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用于检测污损不良的按压治具面板组件

文献发布时间:2023-06-19 10:08:35


用于检测污损不良的按压治具面板组件

技术领域

本发明公开了用于检测污损不良的按压治具面板组件,具体涉及LCD质检设备,尤其是用于扩散片与导光板之间检测污损不良的按压治具面板组件的设计改进方面。

背景技术

在LCD显示模组的生产作业过程中,扩散片与导光板由于粘合处位于边缘,二者中间若有脏污不易察觉,因为扩散片具有点光源变为面光源的功能,同时也淡化了内在脏污造成亮度影响,因此在不受外力挤压的情况下,扩散片与导光板之间的微小异物不易被察觉。

但是在后面的制程中若存在空间挤压,将背光板挤压,那么脏污则会在压力的作用下显现出来。但此时已经成型的LCD模组在扩散片与导光板的组合制程后已经经过了很多不必要的组装检测过程,产生了不要的人力和材料耗损。

因此必须在导光板与扩散片的组合制程后先行点灯按压,检出脏污不良后再进行贴合作业。

这样才能避免不必要的人力和耗材损失,提高产线生产效率。

发明内容

为解决以上不足,本发明公开了用于检测污损不良的按压治具面板组件。

为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:

本发明公开了用于检测污损不良的按压治具面板组件,其特征在于:包括盖板、搭扣组件、治具面板、按压滚轮模组;所述盖板为透明状介质,一端通过旋转轴固定在治具面板上,另一端可绕转轴旋转; 所述搭扣组件,用于联接盖板活动端与治具面板;所述治具面板,用于放置物料和安装其它组件;所述按压滚轮模组,用于挤压物料与盖板,滚轮与物料直接接触。

所述治具面板上留有盖板凹槽,盖板凹槽侧面有转轴槽用于安装盖板的转轴,盖板凹槽底面中间位置留有物料槽用于放置物料,物料槽的底面有滚轮镂空。

所述搭扣组件,由扣锁和扣环构成,扣环和扣锁分别安装在两个需要被联接的部件上,扣环联接扣锁后,盖板被固定,且盖板与治具面板上表面处于同一水平面。

所述盖板,活动端安装了搭扣组件中的扣锁或者扣环,位置与治具面板上的扣环或扣锁对应,安装后盖板与物料上表面接触。

所述按压滚轮模组,滚轮具有弹性,未挤压时滚轮顶端的水平切面与盖板下表面距离小于物料厚度。

所述治具面板,滚轮镂空形状与物料槽相似,滚轮镂空的每条边缘距离物料槽边缘距离不大于5mm。

本发明中,按压滚轮模组可以安装于盖板上,也可以由外部结构固定其空间高度。

本发明中,盖板与滚轮挤压物料,盖板的透光率高于99%,盖板的杨氏弹性模量E>50GPa。

本发明的有益效果是,能按压物料使脏污显现。

附图说明

图1 是用于检测污损不良的按压治具面板组件的示意图;

图1中标记1是盖板,标记2是搭扣组件;标记3是治具面板,标记4是按压滚轮模组。

具体实施方式

下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本发明,在此本发明的示意性实施例以及说明用来解释本发明, 但并不作为对本发明的限定。

实施例:

一种用于检测污损不良的按压治具面板组件,其特征在于:包括盖板1、搭扣组件2、治具面板3、按压滚轮模组4。

本实施例中,盖板1优选的材质是钢化玻璃,在治具面板3的盖板槽侧壁留有盖板轴凹槽,用于安装盖板轴,从而固定盖板1的一端。

本实施例中,盖板1的另一端上表面中间位置用螺丝固定了搭扣结构2的扣锁,搭扣结构2的扣环通过螺丝固定在面板3的侧边沿,位置和扣锁对应,扣环扣紧扣锁后盖板1上表面与治具面板3上表面处于同一水平面。

治具面板3在盖板凹槽下表面中间位置预留了物料凹槽,物料凹槽内部距离凹槽边缘5mm位置有滚轮镂空。物料凹槽用于放置物料,滚轮镂空用于放置滚轮。

本发明的一种实施例,按压滚轮模组4由滚轮框架401和滚轮402构成,滚轮框架401通过螺丝固定在治具面板3上的滚轮镂空正下方,

滚轮框架401有滑槽结构用于放置滚轮把手,推动滚轮402的把手使按压滚轮模组4的滚轮402沿滚轮镂空滚动,由于滚轮402上端切面距离盖板1距离小于物料厚度2mm,且滚轮402具有弹性,因此滚轮402会挤压物料与盖板1,挤压产生的压力使物料内部导光板与扩散片贴合,治具压头下压后,执行点灯作业点亮物料,若物料的导光板与扩散片之间有脏污在挤压部分会显现出来。

实际使用时,使用步骤如下:

S1:先将物料放入治具面板3上的物料凹槽内,盖上盖板1,并锁上搭扣组件2,

S2:按下治具压头点亮物料,保持测试画面;

S3:将按压滚轮模组4的滚轮402从一端缓慢滚动至另一端,在滚动的过程中,物料的导光板与扩散片会贴合,观察物料被挤压段是否存在脏污,若存在脏污则可以将物料挑选出来打点备注。若不存在脏污则可以进入下一制程。

以上所述仅为本发明的实施例,并不限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改,等同替换、改进等,均应包含在本发明的权利要求范围之内。

相关技术
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  • LCM液晶面板电性不良的镭射修复方法及电测治具
技术分类

06120112438581