一种断路器瞬时测试回路及触头保护方法

技术领域

本申请涉及断路器领域，特别是涉及一种断路器瞬时测试回路及触头保护方法。

背景技术

按照产品生产标准，在断路器出厂之前，都必须对每台断路器中的磁系统进行瞬时测试，以测试断路器的灵敏度。

现有技术中，如图1所示，断路器在进行瞬时测试时，电流会通过接线板A、动触头、静触头、磁系统和接线板B构成回路。其中，在瞬时测试过程中，接线板A和接线板B在接收到测试电流后导通，使测试电流经过动触头和静触头流向磁系统，磁系统在接收到测试电流之后，磁系统中的线圈会产生磁场，该磁场会使磁系统中的铁芯推动解锁机构驱动动触头与静触头分开。在动触头和静触头连接处分开时，动触头和静触头之间会产生电弧，该电弧对动触头和静触头会产生灼伤，且灼伤严重，还会导致断路器温升偏高。

因此，如何在瞬时测试时无电弧产生，并能对触头进行保护是本领域技术人员关注的重点问题。

发明内容

基于上述问题，本申请提供了一种断路器瞬时测试回路及触头保护方法，以在瞬时测试时实现无电弧产生，并对触头进行保护。

本申请实施例公开了如下技术方案：

第一方面，所述回路包括磁系统、第一电流接收器件和第二电流接收器件，所述第一电流接收器件和所述第二电流接收器件用于接收进行瞬时测试时的测试电流，所述回路用于测试所述磁系统。

可选的，所述回路还包括测试设备，所述测试设备的第一端与所述第一电流接收器件的第一端连接，所述测试设备的第二端与所述第二电流接收器件的第一端连接，所述测试设备用于提供进行瞬时测试时的测试电流。

可选的，所述测试设备包括电池。

可选的，所述回路还包括静触头，所述静触头的第一端与所述第一电流接收器件的第二端连接，所述静触头的第二端与所述磁系统的第一端连接，所述磁系统的第二端与所述第二电流接收器件的第二端连接，所述静触头用于使所述测试电流流通以流向所述磁系统。

可选的，所述静触头和所述磁系统均固定于应用所述回路的断路器内部。

可选的，所述断路器内部还包括动触头，在所述断路器中，所述动触头与所述静触头处于分离状态。

可选的，所述动触头固定于应用所述回路的断路器内部。

可选的，电流接收器件包括接线板。

第二方面，一种触头保护方法，包括：

接收瞬时测试的电流信号；

将所述电流信号根据预设的保护触头的电流通道进行传输，所述预设的保护触头的电流通道由所述磁系统、所述第一电流接收器件和所述第二电流接收器件组成。

可选的，在所述接收瞬时测试的电流信号之后，所述方法还包括：

响应于所述电流信号大于预设电流阈值，执行所述将所述电流信号根据预设的保护触头的电流通道进行传输的步骤。

相较于现有技术，本申请具有以下有益效果：

本申请重新设计了对断路器进行瞬时测试的回路，将电流通过电流接收器件直接与磁系统传输以进行瞬时测试，使电流在瞬时测试过程中不流过动触头，也就是使动触头和静触头不接触。如此，在瞬时测试过程中，规避了电弧的产生，杜绝了由于瞬时测试造成的触点损伤，保护了静触头和动触头，延长了产品的使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术断路器瞬时测试回路的连接关系示意图；

图2为本申请实施例提供的本申请断路器瞬时测试回路的连接关系示意图；

图3为本申请实施例提供的本申请断路器瞬时测试回路的电流流向示意图；

图4为现有技术断路器瞬时测试回路的电流流向示意图；

图5为本申请实施例提供的触头保护方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护范围。

需要说明的是，本申请提供的一种断路器瞬时测试回路及触头保护方法，用于断路器领域，上述仅为示例，并不对本申请提供的方法及装置名称的应用领域进行限定。

正如前文所述，现有技术中，如图1所示，断路器在进行瞬时测试时，电流会通过接线板A、动触头、静触头、磁系统和接线板B构成回路。其中，在瞬时测试过程中，接线板A和接线板B在接收到测试电流后导通，使测试电流经过动触头和静触头流向磁系统，磁系统在接收到测试电流之后，磁系统中的线圈会产生磁场，该磁场会使磁系统中的铁芯推动解锁机构驱动动触头与静触头分开，也就是通过驱动动触头与静触头分开来使测试电流断开。在动触头和静触头连接处分开时，动触头和静触头之间会产生电弧，该电弧对动触头和静触头会产生灼伤，且灼伤严重，还会导致断路器温升偏高。需要说明的是，动触头在接收到测试电流之后，与静触头连接，使测试电流流向静触头后再流向磁系统。由此，如何在瞬时测试时无电弧产生，并能对触头进行保护是本领域技术人员关注的重点问题。

所以发明人提出本申请的技术方案，本申请重新设计了对断路器进行瞬时测试的回路，将电流通过电流接收器件直接与磁系统传输以进行瞬时测试，使电流在瞬时测试过程中不流过动触头，也就是使动触头和静触头不接触。如此，在瞬时测试过程中，规避了电弧的产生，杜绝了由于瞬时测试造成的触点损伤，保护了静触头和动触头，延长了产品的使用寿命。并且本申请在瞬时测试完成后，由向电流接收器件提供测试电流的测试设备直接断开测试电流，也不需要通过驱动动触头与静触头分开来使测试电流断开。

接下来介绍本说明书中可能涉及到的术语含义。

断路器：是指能够关合、承载和开断正常回路条件下的电流并能关合、在规定的时间内承载和开断异常回路条件下的电流的开关装置。

断路器触头：断路器触头是断路器、开关柜、隔离开关、接地开关的重要部件，其性能直接影响电器的质量及使用寿命。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。

参见图2，图2为本申请实施例提供的本申请断路器瞬时测试回路的连接关系示意图，如图2所示：

本申请的断路器瞬时测试回路包括磁系统、第一电流接收器件和第二电流接收器件，其中，第一电流接收器件和第二电流接收器件用于接收进行瞬时测试时的测试电流，回路用于测试断路器中的磁系统。

进一步的，测试回路还包括测试设备，第一电流接收器件的第一端和第二电流接收器件的第一端分别与测试设备连接，以接收测试设备提供的测试电流，使测试电流导通。下面结合具体示例来进行说明。在该示例中，测试设备为电池，电流接收器件为接线板，第一接线板的一端与电池的一端连接，第一接线板的另一端与静触头连接，第二接线板的一端与电池的另一端连接，第二接线板的另一端与磁系统连接，在测试过程中，使第一接线板与第二接线板同时与电池连接，才能使测试电流导通，对磁系统进行测试。

更进一步的，测试回路还包括静触头，静触头用于使测试电流流通以流向磁系统。第一电流接收器件的第二端与静触头的第一端连接，静触头的第二端与磁系统的第一端连接，磁系统的第二端与第二电流接收器件的第二端连接，以形成测试回路。并且在进行瞬时测试时，动触头不会与静触头接触，以杜绝静触头和动触头之间的电流通过。

在其他实施例中，断路器瞬时测试回路可以只包括测试设备、磁系统、第一电流接收器件和第二电流接收器件。具体的，测试设备的第一端与第一电流接收器件的第一端连接，测试设备的第二端与第二电流接收器件的第一端连接，第一电流接收器件的第二端与磁系统的第一端连接，磁系统的第二端与第二电流接收器件的第二端连接，以形成瞬时测试回路，用于对磁系统进行测试。

进一步的，在应用该测试回路的断路器中，还包括动触头，动触头与静触头处于分离状态，此时测试回路便处于无电弧状态了。可以理解的是，在现有技术中就是因为在瞬时测试时动触头与静触头经常处于接触(电流流通)状态，所以才会导致动触头和静触头之间产生电弧，造成动触头与静触头的严重灼伤，由此，本申请提出使测试电流经过静触头后直接流向磁系统，可以杜绝动触头与静触头处于接触状态，以杜绝动触头和静触头之间产生电弧，从而保护了动触头与静触头，进而保证了在瞬时测试过程中可以延长产品的使用寿命。所以，当动触头与静触头处于分离状态时，该断路器瞬时测试回路也就处于无电弧状态了，也杜绝了由于电弧造成的触点损伤。并且发明人还发现，瞬时测试实质是测试电磁系统，所以在进行瞬时测试时，在脱离静触头的状态下，可以直接向磁系统施加测试电流，以对磁系统进行瞬时测试。

需要进行说明的是，在本可选方案中，动触头还可以与第一电流接收器件和磁系统连接，用于在断路器使用过程中实现断路器的整体功能，且在该过程中，动触头也不会与静触头处于电流流通状态。由于在瞬时测试过程中并未使用到动触头，在此不再做出详细说明。

具体的，动触头会通过传动机构与磁系统连接，当磁系统接收到测试电流时，从而驱动传动机构带动动触头动作。其中，磁系统包括线圈，动铁芯等元件，当磁系统接收到测试电流时，会产生磁场以驱动动铁芯移动，进而带动传动机构带动动触头动作。需要进行说明的是，动触头与磁系统连接方式为现有技术，在此不再赘述。

作为一种可实现的实施方式，静触头、动触头和磁系统均固定于应用该瞬时测试回路的断路器内部。其中，电流接收器件可以包括接线板，电流接收器件还可以包括其他可接触电源的器件。

参见图3，图3为本申请实施例提供的本申请断路器瞬时测试回路的电流流向示意图，如图3所示：

测试电源通过第一连接点、静触头、磁系统和第三连接点来完成瞬时测试，其中，第一连接点和第三连接点分别对应图2中的第一电流接收器件和第二电流接收器件。在图3中，测试电源仅贯穿了从第一连接点到第三连接点这个过程，测试电源并未流向动触头。第一连接点到第三连接点这个过程，就是第一连接点与静触头连接，静触头与磁系统连接，再由磁系统与第三连接点连接的过程。在这个过程中，由于静触头并未与动触头连接接触，静触头和动触头之间也不会有电流通过，因此静触头和动触头之间就不会产生电弧，电弧也不会造成动触头和静触头的严重灼伤。

此外，对照现有技术，介绍本申请与现有技术的差别，参见图4，图4为现有技术断路器瞬时测试回路的电流流向示意图，如图4所示：

测试电源通过第一连接点、动触头、静触头、磁系统和第二连接点来完成瞬时测试，其中，当接收到测试电源后，动触头会与静触头闭合，形成电流通道，以便测试电源流向磁系统，第一连接点和第二连接点分别对应图1中的接线板A和接线板B。在图4中，测试电源贯穿了从第一连接点到第二连接点这个过程。这个过程，就是第一连接点与动触头连接，动触头与静触头连接，静触头与磁系统连接，再由磁系统与第二连接点连接的过程。在这个过程中，当磁系统接收到测试电源后，动触头和静触头断开，动触头与静触头之间就会产生电弧，就会存在触头开断点，进而电弧就会造成动触头和静触头的严重灼伤。

可见，在本可选方案中，本申请重新设计了对断路器进行瞬时测试的回路，将电流通过电流接收器件直接与磁系统传输以进行瞬时测试，使电流在瞬时测试过程中不流过动触头，也就是使动触头和静触头不接触。如此，在瞬时测试过程中，规避了电弧的产生，杜绝了由于瞬时测试造成的触点损伤，保护了静触头和动触头，延长了产品的使用寿命。

以下通过另一个实施例，对本申请提供的一种触头保护方法进行说明。

参见图5，该图为本申请实施例提供的触头保护方法的流程图，如图5所示，该方法可以包括：

S101：接收瞬时测试的电流信号。

在本步骤中，电流接收器件接收瞬时测试时所需的电流信号后(电流接收器件为图2中所示的第一电流接收器件和第二电流接收器件)，第一电流接收器件和第二电流接收器件一起判断电流信号是否大于预设的电流阈值，若电流信号大于预设电流阈值，执行步骤S102。需要说明的是，电流接收器件为接收电流信号的器件，瞬时测试为产品出厂前进行的功能测试，该功能测试是测试断路器中的磁系统，以检测该断路器的灵敏度。其中，电流信号是由测试设备提供的，电流接收器件可以为接线板。

S102：将所述电流信号根据预设的保护触头的电流通道进行传输。

在本步骤中，预设的保护触头的电流通道由磁系统和电流接收器件组成，其中，该电流通道还包括静触头和测试设备，静触头在该电流通道中用于使测试电流流通以流向磁系统，测试设备用于提供进行瞬时测试时的测试电流，电流通道为图2中所示的断路器瞬时测试回路。基于上述描述可知，本申请重新设计了断路器瞬时测试回路，在该断路器瞬时测试回路中，杜绝了动触头与静触头的直接电流流过，也就是使电流在瞬时测试过程中不流过动触头，而通过静触头直接加载在磁系统上，以此来杜绝动触头和静触头之间产生电弧的情况，实现保护动触头和静触头的目的。

可以理解的是，在接收到电流信号之后，电流信号根据预设的保护触头的电流通道进行传输，由于电流信号通过该电流通道中的静触头直接加载在磁系统上，来完成瞬时测试，且该断路器中的动触头和静触头之间并未直接电流流过，使得动触头和静触头之间就不会产生电弧。如此，在完成瞬时测试的同时，动触头和静触头并未受到任何影响，实现了在瞬时测试过程中无电弧的产生和保护了动触头和静触头。

还需要进行说明的是，在本可选方案中，动触头还可以与接收瞬时测试时所需电流信号对应的电流接收器件以及磁系统连接，用于在断路器使用过程中实现断路器的整体功能。由于在瞬时过程中并未使用到动触头，在此不再做出详细说明。

综上，本可选方案说明了如何在瞬时测试时实现无电弧产生，并对触头进行保护。具体的，在本可选方案中，重新设计了瞬时测试时的电流通道，使用静触头、测试设备、磁系统和电流接收器件来构成预设的保护触头的电流通道，将电流信号通过该电流通道传输以进行瞬时测试。在该电流通道中，动触头与静触头处于分离状态，也就是使电流信号不流过动触头，仅使电流信号通过静触头直接加载在磁系统上，来完成瞬时测试。此时，静触头和动触头之间不会产生电流通过，也使得动触头和静触头之间就不会产生电弧。由此，在瞬时测试的过程中，规避了电弧的产生，也不会出现对动、静触头产生灼伤的情况，保护了静触头和动触头，从而杜绝了由于瞬时测试造成的触点损伤，延长了产品的使用寿命。

需要说明的是，本申请实施例中提到的“第一”、“第二”(若存在)等名称中的“第一”、“第二”只是用来做名字标识，并不代表顺序上的第一、第二。

以上对本申请所提供的一种断路器瞬时测试回路及触头保护方法进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。