阅上述实施例的描述，此处不再赘述。

在一些实施例中，所述处理装置303，还用于根据所述初始图像确定点胶路径对应在目标物体304上的三维位置信息；

所述系统还包括点胶装置305，用于根据所述目标物体304上的三维位置信息，将所述目标介质设置在所述目标物体304上。

在一些实施例中，点胶路径可以是预先设置的。在一些实施例中，通过点胶路径对应在目标物体304上的三维位置信息，可以将目标介质设置在对应的目标物体304上的三维位置信息上，从而能够实现在目标物体304上精确地点胶。

在一些实施例中，所述处理装置303，还用于确定目标物体304上的三维位置信息中不同三维位置信息对应的出胶宽度。点胶装置305，还用于根据所述目标物体304上的三维位置信息和对应的出胶宽度，将所述目标介质设置在所述目标物体304上。

在本申请任一实施例中，三维位置信息可以包括三维坐标信息。

在一些实施例中，所述处理装置303，还用于：

根据所述目标物体304的形状和/或所述目标介质的形状，对所述初始图像进行划分，得到多个子初始图像，以及对所述目标图像进行对应的划分，得到与所述多个子初始图像分别对应的多个子目标图像；

根据所述多个子初始图像和所述多个子目标图像，确定所述多个子目标图像中分别包括的多个子目标介质的属性信息；

根据所述多个子目标介质的属性信息，确定所述目标介质的属性信息。

在一些实施例中，处理装置303可以存储多个物体形状和/或多个介质形状，与多个划分方式之间的对应关系，处理装置303可以根据对应关系，以及根据所述目标物体304的形状和/或所述目标介质的形状，确定目标物体304的形状对应的划分方式，然后根据该划分方式对所述初始图像和所述目标图像进行划分。示例性地，多个物体形状与多个划分方式可以具有一一对应的对应关系，和/或，多个介质形状与多个划分方式可以具有一一对应的对应关系，和/或，多个物体形状与多个划分方式可以具有多对一的对应关系，和/或，多个介质形状与多个划分方式可以具有多对一的对应关系。例如，如果目标物体304的形状为圆形、椭圆形或类似于圆形或椭圆形的形状，则划分方式可以为以目标物体304的中心为圆心的等角度划分。又例如，如果目标物体304的形状为矩形或类似矩形的形状，则划分方式可以为条状划分。又例如，如果目标介质的形状为圆形、椭圆形或类似于圆形或椭圆形的形状，则划分方式可以为以目标介质的中心为圆心的等角度划分。

在一些实施例中，多个子初始图像中不同的子初始图像的尺寸相同或不同。在一些实施例中，多个子目标图像中不同的子目标图像的尺寸相同或不同。

在一些实施例中，多个子初始图像与多个子目标图像一一对应。例如，每个子初始图像和对应的每个子目标图像的尺寸相同。示例性地，多个子初始图像，是通过对初始图像以目标物体304的中心为圆心，且从0点钟的方向开始以每隔90度的角度的等角度划分，则多个子目标图像，是通过对目标图像以目标物体304的中心为圆心，且从0点钟的方向开始以每隔90度的角度的等角度划分。

在一些实施例中，目标介质的体积可以为多个子目标介质的体积之和。在一些实施例中，目标介质的质量可以为多个子目标介质的质量之和。在一些实施例中，目标介质的缺陷信息可以包括多个子目标介质存在缺陷的至少一个子目标介质的缺陷信息确定。

在一些实施例中，多个子目标图像可以为具有目标介质的子目标图像。在另一些实施例中，多个子目标图像中部分的子目标图像中可以具有目标介质，另一部分的子目标图像中不具有目标介质。

在一些实施例中，所述处理装置303，还用于：

根据所述多个子初始图像和所述多个子目标图像，确定所述多个子目标图像中分别包括的多个子目标介质的特征信息；所述特征信息包括以下至少之一：三维位置信息、平均高度、最高高度、最低高度、平均长度、最小长度、最大长度；

根据所述多个子目标介质的特征信息，分别确定所述多个子目标介质的属性信息。

在一些实施例中，多个子目标介质的特征信息，与多个子目标介质的属性信息一一对应。在一些实施例中，可以根据多个子目标介质的平均高度和平均长度，确定多个子目标介质的体积或质量。在一些实施例中，可以根据多个子目标介质的最高高度、最低高度、最小长度以及最大长度，确定多个子目标介质的体积或质量。在一些实施例中，可以根据多个子目标介质的最高高度和最大长度，确定多个子目标介质的最大体积或最大质量。在一些实施例中，可以根据多个子目标介质的最低高度和最小长度，确定多个子目标介质的最小体积或最小质量。在一些实施例中，可以根据多个子目标介质的三维位置信息和平均高度，或者三维位置信息、平均高度和平均长度，确定多个子目标介质的体积或质量。在一些实施例中，可以根据平均高度、最高高度、最低高度、平均长度、最小长度以及最大长度，确定多个子目标介质的体积和质量。在一些实施例中，可以根据三维位置信息、平均高度、最高高度、最低高度、平均长度、最小长度以及最大长度，确定多个子目标介质的体积和质量。需要说明的是，此处只是列举了部分确定多个子目标介质的属性信息的实施方式，本领域技术人员还可以根据特征信息的列举和属性信息的列举，采用其它方式确定多个子目标介质的属性信息，对此本申请不一一列举。任何通过本申请的多个子目标介质的特征信息，确定多个子目标介质的属性信息的方式，都应该在本申请的保护范围之内。

在一些实施例中，所述目标介质包括不透明介质或半透明介质；所述处理装置303，还用于：

确定所述多个子初始图像中分别包括的多个参考面中，每个参考面上的多个第一特征点相对基准面之间的第一距离；所述参考面用于设置目标介质；

确定所述多个子目标图像中分别包括的多个子目标介质中，每个子目标介质上的多个第二特征点相对基准面之间的第二距离；所述多个第一特征点与所述多个第二特征点分别对应；

根据所述第一距离和所述第二距离，确定所述多个子目标介质的平均高度、最高高度、最低高度中的至少之一。

在一些实施例中，对于任一个参考面来说，该参考面可以是三维的或者可以是二维的。

在一些实施例中，一个子初始图像中多个第一特征点中每个第一特征点相对该子初始图像的位置，与对应的一个子目标图像中多个第二特征点中每个第二特征点相对该子目标图像的位置相同。

在一些实施例中，不同的子初始图像中的参考面上的第一特征点的数量相同。在另一些实施例中，不同的子初始图像中的参考面上的第一特征点的数量不同。

在一些实施例中，基准面可以为拍摄装置302或照射装置301对应的物方焦平面。在另一些实施例中，基准面还可以是其它平面，例如，基准面可以为放置目标物体304的平面。

在一些实施例中，处理装置303可以根据每个参考面上的多个第一特征点的三维位置信息，确定每个参考面上的多个第一特征点相对基准面之间的第一距离。在另一些实施例中，处理装置303可以根据所述多个子初始图像，确定每个参考面上的多个第一特征点相对基准面之间的第一距离。

在一些实施例中，处理装置303可以根据所述多个子目标图像，确定每个子目标介质上的多个第二特征点相对基准面之间的第二距离。

在一些实施例中，根据所述第一距离和所述第二距离，确定所述多个子目标介质的平均高度、最高高度、最低高度中的至少之一，可以包括：根据所述第二距离与对应的所述第一距离的差值，确定所述多个子目标介质的平均高度、最高高度、最低高度中的至少之一。

在一些实施例中，所述目标介质包括透明介质；所述处理装置303，还用于：

根据所述多个子初始图像，分别确定所述多个子初始图像中的多个子目标物体中，每个子目标物体上的多个第三特征点的第一位置信息；

根据所述多个子目标图像，分别确定所述多个子目标图像中的多个子目标物体中，每个子目标物体上的多个第三特征点的第二位置信息；

确定所述第一位置信息和所述第二位置信息不同的至少一个第三特征点。

在一些实施例中，根据所述至少一个第三特征点的第一位置信息，确定所述多个子目标介质的三维位置信息、平均长度、最小长度、最大长度中的至少之一。

在一些实施例中，根据所述至少一个第三特征点的第一位置信息和第二位置信息，确定所述至少一个第三特征点的物方焦平面的差异值，以及根据所述至少一个第三特征点的物方焦平面的差异值和所述目标介质的折射率，确定所述多个子目标介质的平均高度、最高高度、最低高度中的至少之一。

在一些实施例中，一个子初始图像中多个第三特征点中每个第三特征点对应在目标物体304上的位置，与对应的一个子目标图像中多个第三特征点中每个第三特征点对应在目标物体304上的位置相同。例如，一个子初始图像中第一个第三特征点对应在目标物体304上的位置为目标引脚，则对应的一个子目标图像中第一个第三特征点对应在目标物体304上的位置也为目标引脚。

在实施过程中，如果目标引脚上设有透明介质，则由于透明介质的折射作用，会导致目标引脚的第一位置信息与第二位置信息不同，从而根据第一位置信息和第二位置信息不同的至少一个第三特征点的第一位置信息，确定多个子目标介质的三维位置信息、平均长度、最小长度、最大长度中的至少之一。

在实施过程中，如果目标引脚上设有透明介质，则由于透明介质的折射作用，会导致目标引脚的第一位置信息与第二位置信息不同，从而根据第一位置信息与第二位置信息，确定目标引脚对应的物方焦平面的差异值，然后根据该差异值和所述目标介质的折射率，确定目标引脚上透明介质的高度。

在一些实施例中，可以根据所述多个子初始图像，确定每个子目标物体上的多个第三特征点的第一位置信息。在一些实施例中，可以根据所述多个子目标图像，确定每个子目标物体上的多个第三特征点的第二位置信息。

在一些实施例中，所述第一位置信息和所述第二位置信息不同的至少一个第三特征点上具有透明介质。

在一些实施例中，一个子初始图像中，第三特征点的第一位置信息可以为三维坐标信息。在一些实施例中，一个子目标图像中，第三特征点的第二位置信息可以为三维坐标信息。

在一些实施例中，可以根据一个第三特征点的第一位置信息和第二位置信息，确定该第三特征点的物方焦平面的差异值。在一些实施方式中，可以根据一个第三特征点的第一位置信息的深度坐标和第二位置信息的深度坐标，确定该第三特征点的物方焦平面的差异值。

在一些实施例中，根据一个第三特征点的物方焦平面的差异值和所述目标介质的折射率，确定该第三特征点的高度的计算公式可以为：h＝δZ*n/(n-1)。其中，δZ表示该一个第三特征点物方焦平面的差异值，n表示目标介质的折射率。

在本申请实施例中，可以确定多个子目标图像中分别包括的子目标介质的三维位置信息、平均长度、最小长度、最大长度中的至少之一，和/或，确定多个子目标图像中分别包括的子目标介质的平均高度、最高高度、最低高度中的至少之一，进而得到多个子目标介质的特征信息。

在一些实施例中，所述目标介质包括透明介质；所述处理装置303，还用于：

根据所述初始图像，确定所述初始图像中的目标物体上多个第四特征点的第三位置信息；

根据所述目标图像，确定所述目标图像中的目标物体上多个第四特征点的第四位置信息；

确定所述第三位置信息和所述第四位置信息不同的至少一个第四特征点；

根据所述至少一个第四特征点的第三位置信息，确定所述目标介质的第一子特征信息；和/或，根据所述至少一个第四特征点的第三位置信息和第四位置信息，确定所述至少一个第四特征点的物方焦平面的差异值，以及根据所述至少一个第四特征点的物方焦平面的差异值和所述目标介质的折射率，确定所述目标介质的第二子特征信息；所述第一子特征信息包括平均长度、最小长度、最大长度中的至少之一；所述第二子特征信息包括平均高度、最高高度、最低高度中的至少之一；

根据所述目标介质的所述第一子特征信息和/或所述第二子特征信息，确定所述目标介质的属性信息。

在一些实施例中，初始图像中每个第四特征点对应在目标物体304上的位置，与目标图像中每个第四特征点对应在目标物体304上的位置相同。例如，初始图像中第一个第四特征点对应在目标物体304上的位置为目标引脚，则目标图像中第一个第四特征点对应在目标物体304上的位置也为目标引脚。

在实施过程中，如果目标引脚上设有透明介质，则由于透明介质的折射作用，会导致目标引脚的第三位置信息与第四位置信息不同，从而根据第三位置信息和第四位置信息不同的至少一个第四特征点的第三位置信息，确定目标介质的第一子特征信息。

在实施过程中，如果目标引脚上设有透明介质，则由于透明介质的折射作用，会导致目标引脚的第三位置信息与第四位置信息不同，从而根据第三位置信息和第四位置信息，确定目标引脚对应的物方焦平面的差异值，然后根据该差异值和所述目标介质的折射率，确定目标引脚上透明介质的高度。

在一些实施例中，可以根据初始图像，确定目标物体304上多个第四特征点的第三位置信息。在一些实施例中，可以根据目标图像，确定目标物体304上多个第四特征点的第四位置信息。

在一些实施例中，所述第三位置信息和所述第四位置信息不同的至少一个第四特征点上具有透明介质。

在一些实施例中，第四特征点的第三位置信息可以为三维坐标信息。在一些实施例中，第四特征点的第四位置信息可以三维坐标信息。

在一些实施例中，可以根据一个第四特征点的第三位置信息和第四位置信息，确定该第四特征点的物方焦平面的差异值。在一些实施例中，可以根据一个第四特征点的第三位置信息的深度坐标和第四位置信息的深度坐标，确定该第四特征点的物方焦平面的差异值。

在一些实施例中，根据一个第四特征点的物方焦平面的差异值和所述目标介质的折射率，确定该第四特征点的高度的计算公式可以为：h＝δZ*n/(n-1)。其中，δZ表示该一个第四特征点物方焦平面的差异值，n表示目标介质的折射率。

在本申请实施例中，可以确定目标介质的所述第一子特征信息和/或所述第二子特征信息，进而确定目标介质的属性信息。

在一些实施例中，所述目标介质包括无影介质，照射在具有目标介质的目标物体304的表面的图案光的颜色包括蓝色、紫色或蓝紫色。

例如，所述目标介质包括无影介质，照射在具有目标介质的目标物体304的表面的图案光的颜色为蓝色。又例如，所述目标介质包括无影介质，照射在具有目标介质的目标物体304的表面的图案光的颜色为紫色。又例如，所述目标介质包括无影介质，照射在具有目标介质的目标物体304的表面的图案光的颜色为蓝紫色。

在实施过程中，通过蓝色、紫色或蓝紫色的光照射无影介质，使得无影介质能够被拍摄到，从而可以根据所述目标图像，确定无影介质的属性信息。

图5为本申请实施例提供的又一种目标介质的属性确定系统的结构示意图，如图5所示，目标介质的属性确定系统300包括照射装置301、拍摄装置302和处理装置303。关于照射装置301、拍摄装置302和处理装置303的说明，请参阅上述实施例的描述，此处不再赘述。

所述目标介质的属性确定系统300还包括第一全内反射棱镜306和第二全内反射棱镜307，所述第一全内反射棱镜306和所述第二全内反射棱镜307相对设置；

所述照射装置301发出的图案光，经过所述第一全内反射棱镜306照射在所述具有目标介质的目标物体304的表面；

所述目标物体304反射光，依次经过所述第一全内反射棱镜306和第二全内反射棱镜307，到达所述拍摄装置302；

其中，与所述目标物体304的表面相交的光束的焦平面，与所述拍摄装置302的焦平面相同。

在一些实施例中，第一全内反射棱镜306和第二全内反射棱镜307可以均为直角三棱镜，所述第一全内反射棱镜306和所述第二全内反射棱镜307相对设置，可以包括：第一全内反射棱镜306和第二全内反射棱镜307的斜边对应的侧面相对设置。

图6为本申请实施例提供的再一种目标介质的属性确定系统的结构示意图，如图6所示，目标介质的属性确定系统300包括照射装置301、拍摄装置302和处理装置303。关于照射装置301、拍摄装置302和处理装置303的说明，请参阅上述实施例的描述，此处不再赘述。

所述目标介质的属性确定系统300还包括分光器308，所述分光器308包括半透半反分光片和半透半反分光镜；

所述照射装置301发出的图案光，经过所述分光器308反射后照射在所述具有目标介质的目标物体304的表面；

所述目标物体304反射光，经过所述分光器308透射后到达所述拍摄装置302；

其中，与所述目标物体304的表面相交的光束的焦平面，与所述拍摄装置302的焦平面相同。

图7为本申请另一实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图，如图7所示，目标介质的属性确定系统300包括照射装置301、拍摄装置302和处理装置303。关于照射装置301、拍摄装置302和处理装置303的说明，请参阅上述实施例的描述，此处不再赘述。

所述目标介质的属性确定系统300还包括反射镜309、分光器308以及物镜310，所述分光器308包括半透半反分光片和半透半反分光镜；

所述照射装置301发出的图案光(也称DMD图案光)，经过所述反射镜309反射改变光束光轴后，经过所述分光器308透射后，经过所述物镜310照射在所述具有目标介质的目标物体304的表面(对应的图案为照明图案)；

所述目标物体304反射光，经过所述物镜310后，经过所述分光器308反射到达所述拍摄装置302；

其中，与所述目标物体304的表面相交的光束的焦平面，与所述拍摄装置302的焦平面相同。

在一些实施例中，所述目标介质的属性确定系统300还包括：第三全内反射棱镜311、第四全内反射棱镜312、准直透镜313、滤波镜片314。

第三全内反射棱镜311用于接收发光元件315发出的光，光通过第三全内反射棱镜311全反射后进入DMD芯片，DMD芯片中处于开状态的小镜子将光反射出去，反射出去的光为图案光，图案光通过第三全内反射棱镜311透射到达第四全内反射棱镜312，通过第四全内反射棱镜312透射后到达准直透镜313，从准直透镜313出来的图案光经过反射镜309反射改变光束光轴后，经过所述分光器308透射后，经过所述物镜310照射在所述具有目标介质的目标物体304的表面。

所述目标物体304反射光，经过所述物镜310后，经过所述分光器308反射到达滤波镜片314，从滤波镜片314出来的光到达所述拍摄装置302。

在一些实施例中，发光元件315可以根据多个波长的光进行组合，得到目标波长的光，向第三全内反射棱镜311发送。

图8为本申请实施例提供的一种制作调制光束的原理示意图，如图8所示，发光元件发出的光为入射光，入射光通过第三全内反射棱镜311全反射后进入DMD芯片(包括在照射装置301中)，DMD芯片中处于开状态的小镜子将光反射出去，反射出去的光为图案光，图案光通过第三全内反射棱镜311透射到达第四全内反射棱镜312，通过第四全内反射棱镜312透射出去。其中，通过第四全内反射棱镜312透射出去的光为调制光束。

由于光场相机与直投DLP光源(即DLP投影光机直接投射的光)无法同时作用于拍摄物体表面，本方案提出一种采用带有沙姆投影镜头的DLP光源，让光源以一定角度将条纹倾斜投影到待测物的表面。在一些实施例中，沙姆投影镜头倾斜一定角度投射条纹将会导致投影区域的形状为梯形，并且距离投影镜头较近的一侧梯形区域内亮度较高，远离投影镜头较远一侧的梯形区域内亮度就会较弱，就会造成整个梯形投影区域内的亮度不均。然而，沙姆投影镜头能够解决反光或镜面材质引起的反光问题。

图9为本申请又一实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图，如图9所示，目标介质的属性确定系统300包括照射装置301、拍摄装置302和处理装置303。关于照射装置301、拍摄装置302和处理装置303的说明，请参阅上述实施例的描述，此处不再赘述。

所述照射装置301发出的所述图案光的光束光轴，与所述目标物体304的表面之间的角度等于所述预设角度，且所述拍摄装置302的通过镜头中心的镜头光轴，与所述目标物体304的表面垂直。

在图9对应的实施例中，照射装置301包括沙姆投影镜头。

图10为本申请再一实施例提供的一种目标介质的属性确定系统的结构示意图，如图10所示，目标介质的属性确定系统300包括照射装置301、拍摄装置302和处理装置303。关于照射装置301、拍摄装置302和处理装置303的说明，请参阅上述实施例的描述，此处不再赘述。

所述照射装置301发出的所述图案光的光束光轴，与所述目标物体304的表面垂直，且所述拍摄装置302的通过镜头中心的镜头光轴，与所述目标物体304的表面之间的角度等于所述预设角度。

以下说明本申请的一些实施方式：

本申请基于沙姆DLP的两点缺点，提出一种基于全内反射(TIR)棱镜或半透半反分光片或分光镜的纹理光源辅助光场成像系统。在图5中，在光场相机的主镜头与直投DLP之间增加一个TIR棱镜组，TIR棱镜1利用全内反射将DLP光机所投影的条纹图案聚焦在待测物表面上，同时待测物表面也是光场相机主镜头的焦平面，条纹图案再通过TIR棱镜2进入光场相机主镜头，进而被光场相机捕获四维光场信息。如图6所示，在光场相机的主镜头与直投DLP之间增加一个半透半反分光片或分光镜，DLP光源产生的条纹先通过分光片或分光镜聚焦在待测物表面，然后再透过分光片或分光镜进入主镜头被光场相机捕获。

除了以上提出的方案外，本申请继续提出一种基于共用投影物镜的纹理光源集成光场成像系统，如图7所示，物镜一方面为DLP的投影镜头，另一方面为光场相机主镜头的一部分。这种光路设计充分利用了无穷远校正物镜的像方平行光特点，在DLP光源侧，物镜与DMD芯片之间也是平行光，通过一个分光镜和一个转向镜即可实现DLP光源与光场成像系统的集成。

在本申请中，为了实现胶宽胶高的检测，提出一种等分胶路相对求解的方法。

图11为本申请实施例提供的一种等分的胶路示意图，如图11所示，将胶路等分为20份，20份胶路对应的夹角相同，分别求每份胶路对应的胶宽均值与胶高均值。需要说明的是，虽然图11示出的是将胶路等分为20份，但是在其它实施例中，可以将胶路等分或不等分，分成大于或等于2份。例如，分成2份、5份、8份、10份、30份等等，本申请实施例对此不作限制。

胶高的计算参考面为点胶前零件外壳，由于检测装置与样品(对应上述的目标物体)在点胶前后均未发生移动，可以认为点胶前后的基准面也没有发生移动，只需分别计算点胶前参考面到基准面的距离及点胶后胶水最高点到基准面的距离，就可以求解出点胶后胶水最高点到点胶前外壳参考面的相对距离，从而求得胶高最大值及均值。

表1以将胶路分为12份进行举例，体现胶高胶宽计算结果表。

表1

在表1中，编号0-11分别对应12份胶路。平均高度和最大高度，是根据所述多个子初始图像中分别包括的多个参考面中，每个参考面上的多个第一特征点相对基准面之间的第一距离，和所述多个子目标图像中分别包括的多个子目标介质中，每个子目标介质上的多个第二特征点相对基准面之间的第二距离确定的。平均长度和最大长度是根据多个第一特征点对应的区域确定的。在实施过程中，平均高度、最大高度、平均长度以及最大长度的单位为毫米(mm)。

以上是光场相机处理乳白色环氧胶水所对应的解决方法。但是对于纯透明的AB胶、热熔胶，2D检测方法在这种工况下完全失效，对于光场相机来说，也面临跟2D相同的打光难题，即透明流体难以形成有效的纹理特征，光是透光这些流体的。针对这个难题，本申请提出一种利用胶水折射率求解胶水厚度的方法。技术人员发现，由于胶水的流动性较大，透过性也很强，流动后厚度相对均匀，折射率也相对均匀的这种特性跟平板玻璃非常相似，所以可以类比平板玻璃引入到成像系统中导致物方焦平面相对镜头更远的结论，得出点胶后也会导致物方焦平面相对镜头更远的结论。利用这个结论，找出物方焦平面在点胶前后的位移量δZ，就可以根据胶水的折射率n反算出胶水的厚度h。点胶前，选择零件外壳(对应目标物体)的某块平坦区域作为检测区域，计算该检测区域到光场相机(对应上述的拍摄装置)焦平面的距离，即这块区域的深度值。点胶后，计算相同的这块检测区域到光场相机因点胶而形成的新的焦平面之间的距离，即这块区域新的深度值。这两个距离之差即为物方焦平面的位移量δZ，然后根据公式h＝δZ*n/(n-1)，即可计算出胶水的厚度h。

针对UV胶，本申请提出采用UV-DLP投影光机的方法，利用上面关于乳白色胶水采用蓝光DLP投影条纹的相似方法即可。

本申请提出了以下几个内容：

光场相机与DLP投影光机的结合实现了胶水的三维形貌重建，从而实现了胶水的三维路径规划及胶路三维缺陷检测的功能。

为了解决沙姆DLP存在的投影区域亮度不均及视野遮挡问题，提出了基于TIR棱镜的DLP纹理光源辅助光场成像系统。

为了解决沙姆DLP存在的投影区域亮度不均及视野遮挡问题，提出了基于半透半反分光片的DLP纹理光源辅助光场成像系统。

为了解决沙姆DLP存在的投影区域亮度不均及视野遮挡问题，提出了基于半透半反分光镜的DLP纹理光源辅助光场成像系统。

为了解决沙姆DLP存在的投影区域亮度不均及视野遮挡问题，提出了基于共用投影物镜的DLP纹理光源集成光场成像系统。

为了实现胶宽胶高的算法处理功能，提出了等分胶路相对求解的方法。

为了判断透明介质水的胶高胶厚，提出了利用胶水折射率求解胶水厚度的方法。

针对UV胶水的检测，提出了使用UV-DLP投影光机的方法。

本申请提出的方法均是为了解决当前点胶设备上遇到的胶路规划与检测、胶水种类繁多两大难题的系统方案。

图12为本申请实施例提供的一种点胶设备的结构示意图，如图12所示，点胶设备1200包括上述任一实施例中所述的目标介质的属性确定系统300。

在一些实施例中，点胶设备还可以包括壳体和与壳体固定连接的第一固定件、第二固定件以及第三固定件。其中，第一固定件用于固定照射装置，第二固定件用于固定拍摄装置，第三固定件用于固定处理装置。

在一些实施例中，点胶设备还可以包括与壳体固定连接的连接件，连接件用于连接点胶装置。例如，点胶装置可以活动地连接于连接件。

上述处理装置可以包括以下任一个或以下多个的集成：通用处理器、特定用途集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、数字信号处理装置(Digital Signal Processing Device，DSPD)、可编程逻辑装置(Programmable Logic Device，PLD)、现场可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，FPGA)、中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)、嵌入式神经网络处理器(neural-networkprocessing units，NPU)、控制器、微控制器、微处理器、可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以理解地，实现上述处理器功能的电子器件还可以为其它，本申请实施例不作具体限定。处理装置可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器，处理器读取存储器中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”或“本申请实施例”或“前述实施例”或“一些实施方式”或“一些实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”或“本申请实施例”或“前述实施例”或“一些实施方式”或“一些实施例”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

本申请所提供的几个产品实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的产品实施例。

本申请所提供的几个系统或设备实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的系统实施例或设备实施例。

值得注意的是，本申请实施例中的附图只是为了说明各个器件在终端设备上的示意位置，并不代表在终端设备中的真实位置，各器件或各个区域的真实位置可根据实际情况(例如，终端设备的结构)作出相应改变或偏移，并且，图中的终端设备中不同部分的比例并不代表真实的比例。

在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

应当理解，本申请中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本申请中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

需要说明的是，本申请所涉及的各个实施例中，可以执行全部的步骤或者可以执行部分的步骤，只要能够形成一个完整的技术方案即可。

以上所述，仅为本申请的实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。