基因测序仪、基因测序芯片的平面度检测方法、装置

技术领域

本发明涉及医疗器械技术领域，尤其涉及一种基因测序仪、基因测序芯片的平面度检测方法、装置、电子设备、存储介质。

背景技术

基因测序仪是主要由机械、流体、温控、生化、载片、光学系统等一系列组件组成。要实现超快速超低成本测序，势必需要进行提升测序通量；为提升通量，则需要单位时间、单位面积内可得到尽可能多的测序数据。光学系统要分辨更小尺寸则其成像分辨率需提升，相应的焦深变浅；要使得成像清晰，则成像物体-载片相对成像系统的平行度要求极高。另一方面，测序系统对集成度和小型化的需求越来越高，而整个测序过程组件和功能复杂，基因测序芯片的平面度极易受到温控、流体、生化、结构稳定性等影响。因此对于测序芯片的平面度的精确检测及快速调平方法的需求越来越高。

目前，对于测序芯片的平面度检测，主要通过人眼或者图像识别算法，效率和精度无法满足要求。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中的上述缺陷，提供一种基因测序仪、基因测序芯片的平面度检测方法、装置。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

第一方面，提供一种基因测序芯片的平面度检测方法，包括：

控制承载有基因测序芯片的运动台模组带动所述基因测序芯片沿垂直于对焦装置的光轴方向运动到至少三个芯片成像位置，在不同所述芯片成像位置，所述对焦装置与所述基因测序芯片的不同检测区域沿所述光轴方向正对；

在不同所述芯片成像位置，调节所述基因测序芯片与所述对焦装置之间沿所述光轴的相对距离执行所述对焦装置对基因测序芯片的不同检测区域的对焦过程；

获取所述对焦过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片的不同检测区域对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息；

根据对应于各个所述芯片成像位置的所述相对位置信息，确定所述运动台模组的平面度。

可选地，所述对焦过程中，所述对焦装置的位置不变，所述运动台模组带动所述基因测序芯片沿所述光轴靠近或远离所述对焦装置。

可选地，获取所述对焦过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片的不同检测区域对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息，包括：

当所述运动台模组运动到各个芯片成像位置且预设时长内所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦失败时，控制所述运动台模组进行位姿微调；

获取所述位姿微调过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息。

可选地，控制所述运动台模组进行位姿微调，包括：

控制所述运动台模组进行至少三次位姿微调，以使每次位姿微调后所述对焦装置均对焦成功；

获取所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息，包括：

获取位姿微调过程中对焦装置对焦成功时的至少三个初始位置信息，

根据所述至少三个初始位置信息确定所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息。

可选地，获取所述对焦过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片的不同检测区域对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息，包括：

当所述运动台模组运动到各个芯片成像位置且预设时长内所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦失败时，调节所述对焦装置的物距；

获取所述物距调节过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息和所述物距；

根据对应于各个芯片成像位置的所述相对位置信息，确定所述运动台模组的平面度，包括：

根据对应于各个芯片成像位置的相对位置信息和物距，确定所述运动台模组的平面度。

可选地，根据对应于各个芯片成像位置的相对位置信息，确定所述运动台模组的平面度，包括：

拟合对应于各个芯片成像位置的所述相对位置信息，得到所述基因测序芯片的空间分布，并根据所述空间分布确定所述平面度；

和/或，当所述平面度大于平面度阈值时，则生成报警提示。

第二方面，提供一种基因测序芯片的平面度检测装置，包括：

控制模块，用于控制承载有基因测序芯片的运动台模组带动所述基因测序芯片沿垂直于对焦装置的光轴方向运动到至少三个芯片成像位置，在不同所述芯片成像位置，所述对焦装置与所述基因测序芯片的不同检测区域沿所述光轴方向正对；

调节模块，用于在不同所述芯片成像位置，调节所述基因测序芯片与所述对焦装置之间沿所述光轴的相对距离执行所述对焦装置对基因测序芯片的不同检测区域的对焦过程；

获取模块，用于获取所述对焦过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片的不同检测区域对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息；

确定模块，用于根据对应于各个芯片成像位置的相对位置信息，确定所述运动台模组的平面度。

可选地，所述获取模块包括：

微调单元，用于当所述运动台模组运动到各个芯片成像位置且预设时长内所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦失败时，控制所述运动台模组进行位姿微调；

获取单元，用于获取所述位姿微调过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息。

可选地，所述微调单元具体用于：

控制所述运动台模组进行至少三次位姿微调，以使每次位姿微调后所述对焦装置均对焦成功；

所述获取单元具体用于：

获取位姿微调过程中对焦装置对焦成功时的至少三个初始位置信息，

根据所述至少三个初始位置信息确定所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息。

可选地，所述获取模块包括：

物距调节单元，用于当所述运动台模组运动到各个芯片成像位置且预设时长内所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦失败时，调节所述对焦装置的物距；

获取单元，用于获取所述物距调节过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息和所述物距；

所述确定模块具体用于：

根据对应于各个芯片成像位置的相对位置信息和物距，确定所述运动台模组的平面度。

可选地，所述确定模块具体用于：拟合对应于各个芯片成像位置的相对位置信息，得到所述基因测序芯片的空间分布，并根据所述空间分布确定所述平面度；

和/或，所述平面度检测装置还包括：当所述平面度大于平面度阈值时，则生成报警提示。

第三方面，提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的基因测序芯片的平面度检测方法。

第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的基因测序芯片的平面度检测方法。

第五方面，提供一种基因测序仪，包括支撑基因测序芯片的运动台模组，以及上述任一项所述的基因测序芯片的平面度检测装置；

所述平面度检测装置用于检测所述运动台模组上的基因测序芯片的平面度。

在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本发明各较佳实例。

本发明的积极进步效果在于：本发明实现了基因测序芯片的平面度自动检测，无需人工干预，准确率和效率均有所提高，且能够及时检测到基因测序芯片的平面度变化，从而及时规避风险，避免造成测序质量不良影响，提高基因测序的成功率。并且基因测序芯片的平面度检测过程中，对其对焦就行，无需对基因测序芯片进行拍照，减少了资源浪费。

附图说明

图1为本发明一示例性实施例提供的一种基因测序芯片的平面度检测方法的流程图；

图2a为发明一示例性实施例提供的一种基因测序芯片的平面度检测方法采用的对焦装置的结构示意图；

图2b为图2a示出的对焦装置的测量光路示意图；

图3为本发明一示例性实施例提供的另一种基因测序芯片的平面度检测方法的流程图；

图4为本发明一示例性实施例提供的一种基因测序芯片的平面度检测装置的流程图；

图5为本发明一示例性实施例提供的一种电子设备的结构示意图；

具体实施方式

下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。

本发明实施例提供一种基因测序芯片的平面度检测方法，能够对基因测序芯片的平面度进行自动检测，参见图1，该基因测序芯片的平面度检测方法包括以下步骤：

步骤101、控制承载有基因测序芯片的运动台模组带动基因测序芯片沿垂直于对焦装置的光轴方向运动到至少三个芯片成像位置。

其中，在不同所述芯片成像位置，对焦装置与基因测序芯片的不同检测区域沿光轴方向正对。

芯片成像位置为预设的、使得基因测序芯片位于对焦装置的光轴方向正对的位置。

在一个实施例中，对焦过程中，对焦装置的位置不变，运动台模组带动基因测序芯片沿对焦装置的光轴靠近或远离对焦装置，以使对焦装置对焦成功。

在一个实施例中，对焦过程中，运动台模组与对焦装置相对运行，以使对焦装置快速对焦成功。

在一个实施例中，在基因测序芯片上确定至少三个成像区域，根据各个成像区域所处的位置确定芯片成像位置，并控制运动台模组依次运动到各个芯片成像位置，以使各个成像区域依次位于对焦装置的正下方，也即使得对焦装置与基因测序芯片的不同检测区域沿光轴方向正对，并控制对焦装置对处于正下方的基因测序芯片的成像区域进行对焦。

步骤102、在不同芯片成像位置，调节基因测序芯片与对焦装置之间沿光轴的相对距离，执行对焦装置对基因测序芯片的不同检测区域的对焦过程。

步骤103、获取对焦过程中对焦装置对基因测序芯片的不同检测区域对焦成功时运动台模组与对焦装置之间的相对位置信息。

其中，相对位置信息可以但不限于通过以下参数表征：对焦装置的空间坐标、运动台模组的空间坐标、对焦装置与运动台模组的平面之间的角度。

若运动台模组运动到各个芯片成像位置时，对焦装置即对焦成功，可直接将表征芯片成像位置的坐标确定为运动台模组的位置信息。

若运动台模组运动到各个芯片成像位置时，对焦装置未对焦成功，需要对运动台模组的位姿进行微调和/或调节对焦装置的物距，并根据位姿微调后运动台模组的位置信息和/或调整后的物距确定运动台模组与对焦装置之间的相对位置信息，其中，位姿微调包括对对焦装置与运动台模组之间的空间坐标的调节和/或对焦装置与运动台模组的平面之间的角度的调节。

下面以芯片成像位置A为例，假设运动台模组运动到芯片成像位置A时，未对焦成功，确定运动台模组与对焦装置之间的相对位置信息的实现方式。

在一种实现方式中，控制运动台模组运动到芯片成像位置A，并控制对焦装置对基因测序芯片进行对焦，若预设时长内对焦装置对基因测序芯片对焦失败，则控制运动台模组沿竖直(Z轴)方向移动，直至对焦装置对焦成功，则停止移动，将此时运动台模组的空间坐标确定为对应于芯片成像位置A的运动台模组的位置信息。表征对应于芯片成像位置A的运动台模组的位置信息的空间坐标为(X，Y，Z+Δz)，其中，坐标(X，Y，Z)表征芯片成像位置A的空间坐标，Δz表征运动台模组沿竖直(Z轴)方向移动的距离调节量，若运动台模组向下移动，则Δz＜0；若运动台模组向上移动，则Δz＞0。

结合对焦装置的空间坐标和/或对焦装置与运动台模组的平面之间的角度，即可确定运动台模组与对焦装置之间的相对位置信息。

还可以设置运动台模组沿竖直(Z轴)方向移动的移动范围，若运动台模组在该移动范围内移动的过程中，对焦装置无法对焦，则确定对焦失败。

本发明实施例中，通过控制运动台模组沿竖直(Z轴)方向移动，也即对运动台模组的位姿进行微调，达到对焦成功的目的，无需调节对焦装置，操作简单，易于实现。

在一种实现方式中，控制运动台模组运动到芯片成像位置A，并控制对焦装置对基因测序芯片进行对焦，若预设时长内对焦装置对基因测序芯片对焦失败，则调节对焦装置的物距，直至对焦装置对焦成功，则停止物距调节，根据此时运动台模组的空间坐标以及物距确定对应于芯片成像位置A的运动台模组的位置信息。表征对应于芯片成像位置A的运动台模组的位置信息的空间坐标为(X，Y，Z+Δd)，其中，坐标(X，Y，Z)表征芯片成像位置A的空间坐标，Δd表征对焦装置的物距调节量，物距为基因测序芯片到对焦装置的透镜光心之间的距离；若调节对焦装置的物距的过程中，物距减小，则Δd＞0；若调节对焦装置的物距的过程中，物距增大，则Δd＜0。

结合对焦装置的空间坐标和/或对焦装置与运动台模组的平面之间的角度，即可确定运动台模组与对焦装置之间的相对位置信息。

还可以设置物距调节范围，若该物距调节范围内调节对焦装置的物距的过程中，对焦装置依然无法对焦，则确定对焦失败。

本发明实施例中，通过调节物镜达到对焦成功的目的，效率高。

在一种实现方式中，同时控制运动台模组沿竖直(Z轴)方向移动以及调节对焦装置的物距，直至对焦装置对焦成功，并根据此时运动台模组的空间坐标以及物距确定对应于芯片成像位置A的运动台模组的位置信息。表征对应于芯片成像位置A的运动台模组的位置信息的空间坐标为(X，Y，Z+Δz+Δd)。

若预设时长内控制运动台模组沿竖直(Z轴)方向移动和/或调节对焦装置的物距之后，还是对焦失败，可能是因为基因测序芯片存在胶点、气泡或者附着其他异物等原因引起的，微调运动台模组的过程中还需要控制运动台模组沿水平方向运动，且至少对运动台模组进行三次微调并对焦成功，具体的：控制运动台模组进行至少三次位姿微调，并获取位姿微调过程中对焦装置对焦成功的至少三个初始位置信息，并根据至少三个初始位置信息确定对焦装置对基因测序芯片对焦成功时运动台模组的位置信息。例如，将三个初始位置信息的中位值确定为运动台模组的位置信息。结合对焦装置的空间坐标和/或对焦装置与运动台模组的平面之间的角度，即可确定运动台模组与对焦装置之间的相对位置信息。

在平面度检测的过程中，通过对运动台模组的位姿进行微调和/或调节对焦装置的物距，可以扩展自动对焦的对焦范围，积极解决因温控、基因测序芯片厚度、吸附不良等带来的超对焦范围问题导致的对焦失败，从而可以提高对焦成功的概率，进而可提高基因测序的准确性和成功率。

在一个实施例中，若对运动台模组的位姿进行微调和/或调节对焦装置的物距的过程中，无法获取至少三个初始位置信息，则停止本次平面度检测，还可以生成报警提示，以提示用户及时核验基因测序芯片。

步骤104、根据对应于各个芯片成像位置的相对位置信息，确定运动台模组的平面度。

在一个实施例中，确定运动台模组的平面度时，可以拟合各个芯片成像位置的相对位置信息，得到基因测序芯片的空间分布，根据该空间分布确定基因测序芯片的平面度。

若平面度大于平面度阈值，说明基因测序芯片的平面度不符合要求，可以生成报警提示，以提醒用户及时核验基因测序芯片。

若平面度大于平面度阈值，还可以根据平面度调节运动台模组的承载面与水平面的角度，以使基因测序芯片的平面度满足要求。

本发明实施例中，实现了基因测序芯片的平面度自动检测，无需人工干预，准确率和效率均有所提高，且能够及时检测到基因测序芯片的平面度变化，从而及时规避风险，避免造成测序质量不良影响，提高基因测序的成功率。并且基因测序芯片的平面度检测过程中，对其对焦就行，无需对基因测序芯片进行拍照，减少了资源浪费。还兼顾实用性和系统稳定性的需求，适用范围更广。可以及时监控反馈并排除设备成像平台移动、芯片与固定位置之间的结构变化、以及温控等带来的平行度变化，使得成像系统获得的图片质量更稳定，从而提高测序系统的测序质量及测序成功率，提高企业的市场竞争力。

本发明实施例采用的对焦装置可以是一般摄像头的对焦装置，也可以采用图2a示出的对焦装置，下面对图2a示出的对焦装置的工作原理进行说明。

参见图2a，该对焦装置包括基座1、发射模块2、反射模块3、准直镜模块4、接收模块5和物镜6。接收模块5包括光电传感器51和信号处理电路，光电传感器与信号处理电路连接，光电传感器为二像元光电二极管，二像元光电二极管的两个像元以物镜6的光轴为中心对称分布，且二像元光电二极管也位于准直镜模块4包含的准直镜41的焦点处，保证二像元光电二极管能够接收到穿过准直镜41的反射光。参见图2b示出的测量光路，发射模块2包含的光源21发射的测量光照射到反射模块3包含的反射镜31上，反射镜31的边缘与光源21的光轴相切，使得光源21和光电传感器51都能处于准直镜41的焦点上。反射镜31将测量光反射到准直镜模块4包含的准直镜41上，准直镜41将光变成平行测量光进入物镜6中，穿过物镜6的测量光被基因测序芯片9反射回物镜6，并穿过准直镜41射到光电传感器51上，二像元光电二极管根据两个像元的感光输出两路光信号S1和S2。由于二像元光电二极管与发射模块2(LED发光面)具有共轭关系，也即从光源到基因测序芯片物面、从基因测序芯片物面到二像元光电二极管，这两条光路是完全相同的，即光源与二像元光电二极管具有共轭关系，可以理解为二像元光电二极管上所成的像就是光源。因此，反射镜31反射出的半圆光柱，经基因测序芯片9反射回光电传感器51后，又会变回接近圆形的光斑成像在二像元光电二极管上。二像元光电二极管实际上分为两片传感器，光斑在两片传感器上成像，于是两片传感器就输出两路光信号S1和S2。信号处理电路根据光信号S1和S2即可知道基因测序芯片的物面的离焦量，即可确定对焦装置是否对焦成功。

下面以采用图2a示出的对焦装置对基因测序芯片进行对焦为例，对基因测序芯片的平面度检测过程作进一步说明。

图3为本发明一示例性实施例提供的另一种基因测序芯片的平面度检测方法的流程图，该检测方法包括以下步骤：

步骤301、设置对焦装置的对焦阈值，并确定运动台模组运动的n个芯片成像位置。

其中，运动台模组运动上承载有基因测序芯片，芯片成像位置结合基因测序芯片d需要检测的高度以及对焦装置的空间位置确定；n≥3。

当然，在进行检测之前，需要调整对焦装置和/或运动台模组的位姿，保证基因测序芯片在对焦装置的物方视场范围内以及焦深范围内，进而提高对焦准，保证测序数据地准确性。对焦装置和/或运动台模组的位姿需满足以下关系：基因测序芯片在对焦装置的物方视场范围内的平面度差≤对焦装置的焦深范围。

步骤302、控制运动台模组运动到一个芯片成像位置，并控制对焦装置对基因测序芯片进行对焦。

步骤303、根据对焦装置获得的离焦量以及对焦阈值判断是否对焦成功。

若步骤303中离焦量小于等于对焦阈值，则确定对焦成功，执行步骤308。

若步骤303中离焦量大于对焦阈值，则确定对焦失败，执行步骤304。

步骤304、控制运动台模组沿Z轴移动，并判断是否对焦成功。

步骤304中可以根据实际情况设置运动台模组沿Z轴的移动范围，并在控制运动台模组在该移动范围内移动的过程中，实时获取对焦装置获得的离焦量；若根据该离焦量判断对焦成功，则执行步骤308；若根据该离焦量判断对焦失败，则执行步骤305。

步骤305、控制运动台模组沿Y轴运动，并判断沿Y轴运动的过程中是否存在对焦成功的至少三个微调对焦成功位置。

微调对焦成功位置也即当运动台模组运动于该微调对焦成功位置时，对焦装置对焦成功。

步骤305中可以根据实际情况设置运动台模组沿Y轴的移动范围，并在控制运动台模组在该移动范围内移动的过程中，实时获取对焦装置获得的离焦量，以判断是否对焦成功；若运动台模组沿Y轴的移动范围内移动的过程中，存在对焦成功的至少三个微调对焦成功位置，则执行步骤307；若运动台模组沿Y轴的移动范围内移动的过程中，对焦成功的微调对焦成功位置少于三个，则执行步骤306。

步骤306、控制运动台模组沿X轴运动，并获取至少三个微调对焦成功位置。

步骤307、根据至少三个微调对焦成功位置确定运动台模组的位置信息。

在一个实施例中，可以但不限于将至少三个微调对焦成功位置的中位值确定为对应于该芯片成像位置的运动台模组的位置信息。

其中，步骤304～步骤307为对运动台模组进行位姿微调的过程。

步骤308、确定运动台模组的位置信息。

步骤309、判断是否获得n个不同的位置信息。

若步骤309的判断结果为是，说明依次控制运动台模组运动到n个芯片成像位置，则执行步骤310；若步骤309的判断结果为否，则返回步骤302。

步骤310、根据对应于各个芯片成像位置的位置信息，确定运动台模组的平面度。

本发明实施例中，借助图2a示出的对焦装置实现基因测序芯片的平面度检测，所采用的对焦装置光路设计简单，硬件成本低，准确度较高，因此能够提高平面度检测的效率和精度。且该基因检测装置通过光电信号反馈即可完成对焦，实现平面度的检测，无需使用激光照射载片拍照，全自动实时反馈，避免了人力、时间和基因测序芯片的浪费。

与前述基因测序芯的平面度检测方法实施例相对应，本发明还提供了基因测序芯的平面度检测装置的实施例。

图4为本发明一示例性实施例提供的一种基因测序芯片的平面度检测装置的模块示意图，该检测装置包括：

控制模块41，用于控制承载有基因测序芯片的运动台模组带动所述基因测序芯片沿垂直于对焦装置的光轴方向运动到至少三个芯片成像位置，在不同所述芯片成像位置，所述对焦装置与所述基因测序芯片的不同检测区域沿所述光轴方向正对；

调节模块42，用于在不同所述芯片成像位置，调节所述基因测序芯片与所述对焦装置之间沿所述光轴的相对距离执行所述对焦装置对基因测序芯片的不同检测区域的对焦过程；

获取模块43，用于获取所述对焦过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片的不同检测区域对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息；

确定模块44，用于根据对应于各个芯片成像位置的相对位置信息，确定所述运动台模组的平面度。

可选地，所述对焦过程中，所述对焦装置的位置不变，所述运动台模组带动所述基因测序芯片沿所述光轴靠近或远离所述对焦装置。

可选地，所述获取模块包括：

微调单元，用于当所述运动台模组运动到各个芯片成像位置且预设时长内所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦失败时，控制所述运动台模组进行位姿微调；

获取单元，用于获取所述位姿微调过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息。

可选地，所述微调单元具体用于：

控制所述运动台模组进行至少三次位姿微调，以使每次位姿微调后所述对焦装置均对焦成功；

所述获取单元具体用于：

获取位姿微调过程中对焦装置对焦成功时的至少三个初始位置信息，

根据所述至少三个初始位置信息确定所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息。

可选地，所述获取模块包括：

物距调节单元，用于当所述运动台模组运动到各个芯片成像位置且预设时长内所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦失败时，调节所述对焦装置的物距；

获取单元，用于获取所述物距调节过程中所述对焦装置对所述基因测序芯片对焦成功时所述运动台模组与所述对焦装置之间的相对位置信息和所述物距；

所述确定模块具体用于：

根据对应于各个芯片成像位置的相对位置信息和物距，确定所述运动台模组的平面度。

可选地，所述确定模块具体用于：拟合对应于各个芯片成像位置的相对位置信息，得到所述基因测序芯片的空间分布，并根据所述空间分布确定所述平面度；

和/或，所述平面度检测装置还包括：当所述平面度大于平面度阈值时，则生成报警提示。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本发明方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

本发明实施例还提供一种基因测序仪，该基因测序仪包括支撑基因测序芯片的运动台模组，以及上述任一实施例提供的基因测序芯片的平面度检测装置；该平面度检测装置用于检测所述运动台模组上的基因测序芯片的平面度。

本发明实施例提供的基因测序仪实现了基因测序芯片的平面度自动检测，无需人工干预，准确率和效率均有所提高，且在基因测序过程中能够及时检测到基因测序芯片的平面度变化，从而及时规避风险，避免造成测序质量不良影响，提高基因测序的成功率。并且基因测序芯片的平面度检测过程中，对其对焦就行，无需对基因测序芯片进行拍照，减少了资源浪费。基因测序仪还兼顾实用性和系统稳定性的需求，适用范围更广。可以及时监控反馈并排除对焦装置、运动台模组的移动，基因测序芯片与固定位置之间的结构变化、以及温控等带来的平面度变化，从而提高测序系统的测序质量及测序成功率，提高企业的市场竞争力。

图5为本发明一示例实施例示出的一种电子设备的结构示意图，示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性电子设备50的框图。图5显示的电子设备50仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图5所示，电子设备50可以以通用计算设备的形式表现，例如其可以为服务器设备。电子设备50的组件可以包括但不限于：上述至少一个处理器51、上述至少一个存储器52、连接不同系统组件(包括存储器52和处理器51)的总线53。

总线53包括数据总线、地址总线和控制总线。

存储器52可以包括易失性存储器，例如随机存取存储器(RAM)521和/或高速缓存存储器522，还可以进一步包括只读存储器(ROM)523。

存储器52还可以包括具有一组(至少一个)程序模块524的程序工具525(或实用工具)，这样的程序模块524包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

处理器51通过运行存储在存储器52中的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如上述任一实施例所提供的方法。

电子设备50也可以与一个或多个外部设备54(例如键盘、指向设备等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口55进行。并且，模型生成的电子设备50还可以通过网络适配器56与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器56通过总线53与模型生成的电子设备50的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合模型生成的电子设备50使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理器、外部磁盘驱动阵列、RAID(磁盘阵列)系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

应当注意，尽管在上文详细描述中提及了电子设备的若干单元/模块或子单元/模块，但是这种划分仅仅是示例性的并非强制性的。实际上，根据本发明的实施方式，上文描述的两个或更多单元/模块的特征和功能可以在一个单元/模块中具体化。反之，上文描述的一个单元/模块的特征和功能可以进一步划分为由多个单元/模块来具体化。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述任一实施例所提供的方法。

其中，可读存储介质可以采用的更具体可以包括但不限于：便携式盘、硬盘、随机存取存储器、只读存储器、可擦拭可编程只读存储器、光存储器件、磁存储器件或上述的任意合适的组合。

在可能的实施方式中，本发明实施例还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码，当所述程序产品在终端设备上运行时，所述程序代码用于使所述终端设备执行实现上述任一实施例的方法。

其中，可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明的程序代码，所述程序代码可以完全地在用户设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户设备上部分在远程设备上执行或完全在远程设备上执行。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。